Почернение

Метод основан на сравнении почернений аналитических линий бария, кальция, цинка, фосфора в эмиссионных спектрах анализируемых образцов и эталонов (образцов масел с известным содержанием определяемых элементов). Для анализа пропитывают образцом раскаленные угольные электроды, которые после подсушки сжигают в дуговом разряде. Измеряют относительные почернения линий (элемент сравнения — кобальт). Градуировочные графики строят по методу трех эталонов. [c.519]

В 1896 г. Беккерель завернул фотопленку в черную бумагу и оставил ее на солнечном свету, поместив на нее кристалл соединения урана, считавшегося флуоресцентным. Обычный свет не может пройти сквозь черную бумагу и воздействовать на фотопленку, в то время как рентгеновские лучи пройдут сквозь бумагу, и пленка при этом почернеет. Конечно, Беккерель обнаружил, что пленка почернела. Однако вскоре выяснилось, что кристалл вызывает почернение пленки, даже если его не облучают солнечным светом, т. е. даже в таких условиях, когда флуоресценция невозможна. Короче говоря, кристалл постоянно испускает проникающее излучение [c.153]

Отсутствие коррозии Отсутствие задира и износа Отсутствие почернения 1в [c.99]

Точное перемещение вдоль спектра производится микрометрическим винтом 8, ири помощи которого можно измерять расстояние между максимумами почернения спектральных линий (точность измерения [c.55]

Регистрирующий микрофотометр МФ-4. Регистрирующий микрофотометр предназначен для автоматической записи на фотопластинку плотности почернения фотографической эмульсии. Принцип его устройства основан на том, что свет, прошедший через спектрограмму / (рис. 36) узким пучком, действует на фотоэлемент, связанный с зеркальным гальванометром. Зеркальце зеркального гальванометра освещается светом, отражение которого направляется на фотопластинку, помещенную в кассете верхнего столика 2. При движении фотометрируемой спектрограммы и верхнего столика световой пучок производит запись кривой плотности почернения (рис. 37). [c.56]

Сместить микрометрическим винтом спектрограмму так, чтобы на входную щель проектировался незасвеченный участок спектрограммы вблизи спектральной линии. 4. Открыть затвор и установить маховичком И О по логарифмической шкале (см. рис. 35). 5. Измерить почернения, перемещая столик микрофотометра со спектрограммой микрометрическим винтом через каждые 0,01 мм. 6. Вычертить кривую зависимости почернения фотопластинки от смещения спектра (в миллиметрах). Выбрать правильный масштаб по осям координат. [c.448]

Полученные на обработанной фотопластинке спектры фото-метрируют на нерегистрирующем микрофотометре МФ-2. Измеряют почернения аналитических линий определяемых элементов и линий сравнения кобальта (см. таблицу). [c.523]

Мелкодисперсное серебро образует почернение на экспонированных местах фотопленки [c.448]

Фотографический метод основан на воздействии ионизирующего излучения на фотографическую пленку. Доза излучения устанавливается ири сравнении степени почернения пленок, облученных определенными дозами, и дозами измеряемого облучения. [c.60]

Когда волны интерферируют, интенсивность результирующей волны, пропорциональная квадрату модуля ее амплитуды Ч зависит от того, совпадают или не совпадают фазы налагающихся волн. В описанном выше эксперименте физически наблюдаемой характеристикой является почернение фотопластинки, которое зависит от числа электронов, попавших на единицу ее площади. Это наводит на мысль, что вероятность попадания электрона в ту или иную точку пластинки пропорциональна Ч . Далее мы рассмотрим эту идею более детально. [c.20]

Метод, основан на получении эмиссионных спектров анализируемого вещества на фотографической пластинке, помещенной в фокальной плоскости камерного объектива спектрального прибора (спектрографы различных типов). Спектральные линии элементов (качественный анализ) в полученном спектре идентифицируют относительно спектра известного элемента (обычно железа), фотографируемого рядом со спектром анализируемого вещества. В специальных атласах спектральных линий приведены фотографии спектров л<елеза, где относительно спектральных линий железа указано положение спектральных линий всех элементов с их длинами волн. Для проведения качественного анализа используют спектропроекторы или измерительные микроскопы. Количественный анализ проводят по результатам измерения относительных почернений спектральных линий гомологической пары и их сравнением с соответствующими величинами стандартных образцов. Почернения спектральных линий измеряют при помощи микрофотометров фотоэлектрическим способом. [c.25]

Но не будем торопиться объявлять электрон волной. Обратимся вновь к описанному выше опыту, точнее, к его заключительной части. Каждый электрон, попадая на регистрирующую пластинку, вызывает почернение только в одном определенном месте ее поверхности, т. е. в одном зерне фотослоя, что указывает на корпускулярную природу электрона. [c.23]

Возвращаясь к рассмотренным в начале главы дифракционным экспериментам, можно сказать, что почернение фотопластинки, пропорциональное числу электронов, попадающих на единицу ее площади, определяется квадратом модуля волновой функции (квадратом модуля амплитуды волны де Бройля). [c.34]

Микрофотометры, например типа МФ-2, служат для измерения плотности почернений 5. Они снабжены линейной (миллиметровой) и логарифмической шкалами. Линейная шкала имеет диапазон делений от нуля до 1000. Так как [c.28]

Получаемая на фотопластинке электронограмма состоит из центрального пятна, образованного электронами, не претерпевшими отклонения, и из колец различной интенсивности, обусловленных электронами, рассеянными под различными углами 0 (относительно первоначального направления пучка). Распределение интенсивности / почернения пленки на электронограмме является строго определенным и зависит от строения молекул исследуемого вещества. На рис. 1.25 в качестве примера показаны электронограммы для ССЦ и S2. Расшифровка электронограммы дает возможность определить структуру молекулы. [c.63]

Для анализа используют спектрограф ИСП-30 (рис. 1.7). Полихроматическое излучение плазмы, проходя через шель 1, попадает на зеркальный коллиматорный объектив 2, который поворачивает лучи и обеспечивает равномерное освещение призмы 3. Разложенный по длинам волн свет собирается камерным объективом 4 в его фокальной плоскости, отражается зеркалом 5 и попадает на фотографическую пластинку 6. Одинаковое почернение спектральной линии по высоте является необходимым условием количественных измерений и получается только при равномерном освещении щели спектрографа источником излучения. Наиболее совершенна в этом случае трехлинзовая осветительная система (рис. 1.8). Линза 2 дает несколько увеличенное изображение источника света 1 на проме/куточной диафрагме 3, которая позволяет вырезать различные зоны свечения источника эмиссии, а также экранировать раскаленные концы электродов и менять интенсивность светового потока. Конденсор 4, расположенный за диафрагмой 3, проецирует изображение линзы 2 на щель спектрографа в виде равномерно освещенного круга. Линза 5 дает увеличенное изображение выреза диафрагмы 3 на объективе 7 коллиматора. Таким образом, конденсоры 2, 4 и 5 играют роль вторичных полихроматических источников света. [c.26]

Окончательная зависимость между концентрацией элемента и разностью почернений представлена в следующем виде [c.32]

Фотопластинку со спектрограммой помещают на столик микрофотометра и фотометрируют спектральные линии железа разной интенсивности, полученные через 9-ступенчатый ослабитель по всем ступеням, записывают величины почернений и соответствующие им логарифмы пропусканий ступенек ослабителя (lg Г) и строят на миллиметровой бумаге зависимости 5 = — яля каждой спектральной линии в одинаковом масштабе величин почернений и логарифмов пропускания. Получают несколько параллельных кривых. Путем горизонтального переноса точек на одну из кривых получают полную характеристическую кривую фотопластинки для всего диапазона почернений 0,05—2,00. [c.34]

Фотометрируют аналитические пары спектральных линий всех стандартных образцов и проб не менее трех раз каждую и находят средние значения почернений. [c.34]

И. По характеристической кривой фотопластинки определяют логарифмы интенсивностей, соответствующие почернениям каждой спектральной линии. [c.34]

Как указывалось, лучи длиной волны ниже 2000 А вызывают почернение псверхности защитных трубок, соприкасающейся с реакционной жидкостью (см. стр. 390). Если трубки сделаны из иенского стекла, то нет необходимости дополнительно отфильтровывать лучи этой длины, ибо в отличие от крарца иенское стекло их не пропускает. [c.401]

Радиоактивностью называется снособность атомов неустойчивых и,зотопов некоторых элементов к самопроизвольному лучеиспусканию. Последнее обладает рядом общих свойств, которые служат для его качественного и количественного определения. Важн( й иими свойствами радиоактивного излучения являются а) действие его на фотографическую эмульсию, вызывающее ее почернение б) ионизация газов, т. е. возбуждение в них электро-нрово.цности в) высокий тепловой эффект процесса, отличающий его от обычных химических превращений г) возбуждение свечения некоторых веществ, напрнмер 2п.Я д) значительная проникающая способность и др. [c.61]

На дневном свету Ag l разлагается с образованием металлического серебра, причем сначала осадок становится фиолетовым, а затем постепенно чернеет. Фиолетовый цвет осадка еще не служит признаком непригодности его для дальнейшей работы. Почернение указывает на значительное разложение Ag l и является недопустимым. Поэтому нельзя оставлять осадок на прямом солнечном свету и долго держать на рассеянном свету. Лучше всего при отстаивании обернуть стакан с осадком черной бумагой. Хлорид серебра очень легко разлагается также и при нагревании. Поэтому прокаливать его необходимо очень осторожно, особенно в присутствии фильтра, образующего углерод. Прокаливание можно заменить высушиванием осадка до постоянной массы при 130°С. Понятно, что употребление бумажных фильтров для фильтрования при таком методе работы невозможно. В этом случае [c.170]

Некая зарубежная ювелирная фирма выпустила кольца с камнями, меняющими цвет в зависимости от настроения владельца. Обычно камень в этих кольцах зеленый, но еслй человек чем-то взволнован, зеленый цвет сменяется фиолетовым. На страх и угнетенное состояние камень реагирует почернением. Забавно, правда А секрет прост. Под прозрачным камнем помещен слой жидкокристаллического вещества, меняющего свой цвет при изменении температуры. Температура пальца зависит от эмоционального состояния человека. Колеба- [c.37]

Хотя впервые действие излучений обнаружили в 1896 г. (Беккерель отметил почернение фотографической пластинки под действием излучения калийуранилсульфата), псс 1едовапия действия излучений на химические реакции проводились в ограниченных масштабах нз-за отсутствия достаточно интенсивных источников таких излучений. Только в последние годы в связи с развитием атомной энергетики начали широко проводить исследования действия излучений большой энергии на вещество созданы первые промышленные процессы с использованием этих излучений. [c.257]

Серебро — малоактивный металл, В атмосфере воздуха оно кс окисляется ни при комнатных температурах, нн при нагревании, Ч ЭСто наблюдаемое почернение серебряных предметов — результат образования на их поверхности черн010 сульфида серео )а АдаЗ. Это происходит под влиянием содержащегося в воздухе сероводорода. (см. стр. 384), а также прн соприкосновении серебряных предметов с пищевыми иродукта.ми, содер/кчншмн соединения серы. [c.577]

Такое почернение не могло быть вызвано флуоресценцией. Беккерель вообще не мог придумать ника1сого простого объяснения своим наблюдениям. Он прервал [c.307]

Графическая обработка измерений почернения спектральной лнннн в молекулярных спектрах [c.448]

Из всех параллельных спектров для каждого образца и эталона подсчитывают среднее арифметическое разности почернений А5ср. По А5ср эталонов и известным концентрациям элемента в эталонах строят градуировочный график в координатах А5ср, С (логарифм концентрации определяемого элемента в эталоне). В интервалах концентраций элементов, приведенных в таблице, градуировочные графики имеют вид прямой линии (см. как пример график для бария). [c.523]

При использовании только двух эталонов, близких по содержанию элементов к определяемому, построение градуировочного графика можно исключить, сравнивая непосредственно разность почернений аналитической пары линий образца и двух эталонов. Попадание А5ср образца в пределы А5ср интервала концентраций эталонов, в которых содержание элементов находится в пределах допустимых отклонений от нормы, является достаточным для гарантии нужного содержания элемента в образце. [c.524]

Количественный фотографический спектральный анализ основан на измерении относительных почернений спектральных линий гомологической пары и нахождении неизвестной концентрации по градуировочному графику, построенному в координатах glafl p — g по образцам сравнения (минимум три). В образцах сравнения концентрация определяемого элемента изменяется, а концентрация элемента сравнения остается постоянной. Спектральные линии должны быть гомологичными. Переход от почернений к интенсивностям осуществляется при помощи характеристической кривой фотопластинки (см. рис. 1,10), Для прямолинейного участка характеристической кривой [c.32]

Одним ИЗ наиболее прочных соединений серебра является сульфид AgzS (черный). Он образуется при взаимодействии Ag+(p) и S -(p) и при действии на серебро H2S и других сернистых соединений (в присутствии кислорода). Этим обусловлено постепенное почернение изделий из серебра. [c.588]

Nordlander проба Нардландера на ртуть — обнаружение паров ртути по почернению бумаги, покрытой слоем сульфида селена [c.504]

Для оценки дымности выхлопных глазов дизельных двигателей разработан ряд методов и приборов, из которых широкое распространение в Европе получили дымомер фирмы Bos h и дымо-мер Хартриджа. В дымомере фирмы Bos h дымность оценивается по степени почернения фильтра, через который пропускают определенное количество отработанных газов. В дымомере Хартриджа дымность оценивают по поглощению света слоем отработанных газов в сравнении с поглощением света чистым воздухом. Подробное описание дымомеров и методов их эксплуатации приведено в работе [322]. [c.280]

ЛС7 — область недодержек — область нО )мальнь/х почернений ВД — область передержек // — порог чувствительности фотопластинки / — ииер . ия фотопластин си [c.28]

Физико-химичемкие методы анализа (1964) -- [ c.0 ]

Физико-химические методы анализа Издание 3 (1960) -- [ c.168 ]

Физико-химические методы анализа Издание 2 (1971) -- [ c.0 ]

Физико-химические методы анализа (1964) -- [ c.0 ]

Физические и химические основы цветной фотографии (1988) -- [ c.55 ]

Физические и химические основы цветной фотографии Издание 2 (1990) -- [ c.55 ]

Физико-химические методы анализа (1971) -- [ c.0 ]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология