Плотность числового распределения, кривые

В силу стохастической природы движения элементов потока время их пребывания в аппарате является случайной величиной. Дальнейший анализ экспериментальных кривых отклика возможен, если принять, что С-кривая характеризует плотность вероятности, а -кривая — интегральное распределение частиц потока по их времени пребывания. Основные свойства распределения случайной величины можно описать числовыми характеристиками, которые определяют наиболее [c.625]

Моменты функции РВП и моменты весовой функции. Экспериментальную функцию распределения оценивают вероятностными числовыми параметрами, которые делятся на два типа характеристики положения и характеристики формы кривой распределения. К первым относятся такие числовые параметры, как математическое ожидание распределения, мода распределения, плотность вероятности моды, медиана. В качестве характеристик формы обычно служат центральные моменты распределения порядка выше первого второй момент (дисперсия), третий момент, четвертый и т. д. В табл. 4.1 приведены формулы для определения наиболее часто используемых моментов по экспериментальным функциям отклика на типовые возмущения по концентрации индикатора (здесь — объем реактора У — объем введенного индикатора). [c.214]

Параметр Од характеризует форму кривой распределения. Чем больше Од, тем равномернее распределена, плотность вероятности вдоль числовой оси. При уменьшении Од возрастает плотность вероятности малых по абсолютной величине погрешностей. [c.34]

Производственные погрешности представляются в виде кривых плотности вероятности распределений, которые могут быть описаны рядом числовых характеристик. На рис. 26.11 изображено в общем виде распределение производственных погрешностей массы дозы в упаковке. Здесь е — отклонение центра группирования погрешностей д (среднего значения) от номинала дго, характериззтощее систематическую составляющую производственной погрешности д макс — Хыш, — поле рассеяния, характеризующее случайную составляющую производственной погрешности. [c.1176]

Структура -парафинов при комнатной температуре. Применяя современную методику эксперимента, А. Ф. Скрышевский, А. 3. Голик, И. И. Адаменко и Л. П. Кондратенко исследовали при комнатной температуре структуру жидких н-парафинов от гексана СеНи до гептадекана С17Н38. Использовалось монохроматическое излучение молибдена. Угловое распределение интенсивности рассеяния измерялось в интервале 5 =0,7 12 А . Регистрация рентгеновского излучения осуществлялась с помощью сцинтилляционного счетчика. Расчет функций распределения электронной плотности производился на электронно-вычислительной машине при различных значениях параметра 5. Исследования показали, что жидкие н-парафины дают однотипные кривые интенсивности. Угловое положение их максимумов в пределах точности измерения углов рассеяния соответствуют значениям 5, равным 1,37 3,01 5,25 А Ч Отличие кривых заключается в числовом зна- [c.217]