Рассеяние света диффракционное

К числу других хорошо известных явлений, объяснимых на основе волновой теории света, относятся цвета тонких пленок, рассеяние света при прохождении через тонкие отверстия (объясняющее, почему тонкие отверстия А и Б в только что описанном опыте действуют как вторичные источники света), рассеяние света диффракционными решетками и др. [c.35]

Рассеяние света и явление Тиндаля. Размеры коллоидных частиц (от 0,1 до 0,001 мк) в известной степени соизмеримы с длиной световых волн (от 0,76 до 0,38 мк), поэтому при попадании луча видимого света на такие частицы можно наблюдать явление диф-фракции. Луч света, попадая на поверхность частицы, имеющую размеры большие, чем длина световых волн, отражается от нее. Когда размеры частиц будут меньше длины световой волны, происходит диффракционное рассеяние света. [c.125]

Диффракционное рассеяние света впервые было замечено М. В Ломоносовым, а позднее — Фарадеем и его учеником Тиндалем (1869) при пропускании пучка света через коллоидный ра- [c.125]

Допустим, что лучи падают на поверхность какой-либо частицы, линейные размеры которой велики по сравнению с длиной волны лучей тогда эти лучи просто отражаются по законам геометрической оптики. Если же линейные размеры частиц составляют, например, лишь около 0,1 длины волны падающих лучей, то наиболее характерным процессом является диффракционное рассеяние света в результате огибания частиц световой волной. Диффракционное рассеяние было впервые замечено Тиндалем (1869), который наблюдал образование светящегося конуса при пропускании пучка сходящихся лучей через коллоидный раствор. Внешне похожее явление можно наблюдать в затемненной комнате, в кинотеатре, когда в луче света видно сверкание частичек пыли в воздухе, незаметных простым глазом в обычно освещенном пространстве. [c.53]

Рассмотренная часть схемы представляет собой простой монохроматор, положенный в основу выпущенного ранее спектрографа ДФС-4. Однако спектр, даваемый одним монохроматором, недостаточно монохроматичен из-за рассеянного света и духов — спутников сильных линий, обусловленных несовершенством диффракционных решеток. Для повышения монохроматичности света исследуемый интервал лучей пропускается через второй монохроматор, подобный первому. В результате разложения в спектр рассеянного света вторым монохроматором интенсивность его резко падает на выходной щели [c.78]

Известно, что луч света, попадая на поверхность частицы, имеющую размеры большие, чем длина световых волн, отражается от нее. Когда размеры частиц будут меньше длины световой волны, происходит диффракционное рассеяние света. [c.164]

Диффракционное рассеяние света впервые было замечено М. В. Ломоносовым, а позднее — Фарадеем [c.164]

Монохроматор по существу является спектроскопом, снабженным как входной, так и выходной щелями. В качестве диспергирующего элемента может применяться призма, диффракционная решетка или интерференционный клин (детали см. в главе 6). Часто рекомендуется дополнительно вставлять один или несколько светофильтров, назначение которых заключается в уменьшении количества паразитного света другой длины волны. Такое паразитное излучение обусловлено рассеянием или отражением от внутренней поверхности монохроматора и, в случае приборов с диффракционными решетками, наложением спектров более высоких порядков. Другой путь устранения паразитного излучения —применение двойного монохроматора, в котором излучение, прежде чем достигнуть выходной щели, проходит последовательно через две диспергирующие системы. [c.202]

Следует, однако, иметь в виду, что конус в запыленном воздухе, вследствие более крупных размеров большинства пылинок, обусловлен в основном не диффракционным рассеянием, а простым отражением света, как в явлении мутности. [c.51]

Итак, методы, основанные на диффракционном расширении, дают возможность определить средний размер монокристаллов и их распределение по размерам, а также вывести некоторые заключения об их форме . В некоторых случаях, при отсутствии агрегации это может оказаться достаточным. Однако при агрегации монокристаллов, образовании вторичных частиц, более интересно получить сведения о размерах этих последних. Данному требованию отвечают методы исследования, основанные на рассеянии рентгеновских лучей под малыМи углами, обзор которых приведен в работе Е. А. Порай-Кошица . Рассеяние рентгеновских лучей под малыми углами возникает из-за различия электронной плотности среды и рассеивающих частид. Оно аналогично рассеянию видимого света скоплением частиц, диаметр которых значительно превышает длину волны рассеиваемого излучения. Вид кривой рассеяния рентгеновских лучей будет различным в зависимости от степени упаковки. Для рыхло упакованных частиц интенсивность рассеяния непрерывно повышается с уменьшением угла рассеяния ( газовое рассеяние), для плотнО упакованных—кривая рассеяния имеет максимумы ( жидкостное рассеяние). Методически более детально разработан первым случай. [c.72]

Помимо конечной ширины щели, немонохроматичность светового потока может быть вызвана присутствием рассеянного света. Под рассеянным светом обычно понимают полихроматическое излучение, попадающее в кюветную камеру спектрофотометра в результате различных отражений и рассеяний в диспергирующей системе. К рассеянию света приводят, например, дефекты в призмах, зеркалах или диффракционных решетках, возникающие на оптических деталях в промышленной атмосфере налеты, пыль и т. п. [8]. Длины волн рассеянного света не ограничены каким-либо интервалом, как это имеет место для немонохроматического света, проходящего через широкую щель. Как правило, [c.8]

Существуют достаточно убедительные указания на то, что на всех доступных изучению уровнях надмолекулярной морфологии развиваются вполне определенные и хорошо различимые, хотя и не до конца расшифрованные, организованные структуры. Малоугловое рассеяние рентгеновских лучей выявляет дискретные структуры с линейными размерами до сотен ангстрем [26, 27]. Типичная картина рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами от высо-коориентированиого волокна из линейного полиэтилена показана на рис. 7. В этом образце разрешаются несколько диффракционных порядков, соответствующих большому периоду 410 20 А. При малых углах, кроме дискретного максимума, появляется еще и диффузное рассеяние. Рассеяние света от тонких пленок кристаллических полимеров также выявляет наличие структурных элементов с размерами порядка тысяч ангстрем [28]. [c.27]

Интерференционное рассеяние в наиболее чистом виде проявляется при прохождении рентгеновских лучей через макроскопические кристаллы и характеризуется наличием под различными (не малыми) углами рассеяния резких интерференционных максимумов. В противоположность интерференционному рассеянию, обусловленному строгой периодичностью структуры рассеивающего объекта и имеющего характер селективного отражения , диффракционное рассеяние рентгеновских лучей обусловлено отсутствием периодичности в структуре рассеивающего объема и в наиболее чистом виде проявляется при прохождении рентгеновских лучей через одноатомные газы. Для диффракционного рассеяния характерно наличие только одного интерференционного максимума, приходящегося на нулевой угол рассеяния, тогда как картина интерференционного рассеяния характеризуется большим числом интерференционных максимумов симметричной формы, расположенных под резличными конечными углами рассеяния. Сопоставляя указанные тины рассеяния рентгеновских лучей с аналогичными явлениями для видимого света, можно сказать, что интерференционное рассеяние рентгеновских лучей подобно интерференционному рассению света диффракционной решеткой, а диффракционное рассеяние подобно диффз зному рассеянию света туманами и мелкой пылью. [c.56]

Аналогичной формулой описывается интерференционное действие диффракционной решетки на видимый свет. Известно, что чем больше размеры решетки при неизменной величине ее постоянной, тем резче выражены инте )-ференционные максимумы. Подобно этому ограниченность пространственной ре-щетки всякого реального кристалла сказывается на резкости интерференционных максимумов интенсивности рассеянных им рентгеновских лучей. Ввиду того, что длина волны рентгеновских лучей порядка атомных размеров, т. е. порядка 1 А =10" см, указанный дополнительный эффект диффракционного расширения максимумов ничтожно мал для кристаллов микроскопического размера, т. е. для кристаллов, линейные размеры которых 1 [л. Однако этот эффект становится доступным наблюдению в случае рассеяния рентгеновских лучей кристал- [c.28]

После работ Дебая и Гинье стало ясно, что природа нового явления по существу аналогична диффракции видимого света малыми экранами и отверстиями. Чтобы подчеркнуть это обстоятельство, мы все случаи рассеяния рентгеновских лучей, когда максимум интенсивности приходится на нулевой угол, объединим наименованием диффракционного рассеяния в отличие от интерференционного, характеризуемого формулой Брэгга [1, 1]. Подобная терминология существенна ввиду того, что под малыми углами можно наблюдать как диффракционное, так и интерференционное рассеяние. [c.43]

Установка всех частей спектрального прибора для возможности ясного видения и точного наблюдения должна, очевидно, предшествовать всякого рода спектральным определениям. Подробности практического пользования спектральными приборами должно искать опять в специальных сочинениях. В нашем изложении предполагается уже некоторое знакомство читателя с физическими данными, относящимися до преломления света, рассеяния его, диффракции света и его теории, позволяющей определять длины у световых волн в абсолютных мерах на основании наблюдений с диффракционными решетками, расстояние делений которых легко может быть измерено в долях миллиметра, чрез что и получается возможность знать длины волн определенных лучей света. Две наиболее резкие линии D, или натрия, имеют длины волн, 0,0005890 и 0,0005896 мм, сверх того видны более и более слабые линии, длины волн которых в миллионных долях миллиметра суть 588,7 и 588,1 616,0 и 615,4 515,5 и 515,2 498,3 и 498,2 и т. д. (Liveing-Dewar). [c.345]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология