Масс-спектрометры одинарной фокусировкой

Ряс. 5.1. Принципиальная схема масс-спектрометра с одинарной фокусировкой. [c.179]

На разрешающую способность масс-спектрометра влияют различные факторы, в том числе радиус траектории иона, ускоряющее напряжение и магнитное поле, ширина щелей ионного источника и коллектора (их минимальное значение определяется чувствительностью детектора), диапазон кинетических энергай ионов с одним значением т/г, проходящих через магнитный анализатор. Послед фактор ограничивает разрешающую способность №сс-спектрометров с одинарной фокусировкой значением 1 в 7500 (при 10%-ной высоте фона). В масс-спектрометрах с двойной фокусировкой (см. рис. 5.7 в разд. 5.4.1) ионы фокусируются сначала в радиальном [c.180]

В приборах с одинарной фокусировкой ускоряющее напряжение обычно порядка 2—4 кВ, а напряженность магнитного поля достигает 12 000 Э. В масс-спектрометрах с двойной фокусировкой значения этих параметров могут быть значительно выше. [c.206]

На рис. 3 приведена принципиальная схема магнитного масс-спектрометра с так называемой простой или одинарной фокусировкой, в котором ионизация вещества осуществляется бомбардировкой его электронами (электронный удар). Ионный источник 2 представляет собой по существу большую ионную пушку, где из раскаленного катода (обыч- [c.7]

Отметим существенные недостатки искрового ионного источника во-первых, ионный ток по самой природе вакуумной искры чрезвычайно нестабилен во-вторых, высокое напряжение, при--лол<енное к электродам, приводит к большому разбросу ионов по энергиям, достигающему 1,5—5 кэв [39—41]. Эти свойства искрового источника делают невозможным применение его в масс-спектрометрах с одинарной фокусировкой. Большой раз- брос ионов по энергиям диктует необходимость фокусировки ионов по скоростям, а нестабильность ионного тока вынуждает применять интегральный метод регистрации спектра масс. Во всех приборах с искровым источником масс-спектр, как правило, регистрируют на фотопластинку или используют электрический детектор. Выбор фотографического способа регистрации был обусловлен его простотой, нечувствительностью к колебаниям ионного тока и возможностью одновременной регистрации с высокой чувствительностью широкого диапазона элементов, содержащихся в анализируемой пробе. [c.18]

На рис. 5.13 схематически представлено устройство масс-спектрометра с необходимой для высокого разрешения двойной фокусировкой. В приборах с одинарной фокусировкой изменяется только магнитное поле, а электростатическое остается постоянным. [c.179]

Предел регистрации следов элементов при помощи масс-спектрометра зависит от вторичных эффектов, которые будут описаны в следующем разделе. Небольшая часть ионов, соответствующих основе, распределяется по всему масс-спектру. Этот фон и ограничивает способность обнаружения следов. Фон можно снизить до величины, меньшей 1 млн" для массовых чисел, достаточно удаленных от интенсивных пиков. Для этого необходимы тщательное изготовление прибора и высокий вакуум в системе. Несмотря на эти меры, фон вблизи линий основы мо-м- ет достигать одной тысячной части их интенсивности. Наиболее-эффективный метод подавления фона — использование двух последовательно расположенных масс-спектрометров. Это было-установлено Герцогом (1959), Пиром (1963), а также Уайтом и Форманом (1967), которые достигли чувствительности анализа 1 млрд Ч Юстировка подобных тандемных приборов более трудна. Дополнительная сложность вызвана необходимостью одновременного сканирования обеих секций таким образом, чтобы они были с высокой точностью настроены на одни и те же массовые числа. Упрощенная модификация подобного прибора, имеющего одинарную фокусировку и поэтому лишь среднее разрешение, выпускается фирмой Аегоуас и обеспечивает чувствительность 10 млрд для газовых примесей на уровне следов. К сожалению, тандемные масс-анализаторы нельзя использовать в масс-спектрографах. [c.85]

Метод полного нспарения был использован также для количественного определения редкоземельных элементов в редкоземельной основе. Работа выполнялась на масс-спектрометре с одинарной фокусировкой и термоионным двухнитным ис-точн ком (допускалось при этом, что потенциалы ионизации атомов исследуе1мых редкоземельных элементов и поперечные сечения нх ионизации существенно не различаются) [9]. В настоящее время метод полного испарения и интегрального ионного тока используется редко. Главные недостатки этого метода трудое.мкость анализа, большие погрешности при определении концентраций, малый объем информации об исследуемом веществе. [c.111]

Разрешающая способность в 50—100 вполне достаточна для большинства вакуумных анализаторов остаточных газов. В стандартных масс-спектрометрах с одинарной фокусировкой достригается разрешающая способность в 300—700 при помощи анализаторов с радиусом 15—30 см. Такая разрешающая способность достаточна для решепця большого круга аналитических задач, включающих определение неорганических следов, ирименение в большинстве случаев методов газовой хроматографии и метод изотопного разбавления. Разрешающая способность время-пролетных приборов порядка 200-600. [c.337]