Спектры высоких порядков

Системы со спином / = 1/2 в ориентированной фазе. Одноквантовые спектры дипольно-связанных систем со спином 1/2 (растворов в жидких кристаллах и т.д.) чрезмерно сложны и содержат много избыточной информации. Поскольку многоквантовые спектры высоких порядков содержат существенно меньше переходов, число наблюдаемых линий можно согласовать с числом неизвестных параметров (расстояния между ядрами, валентные углы и параметры порядка) [5.12]. [c.297]

До сравнительно недавнего времени спектры высоких порядков оставались недосягаемыми из-за большой интенсивности духов Роуланда. В настоящее время успехи, достигнутые в технологии нарезания решеток с применением методов интерференционного контроля шага резца, позволили преодолеть это препятствие. [c.160]

В области спектра от 25 до 50 мк может применяться призма из йодистого цезия, и поэтому здесь приходится бороться только с рассеянным коротковолновым излучением. Начиная с 50 мк, призмы уже не применимы, необходимо устранять не только рассеянный свет (доля которого в соответствии с приведенными данными резко возрастает по мере продвижения в длинноволновую область), но также и коротковолновое излучение в спектрах высоких порядков. [c.278]

Если использовать решетку для наблюдений спектров высоких порядков (что, как мы увидим, имеет ряд существенных преимуш,еств), то область, свободная от наложений, уменьшается. При этом приходится принимать ряд специальных мер для разделения спектров соседних порядков. Найдем область, свободную от наложений, т. е. расстояние в длинах волн между двумя спектрами соседних порядков, дифрагированных под одним и тем же углом ф. Поскольку углы падения и углы дифракции для соседних налагающихся порядков одинаковы, то из уравнения (2.6) следует [c.48]

Сказанное делает понятным широкое применение эшелле в современных приборах. Из-за перекрывания спектров высоких порядков при работе с эшелле необходим дополнительный призменный монохроматор — разделитель порядков. [c.157]

Линейная дисперсия дифракционных приборов практически не зависит от длины волны в пределах спектра одного порядка. Наибольшая линейная дисперсия достигается на приборах с эшелле, работающих в спектрах высоких порядков. [c.125]

Последний пример показывает, что при одном и том же угле блеска выгоднее использовать решетку с большим числом штрихов в низких порядках, чем с меньшим числом штрихов в высоких порядках. Эта выгода еще увеличивается из-за того, что в спектрах высоких порядков сильнее влияние периодических ошибок при нанесении штрихов и других дефектов изготовления решеток это влияние сказывается в появлении рассеянного света и в наличии у каждой спектральной линии слабых спутников так называемых духов Роуланда и Лаймана), что может привести к ошибкам при исследовании спектров. [c.58]

В приборах с дифракционными решетками дисперсия и разрешающая способность увеличиваются при использовании спектров высоких порядков. Но в этих спектрах больше рассеянного света и сильнее духи , решетку с хорошей концентрацией света в высоких порядках сделать трудно, и для получения одной и той же дисперсии часто выгоднее применять многократную дифракцию в низких порядках. [c.175]

Следует отметить, что практическая разрешающая способность хороших дифракционных решеток мало отличается от теоретической. Из выражения (45) видно, что для увеличения разрешающей способности решетки следует пользоваться спектрами высоких порядков (большое к). Однако это связано с уменьшением интенсивности, которая падает при переходе к спектрам высок 1х порядков, а кроме того, с сокращением области, свободной от наложений. Поэтому обычные решетки редко применяются для работы со спектра.ми выше четвертого порядка. Чаще пользуются спектрами первого или второго порядка. [c.128]

Серьезной и часто встречающейся проблемой помех в рентгеновской спектроскопии является проблема наложений спектров высоких порядков. Один из приемов решения этой проблемы — применение кристаллов, у которых спектры второго порядка либо отсутствуют, либо очень слабы [20]. [c.224]

Для получения максимального полезного сигнала, разрешающая способность (зависящая в основном от коллимации и от кристалла-анализатора) должна быть ограничена до минимума, необходимого для разрешения интересующих линий. Отношение сигнала к фону часто можно значительно улучшить применением анализатора импульсов, подавляющим мешающие сигналы непрерывного спектра высоких порядков. [c.231]

Из выражения (40) видно, что для увеличения разрешающей способности решетки следует пользоваться спектрами высоких порядков (большое к). Однако это связано с сокращением области, свободной от наложений. Поэтому обычные решетки редко применяются для работы со спектрами выше четвертого порядка. Чаще пользуются спектрами первого или второго порядка. [c.60]

Спектрограф СТЭ-1. Прибор позволяет использовать диффракционные спектры высоких порядков, поэтому дисперсия и разрешающая способность его весьма значительны. Наложение спектров соседних порядков устраняется дополнением решетки диспергирующим элементом (призмой), направление дисперсии которого перпендикулярно направлению дисперсии решетки. Спектр прибора состоит из ряда строк , каждая из которых соответствует одному порядку спектра решетки. [c.230]

Эшелле — отражательная дифракционная решетка, обеспечивающая концентрацию дифрагированного излучения в спектрах высоких порядков к = 70-150). При относительно небольшом числе штрихов (до 100 штрих/мм) для эшелле характерны очень высокие дисперсия и разрешающая способность. Профиль штриха у эшелле такой же, как и у эшелетта, а угол блеска достигает 75°. [c.383]

Повышение угловой дисперсии спектрографа с дифракционной решеткой возможно нри переходе к спектрам высоких порядков. Однако в этих случаях происходит переналожение разных длин волн спектров более высоких порядков. Можно определить свободный спектральный интервал АЯ между налагающимися дли- [c.22]

Размер заштрихованной площади обычно не превышает 150 X 100 мм (100 мм — высота штриха). Для специальных целей делают решетки и больших размеров. Заготовки для вогнутых решеток имеют радиусы кривизны от 0,5 до 12 м, наиболее употребительны г — 1, 2, 3, 6 л. Общее число штри-хов решетки шириной 100 мм, имеющей 1200 штр/мм, равное ее разрешающей способности в первом порядке, составляет 120000. Чаще употребляются решетки с разрешающей способностью в первом порядке 50 000—80 ООО. Реальная разрешающая способность в первом порядке у хороших решеток близка к рэлеевской. В спектрах высоких порядков вследствие ошибок их изготовления разрешающая способность обычно ниже, чем следует из теории. Чем больше штрихов на миллиметр содержит решетка, тем больше относительные погрешности ее изготовления. Во всех старых машинах подачи резца или заготовки осуществлялись точным винтом и ошибки постоянной решетки обуславливались ошибками подающего механизма. Каждый винт [c.62]

На щель надеваются в специальных насадках светофильтры (ЖС-12, КС-14, БС-4). Назначение светофильтров — исключить наложение спектров высоких порядков на рабочий спектр первого порядка. При помощи зажимов на рамке кассетной части могут быть установлены кассета или специальный адаптер для кинопленки шириной в 35 лгж и длиной до 5 м. Кассета предназначается для фотопластинки размером 9X24 см и может перемещаться вертикально, что дает возможность фотографировать на одной пластинке 60—80 спектров проб и железа. [c.40]

Полученные результаты свидетельствуют о том, что рентгенофлуоресцентный метод позволяет сравнительно быстро и точно провести анализ Т1 в У0С1з с чувствительностью 1 10 вес. %. Для повышения чувствительности определения У в Т1С14 необходимо увеличение разрешающей способности прибора за счет выбора кристалла-анализатора с малыми межплоскостными расстояниями или же за счет регистрации спектров высоких порядков, чтобы проводить анализ по более интенсивной ЛГа-линии У. [c.210]

Возможность нарезать решетку, дающую большую интенсивность в спектрах высоких порядков, позволила повысить разрешающую способность и реальную светосилу приборов с дифракционными решетками. Такого рода решетки были названы эшелеттами и сперва применялись для работы в инфракрасной области. [c.130]

Очевидно, улучшения отношения сигнал/шум для увеличения чувствительности можно достигнуть применением спектров высоких порядков дифракционного спектрографа. Это было показано еще в ранних исследованиях в Массачусетском технологическом институте [24] 12-метровым дифракционным спектрографом Уодсворта сравнительно небольшой светосилы можно обнаружить около 25 линий олова в специальной пробе, содержащей следы олова, тогда как с кварцевым призменным спектрографом средней дисперсии значите.льно большей светосилы вообще не было обнаружено ни одной линии. Теоретическое обоснование этого факта было предлол<ено недавно Шнейдером [25]. [c.167]

Размер заштрихованной плош ади обычно не превышает 150 X ЮОмм (100 мм — высота штриха). Для специальных целей делают решетки и больших размеров. Заготовки для вогнутых решеток имеют радиусы кривизны от 0,5 до 12 м наиболее употребительны г = 1, 2, 3, 6. и. Общее число штрихов решетки шириной 100 мм, имеющей 1200 штр1мм, равное ее разрешающей способности в первом порядке, составляет 120 ООО. Чаще употребляются решетки с разрешающей способностью в первом порядке 50 ООО — 80 ООО. Реальная разрешающая способность в первом порядке у хороших решеток близка к рэлеевской. В спектрах высоких порядков вследствие ошибок [c.61]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология