Амплитудный контраст

Метод фазового контраста основан на том, что показатели преломления отдельных участков структуры и окружающей среды различны, вследствие чего световая волна, прошедшая сквозь структуру препарата, претерпевает изменение по фазе и приобретает так называемый фазовый рельеф. Глаз человека и фотографическая пластинка воспринимают только изменения амплитуды и нечувствительны к изменениям фазы световой волны. Поэтому фазовые изменения световой волны, прошедшей через препарат, с помощью специального оптического устройства преобразуются в изменения амплитуд, что приводит к ослаблению или усилению интенсивности света, прошедшего через объект (т. е. фазовый рельеф волны заменяется амплитудным рельефом). В результате получается видимое фазово-контрастное изображение структуры препарата, в котором распределение яркостей соответствует фазовому релье- [c.36]

Действительная часть е , т.е. os х. изменяет амплитуду волн в плоскости дифракции и носит название амплитудного контраста. Мнимая часть, / sin х. изменяет только фазу и называется фазовым контрастом. Параметр х является функцией квадрата угла рассеяния и равняется нулю, когда равны нулю И к к. Уравнение (14.46) напоминает уравнение (13.7) после того, как вводятся условия Лауэ, Эти условия выполняются, так как объект периодичен по Хд из о, и эта периодичность приводит к тому, что в результате интерференции рассеяние наблюдается только в точках обратной решетки. [c.434]

Выявление различно ориентированных кристаллитов или субзерен внутри отдельных кристаллитов (см. рис. 20.10) или различающихся по кристаллической структуре частиц в гетерогенных сплавах (рис. 20.22)— наиболее простые для понимания применения амплитудного контраста, [c.460]

Второй тип контраста — амплитудный контраст определяется степенью взаимодействия различных участков образца с проходящими электронами. Амплитудный контраст в просвечивающей электронной микроскопии щироко используют при исследовании различных элементов внутренней структуры твердофазных материалов достигаемое при этом разрещение заметно меньше, чем при фазовом контрасте, и составляет около 1 нм. Взаимодействие электронов с веществом обусловлено различиями как в элементном составе разных участков облучаемой области (это позволяет исследовать размеры и форму составляющих образец наночастиц, включения другой фазы в наблюдаемые частицы или вариации элементного состава без образования вторых фаз), так и в ориентации кристаллических фрагментов относительно направления падающего электронного пучка. Это позволяет изучать малоугловые границы внутри зерен (контрастируя их изменением ориентации образца), а также различать механически напряженные участки частиц, что в свою очередь позволяет непосредственно наблюдать (по окружающей их области искаженной структуры) протяженные дефекты кристаллического строения вещества, такие как дислокации или дефекты упаковки. Контраст на электронномикроскопическом изображении также может быть связан с интерференционными эффектами, например, с широкими полосами равной толщины на клиновидных краях зерен образца или полосами Френеля по границам зерен. Амплитудный контраст (как и фазовый) существенно зависит от положения фокуса объективной линзы, при точном фокусе он минимален, а при удалении от этого положения наблюдается контрастирование изображения с [c.247]

Этот контраст имеет дифракционную природу и может быть амплитудным и фазовым, или интерференционным. [c.459]

Метод фазового контраста основан на разнице в показателях преломления отдельных участков препарата и окружающей среды. Световая волна, прошедшая сквозь структуру препарата, приобретает так называемый фазовый рельеф, затем с помощью специального оптического устройства фазовый рельеф преобразуется в амплитудный, который и воспринимается наблюдателем. [c.214]

Контрастность изображения. Одной из острых проблем электронной микроскопии биологических объектов является контрастность изображений. Нет смысла стремиться к высокому разрешению, если детали изображения нельзя различить из-за низкой контрастности. В обычной просвечивающей электронной микроскопии (рис. 1.44) изображение формируется электронами, упруго рассеянными атомами образца. Если какой-то участок образца содержит скопление тяжелых атомов, часть электронов рассеивается под большими углами, они задерживаются объективной апертурой (диафрагмой) и на флуоресцентном экране такой участок выглядит темным. Та часть образца, которая образована легкими атомами, рассеивает электроны слабо, электроны фокусируются линзой и на изображении этот участок будет, соответственно, светлее. Апертура является важным элементом конструкции микроскопа и играет двоякую роль она пропускает только те лучи, которые почти параллельны оптической оси и могут быть сфокусированы линзой, и, задерживая электроны, рассеянные под большими углами, увеличивает контрастность изображения. Такой механизм образования контраста называется амплитудным. [c.169]

Амплитудный контраст в изображении кристаллов связан с тем, что разные кристаллы или разные области одного кристалла (зерна) находятся в разных положениях по отнощению к падающему пучку электррнов в соответствии с этим амплитуда дифрагированного пучка оказывается различной. Если для формирования изображения используют только прямой или только один дифрагированный луч, то яркость изображения будет [c.459]

Фазово-контрастная микроскопия. Основана на превращени изменений по фазе, возникающих при прохождении светово) волны через так называемые фазовые (прозрачные) объекты в изменения по амплитуде, которые улавливаются глазом С помощью фазово-контрастного приспособления фазовы изменения световых волн, проходящих через объект, превра щаются в амплитудные и прозрачные (Объекты становятс видимыми в микроскоп. При этом они приобретают высокую контрастность изображения, которая может быть позитивно или негативной. Позитивным фазовым контрастом называю темное изображение объекта в светлом поле зрения негатш [c.13]

Амплитудный контраст составляет основу современной дифракционной электронной микроскопии, позволяя визуализировать многообразные нарушения правильной кристаллической структуры, определять их природу и получать количественные характеристики (вектор Бюргерса и типдислокаций, тип дефектов упаковки и т. д.). Сле- [c.461]

Недофокусировка (Д/>0) означает, что линза слабее, т. е. ток в обмотке линзы меньше и фокусное расстояние больше, чем в условиях точной фокусировки при перефокусировке, напротив линза сильнее. Точная фокусировка соответствует минимальному контрасту в изображении деталей фона, объекта при использовании одного пучка (т.е. при амплитудном контрасте). [c.543]

Необходимо отметить, что к аппаратуре Антисвид предъявляются противоречивые требования. С одной стороны изображение цели должно легко обнаруживаться оператором на мешающем фоне других объектов, с другой - изображение окружающих предметов также должно быть отчетливым, что необходимо для определения местоположения цели. Добиться удовлетворения этих требований можно путем использования спектральных (интерференционных), амплитудных (повышение контраста и подавление шума), частотных и поляризационных методов селекции изображения цели на мешающем фоне. [c.648]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология