Коэффициент ионизации

Г (х+ 1) (кГ ) , что соответствует коэффициенту ионизации [c.222]

Величина I имеет и другие названия коэффициент ионизации (что не соответствует процессу), изотонический коэффициент Вант-Гоффа (что справедливо для частного случая). [c.189]

Коэффициент пропорциональности между интенсивностью пика и парциальным давлением вещества в системе введения называется коэффициентом ионизации К. Для получения величины К прибор калибруется возможно с некоторыми ограничениями использование при анализе табличных значений К. [c.141]

Смаке и /Смин — коэффициент ионизации исследуемого соединения и эталона относительно толуола. [c.305]

Целью исследования было изучение влияния температуры на эмиссию положительных однозарядных ионов меди и серебра, а также определение диапазона температур, в котором этот эффект может быть описан формулой Лангмюра [2] для коэффициента ионизации [c.125]

Рис. 1. Коэффициент ионизации (а)Си и Ag на вольфраме в зависимости от температуры вольфрамовой нити.

Рис. 3. Коэффициент ионизации а (произвольные единицы) в зависимости от парциального давления кислорода.

Рис. 4. Коэффициент ионизации меди (а) в зависимости от скорости испарения ее с вольфрамовой нити. Температура ионизирующей нити Т = 1170° К.

Таким образом, зависимость между коэффициентом ионизации и напряженностью поля можно записать в виде а / — =/(Х1р) в соответствии с законами подобия (Приложение 1). Это означает, что число актов ионизации на длине одного [c.188]

По аналогии с коэффициентом ионизации удобно ввести для данного значения Xjp величину ajp, представляющую собой число актов захвата электронов молекулами на 1 см пути в направлении поля при давлении 1 мм Hg. На рис. 95 и рис. 96 показана зависимость ajp от Xjp для различных газов. Хотя численные данные и не очень достоверны, несомненно, что при возрастании Xjp величина ajp проходит через максимум. Это связано с тем, что при возрастании Х1р все большее [c.196]

Увеличение числа электронов йп на элементе dx пропорционально числу электронов (на M j e/i) и разности коэффициентов ионизации и захвата [c.199]

Рис. 98. Зависимость относительного коэффициента ионизации электронами а// от приведенного поля Х р для Оз и фреона [169].

Для других газов также получаются ожидаемые зависимости. Например, Не имеет малый коэффициент ионизации р, и, таким образом, согласно (8.22) рк должно быть большим, что и оправдывается на опыте. Аг и Н имеют большие зна- [c.237]

Нормальная ширина темного пространства (табл. 28), как это следует из формул (8.4) и (8.22), возрастает при убывании интенсивности ионизации в газе и коэффициента вторичной эмиссии. Так, например, Аг и имеют большой коэффициент ионизации и, следовательно, малое Не — наоборот. Зависимость от материала катода менее выражена. [c.240]

При рассмотрении возможных механизмов реакций, приводящих к образованию определенных продуктов, необходимо опираться на сведения о природе и количестве первичных ионов и возбужденных молекул, возникающих в данной системе при взаимодействии с излучением. Использование имеющихся в литературе данных по коэффициенту ионизации [5] и масс-спектрометрическому исследованию [6] паров спирта позволяет исходить из следующего расчета. Па каждые 100 эв поглощенной энергии излучения образуется —4 пары ионов, причем средний ионизационный потенциал соответствует 13—14 эв. Следовательно, на возбуждение молекул расходуется 40—50 эв. [c.172]

Эти явления описываются уравнением Саха — Ленгмюра, позволяющим определить коэффициент ионизации Оо [243]. Коэффициент Оо максимален, если потенциал ионизации 7,- пара минимален, а работа выхода ф металла максимальна. Если атом адсорбируется на поверхности металла (адатом), то происходит перераспределение его электронного облака, приводящее к появлению у него дипольного момента и к его ионизации. В этом случае адатом и металл образуют единую систему и электроны адатома и металла [c.226]

Если испарение происходит в электрическом поле Е, ускоряющем ионы, то внешнее поле уменьшит силу притяжения иона к металлу на величину еЕ. В этом случае коэффициент ионизации определяется выражением [c.227]

I см поверхности жидкости в минуту в нормальных условиях) ionization коэффициент ионизации L- onversion коэффициент конверсии на L-оболочке [c.99]

Ионизация возникает в результате действия поля коронного разряда. Первый таунседовский коэффициент ионизации а (число рожденных ионных пар па 1 м пути) характеризует процесс рождения ионов между парой плоских электродов в цилиндрическом столбе радиуса R и длины X (см. стр. 122 и рис. 4.37 в монографии [126]). [c.265]

Напряженность поля у нити была равна 400 в1см это приводило к увеличению коэффициента ионизации благодаря эффекту Шоттки [3], Увеличение определяется формулой [c.126]

Возрастание а составляет 7,3% при 1200° К и 3,1% при 2800° К. В измеренные коэффициенты ионизации вводили поправку, учитывающую эффект Шотткрх однако эта поправка была меньше, чем разброс результатов. [c.126]

E. В h a 1 I a M. S., ragg J. D., Измерение коэффициентов ионизации и прилипания в гексафториде серы в однородных полях. Ргос. Phys. So ., 80, 151 (1962). [c.715]

На рис. 92. приведена зависимость ajp от Xjp для ряда газов ) в логарифмическом масштабе, чтобы охватить большой интервал значений f.jp. Особый интерес представляет тот факт, что в противоположность формуле (7.11) коэффициент ионизации имеет максимум. Наличия максимума следует ожидать на основании хода кривых относительной ионизации (глава 3, 4), которые также имеют максимум, лежащий для молекулярных и большинства атомных газов в пределах 80—150 зз. В поле X электрон получает энергию около ЮОэв в конце среднего свободного пробега X, если 100. Так как = где Xj—пробег при давле ии равном 1 мм Hg (глава 4), то это соответствует Xjp порядка 10 . Это как раз та область значений Xjp, в которой находится (рис. 92). [c.190]

Когда xjp велико и а а, тогда кривая iji согласно (7.20) слегка вогнута относительно оси d. Когда а а, т. е. при малых значениях Xjp, экспоненциальный член в (7.20) мало изменяется при изменении d и отношение почти постоянно. Это согласуется с опытными данными (рис. 97). Когда а = а, ijig делается равным l-j-arf или l-j- - Захват является не только важным процессом, который необходимо учитывать при пробое электроотрицательных газов и в задачах, связанных с верхними слоями атмосферы, но также и осложняющим фактором при измерении коэффициента ионизации при малых значениях Xjp. Если в качестве примесей присутствуют электроотрицательные газы, получаются заниженные значения a.jp. При измерениях коэффициента рекомбинации наблюдается обратное явление. [c.199]

Зависимость ajp от Xjp исследовалось только для и фреона ( ljFj). Рис. 98 показывает, что в области малых значений Xjp коэффициент ионизации оказывается того же порядка, что и для обычных молекулярных газов. Выражение [c.200]

Методы, использующие положительные ионы, делятся натри труппы. При ионизации за счет бомбардировки поверхности мо-ноэнергетическим пучком электронов можно определять все элементы, при этом коэффициент ионизации для данного элемента пропорционален его поперечному сечению ионизации при соответствующей энергии электронов. В случае термоионной эмиссии с накаленных поверхностей (ионизации Саха—Ленгмюра) коэффициент ионизации зависит от температуры поверхности и разности между потенциалом ионизации определяемого элемента и работой выхода материала поверхности. Метод отличается высокой селективностью, поскольку элементы с низкими потенциалами ионизации имеют большее преимущество. [c.22]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология