Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Метод муаровый

    Проведено сопоставление полученных теоретических результатов с экспериментальными, полученными методом муаровых полос на образцах с гомогенной [19], двухслойной [21, 84], трехслойной [89] и пятислойной [94] композитной мягкой прослойкой. Методика экспериментального исследования подробно освещена в работах [19, 84], поэтому здесь остановимся лишь на основных результатах. [c.211]


    Экспериментальное исследование полей деформаций и напряжений за пределами упругости выполнено методом муаровых полос на плоских моделях из разных мате- [c.301]

    Деформации при нагружении исследовали на основании метода муаровых полос по методике подробно описанной в работе [3]. [c.70]

    Проведенные экспериментальные исследования деформации мягких прослоек методом муаровых полос позволили установить следующие новые закономерности распределения касательных напряжений Тху в мягких прослойках. В отличие от решения, приведенного в разделе 1.2 контактные относительные касательные напряже- [c.69]

    Закономерности напряженно-деформированных моделей со смещением кромок выявляли при упругих деформациях методом фотоупругости, а в пластической области деформирования методом муаровых полос. [c.131]

    Деформации в клеевом соединении можно определять методом муаровой интерференции. На боковую поверхность соединения наносят сетку с частотой до 600 линий/мм. Если в качестве источника света использовать когерентный лазерный луч, то достигаемая чувствительность интерференционной картины составляет 0,83 мкм/полосу [33] (рис. 1.31). [c.38]

Рис. 1.31. Смещение в разных точках клеевого шва, определенное методом муаровой интерферометрии Рис. 1.31. Смещение в разных точках клеевого шва, <a href="/info/3384">определенное методом</a> муаровой интерферометрии
    Бакши O.A., Зайцев Н.Л., Зайнуллин P. ., Шрон Р.З. Определение поля деформации и напряжений в сварных соединениях методом муаровых полос// Вопросы сварочного производства. Сб.науч.тр./ЧПИ.-1974.-Вьш.139.-с.130-141. [c.396]

    Бакши O.A., Зайнуллин P. ., Зайцев Н.Л., Анисимов Ю.И. Исследование напряженно-деформированного состояния при плоской деформации композитных прослоек методом муаровых полос// Геометрические методы определения деформаций и напряжений. Тезисы Всесо-юзн.семинара.-Челябинск.-1975.-с.25-29. [c.396]

    Рассмотрены основньге подходы к оценке долговечности сварных соединений в условиях малоциклового нагружения. Предложены методы расчета малоцикловой долговечности с учетом воздействия рабочей среды и концентрации напряжений. Установлены основные закономерности деформирования сварных соединений со смещением кромок при пластических деформациях. В качестве метода исследования пластических деформаций использован метод муаровых полос. Проведены испытания сварных соединений со смещением кромок в условиях малоциклового нагружения. Установлено, что при определенных геометрических параметрах швов, сварные соединения СО смещением кромок (превышающие нормативные значения) могут эксплуатироваться в условиях малоциклово- [c.4]


    Экспериментальное распределение напряжений в пятислойной прослойке исследовали методом муаровых полос. В качестве мягких материалов М[ и М2 использовали припой Пос-60 и Пос-5 соответственно. Отношение условных пределов текучести этих материалов составляло примерно 1,8. В качестве жестких частей служили стальные пластины (стаггь 45). Соединение мягких металлов между собой и стальными пластинами осуществлялось пайкой. Для обеспечения условия плоской деформации образцы сжимались в специальном приспособлении, ограничивающем течение металла прослойки в направлении координаты 7. [c.110]

    Эти разрастания уже использовались для электропномнкроско-пического [29, 30] изучения процесса отложения металла на кристаллической поверхности. Первый слой редко распространяется на всю поверхность, даже если средняя толщина отложившегося осадка составляет несколько десятков ангстрем. Рост, по-видимому,, происходит на ядрах, которые быстро приобретают трехмернуЮ структуру обычно они рассеяны весьма равномерно но поверхности, и не существует доказательства, что они связаны с какими-либо особенностями поверхности, за исключением случаев с золотом на каменной соли и подобных ей ионных кристаллах. Для этих систем многие ядра концентрируются вдоль прямых ребер уступов на поверхности кристаллов соли, часть их равномерно рассеяна по уступам, однако примечательно то, что ядра отсутствуют на поверхностях там, где уступы расположены очень близко друг кдругу.. По-вндимому, имеет место поверхностная миграция по направлению к ядрам на ребрах, а также отложение из паров во время утолщения нленки. Эта поверхностная миграция может происходить на расстоянии порядка 100 А. В общем формирование всех пленок происходит приблизительно однотипно ядра разрастаются до тех пор, пока не образуют сетку, которая затем превращается в сплошную пленку, когда толщина достигает 100—200 А. Однако и в этом отношении система золото — каменная соль дает отклонение, и сплошная пленка образуется только тогда, когда толщина достигает 700—800 А. Сплошная пленка фактически представляет собой один большой ориентированный кристалл с площадью поверхности в несколько квадратных сантиметров. Используя метод муаровых изображений, удалось определить, что плотность дислокаций равна 101°—jQii на 1 см" -. Они могут образовываться либо в результате встречи разрастаний от ядер, либо вследствие адсорбции газа на субстрате до отложения пленки. Имеются некоторые указания [31] на то, что монослой кислорода на тантале ингибирует отложение меди. Дальнейшее изучение условий отложения пленок — глубины вакуума, скорости испарения металла, влияния особенностей новерхностей и адсорбированных молекул — крайне желательно. [c.191]

    Были поставлены специальные опьп ы по изучению закономерностей напряженно-деформированного состояния твердых прослоек. Остановимся на некоторых из них. Напряженно-деформированное состояние моделей с твердыми прослойками изучали методом муаровых полос (рис. 3,26). [c.76]

    Весьма интересная картина наблюдается при рассмотрении единичных кристаллов полиэтилена методом муаровых полос. Используя тонкую электронномикроскопическую технику, Келлер с сотрудниками в серии работ 2 з. изучали муаровые диаграм- [c.201]


Смотреть страницы где упоминается термин Метод муаровый: [c.236]    [c.349]    [c.30]    [c.235]   
Рефрактометрические методы химии Издание 3 (1983) -- [ c.298 ]




ПОИСК







© 2025 chem21.info Реклама на сайте