Метод рентгенографический III

При раскрое листов должен соблюдаться ряд требований. Расположение сварных продольных и поперечных швов в обечайках и трубах, а также швов приварки днищ, штуцеров, люков и т. д. должно позволять проведение визуального осмотра швов, контроля их качества и устранения дефектов. В конструкции аппарата допускается не более одного шва (замыкающего), доступного визуальному контролю только с одной стороны. Сварные швы, как правило, не должны перекрываться опорами, кроме отдельных случаев перекрытия опорами кольцевых (поперечных) швов горизонтально устанавливаемых аппаратов при условии, что перекрываемые участки шва по всей длине проверены дефектоскопическим методом (рентгенографическим или ультразвуковым). Методы разметки заготовок деталей из стали аустенитного класса [c.18]

Широко используемое в настоящее время понятие кристалличности не отражает многочисленных особенностей структуры [54] и является понятием в известной степени условным. Очевидно, по тем же причинам определение степени кристалличности различными методами (рентгенографически, ИК-спектроскопией, по плотности полимера или по спектрам ЯМР) часто не дает сопоставимых результатов. Можно представить себе случай, когда две мембраны имеют одинаковую степень кристалличности в пачках , но формирование структуры в одном случае остановилось на уровне пачек , во втором — завершилось образованием сферолитов различных размеров. Упорядоченность в первом случае меньшая, чем во втором, и свойства этих мембран должны быть различными. [c.65]

При физико-химическом анализе используются также методы рентгенографический и микроскопический, с помощью последнего изучаются микроструктуры в проходящем и отраженном свете. [c.391]

Однако с помощью электромагнитных колебаний достаточно высокой частоты, пользуясь методом рентгенографического анализа, можно определить среднюю концентрацию электронов во времени на том или другом расстоянии от ядра. [c.45]

Многие исследователи считают, что структура полимера в растворе и блоке близка к модели хаотически переплетенных цепей и только при кристаллизации образуются упорядоченные области в виде кристаллитов. Этим объясняется, что структура полимеров в кристаллическом состоянии изучена лучше. Кроме того, прямые структурные методы (рентгенографические, электронно-графические и др.) дают наилучшие результаты при исследовании области когерентного рассеяния, т. е. для кристаллических структур с дальним порядком в расположении атомов, атомных групп и цепей. [c.34]

ПОДВИЖНОСТИ, сжимаемости и др. Однако во многих случаях нет данных для изолированных ионов, известны лишь числа гидратации для некоторых солей. Для того чтобы получить непосредственные данные для отдельных ионов, используют методы рентгенографического анализа, а также данные по кинетике обмена, полученные методом ЯМР (табл. 4.29). [c.213]

Разнообразие углей и других твердых горючих ископаемых обусловливается множеством сочетаний природных условий углеобразования и природы исходных растительных веществ [35—37]. Внутренняя (тонкая) молекулярная и химическая структура органического вещества углей, изучается различными методами — рентгенографическим, электронномикроскопическим, воздействием различных растворителей, исследованием сорбционных свойств, электропроводности и т. д. [37—43]. [c.35]

Рассмотрены основные методы рентгенографического анализа различных веществ в высокодисперсном состоянии. Физическая основа всех этих методов состоит в использовании диффракционного расширения интерференционных максимумов, получающихся при рассеянии рентгеновских лучей субмикроскопическими объемами вещества. В зависимости от степени упорядоченности распределения компактных масс материи в просвечиваемом объеме различают два типа рассеяния рентгеновских лучей веществом интерференционное рассеяние и диффракционное рассеяние. [c.56]

Межъядерные расстояния в молекулах и кристаллах доступны экспериментальному измерению с применением современных физических методов — рентгенографических, электронографических и спектральных. Полученные данные говорят о том, что длины ковалентных связей подчиняются с достаточной точностью правилу аддитивности. [c.63]

В настоящей работе, которую я продолжал далее с М. А. Левитской, применен метод рентгенографического анализа для количественного измерения предела упругости и для выяснения расхождения между теоретической и практической величинами прочности кристаллов. [c.188]

В большинстве методов рентгенографического исследования кристаллов используются монохроматические рентгеновские лучи. В известной мере это достигается естественным путем. Линии /(-серии много интенсивнее, чем линии остальных серий. Кроме того, рентгеновские лучи поглощаются средой, через которую они проходят, в тем большей степени, чем больше длина их волны. Поэтому линии -, М- и Л -серий поглощаются в стенках трубки и в воздухе значительно сильнее, чем линии /(-серии. Трубки, применяемые в структурном анализе в качестве источников монохроматического излучения (аноды Сг, Ре, Со, N1, [c.145]

Метод рентгенографического анализа применим и к смеси химических соединений. В этом случае выделение на рентгенограмме только пяти (а тем более — только трех) опорных линий высшей интенсивности во многих случаях является недостаточным. Эти линии могут принадлежать разным фазовым составляющим, а некоторые из них— возникать в результате наложения более слабых отражений двух (или более) составляющих. [c.478]

Метод Дебая—Шеррера. Первоначально для рентгенографических исследований применяли только крупные, хорошо сформпровап-ные одиночные кристаллы изучаемого вещества. Это было очень неудобно, так как не все вещества можно получить и виде крупных монокристаллов. Поэтому стали искать новый более доступный метод рентгенографического исследования. Такой метод, позвол5Пощий выполнять рентгеноструктурные исследования с порошкообразным веществом, был разработан Лебаем и Шер-рером. [c.113]

Таким образом, при гетерогенном катализе промежуточные соединения образуются на поверхности катализатора, Существонание активных центров на поверхности катализаторов подтверждается прямыми и косвенными данными. Известно, что для отравления катализатора бывает достаточно весьма малых количеств ядов, что указывает на активность не всей поверхности катализатора, а ее отдельных участков — активных центров. Неравноценность отдельных участков поверхности катализаторов обнаруживается по фигурам травления, а также методами рентгенографического анализа и электронной микроскопии. Адсорбция вещества происходит главным образом на этих центрах в силу наличия у них доиольно сильного неуравновешенного электрического поля. Все теории адсорбционного гетерогенного катализа сводятся к выяснению роли и строения активных центров, а также энергетического состояния молекул иа них. [c.164]

Методы и схемы съемки рентгенограмм. Методы съемки с фотографической регистрацией. Существуют три принципиально различных метода рентгенографического анализа с фотографической регистрацией рентгеновского излучения, в двух из которых — методе порошка поликристаллического вещества и методе вращения монокристалла — используется монохроматическое, а в третьем — методе Лауэ — полихроматическое излучение. К разновидности метода вращения относится метод колебания или качания монокристалла. Кроме того, метод вращения и качания можно подразделить на два вида, в одном из которых съемка осуществляется на неподвижную, а в другом — на перемещающуюся пленку (метод развертки слоевых линий или рентгеногониометрический метод). [c.78]

Основной заслугой теории Вернера является систематизация огромного фактического материала о комплексных соединениях. Теория Вернера стимулировала дальнейшее развитие химии комплексных соединений, появление новых теоретических идей и их разработку. Основные данные этой теории получили обоснование в изучении химических реакций комплексных соединений, исследовании электропроводности их водных растворов (ряды Вернера — Миолати), изучении изомерии комплексных соединений и подтверждение их структуры методом рентгенографического анализа эти вопросы будут освещены в дальнейших главах. [c.124]

За последние 40 лет опубликован ряд работ, в которых описаны цеолитные минералы (главным образом анальцим и клиноптилолит), обнаруженные в продуктах изменения вулканических туфов и других пирокластическнх пород. Кроме того, эти цеолиты встречаются в бентонитовых глннах, где они являются основными породообразующими минералами [19]. Известны случаи образования морденита в процессе изменения вулканических стекол [20]. Методом рентгенографического анализа установлено, что концентрация морденита по отношению к вмещающим породам составляет примерно 1%. В подобных образованиях цеолиты обычно являются промежуточными продуктахми разрушения вулканических пород. Действительно, в описанном примере химический состав морденита, который при пересчете на элементарную ячейку приводит к формуле (Мдо,а,Сад,8Naз 7Kl,8)A 7,,8140,3096-22,9 НзО. оказался очень близким к составу исходного вулканического стекла. [c.203]

Облучение целлюлозы в дозах до 0,5 МДж/кг не оказывало влияния на степень кристалличности, а при увеличении дозы до 1 МДж/кг наблюдалось лишь незначительное ее увеличение [85]. Облучение целлюлозы II снижает степень кристалличности. Оценка степени кристалличности методом рентгенографического анализа указывает, по-видимому, лишь на кажущуюся неноврежденность структуры целлюлозы. Уже после мягкой механической обработки происходит разрушение кристаллической структуры и появляется рентгенограмма аморфной целлюлозы. Высказывают предположение [30], что высокие дозы гамма-облучения одинаково воздействуют на кристаллические и аморфные области. В результате возникает множество дефектов кристаллической структуры на всем протяжении фибрилл, но последние сохраняют свою исходную форму. Однако даже слабое внешнее воздействие, например обработка ультразвуком в течение нескольких минут, показывает, что после облучения фибриллы фактически представляют собой ряды из коротких фрагментов, способных легко разупорядочиваться (рис. 13.10). [c.295]

Ранее при исследовании системы РЬТ10з—РЬ 04 в твердом состоянии методом рентгенографического качественного анализа обнаружено соединение титанатовольфрамата свинца [Ч. Состав соединения, соответствующий формуле ЗРЬТ10з РЬ 04 определен на основании данных рентгенографического анализа ориентировочно. Для определения точного состава, структуры и некоторых химических свойств этого соединения возникла необходимость в получении его монокристаллов. [c.151]

Изучена кристаллическая структура карбамида и комплекса карбамида с алканами нормального строения методом рентгенографического анализа [25, 27]. Согласно полученным рентгенограммам кристаллы чистого карбамида имеют тетрагональную структуру, а его молекулы ориейтированы таким образом, что в кристалле нет ни канала, ни свободного пространства. Кристаллы карбамидного комплекса обладают гексагональной структурой. Молекулы карбамида удерживаются вмес-те спиралеобразно за счет водородных связей между атомом кислорода и атомом азота смежных молекул. Эти смежные молекулы повернуты на 120 ° относительно друг друга на расстоянии 3,7 10 °м по оси спирали. Длина элемента ячейки 4,8 -Ю м (рис. 1). [c.9]

Строение слоя металла на носителе можно изучать различными методами рентгенографическим, электронографическим, методом электронной микроскопии и т. п. Измерение магнитной восприимчивости удобно использовать для тех случаев, когда восприимчивость кристаллической решетки достаточно сильно отличается от восприимчивости атомизированного слоя металла. Для оценки дипсерс-ности кристаллических слоев металлов можно воспользоваться адсорбционными методами. Они удобны, когда хемосорбируемый газ, например водород или кислород, поглощается металлом, но не поверхностью адсорбента. [c.99]

Метод рентгенографического определения модулей упругости кристаллической решетки основан на регистрации величины смещения характерного межплоскостного расстояния Лйот исходного положения о в зависимости от величины статического напряжения о, действующего на высокоориентированный образец полимера. Значения и и рассчитывают с помощью стандартных соотношений = = СТу/(Д / о) и ЕОд /(Дй/ о), где 0 и —значения растягивающего напряжения, действующего на образец при его нагружении соответственно вдоль и перпендикулярно оси макромолекулы. Относительная погрешность значений ц и Е("табл. 6.4) составляет 3—5 %, а точность абсолютных значений зависит от гомогенности распределения напряжения в образце согласно модели последовательного соединения кристаллических и аморфных участков. [c.292]

Перейдем к рассмотрению других методов рентгенографического исследования высокодисперсных систем. Эти методы разработаны за последние десять лет, и в основе их лежит явление, длительное время ускользавшее от внимания рентгенографов. Явление рассеяния под малыми углами рентгеновских лучей субмикроскопическими частицами было обнаружено благодаря изучению рентгенограмм газов и жидкостей и аналогично явлению рассеяния рентгеновских лучей газовыми молекулами. [c.43]

В первой части рассмотрены методы определения дисперсности криста.и-лических порошков, основывающиеся на использовании явления диффракционного расширения интерференционных максимумов. Эти методы условно будем называть старыми в противоположность методам, изложенным во второй части, которые будем называть новыми. Сравнивая возможности старых и новых методов, нельзя сказать, что старые методы потеряли свое значение с появлением новых. Каждый из них имеет свою область применения, свои преимущества и недостатки в том или ином конкретном случае. Прежде всего, старые методы важны при исследовании кристаллических систем, когда требуется иметь сведения об отдельных кристалликах, входящих, быть может, в состав поликристаллических агрегатов. Кроме того, в старых методах используются более простые технические средства, благодаря чему они допускают более быстрое и широкое изучение экспериментального материала. В то же время из изложенного видно, какие богатые возможности открываются для практических методов рентгеновского анализа дисперсности, использующих диффракционное рассеяние под малыми углами. Новые методы приложимы с одинаковым успехом для исследования обширного класса высокодиснерсных систем, вне зависимости от структуры их частиц. Кроме того, нри использовании новых методов рентгенографического анализа задача определения функции распределения частиц но размерам оказывается более доступной в экспериментальном и теоретическом отношениях, чем подобная же задача, основанная на использовании старых методов. Учет влияния всяких посторонних факторов в случае рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами несравненно проще, чем при старых методах. [c.56]

Шленк [260], а позднее Смит и др. [270, 271, 301] изучали кристаллическую структуру мочевины- хо-зяина и комплекса мочевины с парафинами нормального строения методами рентгенографического анализа. Было показано, что между молекулами мочевины возникают водородные связи и образуются достаточно большие пустые каналы, необходимые для включения плоских, но зигзагообразных углеводородных молекул. На рис. 1-2 схематично представлен порядок упаковки молекул вдоль с-осей комплексов мочевины с парафинами нормального строения и изобра- [c.20]

В основе рентгено- и электронографического анализа твердых тел лежат, как известно, теории дифракции рентгеновских лучей и электронов, развитые многими физиками (см. [32, 33]). Методы рентгенографического изучения веш,еств разрабатывались, начиная с 1915—1918 гг. Лауэ, затем Дебаем, Шереровд, Селяковым, Бриллем, Джонсом, Кохендорфером и другими (см. [32]). Методы электронографического изучения тел создавались несколько позднее в результате работ Томсона, Тартаковского, Линника, Б рэгга, Пинскера и Вайнштейна и других (см. [33]). Электронная микроскопия, в основе которой находятся начальные элементы теории электронной оптики Буша, стала создаваться только в 30—40-х годах и продолжает интенсивно совершенствоваться. Примерно в таком же порядке эти три метода (или точнее, три системы методов) начали использоваться и для исследования катализаторов первыми были привлечены рентгенографические методы, затем электронографические и, наконец, электронная микроскопия. [c.170]

Для определения аморфного или кристаллического состояния катализатора обычно применяется метод рентгенографического ана-Л11за. Так как процесс кристаллизации сопровождается выделением тепла, то наличие на термограмме экзотермического эффекта показывает, что мы имели дело с аморфным состоянием, и наоборот, если исследуемый образец, уже перешел в кристаллическое состояние, то на его термограмме экзотермический эффект отсутствует,Так, Баландин и Роде /12/ на окиси хрома - катализаторе дегидратации циклогексана нах лядно показали, что если на термограммах препаратов окиси хрома регистрируется экзотермический эффект, то на их рентгенограммах не обнарушвается дифракционной картины. [c.94]

Для исследования использовали метод рентгенографического анализа. Исследования проводили на дифрактометре УРС-50 ИМ. Цель съемки — изучение внутризернистой структуры (определение размеров блоков) частиц высокодисперсного кобальта, полученных по методу электролиза в двухслойной ванне [21. Промытые спиртом и высушенные в вакууме порошки кобальта смачивали толуолом, помещали в кварцевую кювету 0,5 мм и запрессовывали покровным стеклом, смоченным толуолом, для обеспечения юстировки прибора (ось вращения гониометра должна обязательно проходить по свободной поверхности запрессованного порошкового металла). [c.113]

Мякинен на обширном статистическом материале показал вероятное существование непрерывного ряда первичных кристаллических растворов в системе ортоклаз — альбит, имеющих тип анортоклаза. При понижении температуры, однако, возникает постепенно расширяющаяся область несмесимости. Дитлер и Кёлер и позже Спенсер доказали опытным путем, что при высоких температурах альбит диффундирует в кристаллы ортоклаза. Кодзу и Эндо также изучали процесс гомогенизации пертита при высоких температурах и его распад при 750—790°С методом рентгенографического исследования отожженных образцов. Они нашли, что рентгенограммы полевых шпатов, которые не распались на типичный пертит, представляют наложение рентгенограмм Лауэ для ортоклаза и альбита. После выдержки при температуре 1090°С двойные интерференционные пятна сливались и получалась однородная диаграмма истинного кристаллического раствора. При понижении температуры однородная диаграмма снова дифференцировалась на отдельные дуговые зоны и двойные дифракционные пятна ортоклаза и альбита, С помощью тщательных фотометрических измерений рентгенограмм Ито [c.475]

В 1911 году Жорж Урбен сообщил об открытии нового элемента в рудах редких земель. В честь некогда населявших территорию Франции древних племен кельтов он назвал новый элемент кельтием. В 1922 году тоже француз Довилье, исследуя смесь редких земель, применил усовершенствованные методы рентгенографического анализа. Заметив в спектре две новые линии, Довилье решил, что эти линии принадлежат элементу с порядковым номером 72, и кельтий признали пятнадцатым лантаноидом. [c.120]

Для определения точки плавления пригоден также метод рентгенографического анализа. В момент плавления наряду с пятнами Лауэ мгновенно появляется диффузное излучение — общее свечение всего флюоресцирующего экрана. Интерференционную картину при этом можно сввсем устранить поле зрения до точки плавления остается темным и затем четко освещается. [c.193]

Всестороннее изучение строения бутадиена различными независимыми физико-химическими методами и применение для его исследования расчетных квантовомеханических методов позволило исчерпывающе объяснить особенности его структуры. Методами рентгенографического анализа и дифракщ и электронов установлены величины межъядерных расстояний и валентных углов и показано, что углеродная цепь 1,3-бутадиена имеет преимущественно энергетически более выгодное /иранс-строение (цис-конфигурации, у которой энергия выше на 12,6 кдж/моль, всего около 4%). Длина ординарной связи С,—Сз меньше по сравнению со стандартным значением ординарной связи, следовательно, углеродные атомы Са—Сд связаны дополнительными силами [c.89]

Всестороннее изучение строения бутадиена различными незави-симьши физико-химическими методами и применение для его исследования расчетных квантовомеханических методов позволили исчерпывающе объяснить особенности его структуры. Методами рентгенографического анализа и дифракции электронов установлены [c.89]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология