Ионно-оптические системы

Рис. 8. Ионно-оптическая система источника с ионизацией полем и электронным ударом [42]

В гл. 2 рассмотрены способы ионизации молекул, приводящие к образованию как положительных, так и отрицательных ионов. Современные приборы позволяют регистрировать ионы обеих полярностей. Для этого в них предусмотрены устройства, обеспечивающие изменение полюсов ионно-оптической системы ионного источника и масс-анализаторов. [c.56]

Ионизационная камера и ионно-оптическая система. По ток газа от натекателя попадает в ионизационную камеру работающую при давлении около 10 —10 мм рт. ст., в которой он бомбардируется под прямым углом пучком электронов, испускаемых нагретой нитью. Положительные ионы, образующиеся при взаимодействии с этим пучком, выталкиваются через первую щель ускорителя слабым электростатическим полем между отражательными электродами и первой щелью [c.23]

Регистрация ионов ионно-оптическая система с последовательно расположенными секторными (90°) электрическим и магнитным анализаторами [c.266]

Регистрация ионов ионно-оптическая система с последовательно расположенными секторными электрическим (70°) и магнитным (90°) анализаторами. Диапазон массовых чисел 1—5000 разрешающая способность 40 ООО (10% перекрывание) ускоряющее напряжение 1,25 2,5 и 5 кВ. [c.267]

Регистрация ионов ионно-оптическая система с секторными электрическим (31,8°) и магнитным (90°) анализаторами. Диапазон массовых чисел 1—850 разрешающая способность более 5000 (50% перекрывание) ускоряющее напряжение 10—24 кВ. [c.268]

Регистрация ионов ионно-оптическая система со статическим магнитным (180°) и резонансным магнитным анализаторами. [c.270]

Помимо ускорения ионов и заряженных фрагментов ионно-оптическая система осуществляет их фокусировку. Удобных способов коллимации потока ионов в узкий пучок не существует, но угол его расходимости можно ограничить круглыми или щелевыми диафрагмами. [c.204]

Чувствительность масс-спектрометра характеризуется минимальным содержанием анализируемого компонента в пробе, которое может быть измерено. Зависит она от светосилы ионно-оптической системы в целом (от условий ионизации), от отношения числа регистрируемых ионов к общему числу ионов, образовавшихся в источнике, качества фокусировки и относительной интенсивности остаточного масс-спектра (фона). [c.7]

Аналитическая часть масс-спектрометров единой серии состоит из ионно-оптической системы (источник ионов, камера анализатора и приемник ионов), электромагнита, элементов вакуумной системы, обеспечивающих необходимый вакуум, газовых коммуникаций, водяных магистралей системы охлаждения и т. д. [c.10]

Циклоидальная фокусировка позволила применить малогабаритный масс-анализатор с простейшей ионно-оптической системой и низкими значениями электрических напряжений на электродах, обеспечивающий значительное [c.56]

Светосила ионно-оптической системы при ширине выходной щели 0,1 мм и ускоряющем напряжении 4 кв, % 20 [c.94]

Профилируя электроды 3, 4, и 5 ионно-оптической системы, добиваются нужной для формирования ионного пучка геометрии электрического поля. [c.293]

Однако малая величина КОЧ не облегчает их определения. Значения факторов коррекции зависят от физических характеристик вещества, в частности, от сечений ионизации атомов и энергии их связи в твердом теле, а также от многих условий эксперимента, ряд которых (например, напряжение пробоя вакуумного промежутка и расположение разряда относительно фокусной точки ионно-оптической системы) контролировать довольно сложно [1]. Поэтому экспериментальные значения КОЧ плохо воспроизводятся во времени и не повторяются на других приборах. [c.204]

Вследствие этого необходимо одновременно измерять два сигнала ионный ток отдельного выбранного изотопа (с помощью аналитического коллектора, расположенного за выходной щелью) и полный ионный ток (коллектором монитора, который обычно расположен между электростатическим и магнитным анализаторами в области, свободной от поля). Отношение этих сигналов служит мерой концентрации данной примеси. Для достижения той же цели можно брать отношение измеренных одновременно ионных токов, соответствующих анализируемой примеси и внутреннему стандарту. Относительное расположение монитора и аналитического коллектора в ионно-оптической системе показано на рис. 5.3. [c.142]

Эффективность пропускания ионов масс-спектрометром зависит от геометрии искрового промежутка. Если при этом сигналы коллектора и монитора изменяются не одинаково, то компенсации этих изменений не происходит. Кратковременные флуктуации, вызванные этой причиной, например при перемещении искрового разряда от одного края образца к другому, можно усреднить соответствующим подбором времени измерения. Однако, если геометрия электродов изменяется существенно (что, в частности, возможно при ручном регулировании их положения или вследствие эрозии), то изменяется угол освещения ионно-оптической системы. В результате в аналитические данные вносится систематическая ошибка, если не произвести новую калибровку прибора. Обычно это изменение эффективности пропускания ионов не проявляется в течение нескольких минут, поэтому за это время можно провести сравнение многих элементов с внутренним стандартом, не повторяя измерения линии стандарта. Если измерения проводятся по [c.161]

Было высказано предположение, что ионный пучок с реаль- ным (первичным) разбросом АЕ, образуемый в искровом промежутке источника, следует через диафрагму и ускоряющее поле Пуск), а затем поступает через входную щель ионно-оптической системы в ином энергетическом диапазоне, который можно измерить с помощью коллектора ионного тока на выходе анализатора энергии. Найденное таким образом значение А должно отвечать условию [c.126]

Значение HAU может достигать 80—100 В и существенно зависит от тока в цепи ускоряющего электрода г уск. Значительное снижение /уск достигается при экранировании искрового промежутка и замене на сетку пластины с первой заземленной щелью ионно-оптической системы прибора. Именно в этих условиях была получена характеристика, приведенная на рис. 4.7 (кривая 2). На этой кривой наблюдается сужение интервала между ветвями примерно до 100 эВ с обеих сторон так, что [c.127]

По типу ионно-оптической системы течеискатели делятся на статические (с постоянными электрическими и магнитными полями) и на динамические (с переменными электрическими полями). Отечественная промышленность выпускает статические масс-спектрометрические течеискатели ПТИ-4 и ПТИ-6 со 180-градус-ной фокусировкой, которые обладают собственной вакуумной системой и весьма универсальны в эксплуатации. [c.243]

Испаритель и ионизатор 1шгреваются проходящим по ним электрическим током испаритель — до температуры испарения (распыления) пробы, ионизатор — до температуры ионизации анализируемого вещества. Часть молекул, распыленная с испарителя (коэффициент напыления составляет примерно 0,25), достигает поверхности ионизатора. Образовавшиеся ионы формируются ионно-оптической системой источника в пучок строго определенной формы. [c.93]

Ионно-оптическая система отечественного масс-спектрометра с двойной фокусировкой МС 3301 [47] построена по типу схем Хин-тербергера — Кенига. Эта система обеспечивает полную коррекцию аберраций второго порядка, обусловленных горизонтальной расходимостью и разбросом ионов по энергиям (рис. 11). На этом приборе достигается разрешение 20 тыс. а. е. м. на уровне 5% пиков равной интенсивности. [c.30]

Теория этого прибора предполагает, что границы обоих поле совпадают на оптической оси. В действительности же магнитное поле распространяется значительно дальше по оптической оси, чем электрическое поле. Вследствие того что в этом приборе ионы движутся медленнее, чем в приборе с ординарной фокусировко1г, траектории их под действием рассеянного магнитного поля в большей степени отклоняются. Этот фактор был учтен при проектировании ионно-оптической системы масс-спектро-метра. [c.63]

Специальная газоразрядная трубка помещалась в масс-спектрометр в качестве источника ионов. Она имела со стороны анода патрубок для подачи анализируемого газа из дозировально-сме-сительной установки, а с другой ограничивалась торцовым катодом с отверстием около 0,025 мм, через которое пролетали и попадали в масс-спектрометр бомбардирующие катод ионы, так называемые каналовые лучи. Вытянутые таким образом из разрядной трубки ионы получали ускорение в электрическом поле и фокусировались в узкий пучок в ионно-оптической системе линз масс-спектрометр а. [c.111]

Ионно-оптическая система В1,1брана такой, что позволяет передать все ионы ионизатора без потерь на приемник ионов масс-спектрометра. При этом удалось повысить чувствительность прибора в режиме мягкой ионизации более челг па три порядка по сравнению с другими известными системами. Совокупность всего, что содержится в данной установке, делает ее, вероятно, наиболее чувствительной из установок, используемых в настоящее время для исследования реакции с участием атомов и свободных радикалов. Этому способствует и применение ЭВМ, оказавшейся наиболее удобной при работе с низковольтн >1ми э.г[ектронами вблизи потенциала ионизации. [c.61]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология