Поправка на1 толщину образца

Ввести поправку на толщину образца. Любой образец имеет определенную толщину, и рентгеновское излучение, проходя сквозь него, всегда будет поглощаться тем больше, чем толще образец и мягче излучение. Если предположить (в первом приближении), что пучок рентгеновского излучения параллелен и полностью поглощается в поверхностном слое образца, то линии на рентгенограмме должны получаться только за счет отражения от тонкого поверхностного слоя. Поэтому измеренные расстояния 21 будут всегда больше истинных. Поправку можно рассчитать по формуле [c.119]

Распределение воды по толщине мембраны. Определение профиля распределения концентрации воды по толщине проводилось с помощью многослойных мембран [96, 103]. Мембрану складывали из трех намоченных в воде слоев целлофана таким образом, чтобы между слоями не попали пузырьки воздуха. Затем из нее отжимали избыточную воду и помещали в ячейку установки. После работы в течение заданного времени воду из ячейки сливали через сифон, мембрану вынимали, осушали фильтровальной бумагой ее поверхность, расслаивали, из каждого слоя вырезали образец и помещали в бюкс с притертой крышкой. Затем весовым методом определяли содержание воды в образце. Поскольку мембрана зажималась в ячейке установки тремя быстросъемными струбцинами, между моментом выключения установки и закупоркой в бюкс последнего образца проходило не более одной минуты. Это время замеряли секундомером, а затем по кривой кинетики десорбции воды (рис. 11-48) находили поправку на испарение жидкости из образца за это время. Полученная таким образом степень набухания выражала концентрацию воды в мембране. Результаты измерений показали, что по толщине существует градиент концентрации воды (рис. П-49, а), который может сильно изменяться во времени (рис. П-49, б), не оказывая при этом влияния на скорость проницания мембраны. [c.184]

Определение проводят в приборе (рис. 139). Излучение от источника попадает в две ионизационные камеры, соединенные противоположными полюсами через индикатор нулевого тока 3. В одну ионизационную камеру излучение попадает через поглотитель постоянной толщины, а в другую — через испытуемый образец 5 и подвил<ный клин 4. Положение клина калибруется в единицах отношения Н С. В результат измерения вносится поправка на изменение р. Точность определения составляет 0,03%. [c.363]

Ввести поправку на толщину образца. Любой образец имеет определенную [c.120]

Оба рассмотренных случая, хотя являются часто встречающимися, далеко не исчерпывают того многообразия искажений плоскопараллельного слоя образца, которые могут возникать на практике. При недостаточно хорошей полировке окон кюветы или тонкого шлифа кристалла, а тем более при прессовании тонких таблеток из диспергированного вещества реальная толщина исследуемого образца может существенно отличаться от равномерной. Закон изменения толщины образца в подобных случаях, как правило, неизвестен, поэтому можно говорить только об оценке максимальной ошибки измерения оптической плотности образца, вызываемой неравномерностью его слоя. Если известно максимальное относительное отклонение толщины образца А//, которое всегда можно оценить, зная среднюю его толщину и качество обработки его поверхности или степень измельчения порошка для таблетки, то максимальную ошибку измеряемой оптической плотности можно вычислить, допустив, что исследуемый образец в сечении имеет форму прямоугольного уступа (см. рис. 78, б). Такие максимальные априорные поправки для образцов неизвестного профиля, как и в случае клиновидного слоя, для удобства пользования сведены в табл. 18. [c.192]

Введение поправки на толщину образца. Необходимость введения поправки на толщину образца будет очевидна, если посмотреть на рис. 91. В самом деле, любой образец имеет конечную толщину, и рентгеновские лучи, проходя через него, всегда будут испытывать поглощение тем большее, чем толще образец и мягче лучи. Если предположить (в первом приближении), что пучок рентгеновских лучей параллелен и полностью поглощается в поверхностном слое образца, то линии на рентгенограмме должны получаться только за счет отражения от тонкого поверхностного слоя. Поэтому измеренные расстояния 2Ь будут всегда больше истинных. [c.161]

Светопрозрачность стекла рассчитывают следующим образом. Например, образец имеет толщину Л=35 мм, отсчет по фотометру равен 75,5 мм и /о=80 см. По таблице находят поправку для толщины 35 мм, равную 1,6 см. Тогда светопрозрачность исследуемого образца составляет [c.46]

Анализ образцов в виде тонкой фольги представляет собой простейшую аналитическую проблему. До некоторой степени микрорентгеноспектральный анализ образцов в виде тонкой фольги проще, чем анализ плоских массивных образцов. Когда образец очень тонкий, упругое рассеяние и потери энергии уменьшаются до такой степени, что эффекты атомного номера исключаются или в лучшем случае оказываются второстепенными. Поскольку сечения как упругого, так и неупругого рассеяния уменьшаются с увеличением энергии пучка, образцы в виде тонкой фольги лучше всего анализировать с помощью аналитического электронного микроскопа (АЭМ), который обычно представляет собой комбинацию просвечивающего и просвечивающего растрового электронных микроскопов, работающих при ускоряющем напряжении 100 кВ и снабженных рентгеновским спектрометром с дисперсией по энергии. В случае отсутствия АЭМ можно использовать РЭМ или рентгеновский микроанализатор, работающий при ускоряющем напряжении 40—60 кВ, хотя роль эффектов атомного номера в зависимости от состава фольги или ее толщины может стать значительной. Как поглощение, так и флуоресценция также становятся незначительными для тонкой фольги в зависимости только от толщины фольги и независимо от энергии пучка. Таким образом, при анализе образцов в виде тонкой фольги можно пренебречь всеми матричными эффектами — влиянием атомного номера, поглощением и флуоресценцией, па которые должна вводиться поправка при анализе массивных образцов. В результате анализ тонкой фольги можно провести ири помощи простого метода относительной чувствительности, [169, 170]. [c.57]

Преимущества использования пленок состоят в том, что нет необходимости вводить поправки на поглощение растворителя или окощка кюветы и что образец находится в особенно удобной для хранения или дальнейших исследований форме. Имеющиеся недостатки не столь очевидны. К ним относятся отсутствие точных сведений о толщине пленки, в особенности для обычно необходимых очень тонких пленок (0,025—0,2 мм), изменение спектра в зависимости от напряжения и кристалличности пленок, которые не воспроизводятся от опыта к опыту, а также возможное присутствие остаточного растворителя. Во многих случаях от этих тонких пленок получаются интерференционные полосы, которые затрудняют интерпретацию спектра. Однако для обычной качественной работы большинство этих недостатков можно преодолеть или их влияние может быть столь малым, что им можно пренебречь. [c.253]

После того как найден образец оптимальной толщины, производят промеры интенсивности вблизи от первичного пучка лучей, под различными углами. Однако эти данные требуют существенной корректировки. Счетчик Гайгера, будучи чрезвычайно чувствительным прибором, реагирует на некоторые побочные воздействия, поэтому необходимо систематически производить калибровку счетчика, чтобы уметь учитывать величину погрешности его отсчетов. Кроме того, необходимо учесть влияние на полученные данные рассеяния под малыми углами лучей основного пучка в воздухе. Для внесения соответствующей поправки авторы измеряли интенсивность для данного угла дважды помещая образец 6 перед выходной щелью коллиматора, как показано на рис. 4, и, затем, помещая образец 5 во вспомогательную камеру 7 между окном рентгеновской трубки и входной щелью коллиматора. [c.53]

Две схемы Де Витта и др. [28, 29] используются для исследования мягких тел после замены коаксиальных цилиндров, применяемых для жидкостей, на цилиндрический образец, который подвергается деформации кручения на малые углы. Формфактор образца такой же, как и для ползучести при кручении, но в расчеты входит момент инерции и жесткость поддерживающей проволоки. Верхний предел частотного диапазона в этом методе определяется тем, что толщина образца в виде сэндвича должна быть мала по сравнению с длиной волны поперечных колебани пли соответственно длина цилиндра должна быть мала по сравнению с длиной волны колебаний кручения. Обе длины волны приблизительно равны (С7р) Если частота слишком высока, то инерционные эффекты дают дополнительные ошибки поправка первого порядка для простого сдвига дана в следующем параграфе. [c.135]

Значении Л = 370. и /г взято в скобки, поскольку образец Si02-I- Л является узкопористым и для него характерно усиление адсорбционного потенциала по отношению к таким большим молекулам, как молекула бензола. Этот эффект усиления приводит к аномально высоким расчетным значениям 8 19]. Преимущ,ественный диаметр пор вычислялся по уравнению Кельвина для десорбционной ветви без поправки на толщину адсорбционной пленки. Поперечник сферолитов оценивали по формуле В = [c.34]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология