Диффракционное рассеяние

Рассеяние света и явление Тиндаля. Размеры коллоидных частиц (от 0,1 до 0,001 мк) в известной степени соизмеримы с длиной световых волн (от 0,76 до 0,38 мк), поэтому при попадании луча видимого света на такие частицы можно наблюдать явление диф-фракции. Луч света, попадая на поверхность частицы, имеющую размеры большие, чем длина световых волн, отражается от нее. Когда размеры частиц будут меньше длины световой волны, происходит диффракционное рассеяние света. [c.125]

Диффракционное рассеяние света впервые было замечено М. В Ломоносовым, а позднее — Фарадеем и его учеником Тиндалем (1869) при пропускании пучка света через коллоидный ра- [c.125]

Допустим, что лучи падают на поверхность какой-либо частицы, линейные размеры которой велики по сравнению с длиной волны лучей тогда эти лучи просто отражаются по законам геометрической оптики. Если же линейные размеры частиц составляют, например, лишь около 0,1 длины волны падающих лучей, то наиболее характерным процессом является диффракционное рассеяние света в результате огибания частиц световой волной. Диффракционное рассеяние было впервые замечено Тиндалем (1869), который наблюдал образование светящегося конуса при пропускании пучка сходящихся лучей через коллоидный раствор. Внешне похожее явление можно наблюдать в затемненной комнате, в кинотеатре, когда в луче света видно сверкание частичек пыли в воздухе, незаметных простым глазом в обычно освещенном пространстве. [c.53]

МЕТОДЫ, ОСНОВАННЫЕ НА ИСПОЛЬЗОВАНИИ ЯВЛЕНИЯ ДИФФРАКЦИОННОГО РАССЕЯНИЯ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ ПОД МАЛЫМИ УГЛАМИ [c.43]

Принимая во внимание, что длина волны рентгеновских лучей имеет порядок атомных размеров, соотношение [5, 5] означает, что когда рассеивающий объем имеет микроскопические размеры, щах практически невозможно отличить от нуля. Однако если рассеивающий объем характеризуется субмикроскопическими размерами, диффракционное рассеяние доступно наблюдению под малыми углами. Действительно, согласно [c.44]

Для наблюдения диффракционного рассеяния рентгеновских лучей от субмикроскопических частиц в чистом виде необходимо обеспечить соответствующие условия, так как рассеяние под малыми углами может вызываться еще следующими причинами [c.46]

Рассмотрены основные методы рентгенографического анализа различных веществ в высокодисперсном состоянии. Физическая основа всех этих методов состоит в использовании диффракционного расширения интерференционных максимумов, получающихся при рассеянии рентгеновских лучей субмикроскопическими объемами вещества. В зависимости от степени упорядоченности распределения компактных масс материи в просвечиваемом объеме различают два типа рассеяния рентгеновских лучей веществом интерференционное рассеяние и диффракционное рассеяние. [c.56]

Следует, однако, иметь в виду, что конус в запыленном воздухе, вследствие более крупных размеров большинства пылинок, обусловлен в основном не диффракционным рассеянием, а простым отражением света, как в явлении мутности. [c.51]

Известно, что луч света, попадая на поверхность частицы, имеющую размеры большие, чем длина световых волн, отражается от нее. Когда размеры частиц будут меньше длины световой волны, происходит диффракционное рассеяние света. [c.164]

Диффракционное рассеяние света впервые было замечено М. В. Ломоносовым, а позднее — Фарадеем [c.164]

После работ Дебая и Гинье стало ясно, что природа нового явления по существу аналогична диффракции видимого света малыми экранами и отверстиями. Чтобы подчеркнуть это обстоятельство, мы все случаи рассеяния рентгеновских лучей, когда максимум интенсивности приходится на нулевой угол, объединим наименованием диффракционного рассеяния в отличие от интерференционного, характеризуемого формулой Брэгга [1, 1]. Подобная терминология существенна ввиду того, что под малыми углами можно наблюдать как диффракционное, так и интерференционное рассеяние. [c.43]

Выражение [5,1] представляет распределение интенсивности диффрак-ционного рассеяния единичной сферической частицей. На практике диффракционное рассеяние можно наблюдать только от большого числа частиц. Пусть в микроскопическом объеме, просвечиваемом рентгеновскими лучами, имеется М беспорядочно распределенных шаровых частиц одинакового радиуса R, тогда формулу [5,1] можно обобщить следующим образом [c.44]

Интерференционное рассеяние в наиболее чистом виде проявляется при прохождении рентгеновских лучей через макроскопические кристаллы и характеризуется наличием под различными (не малыми) углами рассеяния резких интерференционных максимумов. В противоположность интерференционному рассеянию, обусловленному строгой периодичностью структуры рассеивающего объекта и имеющего характер селективного отражения , диффракционное рассеяние рентгеновских лучей обусловлено отсутствием периодичности в структуре рассеивающего объема и в наиболее чистом виде проявляется при прохождении рентгеновских лучей через одноатомные газы. Для диффракционного рассеяния характерно наличие только одного интерференционного максимума, приходящегося на нулевой угол рассеяния, тогда как картина интерференционного рассеяния характеризуется большим числом интерференционных максимумов симметричной формы, расположенных под резличными конечными углами рассеяния. Сопоставляя указанные тины рассеяния рентгеновских лучей с аналогичными явлениями для видимого света, можно сказать, что интерференционное рассеяние рентгеновских лучей подобно интерференционному рассению света диффракционной решеткой, а диффракционное рассеяние подобно диффз зному рассеянию света туманами и мелкой пылью. [c.56]

В первой части рассмотрены методы определения дисперсности криста.и-лических порошков, основывающиеся на использовании явления диффракционного расширения интерференционных максимумов. Эти методы условно будем называть старыми в противоположность методам, изложенным во второй части, которые будем называть новыми. Сравнивая возможности старых и новых методов, нельзя сказать, что старые методы потеряли свое значение с появлением новых. Каждый из них имеет свою область применения, свои преимущества и недостатки в том или ином конкретном случае. Прежде всего, старые методы важны при исследовании кристаллических систем, когда требуется иметь сведения об отдельных кристалликах, входящих, быть может, в состав поликристаллических агрегатов. Кроме того, в старых методах используются более простые технические средства, благодаря чему они допускают более быстрое и широкое изучение экспериментального материала. В то же время из изложенного видно, какие богатые возможности открываются для практических методов рентгеновского анализа дисперсности, использующих диффракционное рассеяние под малыми углами. Новые методы приложимы с одинаковым успехом для исследования обширного класса высокодиснерсных систем, вне зависимости от структуры их частиц. Кроме того, нри использовании новых методов рентгенографического анализа задача определения функции распределения частиц но размерам оказывается более доступной в экспериментальном и теоретическом отношениях, чем подобная же задача, основанная на использовании старых методов. Учет влияния всяких посторонних факторов в случае рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами несравненно проще, чем при старых методах. [c.56]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология