Оттенение образца для электронной микроскопии

Можно получать как одноступенчатые, так и двухступенчатые реплики. В первом случае реплику получают путем отложения материала непосредственно на образец, во втором — на, поверхность образца наносят пластический материал для предварительного отпечатка, воспроизводящего рельеф затем реплику сниыаюг с поверхности этого отпечатка и исследуют в микроскопе. Повышения контрастности реплики добиваются оттенением (отложение на объективе слоя материала с высокой рассеивающей способностью для электронов). Оттеняющий слой наносят под небольшим углом испарением материала в вакууме. Высокой контрастности достигаюг при использовании урана, вольфра(11а, золота, платины и других веществ. Иногда для оттенения применяют углерод. На рис. 136 дана схема двух основных способов получения углеродных реплик. На рис., 137 показана последовательность операций и возникновение изображения на экране при получении реплик с объектов, образованных контактирующими сферическими частицами. Это часто имеет место при исследовании кага лизаторов и носителей глобулярного строения [78]. [c.309]

Просвечивающий электронный микроскоп можно использовать для изучения поверхности образца с очень большим увеличением, наблюдая отдельные макромолекулы. Как и при сканирующей электронной микроскопии, на высушенный образец напыляется тонкая пленка тяжелого металла, например, платина. Металл напыляется под определенным углом, так что отложения напыленной пленки в некоторых местах толще, чем в других. Этот процесс известен как оттенение здесь возникает эффект тени, создающий впечатление трехмерности изображения. [c.186]

В последнее время в практику электронной микроскопии вошли различные методы окрашивания , отличающиеся от метода оттенения тем, что их применение пе приводит к увеличению размеров объектов. Особенно четкое и детальное изображение дает метод негативного контраста [54, 218]. Он состоит в том, что на образец наносят нейтральные растворы, содержащие атомы тяжелых металлов (фосфорновольфрамовую кислоту или ура-нилацетат) в этих условиях атомы тяжелых металлов не соединяются с компонентами вирусов, а создают окрашенный фон, заполняя все отверстия и трещины, [c.38]

Электронный микроскоп, создающий изображение благодаря прохождению (просвечиванию) электронов сквозь тонкопленочный образец, называется просвечивающим или трансмиссионным (ТЭМ). Он позволяет выявить детали внутреннего строения микроорганизмов, а также особенности их взаимодействия в анализируемом образце. Предварительно образец фиксируют химически, заливают в различные смолы и контрастируют солями тяжелых металлов. Часть электронов проходит через объект, часть в той или иной степени рассеивается тяжелыми атомами, связав-щимися с компонентами структуры, вследствие чего и формируется контраст изображения. Необходимая для трансмиссионной микроскопии минимальная толщина образца обеспечивается применением специальных устройств для приготовления срезов — ультрамикротомов. Микроорганизмы и вирусы можно наблюдать в ТЭМ и без заливки в смолы. Для этого каплю суспензии помещают на пленку-подложку, высущивают и контрастируют химически или физически — косым напылением металлов (оттенение). [c.97]

Электронная микроскопия изучает в основном структуры частиц, таких, как вирусы, фаги и рибосомы, и макромолекул. Данные о размерах таких объектов и некоторая информация о их структуре могут быть получены методом оттенения. Частицы (в растворе или суспензии) наносят на сетку, покрытую пленкой-подложкой методом опрыскивания. Жидкость быстро испаряется, образец помещают в вакуум, после чего напыляют тяжелый металл. Для этого требуется кипящий металл при температуре раскаленного добела вольфрама, чего можно достигнуть либо обматывая металлическую проволоку вокруг вольфрамовой спирали (рис. 3-8), либо помещая небольшие кусочки напыляемого металла в вольфрамовый контейнер. Атомы металла движутся по прямой во всех направлениях в том случае, когда вакуум достаточно высок. Если испарение проводят под острым углом (рис. 3-9), металл будет покрывать только одну сторону образца, а сетка будет покрыта полностью, за исключением участка в тени образца. Если известны вертикальное (Н) и горизонтальное (Ь) расстояния от источника испаряемого металла до образца, то высоту частицы над поверхностью решетки (Л) можно рассчитать по длине тени, отбрасываемой образцом (й), так как = Таким образом можно определить размеры частицы. На рис. 3-10 показано исследование фагов этим методом. [c.71]

Углеродные реплики благодаря их ценным качествам (прочность, устойчивость, обеспечение высокого разрешения) получают со многих объектов, подлежаш их исследованию в электронном микроскопе. Для изготовления углеродных реплик, так же как и для углеродных пленок-подложек, применяют метод термического распыления угля, который описан выше при получении углеродных пленок-подложек. С помош ью этого метода можно получить углеродные реплики тол-ш иной 50 А и ниже, однако они не обеспечивают достаточного контраста при пол5М1ении микрофотографии. Для повышения контраста обычно прибегают к оттенению тяжелыми металлами или к само-оттенению путем напыления углерода под некоторым углом к поверхности образца. Оттенение металлом может быть либо предварительным, либо последующим. В первом случае оттеняющий слой металла наносят непосредственно на образец, а затем на оттененную поверхность напыляют углерод. Во втором случае уже готовую углеродную реплику оттеняют металлом. [c.186]

Дополнительные данные относительно топографии поверхности мог т быть получены при помощи специальных методик. Используемый в оптической микроскопии метод, который при малой глубине фокуса дает возможность исследовать рельеф поверхности образца различной фок хировкой прибора, для электронного микроскопа не пригоден, так как для него глубина фокуса велика по сравнению с величиной разрешающей способности и часто больше, чем исследуемые изменения рельефа поверхности. Топография поверхности может быть изучена при помощи так называемого метода оттенения. Молекулярный пучок металла распространяется прямолинейно в высоком вакууме. Такой пучок (обычно берется золото или хром) направляется на образец под косым углом, и металл оседает на той стороне поверхностного рельефа, которая [c.149]

Для исследования образцов, из которых растворитель полностью не удаляется, был разработан ряд оригинальных методов. Одним из них является метод замораживания—травления. Замороженный образец раскалывают ударом ножа и затем лиофилизу-ют. При этом растворитель сублимирует, нелетучие макромолекулы выступают из замороженного юдного слоя, и в результате на поверхности выявляется тонкая структура образца. Затем с помощью специального источника на исследуемую поверхность напыляют атомы углерода, благодаря чему создается тонкая углеродная пленка, являющаяся репликой поверхности. Углеродную реплику осторожно отделяют от поверхности и помещают на сетку электронного микроскопа. После оттенения тяжелыми атомами реплику исследуют обычным способом в микроскопе. Внешний вид образцов, приготовленных методом замораживания—травления или сходным методом, часто значительно отличается от вида образцов, приготовленных простым высушиванием на воздухе фиксированных образцов. Например, рибосомы 70S, приготовленные методом замораживания—травления, имеют размеры 170х 230 х 250 А и соответственно объем 5,1 10 A . Более распространенный метод простого высушивания обычно дает размеры 160х 180 х 200 A и соответственно меньший объем 3,0 10 A . Данная ситуация напоминает случай уменьшения объема при превращении сливы в чернослив, причем оценить такое уменьшение довольно трудно. [c.180]

РИС. 10.2. Изображение образцов гликогена печени в зависимости от способа их обработки для электронной микроскопии. А. Негативное контрастирование. Б. Образец высушен на воздухе и за-тем оттенен. В. Образец высушен фильтрацией через агар и затем оттенен. Г. Образец заморожен, лиофильно высушен и затем оттенен. Д. Замороженный образец лиофильно высушен, перед оттене-нием выдержан в водных парах. Е. Гликоген в тонком срезе ткани печени. (Микрофотографии любезно предоставлены Келленбергером, Виллигером и Кистлером.) [c.181]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология