Координатные системы кристаллографически

Поэтому предпочтительно не обсуждать этот вопрос, а оговорить способ проведения кристаллографических координатных осей для решеток каждой сингонии по отдельности. Соответствующие требования сформулированы в табл. 2 в колонке Выбор осей . Так, например, в пространственных группах, относящихся к ромбической сингонии, всегда содержащих взаимно перпендикулярные поворотные, винтовые или инверсионные оси второго порядка, координатные оси направляются парал-тельно этим элементам симметрии. Следовательно, в группах ромбической сингонии кристаллографическая координатная система всегда ортогональна. То же относится, естественно, и к группам с более высокой симметрии— средней и высшей категории. Наоборот, в группах моноклинной сингонии ось симметрии 2, 2] или [c.30]

Выбирается новая координатная система X Y Z, в которой ось Z совпадает с направлением [тпр], расположенным по оси вращения кристалла, а оси X и У — с двумя другими кристаллографическими направлениями с возможно более простыми индексами. В качестве таковых удобнее всего выбрать старые оси X и У, если только направление [тпр] не лежит в их общей плоскости., [c.340]

Форму кристаллов изучает кристаллография. Для описания формы кристаллов пользуются системой трех кристаллографических осей (рис. 62). В отличие от обычных координатных осей эти оси [c.100]

Форму кристаллов изучает геометрическая кристаллография. Для их описания, пользуются системой трех кристаллографических осей. В отличие от обычных координатных осей эти оси представляют собой конечные отрезки а, [c.133]

Геометрический смысл соотношений (5) и (6) очень прост. Соотношения (5) означают, что векторы а, й и с направлены перпендикулярно координатным плоскостям У2, XI и ХУ кристаллографической системы. Соотношения (6) показывают, что по своей длине векторы а, Ь и с обратны межплоскостным расстояниям 100, 010 и 001 (рис. 3, а) [c.12]

Ориентация отдельного кристаллита по отношению к поликристаллическому образцу описывается матрицей перехода от системы координат кристаллита к системе координат образца. В качестве осей системы координат кристаллита выбираются кристаллографические направления [100] - Хи [010] - 2, [001] - Хз, а в качестве осей агрегата - оси х, х , х , такие, что ось Хз совпадает с осью текстуры, а оси XI и Х2 лежат в изотропной плоскости, перпендикулярной оси текстуры. Относительное расположение систем координат кристаллита и агрегата определяется углами Эйлера. Совмещение двух координатных систем происходит при последовательных поворотах на угол у вокруг оси [c.73]

Полученные индексы в силу целочисленности [uvw] будут целыми, а в силу принадлежности к уравнению плоскости обратно пропорциональными соответствующим координатным отрезкам. Индексы плоской узловой сетки заключают в круглые скобки, записывают без разделительных знаков и читают раздельно. Параллельность плоскости какой-либо координатной оси приводит к равенству нулю соответствующего индекса. Перемена всех знаков индексов на обратные сохраняет плоскость в положении, параллельном исходному, но переносит ее по другую сторону от начала координат. Естественно, что параллельные плоские узловые сетки имеют равные индексы. Система параллельных плоских узловых сеток пространственной решетки носит название семейства плоскостей. Плоскости, принадлежащие семейству, равноотстоят друг от друга. Кратчайшее расстояние между двумя ближайшими параллельными плоскими узловыми сетками носит название межплоскостного расстояния d. Оно определяется однозначно индексами плоскости и осевыми трансляциями. Так, если плоскость записать через ее радиус-вектор, то для любых кристаллографических осей hx- -ky- -lz=, если имеется ввиду первая от начала координат плоскость семейства (hkl). По определению индексы обратны соответствующим координатным отрезкам, что в. кристаллографической записи даст для координатных отрезков выражения Х = [c.19]

Для построения стереографической проекции по пятнам лауэграммы, снятой на цилиндрическую пленку, удобнее всего воспользоваться сеткой кривых р = onst и ф = onst, подобной приведенной на рис. 201 (стр. 332) и вычерченной в нужном масштабе. Наложив такую сетку на рентгенограмму, нетрудно найти значения сферических координат р и ф каждого важного пятна, нанести на стереографическую проекцию точки, отвечающие этим пятнам, и провести через них дуги большого круга, отвечающие важным зональным кривым. Следует только помнить, что сетка отвечает сферической координатной системе р, ф, в которой углы р отсчитываются от оси кассеты (оси гониометрической головки), а не от направления первичного пучка. Поскольку мы приняли, что центр стереографической проекции отвечает направлению первичного пучка, то при нанесении на нее точек, полученных по р и ф сетки, надо пользоваться не кристаллографическим , а обычным географическим способом их отсчета углы р — по меридиану от верхнего полюса, углы ф — по параллели от центрального меридиана. [c.407]

Форму кристаллов изучает кристаллография. Для описания формы кристаллов пользуются системой трех кристаллографических осей (рис 63). В отличие от обычных координатных осей эти оси представляют собой конечные отрезки а, 6 и с, а углы между ними могут быть прямыми и косыми. В соот ветствии с геометрической формой кристаллов возможны следующие их системы (рис. 64) кубическая, тетрагональная, орторомбическая, моноклинная, шриклинная, гексагональная и ромбоэдрическая. Как видно из рис. 64, системы кристаллов различаются характером взаимного расположения кригталлографи-ческих осей а, 7) и их длиной (а, 6, с). [c.117]

Аналитические формулы, определяющие углы VaoH или Утанг, рас-смещение нулевого узла АдОг и дополнительный поворот кристалла вокруг вертикальной оси фо, зависят от сингонии кристалла и в общем случае им ют довольно сложный вид. Поскольку речь идет об углах и расстояниях, отсчитываемых в плоскости, проходящей через первичный пучок и ось Z, и в плоскости, проходящей через первичный пучок и ось Y, удобнее всего ввести вспомогательную прямоугольную координатную систему с осями, параллельными ММ, V, Z, и найти, прежде всего, связь между координатами узла в кристаллографической системе X Y Z и в этой прямоугольной системе. [c.389]

Системы координатных осей выбирают различно для разных сингоний. Кристаллографические координатные оси выбирают так, чтобы они были параллельны основным трансляциям (ребрам элементарной ячейки), а масштаб по каждой оси был равен соответствующей осевой единице (периоду). Принято также направление координатных осей связывать с имеющимися элементами симметрии. Ус- д йич ых "отре Т к х тановка кристаллов разных систем при- плоскостями / и // на координат- [c.323]

Кристаллофизической системой координат называется декартова система координат, условленным образом ориентированная относительно кристаллогра( 1ческой системы, которая связывается с пространственной решеткой кристалла. Кристаллографическая система координат определяется тремя векторами элементарных трансляций и тремя углами между векторами трансляций, которые задают метрику кристалла и являются материальными константами кристаллического вещества / 6 /. Правила выбора координатных систем стандартизованы и приводятся в литературе по кристаллографии / 6, II /. Система координат, в которой квадратная матрица имеет диагональную форму, т.е. отличны от щжя только значения, стоящие на диагонали матрицы, называется главной системой координат тензора. [c.34]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология