Удельная сила притяжения

Выведенная Лифшицем теоретически формула для удельной силы притяжения тел 1 и 2 в вакууме имеет следующий вид [17, 18] [c.73]

Как видно из уравнений (IV.12) и (IV.14), удельная сила притяжения / может быть принципиально вычислена для любого расстояния Я, если известны функции б1 (г ) и ег ( ) для обоих тел. Но согласно (IV.И) е (г ) может быть определено по известной (в достаточно широкой спектральной области) функции е (са). Таким образом, мнимая часть диэлектрической проницаемости есть та единственная характеристика макроскопических свойств тел, которая определяет силы молекулярного притяжения между ними. [c.74]

Удельная сила притяжения оказывается здесь обратно пропорциональной четвертой степени расстояния между телами. В этом случае она зависит только от статических значений диэлектрических проницаемостей обоих тел. [c.75]

В связи с обсуждением в следующем разделе ( 4) результатов первых экспериментов, ограничимся здесь только случаем кварца, представляющим некоторые особенности благодаря специфическим свойствам его спектра поглощения [19]. Как известно, кварц обладает сильным поглощением в ультрафиолетовой (начиная примерно с X 5 0,15 мкм) и в инфракрасной (начиная с нескольких микрометров) областях, между которыми он прозрачен. Имевшиеся в описанных выше опытах (см. 2) расстояния Я попадают в область прозрачности, и для оценки можно считать, что Я мало по сравнению с Хо/2л на правой и велико по сравнению с %о/2п на левой границах поглощения. Вклад ультрафиолетовой области поглощения в силу / можно оценить по формуле (IV. 18), положив в ней ео равным квадрату показателя преломления п в оптической области прозрачности. Вклад же инфракрасной области много меньше. Таким образом, для разумной теоретической оценки удельной силы притяжения / можно пользоваться формулой (IV.18) с оптическим (вместо статического) [c.76]

Рис. 2. Зависимость удельной силы притяжения (Ро/шо) образца чистого кобальта (/) и чистого никеля (2) от его положения по отношению к магниту (/).

Определение содержания восстановленного металла магнитным методом начинают с определения постоянной К по формуле (5). Навески эталонного образца помещают на чашечку торзионных весов и взвешивают. Затем под нее подставляют заранее установленный столик с магнитом и повторяют взвешивание. Привес, вызванный силой магнитного притяжения, отнесенный к весу образца, представляет собой удельную силу притяжения эталонного образца и используется для расчета постоянной К. [c.125]

Экспериментальные исследования различных способов намагничивания [161] показали, что наилучшим с точки зрения обеспечения требуемой удельной силы притяжения резинового магнита является одностороннее многополюсное намагничивание, в частности, с образованием двух полюсов на рабочей поверхности магнита (рис. 6.6). Наиболее простой способ получения такой топографии — намагничивание полем прямолинейного провода, по которому проходит импульс тока разряда от конденсаторной батареи. [c.162]

Следовательно, для повышения напряженности магнитного поля индуктора следует стремиться к увеличению тока, что достигается уменьшением сопротивления проводника. Вместе с тем, как уже отмечалось, необходимо уменьшать диаметр провода, чтобы получить оптимальную топографию магнитного поля эластичного магнита. В связи с этим были испытаны намагничивающие индукторы с медными проводниками различного диаметра и определена удельная сила притяжения эластичных магнитов (табл. 6.2). [c.164]

Из данных, приведенных в табл. 6.2, следует, что наибольшая удельная сила притяжения обеспечивается при диаметре проводника 2—2,5 мм и напряжении конденсаторной батареи 350—400 В. [c.164]

Удельная сила притяжения 10—2 (Па) при диаметре проводника (мм) [c.165]

Зависимость удельной силы притяжения от напряжения конденсаторной батареи стенда намагничивания приведена на рис. 6.10. Как видно из этого рисунка, при увеличении напряжения конденсаторной батареи удельная сила притяжения намагничиваемых эластичных магнитов возрастает до определенной величины. При напряжении выше 400 В достигается магнитное насыщение материала, и дальнейшее повышение напряжения заряда не приводит к увеличению удельной силы притяжения. [c.165]

Рис. 6.10. Зависимость удельной силы притяжения эластичного магнита от напряжения конденсаторной батареи стенда намагничивания.

Рис. 6.11, Зависимость удельной силы притяжения эластичных магнитов и магнитных свойств бариевых ферритовых наполнителей от температуры ферритизации.

В работе [84] исследовалась взаимосвязь удельной силы притяжения эластичных магнитов с магнитными параметрами ферритовых порошков. На рис. 6.11 показаны зависимости удельной силы притяжения эластичных магнитов от магнитных параметров ферритовых наполнителей и температуры ферритизации. Как видно из рисунка, характер зависимостей по всем параметрам идентичен оптимальная температура ферритизации ферритовых на- полнителей составляет 1150°С. [c.167]

С целью определения стабильности магнитных свойств магнитнотвердых резин во времени и при воздействии различных факторов (температуры, магнитных полей, ферромагнитных тел) были проведены измерения удельной силы притяжения эластичных магнитов после выдержки в различных условиях а) при температуре (+25°С) в течение 3, 6, 9 и 12 месяцев [c.168]

В табл. 6.3 приведена удельная сила притяжения эластичных магнитов после выдержки разной продолжительности при нормальной температуре (+25°С). [c.168]

Таблица 6.3. Зависимость удельной силы притяжения эластичных магнитов от времени выдержки при 25°С в различных условиях

Условия выдержки Удельная сила притяжения Па) при времени выдержки (месяцы) [c.169]

Из данных, приведенных в табл. 6.3 и 6.4, следует, что удельная сила притяжения и, следовательно, магнитные свойства эластичных магнитов остаются практически постоянными в течение длительного времени и при воздействии различных факторов. [c.169]

Качество эластичных магнитов прямоугольной формы характеризуется удельной силой притяжения к фер- [c.171]

Для стали и той же стеариновой кислоты нами была сделана попытка экспериментально получить зависимость Рт от толщины слоя, т. е. от расстояния между твердыми фазами. Это удалось сделать для интервала расстояний 2-10 —13-10 лк. На рис. 5 приведена эта кривая. Из кривой видно, что при изменении толщины слоя Н от 0.2 до 0,13 мк удельная сила притяжения менаду стальными пластинами быстро уменьшается с расстоянием в пределах от 81 10 до 4,5 н м . При экстраполяции до Я = 1-10 мк Рт измеряется многими тысячами ньютонов на 1 м . [c.310]

Размеры плит изменяются в пределах ширина — 125—630 мм длина — 250 — 2500 мм высота — 100—125 мм. Плиты вьшускают трех классов точности П, В и А, соответственно с удельной силой притяжения 25, 20 и 16 Н/см2 (250, 200, 160 кПа). [c.96]

Паспортная удельная сила притяжения определяется путем отрыва испытательного образца, имеющего опорную поверхность в виде диска диаметром D. Диаметр диска испытательного образца является одной из характеристик электромагнитной плиты и гарантирует удержание на ней с регламентированной силой ру заготовок с таким же диаметром. Поэтому стандартом регламентируется не только ру, но и минимальный размер закрепляемой заготовки (D= 18, 25, 35, 50, 70 мм в зависимости от размера плиты). Допускается снижение ру до 50% от установленного номинала в 10% контрольных точек. [c.96]

Плиты выпускают четырех классов точности Н, П, В и А. В зависимости от этого регламентируются удельная сила притяжения (для плит классов точности Н и П — не ниже 30 Н/см2, В и А — 16 Н/см2), жесткость (примерно 40,0 кН/мм для плит классов точности Н и П и 62 — 66 кН/м.м для плит классов точности В и А), а также другие технические требования (точность и шероховатость рабочей поверхности, масса, усилие на рукоятке переключения и т. д.). [c.97]

Удельная сила магнитного притяжения ру определяется путем отрыва специального испытательного образца, размеры которого зависят от размеров ЭМС (ширины полюса и межполюсного расстояния). Удельная сила притяжения Ру на полюсе для включенных патронов должна быть не менее для патронов классов точности Н и П — 70 Н/см В и А — 40 Н/см2, Паспортная силовая характеристика Ру не может быть непосредственно использована для решения технологических задач. [c.97]

Удельная сила притяжения, отнесенная к площади опорной поверхности детали, Ру д = = Qы S отнесенная к площади полюсов приспособления — Ру. = бм/ п, где — сила магнитного притяжения, Н. Сила магнитного притяжения 2м определяется магнитным потоком ф, пронизывающим рабочий зазор, или плотностью потока - магнитной индукцией В [c.98]

Для магнитных и электромагнитных плит удельную силу притяжения руц и мини- [c.98]

По кривым 1 и 2 можно определить влияние отклонений от плоскостности опорной поверхности заготовки на удельную силу притяжения плиты. [c.98]

Таким образом, при Я Хц/2я удельная сила притяжения обратно пропорциональна кубу ширины зазора с коэффициентом, который может быть вычислен при известных функциях б1 ( ) и ез ( ). Как уже указывалось, разности е ( ) — 1 монотонно убывают при увеличении , стремясь к нулю. Вместе с ними убывает подынтег- [c.74]

Если же расчет вести по теории Лифшица, то для расстояния между кварцевыми пластинами Я = 1200 к удельная сила притяжения получится равной примерно 2-10 дин/см, в то время как в опытах Овербека и Спарная этому расстоянию соответствует значение / [c.78]

Удельная сила притяжения (Па) при вре-мени выдержки (сутки) [c.169]

При массовом контроле удельной силы притяжения эластичных магнитов важную роль играет продолжительность измерения одного изделия. Поэтому для организации контроля качества эластичных лмагнитов в про- [c.173]

Если же расчет вести по теории Лифшица, то для расстояния между кварцевыми пластинами Я = 1200 А удельная сила притяжения получится равной примерно 2-10 дин/см , в то время как в опытах Овербека и Спарная этому расстоянию соответствует значение / 1 дин/см . Таким образом, экспериментальные данные были выше [c.78]

Удельную силу притяжения ру определяют при отрыве от плиты специального испытательного образца, размеры которого зависят от размеров ЭМС (ширины полюса и межпо-люсного расстояния). Паспортная силовая характеристика плит по ГОСТ 16528 — 81 не может быть непосредственно использована для решения технологических задач. [c.97]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология