Характеристика важнейших рентгеновских линий

З. Характеристика важнейших рентгеновских линий [c.43]

Удельную поверхность катализатора обычно измеряют методом БЭТ по физической адсорбции азота. На основании предположений о форме частиц и их известной плотности можно рассчитать средний диаметр частиц. Если частицы порошка агломерированы, этот способ даст результаты, не согласующиеся с результатами, найденными по измерениям уширения рентгеновских линий. Для нанесенных металлов и многокомпонентных оксидных систем общая поверхность образца не является очень важной характеристикой. Поверхность нанесенных металлов, как правило, определяют методом селективной хемосорбции. При этом приходится предположить, что на носителе адсорбция не происходит, и в интерпретации результатов можно быть уве- [c.30]

Строение электронной оболочки и свойства элементов. Структура электронной оболочки атомов химических элементов изменяется периодически с ростом порядкового номера элемента. Поскольку свойства есть функция строения электронной оболочки, они должны находиться в периодической зависимости от заряда ядра атома. И действительно, для самых разнообразных характеристик элементов указанная зависимость выражается периодическими кривыми, имеющими ряд максимумов и минимумов. Даже такие на первый взгляд непериодические свойства, как удельная теплоемкость простых веществ, частота линий рентгеновского спектра элементов и т.д., при внимательном анализе оказываются периодическими. Объясняется это тем, что периодичность присуща всей электронной оболочке атолюв, а не только ее внешним слоям. Рассмотрим кратко наиболее важные периодические свойства элементов. [c.45]

Важной характеристикой рентгеновской пленки является разрешающая способность, определяемая количеством раздельно различимых штриховых линий одинаковой толщины на длине 1 мм, т. е. она характеризует способность пленки фиксировать раздельно изображения близко расположенных неоднородностей контролируемого изделия. I [c.126]

Важное значение для аналитической практики имеет рентгеновский флуоресцентный анализ. При облучении исследуемого вещества рентгеновскими лучами от атомов отрываются электроны внутренних уровней, которые занимаются электронами выше расположенных орбиталей. Освобожденная при этом энергия выделяется в виде вторичного рентгеновского излучения с меньшей частотой, чем у возбуждающего. Длина волны полученного вторичного излучения служит характеристикой элементов, присутствующих в исследуемой пробе, а интенсивность соответствующих рентгеновских спектральных линий — мерой содержания этих элементов в пробе. [c.170]

Для кристаллических материалов с величиной кристаллов более 10 ц, вследствие крупности размеров кристаллов, линии на рентгенограммах распадаются на отдельные пятна, число которых пропорционально числу кристаллов в объеме, освещаемом пучком рентгеновских лучей. Простым подсчетом числа пятен на рентгенограмме можно установить число кристаллов и следить за его изменением в том или ином процессе, если величина кристаллов находится в пределах от 10 до 100 а, а при некотором видоизменении методики верхний предел может быть расширен вплоть до крупных монокристаллов. Этот метод был применен при исследовании процессов рекристаллизации сплавов. Знание зависимости числа кристаллов от температуры рекристаллизации для меди и латуни способствует раскрытию сложных процессов рекристаллизации. Обработка получаемых данных позволяет чисто рентгенографическим методом устанавливать такие важные характеристики, как скорость образования центров рекристаллизации и линейная скорость роста кристаллов. [c.19]

Как уже отмечалось, диаметр частиц аэрозоля является весьма важной их характеристикой от диаметра частицы зависит коэффициент диффузии, ширина линий рентгеновского спектра, величина поверхности частиц и т,д. [c.30]

Метод дифракции нейтронов позволяет ясно различать элементы с очень близкими атомными номерами, и на этом основании его другое важное применение, например, при изучении переходов порядок— беспорядок в некоторых сплавах. При упорядоченном расположении можно обнаружить линии сверхструктуры. Такое исследование было проведено для NigMn методом дифракции нейтронов [27]. Эту работу нельзя было провести с помощью рентгеновских лучей вследствие довольно близких характеристик рассеянйя марганца и никеля. Изучение структур типа шпинелей является другим примером, когда метод дифракции нейтронов позволяет различать магний и алюминий значительно четче, чем метод дифракции рентгеновских лучей. [c.56]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология