Электрон длина волны

Принцип действия и устройство электронного микроскопа. Принцип электронно-микроскопического метода заключается во взаимодействии узкого электронного пучка с достаточно тонким объектом, слабо поглощающим электроны. Длина волны де Бройля для электронов, разогнанных до высоких скоростей в вакууме, составляет 0,005 нм, что значительно меньще межатомных расстояний в конденсированном веществе. Поэтому основными явлениями, возникающими при взаимодействии электронного пучка с веществом, являются рассеяние и интерференция. [c.123]

Количество взаимодействующих атомных орбиталей не влияет на ширину зоны, а определяет лишь плотность ее заполнения электронами. Ширина энергетических зон в твердых телах существенно зависит от внутренней структуры их кристаллов. Эта зависимость тесно связана с волновой природой движения электронов. Перемещаться по кристаллу способны лишь те электроны, длины волн которых не укладываются целое число раз между узлами кристаллической решетки. Электроны с длиной волны, равной (2а//г), где а — постоянная решетки, будут находиться в кристалле в условиях замкнутого отражения и не способны переносить энергию. [c.83]

Основной характеристикой микроскопа является его разрешающая способность, т. е. минимальное расстояние между двумя точками, при котором разделяется их изображение. Наибольшее разрешение может быть достигнуто при минимальной длине волны электронов. Длина волны Я может быть описана несколько видоизмененным уравнением де Бройля [c.110]

Масса покоящегося электрона Длина волны электрона Атомная масса электрона Атомная масса протона Масса протона Длина волны протона Заряд протона [c.12]

Частота линий з величивается, а длина волны уменьшается с увеличением разности энергий верхнего и нижнего уровней. При переходах оптических электронов длина волны света принимает различные значения в пределах от десятков до приблизительно десяти тысяч ангстрем . [c.168]

Для дисперсионного анализа широко используется электронная микроскопия. Ее теоретические основы во много.м сходны с теорией световой микроскопии. Как показывает уравнение (V. ), увеличение разрешающей способности микроскопа можно обеспечить уменьшением длины волны лучей, освещающих образец. Для достижения наибольшей разрешающей способности вместо световых лучей в электронном микроскопе используют поток электронов. Длина волны движущейся частицы по де Бройлю составляет [c.293]

В электронном микроскопе вместо света на объектив направляется пучок электронов, длина волны которого в 50—100 тысяч раз меньше длины волны света. Роль оптической системы здесь играют электрические или магнитные поля. Разрешающая способность электронного микроскопа в 50—100 раз больше таковой светового микроскопа. В электронный микроскоп можно наблюдать объекты размером 10—15 А, а в отдельных случаях 6—8 А. [c.328]

В результате процесса поглощения электрон из наполненного слоя поднимается к слою пустоты или к слою проводимости. Излу чение происходит, когда электрон одного из верхних слоев падает-в ячейку, оставшуюся без электронов. Длина волны излучаемой радиации определяется разницей энергии между уровнями. Здесь имеет место обратная зависимость чем больше разница энергии, тем короче длина волны. Если электрон поднялся из точки Г 7 99 [c.99]

Таким образом, диффракция электронов (и других частиц) может быть рассчитана по известным уравнениям для диффракции волн, если известна длина волны X. Для электронов длина волны может быть вычислена через величину напряжения электрического поля Е, ускоряющего электроны, от которого зависит скорость V. Если в приведенное для X выражение подставить численные значения констант и выразить V через Е, то [c.22]

Для ускорения электронов обычно используют электрические поля. В зависимости от разности потенциалов, которую проходят электроны, длина волны без учета релятивистской поправки определяется уравнением [c.226]

Можно показать, что в низкотемпературной плазме взаимодействия между тяжелыми частицами (ион-ион, ион-нейтрал, нейтрал-нейтрал) могут быть описаны с помощью теории классических траекторий, в виду того, что для них 1. Особого же внимания заслуживают взаимодействия, в которых принимают участие электроны (электрон-нейтрал, электрон-ион, электрон-электрон), длина волны де-Бройля которых [c.8]

Электроны. Длина волны де Бройля электрона и его энергия связаны уравнением [c.43]

В работе [1] было показано, что в случае рассеяния быстрых электронов (длина волны К == 0,06 А) в тонких пленках гидратцеллюлозы вся картина рассеяния может быть описана как картина внутримолекулярного рассеяния от беспорядочно расположенных молекул целлобиозы (С12Н220ц). Было показано, что 1лементарным звеном в цепи гидратцеллюлозы является именно ](еллобиоза, а не глюкоза (СаН Ой). [c.42]

Для используемого в просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ) ускоряющего напряжения 200 кВ последняя формула дает длину волны 0,0025 нм, для широко применяемого в микроскопах высокого разрешения ускоряющего напряжения 400 кВ — 0,0016 нм, а для минимального ускоряющего напряжения, используемого в ряде моделей современных растровых электронных микроскопов (0,1 кВ), — 0,123 нм. Как видно, даже для низкоэнергетических электронов длина волны допускает получение атомного разрешения. Однако разрешающая способность электронных микроскопов определяется другими факторами (сферической аберрацией, связанной с разным положением фокальной плоскости для центра и краев линзы, и хроматической аберрацией, определяемой небольшими колебаниями ускоряющего напряжения) и достигает значений порядка 0,1 нм в высоковольтных микроскопах высокого разрешения. Строение просвечивающего электронного микроскопа функционально сходно с оптическим микроскопом, работающим в проходящем свете (рис. 7,1 а) осветительная система, состоящая из электронной пушки и конденсора, определяющего форму падающего на образец пучка исследуемый образец объективная линза, формирующая изображение система из промежуточных и проекционной линз, обеспечивающих требуемое увеличение и проецирующих изображение на флуоресцентный экран для наблюдения или на фотопленку (или матрицу цифровой фотокамеры) для регистрации. Кроме перечисленных элементов современный электронный микроскоп содержит магнитные системы отклонения пучка и изменения его формы. Изменение формы пучка до достижения им круговой симметрии в сечении необходимо для получения неискаженного изображения. Соответствующие устройства называют стигматорами, их устанавливают в просвечивающих электронных микроскопах как после конденсора (перед попаданием пучка на образец), так и после объективной линзы. Промежуточные линзы кроме дополнительного увеличения применяют также для перевода микроскопа в [c.245]

Общая химия (1964) -- [ c.155 ]

Теоретическая неорганическая химия Издание 3 (1976) -- [ c.290 ]

Современная неорганическая химия Часть 3 (1969) -- [ c.18 ]

Теоретическая неорганическая химия (1969) -- [ c.193 ]

Теоретическая неорганическая химия (1971) -- [ c.186 ]

Теоретическая неорганическая химия (1969) -- [ c.193 ]

Электронное строение и химическая связь в неорганической химии (1949) -- [ c.41 ]

Теоретическая неорганическая химия (1971) -- [ c.186 ]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология