Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Травление - сканирующий электронный микроскоп (СЭМ)

    Травление — сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) [c.40]

Рис. 12. Вид травленой поверхности пластика АБС под сканирующим электронным микроскопом Рис. 12. Вид <a href="/info/476544">травленой поверхности</a> пластика АБС под <a href="/info/129214">сканирующим электронным</a> микроскопом

Рис. 5. Изображение травленой поверхности АБС-пластика в сканирующем электронном микроскопе. Рис. 5. Изображение <a href="/info/476544">травленой поверхности</a> АБС-пластика в <a href="/info/129214">сканирующем электронном</a> микроскопе.
    Эти методы приготовления мембран были детально обсуждены в гл. III. На рис. VI-4 представлены микрофотографии, полученные с помощью сканирующего электронного микроскопа (SEM), некоторых характерных полимерных мембран, полученных методами инверсии фаз (VI-4,a), вытяжки (VI-4,5) и травления треков (VI-4,e). [c.286]

    Электронная микроскопия (сканирующая - СЭМ и трансмиссионная - ТЭМ) превосходит оптическую по разрешающей способности и позволяет исследовать как ненаполненные, так и наполненные смеси. Однако при использовании электронной микроскопии могут возникнуть проблемы с контрастированием фаз, что требует или тонирования одной из фаз, или физической обработки. При близкой ненасыщенности эластомеров приходится применять более сложную процедуру травления. [c.576]

    Состав 6 рекомендуется для травления инконеля и двойных сплавов циркония с торием, оловом и ниобием, а также структуры алюминиевых пленок, полученных конденсацией, при изучении их методами световой и электронной просвечивающей или сканирующей микроскопии [209]. При исследовании алюминиевых пленок соотношение кислот 1 9, продолжительность травления 3 мин. [c.22]

    Наиболее важной характеристикой аналитического метода, используемого при изучении поверхности, является эффективная глубина действия, поскольку метод измерения должен соответствовать изучаемому явлению. Например, связывание с поверхностью, смачивание и катализ затрагивают лишь несколько слоев атомов, а при обработке поверхности закалкой вовлекаются от 10 до 1000 таких слоев. Вот типичные эффективные глубины действия для наиболее важных аналитических методов исследования поверхности рассеяние ионов низкой энергии — один-два слоя атомов, масс-спектрометрия вторичных ионов — зА, оже-спектроскопия — 20А, ионное травление в сочетании с SIMS — lOOA. Лазерная масс-спектрометрия, рамановский микроанализатор и сканирующий электронный микроскоп могут использоваться на глубинах от 1000 до 10 ООО А (т.е. вплоть до 1 микрона). Чем меньше эффективная глубина действия метода, тем [c.239]


    Поверхности политетрафторэтилена, подвергнутые действию тлеющих разрядов, были охарактеризованы при помощи метода нарушенного полного внутреннего отражения, дифференциального нарущенного полного отражения, инфракрасной, рентгеновской, фотоэлектронной спектроскопии, сканирующей электронной микроскопии и измерений угла контакта [350]. Содержание аморфного материала на поверхности политетрафторэтилена после испытаний на трение и износ определяли методом ИК-спектроскопии нарушенного полного отражения [351]. Этот же метод применяли и для исследования травленых натрием поверхностей политетрафторэтилена, используемых для связывания полиметановых субстратов [352] значительные различия между несвязанными и связанными образцами обнаружены в области 1650 см . В работе [353] в колебательном спектре политетрафторэтилена была обнаружена новая полоса поглощения при 14 см . В спектре спеченного политетрафторэтилена наблюдалась полоса поглощения при 277 см связанная с наличием цепей с изогнутой конформацией. Найдено, что основные полосы рамановского спектра при 292 и 312 см , запрещенные в ИК-спектроскопии, связаны со складчатыми цепями в кристаллических областях [354]. [c.511]

Рис. 6. Изображение травленой поверхности АБС-дластика в сканирующем электронном микроскопе [16]. Рис. 6. Изображение <a href="/info/476544">травленой поверхности</a> АБС-дластика в <a href="/info/129214">сканирующем электронном</a> микроскопе [16].
    Появление новых сканирующих электронных микроскопов с более высоким разрешением привело к тому, что трудный и требующий больших затрат времени метод одноступенчатых реплик, используемый для выявления тоцографии поверхности, стал считаться едва ли не устаревшим. Хотя с помощью этого метода по-прежнему можно получать контрастные и четкие микрофотографии при высоких увеличениях, его применяют все меньше из-за трудоемкости связанных с ним операций. Кроме того, существует опасность разрушения образца. Совершенно очевидно, что в тех случаях, когда основной целью является получение информации о топографии поверхности, более предпочтителен сканирующий электронный микроскоп. Заслуживает упоминания одно исключение по-видимому, замораживание-скалывание и замораживание-травление биологической ткани лучше проводить с помощью получения реплик. Тем, кто интересуется этим вопросом подробно, следует обратиться к специальным публикациям. [c.233]

    Изучение поперечных срезов слоев СТГ, извлеченных из систем ПМ—СТГ—ПМ и Ме—СТГ—Ме, показало, что к поверхности подложки примыкает модифицированный слой, который образуется как в контакте СТГ с ПМ, так и в контакте с металлами, однако в последнем случае он выражен значительно лучше [181]. На рис. 2.23 приведены фотография поверхности поперечного скола в отраженном свете,, полученная с помощью сканирующего микроскопа. Травление контактной поверхности СТГ, примыкавшей к подложке, активным кислородом с последующей репликацией и анализом под электронным микроскопом позволило выявить дополнительные детали структуры. Так, исходная пленка (до контакта с подложкой) имеет мелкофибриллярную ориентированную структуру, обусловленную вытяжкой СТГ в процессе экструзии (рис. 2.24) после формирования систем Си—СТГ—Си и ПМ—СТГ—ПМ структура поверхности существенно меняется. [c.102]

    Для оценки качества травленой поверхности единый критерий отсутствует. Поэтому пользуются несколькими различными по своей природе показателями. Микрошероховатость поверхности оценивают виз) ально с помощью микроскопов (оптического, металлографического, растрового, электронного сканирующего) или по светорассеянию, а также при помощи профилометров, профилографов. Для определения микромеханических свойств можно использовать методы микровдавливания, склерометрии, трибометрии или определять износостойкость поверхности. Физико-химические свойства легче всего оценивать по смачиваемости и окрашиваемости поверхности, а также по прилипанию липких лент и приклеиванию полосок материи желатином. Весьма детальные и ценные сведения о химическом состоянии поверхности пластмасс можно получить методом рентгенофотоэлектронной спектроскопии. [c.35]


Смотреть страницы где упоминается термин Травление - сканирующий электронный микроскоп (СЭМ): [c.592]    [c.255]    [c.309]    [c.650]   
Смотреть главы в:

Полимерные пленки -> Травление - сканирующий электронный микроскоп (СЭМ)




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Микроскоп

Микроскоп электронный

Микроскопия

Травление

Электронная микроскопия

Электронная микроскопия микроскоп

Электронная микроскопия сканирующая

Электронная сканирующий электронный



© 2025 chem21.info Реклама на сайте