Инструментальный контур дифракционный

Как было показано ранее (см. гл. 2), ширина инструментального контура дифракционной решетки обратно пропорциональна, а разрешающая способность прямо пропорциональна произведению числа интерферирующих пучков N на разность хода между соседними пучками Ао [c.157]

Форма инструментального контура может быть самой разнообразной. Рассмотрим некоторые частные случаи, которые реализуются при работе с призменными и дифракционными спектрографами ). [c.15]

Рис. 2. Дифракционный (а) и прямоугольный (б) инструментальные контуры.

Рассмотрим теперь случай широкой щели, освещенной монохроматическим светом. Будем считать, что ширина геометрического изображении щели во много раз превышает ширину изображения нулевого дифракционного максимума. В этом случае явлениями дифракции можно пренебречь, и освещенность в фокальной плоскости будет постоянна по всему изображению щели. Инструментальный контур описывается функцией [c.16]

Поэтому количественный критерий разрешающей способности (или разрешающей силы) прибора должен быть дан в предположении определенной точности энергетических измерений. Такой критерий был установлен Рэлеем, который дал определение разрешающей способности для случая, когда она обусловлена дифракционным инструментальным контуром [см. формулу (13)]. Согласно Рэлею наименьший разрешимый интервал бХ равен расстоянию между главным максимумом и первым минимумом функции, описывающей этот контур. В угловой мере это расстояние равно бф = Х/й. Две монохроматические линии одинаковой яркости, расположенные на таком расстоянии друг от друга, дают суммарный контур, представленный на рис. 8. Абсцисса точки пересечения контуров обеих линий равна Х/2й. Подставив это значение в уравнение (13), найдем ординату точки пересечения [c.23]

Прозрачная дифракционная решетка. Для получения инструментального контура, даваемого решеткой, нужно рассчитать угловое распределение амплитуды волны, образовавшейся в результате дифракции плоской монохроматической волны на штрихах решетки. [c.48]

Сначала для простоты произведем расчет инструментального контура прозрачной дифракционной решетки с периодом t и шириной непрозрачных и прозрачных участков а и Ь (см. рис. 2.1). Как будет показано ниже, рассмотрение отражательной дифракционной решетки может быть сведено к рассмотрению прозрачной дифракционной решетки. [c.48]

Отражательная дифракционная решетка. Перейдем к рассмотрению инструментального контура отражательной дифракционной решетки. Пусть грани штрихов составляют с плоскостью решетки угол а, расстояние между [c.52]

В предыдущих главах были подробно рассмотрены вопросы, связанные с разрешающей силой призмы и дифракционной решетки, и выведены соответствующие формулы (1.28) и (2.17). При этом предполагалось, что инструментальный контур определяется только явлением дифракции. [c.77]

Распределение яркости в инструментальном контуре эшелона можно получить из соответствующего распределения для дифракционной решетки (см. [c.162]

Качество изображения спектральных линий также влияет на вели- чину отношения интенсивности линии к интенсивности фона. Известно, что призменные спектрографы дают более широкий инструментальный контур, чем спектрографы с дифракционными решетками. Это имеет место вследствие разных причин косое расположение пластинки относительно оси камеры, неоднородность оптических материалов при большой длине пути света в призмах и объективах, местные погрешности изготовления оптических поверхностей, невозможность точного совмещения поверхности фотографической пластинки или пленки с поверхностью спектра, которая вследствие аберраций оптической си--стемы обладает довольно сложным профилем. Поэтому при пользовании спектрографами с дифракционными решетками также и по этой причине повышается чувствительность определения следов элементов. [c.45]

Сначала для простоты произведем расчет инструментального контура прозрачной дифракционной решетки с периодом t и шириной непрозрачных [c.46]

Отражательная дифракционная решетка. Перейдем к рассмотрению инструментального контура отражательной дифракционной решетки. Пусть [c.50]

Практическая разрешающая сила. В предыдущих главах были подробно рассмотрены вопросы, связанные с разрешающей силой призмы и дифракционной решетки, и выведены соответствующие формулы (1.28) и (2.17). При этом предполагалось, что инструментальный контур определяется только явлением дифракции. В этом случае две линии равной яркости, различающиеся по длинам волн на величину бХ, удовлетворяющую критерию разрешения Рэлея, образуют суммарный инструментальный контур, ордината минимума которого составляет 80% от его максимума. [c.75]

Теоретическая разрешающая способность. До сих пор мы, рассчитывая прохождение светового пучка через призму, пользовались приближением геометрической оптики. Однако предельная разрешающая способность призмы определяется тем, что фронт падающей на нее световой волны ограничен размерами призмы. В результате дифракции на краях нризмы, либо на другом отверстии, ограничивающем ширину пучка, образуется дифракционный инструментальный контур, о котором мы говорили выше. [c.31]

Монохроматическое рассеяние происходит, главным образом, после спектрального разложения потока в камерной части прибора, при выходе из диспергирующего элемента и в самом диспергирующем элементе. Свет рассеивается на запыленных поверхностях и неоднородностях призм, объективов, на молекулах газа, заполняющего спектральный прибор, и на взвешенных в нем частицах пыли. Форма крыльев инструментального контура определяется суммарной индикатрисой всех этих видов рассеяния. Нерегулярные погрешности штрихов дифракционной решетки также приводят к появлению протяженных крыльев инструментального контура. Регулярно повторяющиеся особенности штрихов приводят к появлению линейчатой структуры вблизи максимума исследуемой линии (духи Роуланда их рассматривают как своебразное монохроматическое рассеяние света прибором). [c.348]

Поэтому количественный критерий разрешающей способности (или разрешающей силы) прибора долигеп быть дан в предположении определенной точности энергетических измерений. Такой критерий был установлен Рэлеем, который дал определение разрешающей способности для случая, когда она обусловлена дифракционным инструментальным контуром (13). Согласно Рэлею наименьший разрешимый интервал бХ равен расстоянию между главным максимумом и первым минимумом функции, описывающей этот контур. В угловой мере это расстояние равно бф = Х Ь. Две монохромати- [c.21]