Спектрограф призменный

Наибольшая линейная дисперсия приборов ИСП-28 и ИСП-30 (при Я = 2000 А дисперсия составляет 3,5 А/мм, а при 3600— 25,0 А/мм) не обеспечивает решения многих аналитических задач в ближней и видимой инфракрасной области, где дисперсия кварцевого стекла резко уменьшается. Поэтому при определении элементов, основные линии которых Находятся в этой области спектра, заботу следует проводить на спектрографах со стеклянной оптикой. < числу таких приборов относится трехпризменный спектрограф ИСП-51, работающий в видимой области спектра (3700- 9800 А) (рис. 22). Конструкция спектрографа разборная — призменная часть, коллиматорная труба и камерная труба. [c.50]

В фотографических методах анализа широкое распространение получили призменные спектрографы с кварцевой оптикой ИСП-28 и ИСП-30 (рабочая область спектра 200—600 нм). Онн позволяют различать спектральные линии, отстоящие друг от друга на расстоянии не менее 0,03 нм. Если дисперсия спектрографов ИСП-28 или ИСП-30 оказывается недостаточной для тех или иных целей, применяют призменные длиннофокусные спектрографы, например КС-55 или КСА-1. Их линейная дисперсия в ультрафиолетовой области в 2,5—3 раза выше, чем ИСП-28. [c.69]

Рис. 5.4. Схема призменного спектрографа с осветительной системой (по Кёлеру).

Для изучения спектров применяют спектральные приборы, к которым предъявляются требования в зависимости от цели эксперимента. В большинстве случаев применяют призменные спектрографы. [c.552]

Для фотографирования спектра железа (спектра сравнения) в крышке ш,ели помещается призма сравнения. Призма сравнения 8 поднимается штифтом в нижней части оправы щели Железная дуга 9 помещается за щелью ио направлению, перпендикулярному основной оптической оси спектрографа. Объектив коллиматора направляет луч света на призменную систему /О Призменная система состоит из трех призм. Свет, разложенный призмами в спектр, фокусируется объективом ка- [c.42]

В качестве спектральных приборов могут быть использованы спектрографы призменные и с дифракционными решетками, у которых в кассетной части имеется набор щелей для выделения излучения соответствующей длины волны, монохроматоры и, наконец, монохроматические светофильтры. Применение последних во многих случаях значительно упрощает схему фотоэлектрической регистрации. [c.108]

В. К. Прокофьев. Фотографические методы количественного спектрального анализа металлов и сплавов. Гостехиздат, 1951, ч. 1, (368 стр.), ч. 2 (327 стр.). В первой части рассматриваются свойства призменных спектрографов, конструкции наиболее употребительных образцов спектрографов, источники света, электроды для спектрального анализа, микрофотометры и спектропроекторы. Вторая часть посвящена описанию методов количественного спектрального анализа. В приложении даны таблицы аналитических пар линий, применяемых при количественном спектральном анализе различных сплавов сталей, чугунов, магниевых и алюминиевых сплавов, бронз, баббитов и др., а также чистых металлов. В конце книги приведен большой список литературы. [c.488]

Любопытную комбинацию призменной и дифракционной диспергирующих систем представляют спектрографы со скрещенной дисперсией. Благодаря тому, что эти две системы действуют во взаимно перпендикулярных направлениях, удается избавиться от переналожения спектров различных порядков, и соответственно появляется возможность использовать решетку в высоких порядках спектра, что обеспечивает большую линейнуто дисперсию. Один из лучших приборов такого типа — отечественный спектрограф СТЭ-1. [c.69]

Дифракционные приборы имеют обычно более высокую разрешающую способность, чем призменные. Так в приборе с плоской решеткой, имеющей 600 штр/мм и ширину 100 мм, всего 60 ООО штрихов. Его разрешающая способность 60 ООО в первом порядке и 120 ООО во втором для всей рабочей области спектра 2000 —10 ООО А- Примерно такой же по своим габаритам и стоимости спектрограф с большой кварцевой призмой имеет высокую разрешающую способность — больше 80 ООО только в области 2000 А, где дисперсия кварца велика, но уже при X = 3000 А его разрешающая способность падает до 20 ООО. [c.106]

Спектрографы различаются между собой по линейной дисперсии. Наибольшее применение получили приборы средней дисперсии. Обычно это призменные спектрографы, собранные по обычной схеме. Их обратная дисперсия в середине рабочего диапазона спектра около [c.125]

Дифракционный спектрограф ДФС-8. В настоящее время призменные кварцевые спектрографы большой дисперсии выходят из употребления и заменяются дифракционными. Одним из наиболее распространенных спектрографов стал дифракционный спектрограф типа ДФС-8 с плоской дифракционной решеткой, которая имеет 600 или 1200 штр/мм (рис. 97). Высокая разрешающая способность дифракционной решетки используется благодаря большому фокусному расстоянию камерного объектива. [c.138]

Монохроматор фотоэлектрического стилометра собран на базе трех-призменного стеклянного спектрографа ИСП-51. Вместо камеры при- [c.147]

Для определения длины волны неизвестной линии (рис. 129) в спектре нормали выбирают две резкие линии так, чтобы анализируемая линия лежала между ними. Если линии выбраны достаточно близко к анализируемой, то можно с хорошей точностью считать, что на протяжении узкого участка спектра, где лежат эти три линии, дисперсия не только дифракционного, но и призменного спектрографа [c.206]

Если расстояние между линиями велико, то нужно учитывать изменение дисперсии призменного прибора и определить длину волны с помощью более сложных формул. При работе с дифракционными спектрографами формула (42) остается достаточно точной даже при значительном расстоянии между линиями. [c.207]

Каждый спектральный прибор предназначен для регистрации спектра в определенной области длин волн. В ультрафиолетовой и видимой областях широко применяют как призменные, так и дифракционные спектральные приборы. Спектрографы с кварцевой оптикой позволяют получать спектр в области 200—600 нм, в которой расположены чувствительные линии большинства из известных элементов. Спектрографы со стеклянной оптикой используют для работы в видимой области от 360 до 1000 нм. Приборы с дифракционной решеткой позволяют получать спектр в интервале длин волн от 200 до 1000 нм. Эти приборы, обладающие большой дисперсией, дают возможность разделять спектральные линии с близкими длинами волн, что особенно важно для анализа веществ, спектр которых богат линиями. [c.323]

Области совпадений выбраны с учетом падения дисперсии призменных спектрографов в длинноволновой области спектра и приведены ниже [c.482]

Простейший призменный спектрограф (рис. XVHI. 22) включает колли-маторную трубу со щелью S и объективом О, диспергирующую систему, состоящую из призм (одной, двух, трех) Р и камеры С. [c.552]

Рис, 5.1. Простой призменный спектрограф. [c.86]

Более удобным методом нахождения длин волн является сравнение определяемых линий и известных линий эталона, сфотографированных на одной /пластинке [18]. Дуга, зажженная между железными электродами, представляет собой наиболее часто употребляемый эталон. Железо выбирают потому, что оно дает тысячи линий, довольно равномерно распределенных в видимой и ультрафиолетовой областях. Все линии спектра железа многократно были измерены с большой точностью как на призменных спектрографах, так и на спектрографах с решетками вы- [c.97]

Начертите на одном листе миллиметровой бумаги кривые дисперсии для призменного спектрографа и спектрографа с решеткой, используя линии, отмеченны на рис. 5.7. Длины волн располагайте по оси абсцисс, а расстояния от коротковолнового конца фотопластинки (измеренные в миллиметрах)—по оси ординат. [c.112]

Приборы эмиссионного спектрального анализа, в которых полученный спектр регистрируется на фотопластинке, называют спектрографами. Для разложения излученного света используют призмы или дифракционные решетки. У некоторых наиболее про-сты) спектральных приборов, называемых стилоскопами, эмиссионный спектр можно зрительно наблюдать во время его возбуждения, а длину волны отдельных линий приблизительно определять по шкале в самом аппарате. Принципиальная схема призменного-спектрографа показана на рис. УП1.4. [c.191]

Полосы О—О, 1—О и 2—О радикалов 5Н и 50 были исследованы по спектрам поглощения, полученным при импульсном фотолизе На5 и Оа5 [3301, 3356, 22596]. Впервые таким методом полосы О—О и 1—О радикалов 5Н и 50 были получены Портером [3301] с частично разрешенной вращательной структурой на призменном спектрографе. По этим данным Портер вычислил весьма приближенные значения колебательных постоянных 5Н в состояниях Л 2 и Х П. В дальнейшем полосы 0—0 и 1—0 радикалов 5Н и 50 были получены методом импульсного фотолиза Рамзи [3356] с хорошо разрешенной вращательной структурой во втором порядке спектрографа с 21-футовой решеткой. Джонс и Рамзи [22596 тем же методом получили полосы 2—О этих радикалов в четвертом порядке аналогичного спектрографа. [c.315]

Если на планшете нет линий исследуемого спектра, при помощи атласа определяют длину ее волны, а принадлежность к спектру того или иного элемента устанавливают по таблицам. При расшифровке спектра, сфотографированного с призменным спектрографом, выбирают две соседние линии спектра железа, близкие к анализируемой линии по обе стороны от нее (см. рис. 133). [c.223]

Наиболее ответственными конструктивными узлами призменных и дифракционных спектрографов являются механизм щели, узел крепления призмы или решетки с необходимыми перемещениями и юстировочными движениями и кассетная часть. Крепление объективов коллиматора и камеры производится обычным для оптических приборов способом и не требует особых пояснений. [c.39]

ГРАДУИРОВКА ПРИЗМЕННОГО СПЕКТРОГРАФА, ИЗМЕРЕНИЕ ЛИНЕЙНОЙ ДИСПЕРСИИ И ИЗМЕРЕНИЕ ДЛИНЫ ВОЛНЫ НЕИЗВЕСТНОЙ СПЕКТРАЛЬНОЙ ЛИНИИ [c.54]

Области совпадений, выбранные с учетом падеиия дисперсии призменных спектрографов в длинноволновой области спектра, приводятся ниже [c.648]

С 1И 0следуемым веществом. Излучение, рассеянное веществом, он-деноируется линзой конденсора 12 на щель спектрографа 11. На оправе конденсора крепятся два раздвижных кожуха, предотвращающих попадание светового потока из помещения в спектрограф. Ширина входной щели регулируется от О до 0,3 мм при помощи микрометрического винта с ценой деления 0,001 мм. Щель находится в фокальной плоскости объектива коллиматора 10. Высота щели опраиичивается специальной диафрагмой с фигурными вырезами. Объектив коллиматора направляет световой поток на призменную систему 9. [c.53]

Линейная дисперсия призменных спектральных аппаратов быстро уменьшается при переходе в длшшоволновую область спектра из-за уменьшения дисперсии вещества призмы. Например, у автоколлима-ционного спектрографа большой дисперсии с кварцевой оптикой она уменьшается от , 2 к мм (для 1 - 2000 А) до 21 А/л ж (для к -= 5000 А). [c.101]

Для работы со сложными спектрами применяют автоколлимацион-ные призменные спектрографы большой дисперсии или дифракционные приборы. Призменные приборы имеют в начале рабочей области спектра линейную дисперсию до 1 к мм, которая затем быстро уменьшается с ростом длины волны. Линейная дисперсия дифракционных спектрографов во всем рабочем диапазоне 2—8 к мм в зависимости от постоянной решетки и фокусного расстояния объектива. [c.125]

Сокращения Р20, 100/10, 30 мкм , относящиеся собственно к спектральному прибору, означают кварцевый призменный спектрограф с длиной спектра 20 см в области 200-400 нм (это приближенно характеризует дисперсию прибора). Стушени ослабителя с пропусканием 100 и 10 % установлены на входной щели спектрографа, ширина входной щели — 30 мкм. В сл> чае призменных спектрографов символ О 30 означает, что длина спектра в области 400-800 нм составляет 30 см. [c.665]

Для призменных спектрографов, имеющих нелинейн то дисперсию, предусмотрена автоматическая корректировка спектральной шкалы [c.783]

План. Целью этой работы является проведение количественного анализа цветного сплава с помощью ультрафиолетового спектрографа. Описанный порядок проведения работы относится к призменному спектрографу, однако он может быть легко изменен при наличии спектрогра- [c.326]

N02- Молекула N02 в основном электронном состоянии является нелинейной симметричной молекулой (точечная группа и относится к типу асимметричных волчков Все три невырожденные основные частоты N02 активны и в спектре комбинационного рассеяния, и в инфракрасном спектре. Однако из-за сильного поглощения в видимой и ультрафиолетовой областях спектр комбинационного рассеяния N02 не наблюдался. Обзор исследований инфракрасных и ультрафиолетовых спектров НОа, выполненных до 1940 г., приводится в монографии Герцберга [152], где рекомендуются следующие значения основных частот VI = 1320, V2 = 648 и Тд = 1621 Первые исследования спектра N02 были выполнены при помощи приборов с низкой дисперсией, применение которых не позволило разрешить вращательную структуру и определить нулевые линии инфракрасных полос. Кроме того, полоса VI из-за слабой интенсивности в инфракрасном спектре не наблюдалась, и значение 1320 см было принято Герцбергом на основании результатов исследования ультрафиолетового спектра [1958]. В 1 9 г. Вильсон и Баджер [4296], исследуя спектр N 2 в области 400—6700 (1,5—25 мк) на призменном спектрографе, впервые зарегистрировали слабую полосу в области 1306 см , отнесенную к колебанию VI, а также нашли, что центр полосы V2 находится в области 755 Позднее Браун и Вильсон [988] также на приборе с призмами уточнили центр полосы V2 и нашли для него значения 750,6 + 0,3 см . Исследование девяти комбинационных полос N02, расположенных в области 2900—7150 см (1,4— 3,4 мк), было выполнено в 1953 г. Муром [2943] при помощи вакуумного спектрографа с решеткой, дающей разрешение порядка 15 ООО. Используя результаты, полученные Брауном и Вильсоном [988] для полосы V2, Мур вычислил все частоты колебаний и постоянные ангармоничности для молекулы N 2- В 1957 г. Уэстон [4222], исследуя спектр N 2 на приборе с призмами, вычислил колебательные постоянные N 2, а также уточнил значения (О2 и ХааДля молекулы по сравнению с предложенными Муром [2943], учитывая но- [c.367]

Впервые молекулярные постоянные F были определены Андрюсоми Барроу [556, 557]. В работах [556, 557] спектр F был получен на призменных приборах малой и средней дисперсии при использовании в качестве источника излучения разряда в парах фторированных углеводородов. В системе Л 2 — Х П Андрюс и Барроу наблюдали полосы 1—О, О—О, О—1 и 1—1 с разрешенной вращательной структурой, анализ которой позволил найти значения вращательных постоянных F в состояниях Х П и Л 2. Анализ колебательной структуры системы Л 2 — Х П не надежен, так как канты полос 1—О и 0—0 размыты из-за наложения линий других полос. В системе 5 X Андрюс и Барроу идентифицировали 18 полос (v" < 3, u 6), образующих пять секвенций. На основании результатов измерений положения кантов этих полос и расстояний между кантами различных ветвей Андрюс и Барроу нашли приближенные значения колебательных и вращательных постоянных F в состоянии В. Поскольку вращательная структура полос системы б - X в работе [557] не была разрешена, тип состояния В определить не удалось. Найденные Андрюсом и Барроу значения молекулярных постоянных F в состояниях Х П, Л 2 иВ приведены в книге Герцберга [2020] и в справочнике [649]. Для уточнения типа состояния В и вращательных постоянных F в этом состоянии спектр молекулы F в области 1970—2100 A был вновь исследован Татевским, Кузяковым и др. [55]. В качестве источника возбуждения использовался импульсный разряд в токе паров F4. Спектр в области 2000—2075 А фотографировался на спектрографе ДФС-3 с дисперсией 2 А/мм, а в области к < 2000 А — на спектрографе ДФС-5 с дисперсией 3 А/мм. [c.607]

Стандарты второго типа, или линии класса В, получают интерполяцией в спектрах, даваемых призменными или дифракционными спектрографами. Для них достаточна погрешность +0,01 нм, но налагается дополнительное требование, чтобы близлежащие линии не слищ- [c.666]

По автоколлимационной схеме построены, например, призменные приборы спектрограф КСА-55, КСА-1, спектральный узел стилоскоиических установок, например СЛ-11, и дифракционные приборы спектрограф ДФС-8 с кварцевым объективом и ДФС-13 с зеркальным объективом. [c.194]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология