Атомно-эмиссионный фотографический

Фотографический атомно-эмиссионный спектральный анализ [c.25]

Все количественные методы атомно-эмиссионного анализа по способу регистрации спектров разделяют на визуальные, фотографические и фотоэлектрические. [c.675]

Положение градуировочного графика, его угловое или параллельное смещение определяются в первую очередь фактором контрастности, в сильной степени зависящим от свойств фотографической пластинки, условий экспонирования и проявления. Фактор контрастности является трудноконтролируемой величиной и наиболее частой причиной погрешности в фотографических методах атомно-эмиссионного анализа. На положении градуировочного графика отражаются также процессы в облаке разряда и на поверхности электродов, которые описываются эмпирическими константами а, Ь. Однако их влияние можно устранить или уменьшить, применив хорошо отрегулированные генераторы и источники возбуждения спектра, обеспечив стабильный режим их работы, форму заточки постоянных электродов, подготовку стандартных и анализируемых образцов и т. д. [c.681]

Разработана установка для атомно-эмиссионного анализа жидких проб с генератором индуктивно связанной плазмы в качестве источника возбуждения спектров. Генератор создан на основе серийного высокочастотного генератора. Мощность плазменного разряда 1,5—2,5 кВт. В состав установки, помимо источника возбуждения спектров, входят устройства фотоэлектрической и фотографической регистрации, а также автоматизированный микрофотометр. Установка снабжена мини-ЭВМ, что позволяет оперативно полу- [c.10]

Измерения интенсивности спектральных линий в атомном эмиссионном спектральном анализе могут осуществляться визуальным, фотографическим и фотоэлектрическим способами. В первом случае приемником излучения служит глаз, во втором — фотоэмульсия, в третьем — фотоэлемент или фотоэлектрический умножитель (ФЭУ) [1,3]. Однако первые два способа имеют скорее историческое значение. [c.228]

Кроме того, классический вариант атомно-эмиссионного анализа с фотографической регистрацией спектров достаточно [c.231]

Бурное развитие эмиссионной спектроскопии приходится на период между двумя мировыми войнами, когда были сконструированы громоздкие спектрографы с фотографическим детектированием. С появлением в 50—60-х годах электроники значение приборов с фотодетекторами уменьшилось во многих областях опи был вытеснены аналогичными эмиссионными спектрометрами с фотоумножителями и недавно сконструированными атомно-абсорбционными спектрофотометрами и рентгенофлуоресцентными спектрометрами. Возрождение интереса к атомно-эмиссионным методам произошло в середине 70-х годов в связи с созданием надежных источников плазмы. [c.189]

Фотографические способы регистрации спектров применяют в атомно-эмиссионном спектральном анализе наиболее широко. Они достаточно просты по технике и общедоступны. Основные достоинства фотографической регистрации— документальность анализа, одновременность регистрации и низкие пределы обнаружения многих элементов. В автоматизированном варианте этот способ регистрации приобретает новое дополнение—огромную информативность. Никакими другими методами пока невозможно одновременно определять по 300—500-ти линиям до 70 элементов в одной пробе. Фотографический эффект определяется полным числом световых квантов, поглощенных эмульсией. Это позволяет создавать фотографическое изображение при малой освещенности за счет увеличения времени экспозиции. Немаловажным достоинством [c.75]

Фотометрирование спектральных линий и обработка получаемых данных представляют собой один из наиболее трудоемких этапов фотографического атомно-эмиссионного спектрального анализа, который к тому же часто сопровождается возникновением субъективных ошибок. С развитием вычислительной техники стала возможной автоматизация этого процесса. Основой такой автоматизации является создание автоматизированных микрофотометров с микропроцессорным управлением, снабженных шаговыми двигателями, и математического обеспечения для обработки результатов измерений. Однако работы в этом направлении находятся пока еще на начальном этапе. [c.78]

Вопрос о преимуществах фотографической или фотоэлектрической регистрации при обнаружении очень слабых спектральных линий в случае анализа достаточно однородных материалов нельзя считать практически окончательно решенным. Теоретически преимущество должно принадлежать фотоэлектрическим приемникам, квантовый выход которых на порядок и более превосходит эквивалентный квантовый выход фотографических эмульсий. Соответствующие расчеты, выполненные в работах [748, 429], указывают, что с помощью фотоэлектрической регистрации, производящейся в оптимальных условиях, можно обнаруживать в 3—5 раз менее интенсивные спектральные линии, чем с помощью фотографической регистрации. Оптимальные условия для фотоэлектрической регистрации в некоторых методах- спектрального анализа (эмиссионный анализ растворов методом пламенной фотометрии, атомно-абсОрбционный анализ и др.) часто реализуются непосредственно (в первую очередь благодаря высокой стабильности аналитического сигнала во времени), либо легко могут быть созданы с помощью простых технических средств (например, модуляции сигнала). Именно поэтому фотоэлектрическая регистрация широко применяется в перечисленных методах анализа, обеспечивая не только удобство, экспрессность и высокую точность определений, но и возможность обнаружения очень малых содержаний искомых элементов. (Правда, нет сравнительных экспериментальных данных, из которых следовало бы, что применение в этих методах анализа фотографической регистрации не может обеспечить достижения таких же или меньших пределов обнаружения.) [c.67]

К недостаткам атомно-абсорбционного метода принято относить и необходимость последовательного измерения концентраций для группы определяемых элементов по сравнению с одновременным определением этих элементов в эмиссионном спектральном анализе. Это мнение основано на сопоставлении наиболее распространенных до настоящего времени фотографического [c.380]

Изложенный атомно-абсорбционный метод анализа твердых проб, сравнительно с обычным эмиссионным дуговым или искровым методом анализа, обладает рядом преимуществ, основными из которых являются применение простой аппаратуры (монохроматоров средней дисперсии, в ряде случаев только фильтров) значительно меньшая зависимость результатов от колебаний температуры отсутствие в необходимости локализации разряда и, наконец, исключение фотографических операций. Основным недостатком метода, пока не устраненным, является невозможность одновременного определения нескольких элементов. Устранению этого недостатка препятствует не столько конструирование многоканального [c.88]

Измерения интенсивности спектральных линий в атомно-эмиссионном спектраньном анализе могут осуществляться визуальным, фотографическим и фотоэлектрическим способами. В первом случае приемником излучения служит глаз, во втором — фотоэмульсия (фотохимический детектор), в третьем — фотоэлектрический детектор. Каждый способ имеет свои преимущества, недостатки и оптимальную область применения. [c.391]

Фотографические способы регистрации спектров до недавнего времени применялись в атомно-эмиссион-ном спектральном анализе наиболее широко. Они достаточно просты и общедоступны. Основные достоинства фотографической регистрации — документальность анализа, одновременность регистрации и низкие пределы обнаружения многих элементов. В автоматизированном варианте этот способ регисфации приобретает новое качество — огромную информативность никакими другими способами пока невозможно одновременно определять по 300-500 линиям до 70 элементов в одной пробе. [c.391]

Фотометрирова1ше спектральных линий и обработка полученных данных представляют собой один из наиболее трудоемких этапов фотографического атомно-эмиссионного спектрального анализа, который к тому же часто сопровождается возникновением субъективных ошибок. С развитием вычислительной техники стала возможной автоматизация этого процесса. Основой такой автоматизации является создание микрофотометров с микропроцессорным управлением и математического обеспечения для обработки результатов измерений. [c.393]

Атомный (элементный) анализ яаиболее часто проводят по спектрам испускания - эмиссионный опсктральный анализ. Исследуемое вещество вводят в источник излучения, где вещество диссоциирует иа атомы, которые переходят в возбужденное состояние. Испускаемое ими излучение разлагается в спектр, для чего его пропускают через призму из стекла или из кварца. Спектр регистрируют на фотографической пластинке или другими способами. Для возбуждения спектра и его регистрации применяют спектральные приборы - спектрографы (рис. 1.1). [c.11]

Один из наиболее существенных недостатков метода атомной абсорбции, как, впрочем, и других химических методов, по сравнению с методами эмиссионного спектрального анализа — это необходимость последовательного определения отдельных элементов. Поэтому в тех случаях, когда сравнительно просто получить градуировочную характеристику, не опасаясь внесения систематической погрешности, выгоднее использовать квантометрические методы (оптические или рентгено-флуоресцентные), например при массовом анализе многокомпонентных сплавов стандартного состава и т. п. При необходимости одновременного определения многих элементов, когда не требуется высокая точность анализа, например при анализе высокочистых продуктов, часто даже фотографический вариант эмиссионного спектрального анализа оказывается предпочтительнее атомно-абсорбционного и других химических методов. [c.9]

Экспозиция. При проведении фотографического атом-но-абсорбционного анализа время экспозиции должно быть таким же, что и при проведении эмиссионного спектрографического анализа, то есть в общем случае, оно не должно превышать 30—60 сек. Исходя из этого, а также, учитывая целесообразность использования обычных спектральных фотопластинок, чувствительность которых, как известно, невысока, следует считать применение высокоинтенсивных спектральных ламп необходи.мым условием проведения атомно-абсорбционного спектрографического анализа. Современные достижения в развитии источников света и тенденции к повышению их яркости снимают вопрос об экспозиций с точки зрения выбора источника света и вопрос о выборе экспозиции сводится только к выбору оптимального промежутка времени,, в течение которого обеспечивалось бы достаточно плотное почернение резонансной линии. Время экспозиции не должно быть слишком мало с тем, чтобы не вносить ошибки в результаты анализа за счет неточности в его измерении. [c.59]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология