Угол дифракции

Рис. 8. Дифракция света а —схема, поясняющая возникновение дифракции (>1 — ширина щели О — угол дифракции) б — зависимость интенсивности света от угла наблюдения 0 а — дифракционная картина при разной ширине щели (в мм)

Каким должен быть угол дифракции (обозначим его 0ц), чтобы колебания полностью гасили друг друга Найти его можно из условия, что колебания от соответствующих точек левой и правой половин щели должны достигать фронта волны в противоположных фазах. Разность фаз возникает, когда колебания распространяются от плоскости щели АЕ к плоскости фронта волны АЕ, так как после АЕ все колебания проходят одинаковый путь и разность фаз остается постоянной. Точка А принадлежит и плоскости щели, и фронту волны. Коле- [c.18]

Например, для определения длины волны в спектре, полученном с помощью дифракционного прибора, можно воспользоваться формулой (17) (стр. 90). Зная постоянную решетки и дифракционный порядок и измерив угол дифракции для данной линии, можно вычислить длину ее волны. Определение угла дифракции при этом должно быть выполнено с очень большой точностью, что представляет значительные трудности. [c.204]

Кокс, прокаленный при температуре. "С Время измельчения, мин Фракция, мм Угол дифракции при измельчении [c.98]

Характеристики оптической диспергирующей системы в части спектрального выделения характеризуются обратной линейной дисперсией и практическим разрешением. Обратная линейная дисперсия dX/dx (нм/мм)—это способность диспергирующей системы развертывать спектр в фокальной области. Чем лучше обратная линейная дисперсия, тем меньше ее величина. Дифференцирование уравнения решетки, выраженного через угол дифракции /3, приводит к уравнению [c.31]

Какова плотность штрихов решетки, для которой угол падения 60°, угол дифракции 21° и длина волны 340 нм в первом порядке [c.38]

При дифракции на порошках (разд, 11,2,2) микрокристаллические образцы, содержащие примерно 10 случайно ориентированных индивидуальных кристаллитов (размером 5 10 — 5 10 " см), обеспечивают одномерные распределительные диаграммы интенсивность — угол дифракции , которые могут быть использованы для идентификации веществ, определения их физических свойств, измерения размеров кристаллитов и в какой-то степени для выяснения кристаллической структуры. При дифракции на монокристаллах обычно требуются монокристаллы с размерами 0,1-0,6 мм этот метод является стандартным вариантом рентгеноструктурного анализа (разд, 11,2,3), [c.401]

Чтобы завершить рассмотрение особенностей метода, отметим его основные недостатки. Они обусловлены тем, что значения длин волн электронов, получаемые в современных электронографах с ускоряющим напряжением в несколько десятков киловольт, составляют сотые доли ангстрема, что меньше длин волн, применяемых рентгеновских лучей. Поэтому углы дифракции, определяемые по уравнению Вульфа - Брэгга, очень малы. Например, для межплоскостного расстояния 0,1 нм при длине волны 0,005 нм (ускоряющее напряжение порядка 50 кВ) угол дифракции составляет всего около 1,5 град. Вследствие этого разрешающая способность по этому методу ниже и меньше точность определения меж-плоскостных расстояний, чем при использовании рентгенографии. [c.23]

Угол дифракции., 2в Рис. 288. Рентгенограмма волокна капрон (поликапроамид) [c.340]

Если прибор построен по автоколлимационной схеме, то для направления, совпадающего с оптической осью объектива, угол дифракции ф равен по величине углу падения г ), и тогда условие для максимумов будет [c.96]

Для всех других направлений угол дифракции ф отличается от угла падения о] , и его величина заключается в пределах if) а, где угол а определяется конструкцией прибора, т. е. размерами фотографической пластинки Р и фокусным расстоянием / объектива прибора. [c.97]

Определить угол дифракции для лучей с длиной волны 6707,8 А (яркая красная линия лития) во втором порядке плоской дифракционной решетки, которая имеет 600 штр1мм. Лучи падают перпендикулярно к поверхности решетки. [c.93]

Эффективность решетки это отношение мощности дифрагированного спектрального излучения к падающей мощности для данных диапазона длин волн и порядка. Если угол в равен нулю, то эффективность максимальна для нулевого порядка, т. е. решетка работает как зеркало и энергия дифрагированного света уменьшается до минимума. Угол в задается относительным расположением поверхности штриха и плоскости решетки. Эффективность решетки обычно оценивают по оптической схеме. Литтрова, в которой и угол падения, и угол дифракции равны в (рис.8.1-9). Уравнение решетки принимает следующий вид [c.28]

При рассмотрении внутренней дифракции подвижных валентных электронов на кристаллической решетке твердого тела было найдено, что условия возникновения дифракции накла-дынают ряд ограничении на длину волны, энергию и свободу перемещения электронов. Более конкретно — запрещается, чтобы на любой стадии движения свободных электронов выполнялся бы закоР Брэгга, Свободные электроны в металлах или полупроводпиках имеют различную энергию и. следовательно, различную длину волны. При оценке возможности дифракции электронов необходимо учитывать длину волны л, угол дифракции 6 и межплоскостное расстояние d. [c.68]

Рис. 8.1-9. Схема Литтрова, в которой и угол падения а, и угол дифракции /3 равны углу в (углу блеска) между нормалью к грани штриха и нормалью к поверхности решетки, для определения длины волны блеска по соотношению 251п0 = кпХ.

Кокс, прокаленный при температуре. С Способ нзмельчення 2 П (угол дифракции. <) Ширина отражения Интенсвв-ность, см [c.96]

Большим периодом обычно называют величину d == XllQ, где Х — длина во.лны, а 20 — угол дифракции, соответствующий максимуму в распределении интенсивности малоуглового рассеяния рентгеновских лучей. Изучение больших периодов, в частности при различных температурах [1], представляет большой интерес, поскольку опо позволяет судить о различиях в степени порядка в структуре полимеров. Мы исследовали изменение большого периода в ориентированных волокнах полиэтилена низкого давления в области темие])атур от комн атной до 116°. Съемки рентгенограмм в больших углах показали, что степень ориентации кристаллитов в волокнах была весь-лш высокой и практически пе менялась после проведения температурных съемок, поскольку волокна в образце находились в натянутом состоянии. Максимальное отклонение осей цепей от оси волокна (рассеяние текстуры) не превышало 10—15°. Ориентированный образец волокон помещался в печку, установленную на малоугловой камере. Температура контролировалась с точностью до 2°. При данной температуре снималась вся кривая малоуглового рассеяния. Остальные условия эксперимента были такими же, как в работах [2, 3]. Съемки кривых рассеяния проводились в течение нескольких пос.тедовательных циклов нагревания и охлаждения одного и того же образца. Измерения повторялись многократно, и результаты хорошо воспроизводились. Кривые распределения интенсивности меридионального малоуглового рефлекса, получен ныо в цикле 1 при повышении температуры до 113°, приведены ira рис. 1, а нри понижении температуры до 20° — на рис. 2. При [c.176]

Каждое кольцо (максимум) рентгенограммы аморфного вещества соответствует некоторому часто встречающемуся расстоянию между молекулами, атомами или ионами в исследуемой структуре. Величина этого периодически повторяющегося расстояния лишь приблизительно соответствует уравнению Брэгга [уравнение (Г)]. В аморфном полимере обычно имеется много повторяющихся групп (молекул, атомов или ионов), расстояние между которыми близко к некоторому среднему значениюи большое число групп, расстояние между которыми точно равно этому значению Н. Угол дифракции 0, полученный от пары молекул, находящихся на расстоянии Я и произвольно ориентированных относительно падающего пучка рентгеновских лучей, определяется соотношением [c.82]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология