Кривые распределение интенсивностей

В видимой области спектра обычно употребляются электрические лампы накаливания. Вольфрамовая нить в лампах нагревается током до температуры 3000°, поэтому кривая распределения интенсивности смещена по сравнению со стержнем в сторону коротких волн. Лампы накаливания дают интенсивное излучение во всей видимой, в ближней ультрафиолетовой (до 3400 А), а также в самой близкой инфракрасной областях. Излучение больших длин волн поглощается стеклянной колбой лампы. [c.300]

Картины дифракции рентгеновских лучей частично кристаллических полимеров, представителями которых являются полиамиды, состоят из пиков высокой интенсивности, соответствующих кристаллическим областям, и гало, отвечающего аморфным областям полимера. Измерение площадей под соответствующими участками кривых распределения интенсивности позволяет определять степень кристалличности полимера. Однако точность этого метода ограничивается воз.можностью разделения участков кривых, соответствующих кристаллическим и аморфным областям. Степень кристалличности промышленных полиамидов обычно колеблется от 40 до 70%. [c.240]

Описание аппаратуры для рентгеноструктурного анализа и техника экспериментальной работы описана в [313—315]. Рентгеноструктурный анализ дает возможность оценить в асфальтенах степень кристалличности, структуру кристаллических областей, размеры кристаллита. Однако в асфальтенах преобладают аморфные области. Поэтому на рентгенограммах, наряду с узкими кристаллическими рефлексами появляются широкие гало, характерные для дифракции на аморфных неупорядоченных структурах. Сравнивая интенсивность рефлексов и гало, можно судить о степени кристалличности образца. Однако на практике трудно разделить кривую распределения интенсивности на две части, так как основания пиков широки и перекрывают друг друга. Кроме того, часть дифракции на кристаллитах представляет собой диффузный фон, трудно отличимый от аморфного гало, которое может быть весьма широким. [c.154]

Рис. 17. Кривая распределения интенсивности рентгеновских лучей при дифракции на полиэтилене

Если тело обладает непрерывным спектром излучения, а кривая распределения интенсивности в зависимости от длины волны подобна кривой абсолютно черного тела (1х ела = 1я,о), то излучение такого тела, в отличие от излучения абсолютно черного тела, называют серым. [c.21]

Общий характер масс-спектров диенов-2,3 и диенов-3,4 аналогичен кривая распределения интенсивностей пиков по числу углеродных атомов в ионах также имеет два максимума, соответствующих ионам (СзН ) и (С5Н, )+. Однако максимальным пиком в спектре является не пик ионов (СаНу) , а иик ионов (СдНа) , обязанный своим образованием распаду молекулярного иона ио р-связи. Причем распад сопровождается миграцией водорода. [c.61]

Рис. 82. Формы рабочего поля (а, б) и кривые распределения интенсивности излучения рентгеновских трубок (е, г)

Рис. 13.4. Кривая распределения интенсивности для полиэтилена 1 - результирующая кривая 2 - рассеяние на кристаллитах 3 - рассеяние на аморфных областях

Раньше всего такой расчет был сделан для аморфного полиметилметакрилата и было показано, что теоретическая кривая для модели полностью беспорядочного расположения цепей не совпадает с экспериментальной кривой распределения интенсивностей [55]. Для эластомеров аналогичные исследования приведены [c.39]

Воздействие СО на грань (ПО) поверхности никеля не приводит к появлению потоков дробного порядка от подвергнутой этому воздействию поверхностной решетки. Однако наблюдалась структура (1X1), на которой распределение интенсивности в зависимости от напряжения сильно отличалось от распределения на никеле. Таким образом, СО образует на грани (ПО) структуру с такой же кристаллической решеткой, как и никель. В принципе, на основе детального анализа кривой распределения интенсивности в зависимости от напряжения можно точно определить положение атомов углерода. [c.341]

Рис. 1. Кривы( распределения интенсивности по углам для кристаллических и аморфных политрифторхлорэтилена (а) и терилена (б)

Пик кривой распределения интенсивности лежит в направлении зеркального отражения от поверхности рабочей грани решетки, т. е. в направлении —р = а. Эти углы можно выразить через углы ф, г ) и i. [c.110]

Для спектра второго порядка кривая распределения интенсивности будет иметь меньшую полуширину, т. е. дисперсия решетки будет больше в два раза и, следовательно, масштаб по оси абсцисс в длинах волн будет изменен в два раза. [c.112]

Лауэ пользовался формулой [2, 4] для подсчета суммарной интенсивности по поперечному сечению дебаевской линии, полученной от цилиндрического поликристаллического образца, совершенно не поглощающего рентгеновских лучей. Величина суммарной интенсивности понадобилась ему для нахождения ширины линии в зависимости от различных параметров. Ширина линии В была им определена иным способом, чем у Шеррера. В качестве меры ширины линии он взял величину отношения суммарной интенсивности произвольного поперечного сечения линии к максимальной величине ее для данной линии. Ширина линии по Лауэ В , называемая также интегральной шириной линии, удобна в теоретических расчетах и не зависит от формы кривой распределения интенсивности, тогда как ширина линии по Шерреру — В более удобна при экспериментальных измерениях. Здесь следует отметить, что В фВх . Расчеты привели Лауэ к следующей формуле, определяющей угловую интегральную ширину дебаевской линии от цилиндрического образца радиуса г, помещенного в камеру радиуса R [c.32]

В результате получаем кривую, приближенно изображающую в масштабе графика соотношение [6,5]. Очевидно, степень приближения построенной указанным способом кривой к нанесенной на тот же график экспериментальной кривой распределения интенсивности рассеивания рентгеновских лучей под малыми углами для данной полидисперсной системы будет тем выше, чем больше мы сумеем различить в нашей системе монодисперсных фракций. [c.50]

Эта теория устанавливает связь между наблюдаемой кривой распределения интенсивности рассеяния рентгеновских лучей в жидкости по углам и относительной частотой или вероятностью появления различных межатомных расстояний. [c.121]

Рис. 25. Кривые распределения интенсивности рентгеновских лучей при различных углах рассеяния 8-. а—чистый жидкий свинец вблизи точки плавления б—чистый жидкий висмут вблизи точки плавления в—жидкий сплав свинца и висмута эвтектического состава при- 150 С г—расчетная кривая интенсивности для сплава свинец-висмут, полученная суммированием кривых а и Ь (по А. И. Даниловой и В. И. Данилову).

Насыщенные сернистые соединения. Распределение циклических сульфидов по молекулярным массам устанавливается по интенсивностям пиков молекулярных ионов в тех случаях, когда они достаточно четко отделены от псевдомолекулярных ионов, образующих второй максимум на кривой распределения интенсивностей пиков этого гомологического ряда ионов в области более низких масс. Предварительно должно быть учтено изотопное наложение на основании данных о естественной распространенности изотопов. В первом приближении для этого может быть использована формула [c.339]

Особенности молекулярной структуры нафтеновых углеводородов находят также свое отражение в кривых распределения интенсивностей ионов по числу углеродных атомов [113]. Прн диссоциативной ионизации пяти- и шестичленных нафтеновых углеводородов образуется примерно равное количество нонов СзНх+ и С4Нд +, но существенно разное количество ионов [c.56]

Масс-спектр 7,7-диметилоктадиепа-3,4 [126] резко отличается от спектров других представителей этого ряда на кривой распределения интенсивностей пиков по числу углеродных [c.61]

Установление эмпирических зависимостей между структурой молекулы и ее масс-спектром приводит к выяснению общих закономерностей, управляющих процессами диссоциативной ионизации. Несмотря на то, что все еще отсутствует аппарат, который позволил бы количественно рассчитать масс-спектр индивидуального соединения, имеются предпосылки для вычисления количественных признаков, общих для типов соединений, С этих позиций весьма плодотворным оказалось использование кривых распределения интенсивностей пиков ионов по числу углеродных атомов в иоиах. Поскольку положение максимумов на кривых определяется величиной 2 в формуле СиНоп+г, то возможно установить состав гомологических рядов ионов, специфичных для углеводородных групп, спектры которых неизвестны [183]. С другой стороны, кривые отражают особенности молекулярной структуры изомеров, что было положено в основу создания методики раздельного определения циклопептановых и циклогексаиовых углеводородов в сложных смесях и идентификации типов этиленовых углеводородов [113, 115]. [c.80]

Рассмотрение кривых распределения интенсивностей по числу углеродных атомов в нонах показало, что кривые отражают не только черты, характерные для тппов углеводородов, но и некоторые различия в молекулярном строении изомеров. Так, прн диссоциации пяти- и шестичленпых нафтеновых углеводородов образуется прпмерио равное количество ионов (СзН, )+ п ио существенно различное количество [c.151]

Большинство аналитических методов, применяемых в компонентной аналитической химии, дают информацию и о качественном, и о количественном составе пробы. Если обозначить через 2 величину, характеризующую природу составных частей, а через у величину, характеризующую их количество, то в качестве примера можно привести постояннотоковую полярограм-му (рис. Д.174) и спектр, полученный в пламени (рис. Д.175). Таким образом, речь в данном случае идет о получении двухмерной аналитической информации. Превращение ее в одномерную в случае фотометрии пламени дало бы точки на оси z для качественного параметра (в данном случае для длин волн) и колоколообразную кривую распределения интенсивности эмиссии (количественный параметр) для определенного значения 2 (рис. Д.176,а и б). Такую одномерную аналитическую информацию используют в качественном анализе, например, при проведении классического разделения или при применении селективных цветных реакций, когда нужно получить сведения только об отсутствии или присутствии какого-либо элемента а также в количественном анализе, когда нужно только установить, какое количество определенного элемента вступило в реакцию. Не будем останавливаться на рассмотрении вопросов получения и обработки информации о структуре вещества, поскольку это не входит в задачи данной книги. [c.430]

Определение показателя текстуры проводили рентгеновским методом. Ошибка измерений составляла 5—10 %. По полученным кривым распределения интенсивности отраженных рентгеновских лучей, представляющих функцию распределения плотности нормалей [002] кристаллитов в пространстве, определяли степень текстурированности материала двумя различными способами по интенсивности дифракционных линий и по их форме. Для слаботекстурированных материалов за показа- [c.27]

Для опенки Отклонения осей цепей от оси текстуры можно ис пользовать рефлексы, расположенные на экваторе рептгенограммь и соответствующие небольшим величинам угла 0. Для этого на экваторе текстуррентгенограммы выбирается дуга средней интенсивности, расположенная возмох<но ближе к первичному лучу. На микрофотометре измеряют степень почернення вдоль дуги. Затем строят кривую распределения интенсивности по дуге, которая может характеризовать разброс осей молекул около оси текстуры. [c.111]

Рнс. 6.6. Кривые распределения интенсивностей пнков относительно полного ионного тока по числу атомов углерода в ионах [c.137]

В работе Кохендорфера п других с помощью метода гармонического анализа линий рентгенограмм было показано, что размытие линий обусловлено малыми размерами блоков и искажениями кристаллической решетки карбонильного железа. Газзаро и др. установили, что интенсивность линий с высокими порядками отражения ослаблена по сравнению с ннтенснвнсстью линий рентгенограмм отожженного карбонильного железа. Подобное ослабление интенсивности линий авторы работы отнесли за счет неучета доли интенсивности, приходящейся на хвосты кривой распределения интенсивности вдоль интерференции. [c.87]

На масс хроматограмме ПИТ выбирали около 350 масс-спектров содержащих большую часть ароматических углеводо родов с массами от 150 до 350 Абсолютные интенсивности пи ков, соответствующих данному иону во всех 350 спектрах, сум мировались, полученный среднии спектр использовался для расчета относительных интенсивностей пиков молекулярных ионов Интенсивности пиков молекулярных ионов группирова лись в 7 гомологических рядов для каждого ряда строилась кривая распределения интенсивностей пиков Эти кривые использовались для визуального сравнения разных образцов Для расчета коэффициентов корреляции и построения дендро грамм выбирались 70 наиболее интенсивных пиков молекуляр ных ионов [c.163]

Были получены кривые распределения интенсивностей пиков молекулярных ионов для конденсата и нефти из одной и той же скважины Скопление углеводородов, из которых образовались нефть и конденсат разделены большой толщей осадочной породы, состоящей из карбонатов и сланцев Тем не менее все кривые для нефти и конденсата оказались очень близки друг к другу как по величине пиков так и по форме кривых Это означает, что несмотря на большое расстояние между резервуарами по вертикали состав ароматических углеводородов не претерпел изменений из за различий в пути миграции и возмож ных различий в условиях созревания в резервуарах при разной температуре, что приводит к заключению об общем происхожде НИИ нефти и конденсата [c.163]

Ю. к. Овчинниковым и г. С. Марковой [56—60]. Ими изучены натуральный и бутилкаучук, полидиметилсил-оксан, полибутадиен, бутадиен-стирольные и бутадиен-нитрильные каучуки и др. На кривой распределения интенсивности было обнаружено несколько максимумов, соответствующих межмолекулярному взаимодействию. Для молекул асимметрической формы (длинных цепей) единственным объяснением является параллельная упаковка участков молекул в расплаве. Минимальные размеры параллельной упаковки составляют 1,3—1,5 нм и заметно меньше по величине по сравнению, например, с полиэтиленом. Интересно, что при 20 °С среднее меж-молекулярное расстояние в аморфном полибутадиене практически не отличается от обнаруженного в кристаллическом полибутадиене и что при повышении температуры до 150 °С это расстояние меняется мало (от 0,435 до 0,46 нм) [58]. В сополимерах молекулы раздвинуты заметно больше, чем в гомополимерах. [c.40]

Бъернхауг и Элефсон [4] по рентгенограмме аморфного полиметилметакрилата рассчитали функцию радиального распределения атомов и сравнили полученные экспериментально данные с теоретически рассчитанной функцией для некоторой принятой ими модели. Ими было показано, что если принять полностью беспорядочное расположение цепей, то теоретическая кривая не совпадает с экспериментальной кривой распределения интенсивностей. Овчинниковым и Марковой [5] были исследованы электронограммы расплавов ряда пластиков (ПЭ, гуттаперчи, политрифторхлорэти- лена, полиэтиленсебацината, полидиметилсилоксана), а Бо-хян, Овчинниковым, Марковой и Каргиным [5] были исследованы рентгенограммы каучуков НК, СКД, БК. Было обнаружено несколько аморфных максимумов, соответствующих межмолекулярному взаимодействию. Появление двух или более межмолекулярных максимумов в случае молекул асимметричной формы можно объяснить только параллельной упаковкой в расплаве участков молекул. Кроме того положение и интенсивность пиков, являющиеся молекулярными по своему происхождению, указывают на то, что некоторые цепи имеют параллельную упаковку. По расчетам авторов минимальные размеры упорядоченных областей в каучуках составляют 13—15 А и значительно меньше таковых в кристаллизующихся полимерах типа ПЭ. Аналогичная работа проведена и Катода [7]. [c.74]

В отличие от Сиссона и Кларка, проводивших микрофотометрирование рентгенограмм по кругу визуальным методом с интервалами 5 — 10°, мы разработали приспособление к фоторегистрирующему микрофотометру Цейса, синхронно вращающееся по мере поступательного движения оптического столика и автоматически регистрирующей кассеты. Таким путем нам удалось снимать сразу всю кривую распределения интенсивности для полукольца. [c.20]

Исследование кристаллических полимеров при температурах выше и ниже температур плавления их кристаллов было проведено нами совместно с А. В. Ермолиной на примере терилена и политрифторхлорэтилена. В этом исследовании электропографическим методом было показано, что интерфереп-циопные картины, полученные от образцов при температурах выше и ниже температур плавления их кристаллов, имеют между собой мпого общего. Совпадение основных максимумов на кривых распределения интенсивности когерентного рассеяния по углам для обоих полимеров дает возможность считать, что исследованные нами полимеры и в аморфном состоянии являются упорядоченными системами. Действительно, при построении кривых радиального распределения нами было обнаружено, что первые максимумы на кривых соответствуют расстояниям между атомами в молекуле полимера и являются следствием регулярного строения цепных молекул. Последние максимумы для обоих исследуемых полимеров соответствовали взаимному расположению молекул полимера (рис. 1). [c.117]

Большим периодом обычно называют величину d == XllQ, где Х — длина во.лны, а 20 — угол дифракции, соответствующий максимуму в распределении интенсивности малоуглового рассеяния рентгеновских лучей. Изучение больших периодов, в частности при различных температурах [1], представляет большой интерес, поскольку опо позволяет судить о различиях в степени порядка в структуре полимеров. Мы исследовали изменение большого периода в ориентированных волокнах полиэтилена низкого давления в области темие])атур от комн атной до 116°. Съемки рентгенограмм в больших углах показали, что степень ориентации кристаллитов в волокнах была весь-лш высокой и практически пе менялась после проведения температурных съемок, поскольку волокна в образце находились в натянутом состоянии. Максимальное отклонение осей цепей от оси волокна (рассеяние текстуры) не превышало 10—15°. Ориентированный образец волокон помещался в печку, установленную на малоугловой камере. Температура контролировалась с точностью до 2°. При данной температуре снималась вся кривая малоуглового рассеяния. Остальные условия эксперимента были такими же, как в работах [2, 3]. Съемки кривых рассеяния проводились в течение нескольких пос.тедовательных циклов нагревания и охлаждения одного и того же образца. Измерения повторялись многократно, и результаты хорошо воспроизводились. Кривые распределения интенсивности меридионального малоуглового рефлекса, получен ныо в цикле 1 при повышении температуры до 113°, приведены ira рис. 1, а нри понижении температуры до 20° — на рис. 2. При [c.176]

Кривую распределения энергии в решетке можно получить другим расчетным путем, например для автоколлимациионной схемы (а = 0). Прежде всего для данной решетки по формуле (121) и известной из опыта (или по заданию) определяют угол г. Затем, используя выражение (117), имея в виду, что г ) =1, вычисляют углы ф для различных значений лежащих по обе стороны от шах- После этого по формуле (123) определяют соответствующие значения угла 3. Наконец, по выражению (127) вычисляют относительное распределение энергии I по спектру, принимая а = 0. Если полученные значения / нанести на график в зависимости от Я, то получится кривая распределения интенсивности в решетке для автоколлимационной схемы. [c.112]

Для количественного определения ширины линии В Шеррер микро-фотометрировал рентгенограмму, получал кривую распределения интенсивности и измерял ширину интерференционных пиков на уровне, соответствующем интенсивности, составляющей половину от максимальной (за вычетом фона). Определенная таким образом ширина дебаевской линии известна под названием полуширины линии, или ширины линии по Шер-Реру. [c.30]

До сих пор, говоря об определении размеров кристаллических частиц в порошках рентгеновскими методами, мы представляли себе порошок в виде некоторой монодисперсной системы. Разумеется, что это представление — лишь первое приблгокение к действительности, так как всякий реальный порошок представляет собой совокупность огромного числа частичек, размеры которых могут варьировать в значительных пределах, т. е. является полидисперсной системой. В настоящее время запросы практики требуют умения получать более совершенные характеристики высокодисперсных систем по рентгеновским и электронографическим данным. В настоящем параграфе речь идет о разработке в теоретическом и экспериментальном отношениях методов определения закона распределения частиц высокодиснерсных систем по размерам на основании рентгенографических данных. Такими данными являются кривые распределения интенсивности рентгеновских лучей по углам рассеяния в окрестности того или иного интерференционного максимума [c.40]

В книге Пинеса излагается Фурье-метод анализа кривой распределения интенсивностей в размытой линии. Это позволяет определять, происходит ли размытие линий благодаря высокой дисперсности кристаллов или от искажений кристаллической решетки, и отсюда находить средний размер кристаллитов, распределение их по размерам и распределение микронапряжений. [c.6]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология