Хроматическое отклонение

После перечисления такого количества погрешностей представляется, что для выполнения всех условий недостаточно лишь геометрии освещения предлагается две системы —А и В. В проекте стандарта DIN 53 236 ( Оценка хроматических отклонений пигментированных систем, фотометрический способ ) учитываются все необходимые условия. По способу В наблюдатель, выбирая соответствующее направление наблюдения, исключает блеск. При сравнении нескольких образцов удается определить общее хроматическое отклонение и степень блеска. [c.16]

Как уже отмечалось, для уменьшения астигматизма призму устанавливают в минимуме отклонения, а коллиматор делают по возможности лишенным хроматической аберрации, так чтобы во всей исследуемой области спектра через призму шли параллельные пучки лучей. [c.39]

Отклонение цвета от белизны в сторону той или иной окраски оценивается по разности коэффициентов отражения для белого света Го и света данной длины волны Длина волны обычно обусловлена выбором светофильтра. Цветовое отклонение в 2% составляет один квалитет. Для определения хроматических оттенков белых покрытий необходимо знать го и Дг = — го [204]. Доля диффузно отраженного света для белых тел должна быть не менее 0,7. Коэффициент диффузного отражения рыхлого покрытия из MgO, образующегося при сжигании магния, близок к 0,98, [c.136]

Угол падения света на призмы i в обычных спектрографах с 60-градусной призмой, поставленной в минимуме отклонения (при п = 1,65), составляет примерно 55°. Угол дифракций для решетки может меняться от нескольких градусов до 90° sin г меняется в зависимости от угловой дисперсии прибора и хроматической аберрации оптики. Для определенности будем сравнивать спектрографы, для которых sin е = 1. Оценим оставшиеся величины угол падения луча на призму около 55° os i 0,6 стандартная решетка с 6000/слг дает в автоколлимационной [c.147]

Метод призмы сохраняет значение одного из основных способов измерения показателей преломления и в невидимых областях спектра. Однако визуальные наблюдения на обычных гониометрах могут производиться лишь в непосредственно примыкающих к видимому спектру узких участках УФ- и ИК-областей путем применения флюоресцентных окуляров [22] и трубок для трансформации изображения [23]. Пригодных для работы далеко за пределами видимой области универсальных гониометров не выпускают, и приходится создавать в каждом случае особые установки, характеризующиеся использованием специальной оптики (чаще всего зеркальной), не дающей хроматической аберрации в широком интервале длин волн, и применением объективной регистрации. Наиболее выгодный при визуальных измерениях способ наименьшего отклонения за пределами видимого спектра связан с техническими затруднениями, и ему обычно предпочитают различные варианты установки призм с постоянным углом падения или отклонения, а чаще всего — автоколлимационный метод. [c.119]

Электронный микроскоп в отличие от светового позволяет исследовать только неживые высушенные объекты, так как образец находится в условиях высокого вакуума и интенсивного электронного облучения. Принцип возникновения изображения в электронном микроскопе иной, чем в световом. Как уже отмечалось, в световом микроскопе контраст обусловлен избирательным поглощением света различных длин волн элементами структуры объекта (адсорбционный контраст) или изменением фазы световой волны при прохождении света через объект (фазовый контраст), тогда как в электронном микроскопе контраст вызван отклонением ускоренных электронов тяжелыми атомами, входящими в состав тонкопленочного объекта (или искусственно внесенными в него при химическом контрастировании). Такой контраст называют дифракционным. Абсорбционный контраст в электронном микроскопе — явление нежелательное (поглощение энергии электронов приводит к хроматической аберрации, а часто и к тепловому разрушению образца), и с ним приходится бороться, исследуя объект в виде ультратонких (30—100 нм) срезов и пленок. [c.96]

Построена теория цветового зрения, в соответствии с которой обсужденные выше стандартные отклонения уравнивания по цвету могут быть адекватно описаны при условии, что дифференциальная чувствительность в визуальных процессах подчиняется закону Вебера — Фехнера. Предполагается, что рассматриваемые визуальные процессы содержат один процесс суммирования (светлота) и два противодействующих хроматических процесса (красное — зеленое и желтое — синее). [c.362]

И неахроматизированных объективов (кварцевые приборы) форма фокальной поверхности довольно сложна. Она определяется суммарным действием хроматической аберрации объектива и астигматизма призмы, который равен нулю лишь для одной длины волны, для которой призма установлена в минимуме отклонения. [c.69]

Метод призмы сохраняет значение одного из основных способов измерения показателей преломления и в невидимых областях спектра. Однако визуальные наблюдения на обычных гониометрах могут производиться лишь в непосредственно примыкающих к видимому спектру узких участках ультрафиолетовой и инфракрасной областей путем применения флюоресцентных окуляров [33] и трубок для трансформации изображения [34]. Пригодных для работы лалеко за пределами видимой области универсальных гониометров не выпускают, и приходится создавать в каждом случае особые установки, характеризующиеся использованием специальной оптики (чаще всего зеркальной), не дающей хроматической аберрации в широком интервале длин волн, и применением объективной (в ультрафиолете — фотографической) регистрации. Наиболее выгодный при визуальных измерениях способ наименьшего отклонения за пределами видимого спектра связан с техническими затруднениями, и ему обычно предпочитают различные варианты установки призм с постоянным углом падения. Отсылая читателя для первоначального ознакомления с методами измерения показателей преломления твердых тел к обзору Н. Ф. Тимофеевой [32], мы ограничимся краткой характеристикой нескольких типичных работ по исследованию жидкостей методом полой приз.мы в ультрафиолетовой и инфракрасной областях спектра. [c.129]

Для используемого в просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ) ускоряющего напряжения 200 кВ последняя формула дает длину волны 0,0025 нм, для широко применяемого в микроскопах высокого разрешения ускоряющего напряжения 400 кВ — 0,0016 нм, а для минимального ускоряющего напряжения, используемого в ряде моделей современных растровых электронных микроскопов (0,1 кВ), — 0,123 нм. Как видно, даже для низкоэнергетических электронов длина волны допускает получение атомного разрешения. Однако разрешающая способность электронных микроскопов определяется другими факторами (сферической аберрацией, связанной с разным положением фокальной плоскости для центра и краев линзы, и хроматической аберрацией, определяемой небольшими колебаниями ускоряющего напряжения) и достигает значений порядка 0,1 нм в высоковольтных микроскопах высокого разрешения. Строение просвечивающего электронного микроскопа функционально сходно с оптическим микроскопом, работающим в проходящем свете (рис. 7,1 а) осветительная система, состоящая из электронной пушки и конденсора, определяющего форму падающего на образец пучка исследуемый образец объективная линза, формирующая изображение система из промежуточных и проекционной линз, обеспечивающих требуемое увеличение и проецирующих изображение на флуоресцентный экран для наблюдения или на фотопленку (или матрицу цифровой фотокамеры) для регистрации. Кроме перечисленных элементов современный электронный микроскоп содержит магнитные системы отклонения пучка и изменения его формы. Изменение формы пучка до достижения им круговой симметрии в сечении необходимо для получения неискаженного изображения. Соответствующие устройства называют стигматорами, их устанавливают в просвечивающих электронных микроскопах как после конденсора (перед попаданием пучка на образец), так и после объективной линзы. Промежуточные линзы кроме дополнительного увеличения применяют также для перевода микроскопа в [c.245]

Изображение, получаемое с помощью просвечивающего электронного микроскопа, может содержать контраст двух типов. Высокое (до десятых долей нанометра) разрещение характеризуется контрастом первого типа — фазовым контрастом, получаемым при интерференции в плоскости изображения дифрагированных лучей. Именно этот тип контраста позволяет проводить прямое изучение атомной структуры кристалла. Фазовый контраст сильно зависит от положения фокальной плоскости объективной линзы. Так, точный фокус характеризуется минимальным контрастом оптимальное значение дефокусировки (по Шерцеру) определяется сферической и хроматической аберрациями. При отклонениях от оптимального значения дефокусировки на изображении в фазовом контрасте могут появляться различные артефакты. Другим фактором, определяющим фазовый контраст, является число дифракционных линий, участвующих в формировании изображения. Это число можно регулировать объективной диафрагмой, расположенной вблизи фокальной плоскости объективнЬй линзы. [c.247]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология