Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Энергия пучка

Рис. 3.30. Зависимость полного коэффициента вторичной эмиссии (т)+б) от энергии пучка Еа. Рис. 3.30. Зависимость полного <a href="/info/135140">коэффициента вторичной эмиссии</a> (т)+б) от энергии пучка Еа.

    Рамановское испускание растворителя (комбинационное рассеяние). При комбинационном рассеянии света длина волны отличается от длины волны возбуждающего света. Это происходит потому, что при рассеянии света часть энергии пучка может перейти в энергию колебаний или, если облучаемая молекула находится в колебательно-возбужденном состоянии, то она может отдать колебательную энергию фотону. Идентифицировать полосы комбинационного рассеяния нетрудно, поскольку при изменении длины волны возбуждающего света они всегда сдвинуты на одно и то же расстояние (в шкале волновых чисел) от линии возбуждения. Для уменьшения рамановского рассеяния используют отсекающие фильтры или на пути пучка флуоресценции помешают поляризатор, что уменьшает интенсивность рамановских полос, поскольку рамановское испускание-достаточно поляризовано. [c.73]

    От 50 до 70 % энергии пучка при падении на поверхность ванны превращается в тепловую энергию. Основная часть этой энергии отводится охлаждающей кристаллизатор водой, т. е. представляет собой тепловые потери ванны и слитка. Вторая часть тепловых потерь представляет собой потери излучением поверхности расплавленного металла ванны (15 — 25%). Эта энергия поглощается стенками рабочей камеры печи и частично верхней частью кристаллизатора. До 5 % энергии может расходоваться на испарение металла ванны. [c.254]

    Кинетическая энергия пучка электронов, прошедших ускоряющую разность потенциалов 1/уск, выделяющаяся на бомбардируемой поверхности при попадании на нее п электронов в 1 сек, [c.235]

    При низкой энергии пучка электронов наиболее интенсивный пик в спектре (так называемый максимальный, или основной пик) обычно соответствует молекулярному иону исходной молекулы. Пик молекулярного иона иногда называют пиком исходного иона. Поскольку заряд исходного иона равен 1, отношение mie для этого пика дает молекулярную массу исследуемого вещества. Пик молекулярного (исходного) иона в спектре, представленном на рис. 28-14, наблюдается при mie 136, а максимальный (основной) пик — при mie 93. [c.524]

    Световая энергия пучка всегда рассеивается в боковых направлениях. Поэтому пучок никогда не имеет совершенно четких границ. [c.57]

Рис. 3.2. Зависимость сечения упругого рассеяния [уравнение (3.4)] от атомного номера для о=Ю кэВ (а) и от энергии пучка для железной мишени (б). Рис. 3.2. Зависимость <a href="/info/1430340">сечения упругого рассеяния</a> [уравнение (3.4)] от <a href="/info/7168">атомного номера</a> для о=Ю кэВ (а) и от <a href="/info/28091">энергии пучка</a> для железной мишени (б).

    Расчеты, проведенные методом Монте-Карло для мишеней, состоящих из углерода (2 6), железа (2 = 26), серебра (2 = 47) и урана (2 = 92), показывают, что линейные размеры области взаимодействия при фиксированной энергии пучка уменьшаются с возрастанием атомного номера, как видной из рис. 3.7. Это является прямым следствием возрастания сечения упругого [c.32]

    Зависимость от энергии пучка [c.37]

    Размер области взаимодействия сильно зависит от энергии, с которой электроны попадают на образец. Зависимость области взаимодействия в железе от энергии пучка демонстрируется на рис. 3.8. Увеличение ее размеров с ростом энергии пучка становится понятным при исследовании уравнений (3.4) и (3.5). Сечение упругого рассеяния обратно пропорционально квадрату энергии Таким образом, по мере возраста- [c.37]

Рис. 3.8. Расчет области взаимодействия методом Монте-Карло в железе для разное энергии пучка. Рис. 3.8. <a href="/info/473610">Расчет области</a> взаимодействия <a href="/info/12333">методом Монте-Карло</a> в железе для <a href="/info/365246">разное энергии</a> пучка.
    Энергия пучка. Поведение б в зависимости от энергии схематически показано на рис. 3.30. Проходя через нуль при нулевой энергии пучка, коэффициент вторичной электронной эмиссии возрастает при. увеличении энергии, достигая единицы при ускоряющем напряжении примерно в 1 кВ. Максимум, слегка превышающий единицу для металлов и лежащий выше 5 для неметаллов, наблюдается в интервале энергий 1—2 кэВ [46]. При дальнейшем увеличении энергии пучка б уменьшается и снова проходит через единицу в интервале энергий 2— 3 кэВ и продолжает уменьшаться до величины 0,1 для неметаллов при возрастании энергии пучка до энергии 20 кэВ. Данные работы [47] показывают, что влияние энергии пучка меняется при изменении атомного номера мишени (табл. 3.4). [c.64]

    Обсуждение понятий, входящих в определение глубины области генерации рентгеновского излучения, подытоживается на рис. 3.43. На этом рисунке приводится сравнение глубины области генерации линии Ка алюминия, линии Ка меди в матрице с плотностью 3 г/см (например, алюминий) и в матрице с плотностью —10 г/смз (например, медь, никель) при одной и той же энергии пучка. В матрице с низкой плотностью рентгеновское излучение как алюминия, так и меди образуется иа больших глубинах, чем в матрице с высокой плотностью. Кроме [c.83]

    Непрерывный спектр излучения содержит рентгеновское излучение всех энергий вплоть до энергии падающего пучка. Так как наиболее эффективная генерация флуоресцентного излучения происходит за счет рентгеновского излучения с энергией чуть выше края поглощения, то всегда будет иметь место флуоресценция за счет непрерывного излучения. Расчет интенсивности этой флуоресценции включает рассмотрение вклада части спектра непрерывного излучения, начиная от энергии поглощения кр до энергии пучка о- Б работе [64] подробно обсуждались само это явление и расчет. [c.90]

    Энергия пучка (-20 кэВ. Внутренний круг дает максимальную глубину образования Излучения Реу под действием электронов пучка. [c.91]

    Демонстрируется возможность быстрого обзора образца в РЭМ и отсутствие поворота изображения. Энергия пучка 20 кэВ. [c.105]

    Общая эффективность зависит от энергии детектируемых электронов. Функция передачи (рис. 4.21) обычно линейно растет выше уровня пороговой энергии (из-за необходимости для электрона обладать достаточной энергией для перехода через внешний электрод и неактивный слой кремния). Из рис. 4.21 видно, что твердотельный детектор дает большой сигнал (усиление детектора) для высокоэнергетических отраженных электронов (гл. 3). Наличие порога приводит к полной отсечке низкоэнергетических отраженных электронов (<5 кэВ), которые наименее желательны, так как возникают на самом большом расстоянии от точки падения пучка. Реальную функцию передачи твердотельного детектора можно обычно измерить путем его установки непосредственно под пучком, изменяя энергию пучка при постоянном токе. [c.130]

    Образец сплав алюминий — никель энергия пучка 20 кэВ. [c.137]

    Первый масс-спектрометр был сконструирован Демпсте-ром Б 1920 г. [3]. В этом приборе применен источник ионов, разработанный Ниром, в котором положительные ионы возникали в результате бомбардировки молекул электронами. Этот тип источника обеспечивал образование ионов с примерно одинаковой небольшой кинетической энергией. Ускорение ионов происходило за счет большой разности потенциалов ионы проходили через щель. Таким образом, получался пучок, в котором все ионы обладали близкой по величине кинетической энергией. Пучок ионов отклонялся на 180° магнитным полем, расположенным перпендикулярно направлению движения ионов, и отклоненные ионы фокусировались на щель, через которую могли проходить только ионы с определенным отношением массы к заряду. Масс-спектрометры с таким разделением ионов относят к приборам статического типа (рис. 1). [c.6]


    В разд. 6 приведены методы и фактические данные для решения характерных для электротермических установок задач теплообмена к таким задачам относятся нестационарный процесс нагрева изделий с внутренними источниками теплоты, теплообмен между нагревателем и изделием в печи сопротивления с учетом кoнфигypaциIi нагревателя, инфракрасный нагрев изделий с использованием темных и светлых излучателей II т. д. Особо следует выделить приведенные в разделе данные для расчета высокотемпературных процессов теплообмена при нагреве и плавке металлов в электронно-лучевых и плазменных установках, отличающихся специфическими видами теп-лопереноса (за счет кинетической энергии пучка электронов или энергии струи плазмы). [c.10]

    В ЭТУ, использующих электронно-лучевой нагрев, электрическая энергия преобразуется сначала в кинетическую энергию электронного пучка, бомбардирующего нагреваемую поверхность, а затем, при столкновении пучка с поверхностью нагрева, в тепловую. Ускоренные электроны пучка, достигнув поверхности нагрева, внедряются в нее на определенную глубину. Г1ри пробеге в веществе электроны взаимодействуют с его кристаллической рещеткой, в результате чего возникают возмущения электрических полей микрочастиц, образующих эту решетку. Внешне эти возмущения проявляются как увеличение амплитуды колебаний микрочастиц вещества, т, е. как рост его температуры. Таким образом, основная доля кинетической энергии пучка бомбардирующих электронов превращается в теплоту, разогревающую вещество в области падения на него пучка. Далее теплота распространяется в веществе либо за счет его теплопроводности при нагреве твердого тела, либо за счет теплопроводности и конвекции при нагреве жидких [c.329]

    С ростом мощности, подводимой к нагреваемой поверхности, увеличиваются потери энергии пучка в промежуточной среде Рпрои, что ограничивает дальнейшее повышение температуры поверхности металла, нагреваемой пучком. [c.330]

Рис. 3.40. Зависимость глубины области генерации рентгеновского излучения Смка в меди от энергии пучка. Рис. 3.40. <a href="/info/25861">Зависимость глубины</a> области <a href="/info/135055">генерации рентгеновского излучения</a> Смка в меди от энергии пучка.
    С усилением 10 —10 . Это усиление получается с очень малым уровнем шума в широкой полосе пропускания. Для того чтобы использовать сигнал низкоэнергетическнх вторичных электронов, сцинтиллятор покрывают тонким (10—50 нм) слоем алюминия и на него для ускорения подают положительный потенциал + 10 кВ. Отметим, что при типичных энергиях пучка, например 20 кэВ, большая часть отраженных электронов может возбудить сцинтиллятор без подачи высокого напряжения смеш,ения. Чтобы устранить воздействие напряжения 10 кВ на падающий пучок, что может привести к появлению астигматизма, сцинтиллятор окружают цилиндром Фарадея, потенциал которого близок к земле выпрямителя. Для того чтобы электроны могли попадать на сцинтиллятор, в цилиндре Фарадея имеется отверстие, затянутое сеткой. Для улучшения сбора вторичных электронов на цилиндр Фарадея может подаваться потенциал порядка -ЬЗОО В. Такое напряжение не приведет к существенному искажению падающего пучка. Для исключения вклада вторичных электронов на цилиндр Фарадея подается потенциал —50 В или со сцинтиллятора снимается высокое напряжение. [c.125]

    Рассмотрим простейший возможный образец (рис. 4.25), представляющий собой аморфное твердое тело из чистого элемента, который обладает бесконечной толщиной по отношению к длине пробега электрона при данной энергии пучка. Область сканирования на образце много меньше поперечного размера образца, так что пучок (и область взаимодействия) никогда не достигает края образца. При таких условиях сигналы, эмитти-руемые при всех положениях пучка, без учета статистических флуктуаций идентичны (последние будут обсуждаться далее в разделе Качество изображения ). Из уравнения (4.13) видно, что в этом случае контраст наблюдаться не будет. Теперь рассмотрим чуть более усложненный образец (рис. 4.25,6), который состоит из двух четко разделенных областей, содержащих различные чистые элементы / и 2 и Область сканирова- [c.135]


Смотреть страницы где упоминается термин Энергия пучка: [c.108]    [c.87]    [c.62]    [c.429]    [c.212]    [c.17]    [c.157]    [c.23]    [c.25]    [c.30]    [c.37]    [c.41]    [c.48]    [c.61]    [c.69]    [c.82]    [c.83]    [c.96]    [c.106]    [c.108]    [c.111]    [c.113]    [c.117]    [c.126]   
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ том 2 (1984) -- [ c.37 , c.64 , c.187 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Васильев, Л. А. Дмитриев. Дозиметрия электронного пучка и методика проведения радиационно-химического исследования на ускорителе электронов с энергией 220 кэв

Введение. Фазовая группировка. Группировка по энергии Распределение фазовой плотности внутри пучка

Кинетическая энергия пучка электронов

Эмиссия ионов под действием пучка электронов высокой энергии

Энергия электронного пучка



© 2025 chem21.info Реклама на сайте