Масс-спектрометрия с искровым источником анализ жидкостей

На масс-спектрометре с искровым ионным источником разработаны методы высокочувствительного анализа металлов, полупроводников, изоляторов, жидкостей в замороженном состоянии и тонких полупроводниковых пленок с высоким разрешением по их глубине (рис. 2). Метод является многоэлементным, так как спектр анализируемого вещества от лития до урана можно зарегистрировать фотографическим способом в течение одного эксперимента. Недостатками его являются дороговизна, и сложность аппаратуры, а также невысокая экспрессность, особенно без применения ЭВМ для обработки данных, зарегистрированных на фотопластинке. Перспективность метода проблематична, пока он не будет упрощен. [c.130]

Продолжались работы по совершенствованию масс-спектрометра, уменьшению аберраций, приводящих к уширению линий в масс-спектре, улучшению вакуума на пути движения ионов от источника к приемнику и непосредственно в ионном источнике. Появились сообщения о приспособлении искрового источника для анализа жидкостей в замороженном состоянии, были предложены сканирующие устройства, основанные на принципе вращения одного из электродов или их взаимного возвратно- [c.5]

Решить этот вопрос можно несколькими путями [47, 57, 58]. Задача получения данных с требуемой точностью решается на ЭВМ. Использование ЭВМ особенно необходимо при анализе на масс-спектрометре с искровым ионным источником многокомпонентных систем, в частности образцов природного происхождения, жидкостей и биологических проб. [c.107]

В лабораторной практике успешно применяют различные методы элементной масс-спектрометрии. Абсолютный предел обнаружения достигает 1 10 г и дает возможность определять примеси до 1-10 %. Приведенные характеристики метода позволяют разработать эффективные методы анализа малых объемов вещества [14], проводить послойный анализ тонких пленок с высоким разрешением по глубине [15], осуществлять определение микропримесей в жидкостях [16]. Вследствие того, что в элементной масс-спектрометрии используются высокоэнергетические ионные источники искрового, ионно-ионного и лазерного типов, удается исключить полностью или уменьшить влияние электрофизических характеристик исследуемых веществ. Другими словами, с их помощью можно проводить анализ как веществ, обладающих металлической проводимостью, так и полупроводников и диэлектриков. [c.229]

В этой главе обсуждены методы и приемы анализа изоляторов, порошков и микрообразцов. Определение примесей в объеме микрообразцов, которые можно использовать как электроды, а также анализ жидкостей, пленок и определение примесей на поверхности твердых тел рассмотрены в других главах. Авторы полагают, что читатель знаком с основными положениями анализа следов элементов в твердых телах при помощи масс-спектрометра с искровым источником ионов. [c.300]

В литературе по масс-спектрометрии с искровым источником ионов есть много примеров анализа легкоплавких образцов. Гутри (1966) опубликовал обзор ранних статей, в которых рассмотрены способы определения примесей в некоторых жидкостях (вода, растворы солей, НС1) и легкоплавких металлах (галлий) их осаждение на подложку предварительное концентрирование путем испарения или электроосаждения на поверхности чистых веществ абсорбция из жидкостей на сверхчистом графите. Этот автор кратко обсудил ранние работы Уолстенхолма (1963) и Налбантоглу (1966а) по прямому анализу галлия и ртути. Пробы этих веществ поддерживались во время эксперимента в твердом состоянии путем охлаждения жидким азотом. [c.328]

Элемент-внутренний стандарт должен обладать по крайней мере двумя изотопами с распространенностью, отличающейся примерно в 100 раз. Это желательно и при определении следов в твердых телах, но для анализа жидкостей это необходимое требование, поскольку отношение числа ионов, соответствующих образцу и подложке, неизвестно и может изменяться в ходе анализа. Поэтому полный ионный ток, регистрируемый коллектором монитора, не может быть использован для контроля экспозиции или для определения количества израсходованного вещества. Например, эрбий имеет изотопы с отношением распространенностей от 1,22 до 245. Следовательно, эрбий является вполне подходящим внутренним стандартом для расчета примесных концентраций при анализе на масс-спектрометре с искровым источником ионов. Другие элементы, обладающие подходящим распределением изотопов стронций, олово, теллур, иттербий, гафний и платина. Помимо использования в качестве внутреннего стандарта, элементы с подобной распространенно- [c.362]