Коэффициент ионизации для электронов

Рис. 98. Зависимость относительного коэффициента ионизации электронами а// от приведенного поля Х р для Оз и фреона [169].

По аналогии с коэффициентом ионизации удобно ввести для данного значения Xjp величину ajp, представляющую собой число актов захвата электронов молекулами на 1 см пути в направлении поля при давлении 1 мм Hg. На рис. 95 и рис. 96 показана зависимость ajp от Xjp для различных газов. Хотя численные данные и не очень достоверны, несомненно, что при возрастании Xjp величина ajp проходит через максимум. Это связано с тем, что при возрастании Х1р все большее [c.196]

Увеличение числа электронов йп на элементе dx пропорционально числу электронов (на M j e/i) и разности коэффициентов ионизации и захвата [c.199]

Эти явления описываются уравнением Саха — Ленгмюра, позволяющим определить коэффициент ионизации Оо [243]. Коэффициент Оо максимален, если потенциал ионизации 7,- пара минимален, а работа выхода ф металла максимальна. Если атом адсорбируется на поверхности металла (адатом), то происходит перераспределение его электронного облака, приводящее к появлению у него дипольного момента и к его ионизации. В этом случае адатом и металл образуют единую систему и электроны адатома и металла [c.226]

При облучении счетчика ядерным излучением в его рабочем объеме возникает несколько пар ионов. Обычно счетчики заполняют газами, характеризуемыми весьма малыми коэффициентами прилипания электрона (за исключением специальных, так называемых галогенных счетчиков, см. ниже). Поэтому отрицательными ионами являются сами электроны. Под действием электрического поля положительные и отрицательные ионы (электроны) начинают двигаться к электродам соответствующих знаков. Напряженность поля особенно велика вблизи нити счетчика, поэтому именно на данном участке происходит ударная ионизация, в результате которой число ионоз и электронов сильно возрастает по сравнению с числом пар ионов, созданных первичной частицей. [c.52]

Образование ионов в искровом разряде в вакууме недостаточно хорошо изучено, однако известно, что при этом происходят следующие основные процессы испарение, термическая ионизация, распыление, ионизация электронным ударом и диффузия. Ионный состав тока, выходящего из источника ионов через систему ускоряющих линз, может изменяться в зависимости от эффективных сечений ионизации элементов, фракционного испарения, а также различий в энергиях разрыва связей, коэффициентах диффузии в твердом теле и распределения по энергиям ионов, соответствующих различным элементам. [c.367]

В большинстве ионизационных манометров используются электроны с энергиями около 150 эВ, обеспечивающие наиболее высокие коэффициенты ионизации. [c.323]

Так как существование самостоятельного разряда зависит только от эмиссии достаточного числа электронов с катода за счет его бомбардировки положительными ионами из области отрицательного свечения, то изменение расположения анода будет слабо влиять на электрические характеристики разряда. Так например, если анод начать все ближе и ближе придвигать к катоду, это заметно скажется на электрических характеристиках разряда лишь после того, как последовательно исчезнут положительный столб, фарадеево темное пространство и, наконец, большая часть отрицательного свечения. Когда же анод приблизится к границе катодного темного пространства, то заметно уменьшится число генерируемых ионов, и напряжение, необходимое для поддержания разряда в этом случае, резко возрастет, так как для компенсации уменьшения числа ионов должен увеличиться коэффициент вторичной электронной эмиссии. Такой разряд называется затрудненным тлеющим разрядом. Если анод придвинуть прямо к краю темного пространства (следовательно, расположить его от катода на расстоянии, меньшем средней длины пробега электронов, необходимой для ионизации атомов газа), то ионизации газа происходить не будет, и поддерживать разряд не удастся, даже прикладывая к электродам большие напряжения. Как уже указывалось ранее, в экспериментах по ионному распылению используется аномальный разряд. Это главным образом объясняется тем, что в нормальном разряде для получения нужных скоростей распыления материала катода плотность тока слишком низка кроме того, вследствие низкой величины падения напряжения в нормальном разряде коэффициенты распыления также малы. [c.410]

В некоторых случаях необходимо также учитывать ионизацию молекул анализируемого вещества электронным ударом. Этот процесс становится заметным, если сечение ионизации анализируемого газа в условиях опыта во много раз больше сечения возбуждения метастабильных состояний при этом ионизация электронным ударом может быть соизмеримой с ионизацией метастабильными атомами. Однако такой случай маловероятен, по крайней мере, когда коэффициент ионизационного усиления невелик и ток протекает при условиях, близких к нормальным. [c.64]

При выводе формулы (6.1) была учтена только ионизация электронами. Однако положительные ионы, двигающиеся в направлении, противоположном движению электронов, также могут приобрести способность ионизировать молекулы газа путем соударений. Правда, соответствующий коэффициент ионизации р значительно. меньше а, тем не менее формула, выводимая с учетом этой возможности [c.22]

Сопоставление указанных данных свидетельствует о том, что скорость прямой ионизации, как правило, совершенно недостаточна для объяснения наблюдаемой скорости диссоциации ионным механизмом. Проведенные нами измерения скоростей диффузионной гибели ионов в столбе тлеющего разряда свидетельствуют о значительном вкладе ступенчатой ионизации в баланс электронов. Однако и полная скорость ионизации оказывается много меньше измеренной скорости диссоциации молекул. Величины коэффициентов ионизации, рассчитанные нами для разряда [c.12]

В общем случае кинетика процессов ионизации — рекомбинации заряженных частиц определяется большим числом элементарных процессов столкновения заряженных и тяжелых частиц, часть которых мы рассмотрели в предыдущих параграфах данной главы. Поскольку наибольшими сечениями ионизации (см. стр. 134) обладают возбужденные атомы, их роль в кинетике ионизации — рекомбинации будет, как правило, преобладающей. При этом наряду с ионизацией электронным ударом может иметь значение и ионизация ударами тяя елых частиц. Роль возбужденных молекул в процессе ионизации, но-видимому, существенно ниже из-за конкуренции процессов диссоциации (см. стр. 152), а роль диссоциативной рекомбинации будет велика вследствие больших величин коэффициентов. В процессах ассоциативной ионизации и диссоциативной рекомбинации образуются или гибнут возбужденные атомы, поэтому эти процессы должны также быть включены Б общую кинетическую схему процесса. [c.187]

Подавляющее большинство исследований механизмов и коэффициентов скоростей ионизации и ионной конверсии выполнено в настоящее время в условиях масс-спектрометров с ионизацией электронным пучком и фотоионизацией, дрейфовых трубок, пересекающихся пучков [74, 125, 526—533]. Систематические исследования ион-молекулярных реакций одних и тех же ионов, образованных из разных соединений при разных способах ионизации и различных параметрах газа (температура, давление), показали, [c.167]

Коэффициент 2 справедлив только для ионов, массы которых примерно одинаковы. Опытным путем найдено, что ионы аргона Аг+ начинают ионизировать атомы Аг по достижении скорости, соответствующей энергии 330 эв. Ионизация атомов Не и Ые становится заметной лишь при скорости ударяющих ионов Не+ и Ые- , отвечающей энергии, большей 500 эв. Прн ударном возбуждении атомов и молекул потенциал возбуждения ионами много выше, чем потенциал возбуждения электронами. [c.79]

В слабоионизованной плазме, где степень ионизации /я, ,. С (Т(,/Ку) ( (., п,,—плотность электронов и нейтральных частиц соответственно — температура электронов Ку= 13,6 9в—атомный масштаб энергии), диффузия заряженных частиц (электронов и ионов) определяется в основном парными соударениями этих частиц с нейтральными частицами (атомами и молекулами). При этом в случае максвелловского распределения заряженных частиц по скоростям коэффициент диффузии электронов (ионов) связан с их подвижностью К, а соответственно и с электропроводностью плазмы а, соотношением Эйнштейна [c.290]

В табл. 4 приведены результаты анализа десятикомпонентной синтетической смеси. Анализ этой смеси и смеси соответствующих производных триметилсилильного эфира был проведен по масс-спектрам, полученным при ионизации электронами энергии 7 эв (номинальная энергия). Оба анализа дали удовлетворительные результаты. Упомянутое выше соответствие между коэффициентами чувствительности было использовано при вычислении велггчин, отмеченных сноской а . Получены приемлемые величины для нескольких основных типов соединений во фракции дегтевых кислот, что свидетельствует о возможности полуколичественной интерпретации таких спектров. [c.204]

Здесь (Зюп — скорость ионизации газа а. (/3)-частицами и оп — частота ионизации электронами плазмы (Зег — скорость электрон-ионной рекомбинации Пе(г), /ге(г), т(г) концентрация, ПОДВИЖНОСТЬ И коэффициент диффузии электронов (ионов), соответственно ( е) — средняя энергия электронов С — коэффициент диффузии энергии электронов — термоэлектрический коэффициент еь — г] — I — вехе П — энергетическая цена образования элек-трон-ионной пары, которая в первом приближении равна удвоенному потенциалу ионизации / ехс — энергия вторичного электрона, идущая на прямое возбуждение атомов, которая может доходить до 30% от полных потерь энергии а (/3)-частиц, — скорость потерь энергии тепловых электронов в упругих и неупругих столкновениях. [c.287]

На рис. 92. приведена зависимость ajp от Xjp для ряда газов ) в логарифмическом масштабе, чтобы охватить большой интервал значений f.jp. Особый интерес представляет тот факт, что в противоположность формуле (7.11) коэффициент ионизации имеет максимум. Наличия максимума следует ожидать на основании хода кривых относительной ионизации (глава 3, 4), которые также имеют максимум, лежащий для молекулярных и большинства атомных газов в пределах 80—150 зз. В поле X электрон получает энергию около ЮОэв в конце среднего свободного пробега X, если 100. Так как = где Xj—пробег при давле ии равном 1 мм Hg (глава 4), то это соответствует Xjp порядка 10 . Это как раз та область значений Xjp, в которой находится (рис. 92). [c.190]

Известно, что при ионизации электронным ударом для каждого типа углеводородов характерно образование определенного гомологического ряда оско.лочных попов. Так, парафиновые углеводороды характеризуются осколочными ионами 43, 57, 71, 85 нафтеновые и моноолефиновые — 41, 55, 69, 83 ароматические — 77, 78, 91, 92,105,106, 119,120. Суммарная интенсивность перечисленных ионов связана линейной зависимостью с концентрацией соответствующих углеводородных групп. Коэффициентом пропорциональности является так называемый коэффициент чувствительности. В образовании каждого характеристического ряда ионов в той или иной степени принимают участие различные типы углеводородов, поэтому необходимо учитывать наложения масс-спектров, что благодаря их аддитивности достигается решением системы линейных уравнений вида [c.496]

Методы, использующие положительные ионы, делятся натри труппы. При ионизации за счет бомбардировки поверхности мо-ноэнергетическим пучком электронов можно определять все элементы, при этом коэффициент ионизации для данного элемента пропорционален его поперечному сечению ионизации при соответствующей энергии электронов. В случае термоионной эмиссии с накаленных поверхностей (ионизации Саха—Ленгмюра) коэффициент ионизации зависит от температуры поверхности и разности между потенциалом ионизации определяемого элемента и работой выхода материала поверхности. Метод отличается высокой селективностью, поскольку элементы с низкими потенциалами ионизации имеют большее преимущество. [c.22]

При использовании лазера, взрывных проволочек и дуг ионизация происходит главным образом за счет взаимодействия электронного газа с нейтральными атомами и ионами плазмы. Коэффициент ионизации зависит от потенциала ионизации, кинетической энергии электронов и распределения электронов по энергиям. Здесь область применения существенно зависит от значения электронной энергии ионизация может быть и высо-лсоселективной, как в случае слабого лазерного импульса, и универсальной, как в случае горячей и плотной дуговой плазмы. Ионизация распылением происходит на поверхности, но результирующая картина подобна свободной плазме. Природа высокочастотной искры сложна. Широкая область ее применения отражает существование многих процессов, происходящих во время высоковольтного пробоя. [c.22]

Электроны, образованные в результате ионизации газа, удаляются из разрядной зоны путем диффузии к стенкам камеры. Стационарное состояние достигается в том случае, когда скорости генерации и потерь электронов сравняются. В таких условиях пространственное распределение концентрации электронов определяется из уравнения неразрывности. Решение этого уравнения для диффузионного механизма потерь с одновременным учетом потока газа в трубке описал Ромиг [3] результаты решения представлены на рис. 1.9. Параметром кривых служит = иЬ1П, где и — линейная скорость газа, Ь — половина длины зоны разряда, ) — коэффициент диффузии электронов. [c.20]

Г —скорость процесса a , д —таунсендовские коэффициенты ионизации, диссоциации /(д, сек — коэффициент скорости диссоциации по прямому пути /Сот, тор сек — коэффициент скорости ступенчатой диссоциации т — характеристическое время процесса T = t/ дu = = //Сд — безразмерное время в долях характеристического времени диссоциации урек, упог — вероятность рекомбинации атома на поверхности и его связывания поверхностью при однократном соударении 1, / — ток, плотность тока разряда Е — напряженность поля в плазме 1 уд=/ — мощность, рассеиваемая в единице объема плазмы е — заряд электрона, N — концентрация молекул, Р — давление, Р Р/Ро — безразмерное [c.3]

И. Какой коэффициент газового усиления необходим в пропорциональном счетчике на проточном метане, если создающий минимальную ионизацию электрон имеет пробег в активном объеме счетчика, равный 2 см, и ему соответствует импульс 5.10- в Емкость счетчика принять — 5 пф. Ионизационные потери Мэв1мг-см ) таких электронов в метане считать такими же, что и в воздухе. [c.168]

Смотреть страницы где упоминается термин Коэффициент ионизации для электронов: [c.389] [c.385] [c.250] [c.191] [c.431] [c.393] [c.536] [c.385] [c.44] [c.181] [c.187] [c.236] [c.434] [c.230] [c.133] [c.555] [c.36] [c.12] [c.86] [c.21] [c.152] [c.156] [c.17] [c.241] [c.256] [c.23]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология