Спектрографический анализ

Твердые парафины, выделенные из нефти, содержат, в основном,, углеводороды нормального строения, что показал масс-спектрографический анализ. Распределение их в зависимости от числа атомов углерода показано на рис. 61. [c.148]

Данные масс-спектрографического анализа. [c.548]

Проверка окраски стекол и ее интенсивности весьма сложная операция, требующая спектрографического анализа, поэтому с целью упрощения про- [c.96]

При качественном анализе проводят относительное измерение длин волн. Положение искомой линии определяют чаще всего сравнением со спектром железа I15]. Отсутствие линии надежно свидетельствует об отсутствии элемента. Уверенный вывод о присутствии данного элемента (ввиду возможного наложения линий) делают при наличии по крайней мере двух линий обнаруживаемого элемента. При количественном анализе измеряемой величиной является почернение фотопластинки, описываемое уравнением (5.2.9). Необходимыми предпосылками количественного определения являются съемка всех спектров при одинаковых условиях и калибровка прибора по пробам известного состава. Особенно часто спектрографический анализ выполняют в полуколичественном варианте. При визуальном сравнении плотности почернений для стандарта и анализируемой пробы можно оценить порядок содержания определяемого элемента (например, 10 , [c.195]

Методы определения веществ. При анализе следовых количеств веществ охотно прибегают к физическим методам анализа, которые характеризуются большой чувствительностью (табл. 8.10). Для обнаружения следовых количеств тяжелых металлов перспективным общим методом является спектрографический анализ (разд. 5.2) или специальные варианты масс-спектроскопии [19]. Остальные методы позволяют определить содержание только одного элемента (или отдельных элементов). Выбор метода следует проводить в зависимости от решаемой задачи. Метод инверсионной вольтамперометрии (разд. 4) сочетает метод определения с методом концентрирования, что дает особо высокую чувствительность определения. [c.401]

Начиная с 30-х годов метод спектрографического анализа широко и успешно используется в геологической службе и для контроля технологических процессов и продукции металлургического производства. В 50—60-е годы метод получил широкое применение для анализа веществ особой чистоты. В настоящее время спектрографический метод продолжает широко использоваться как метод многоэлементного анализа, однако более экспрессный и менее трудоемкий, легко поддающийся автоматизации спектрометрический метод постепенно вытесняет спектрографический из различных сфер его применения. [c.97]

В практике спектрографического анализа применяются спектрографы с разрешающей силой, равной (2—5) 10 , дисперсией 2—50 нм/мм и светосилой 1/20—1/40. Подробное описание параметров спектрографов можно найти в различных справочниках и руководствах, например в пособии В. В. Лебедева. Техника оптической спектроскопии. М., 1986. [c.97]

Качественный спектрографический анализ [c.98]

Методы количественного спектрографического анализа [c.107]

Разряд в полом катоде. Особое место среди источников света в спектрографическом анализе веществ особой чистоты занимает разряд в полом катоде, позволяющий понизить пределы обнаружения на несколько порядков [162, 165, 361, 367, 1163]. Показана эффективность применения полого катода для определения многих примесей, в том числе натрия, в труднолетучих основах и особо чистых веществах [386]. Изучено влияние различных факторов на интенсивность линий натрия химических свойств газа-носителя, геометрических )азмеров полости, величины разрядного тока [358], давления газа 176, 358, 661], способа введения раствора в полый катод [366], наложения магнитного поля [423, 541]. Исследовано распределение интенсивности спектральных линий натрия по поперечному сечению [c.110]

Описаны колориметрический [795, 1074] и спектрографический анализы ртутьорганических соединений (уксуснокислая фенил-ртуть) [654]. [c.175]

Масса изотопов и атомная масса. С помощью масс-спектрографического анализа можно точно установить массы и относительное содержание индивидуальных изотопов для всех элементов. В табл. 2.1 приведено относительное содержание, зэ стандарт (ровно 12, без дробной части) принята масса изотопа углерода с массовым числом 12. Экспериментально найденные относительные массы каждого из изотопов называют изотопной массой. Относительное содержание изотопов элементов в образцах из разных источников — за крайне редкими исключениями— является строго постоянным. Поскольку атомы некоторых элементов представляют собой смесь изотопов, содержащих нуклиды с неодинаковыми массовыми числами, то если тщательно установить относительный состав смеси, атомная масса должна выразиться вполне определенной величиной, представляющей среднее из значений масс изотопов. Атомные массы, приведенные в табл. 2.3, вычислены на основании измеренных величин индивидуальных изотопных масс и относительного содержания изотопов. [c.41]

Таблицы гомологических пар линий для полуколичественного спектрографического анализа [c.647]

Вспомогательные таблицы для количественного спектрографического анализа [c.651]

Рекомендации по методам количественного спектрографического анализа различных материалов [c.665]

Чугун. Метод фотоэлектрического спектрального анализа Чугун и сталь. Методы спектрографического анализа Порошок железный. Метод фотоэлектрического спектрального анализа Сталь. Метод фотоэлектрического спектрального анализа Кобальт Методы химико-атомно-эмиссионного спектрального анализа [c.821]

Спектрографический анализ (излучение регистрируется на фотопластинке) характеризуется относительной ошибкой 5%. [c.343]

Идентификация линий. В качественном спектрографическом анализе требуется только идентификация элемента, вызывающего эмиссию соответствующих длин волн, наблюдаемых в спектре определяемого вещества. Идентификация осуществляется сравнением со спектрами образцов чистых элементов. Все известные длины волн для всех элементов имеются в справочных таблицах, но для получения правильных -результатов при пользовании этими таблицами необходимо возможно более точное определение длин волн линий, вызываемых анализируемым ве- [c.95]

Аналогичные отношения имеют место при дейтерообмене циклогексана на металлических пленках. В случае металлов Р1, Р(1, N1 с решеткой А1 число атомов дейтерия, введенных в циклогексан, имеет максимум на шестом атоме В, что говорит о секстетном расположении, тогда как на Мо и Ре, с другим типом решеток, максимума до 12-го атома В не наблюдается (по данным автора, Б. С. Гудкова и Р. М. Федоровича [1,2]— на основании масс-спектрографического анализа). [c.7]

В табл. 7. 8 приведены результаты спектрографического анализа отложений и продуктов коррозии образцов стали при температуре стенки i T=650° , из которых следует, что при повышении отношения Na/V в золе топлива увеличивается содержание SOg в отложениях. [c.427]

Сопоставление свойств с молекулярной структурой позволяет предсказывать свойства неизвестных углеводородов и производить быстрый анализ как самой нефти, так и ее фракций. Для развития теории жидкого состояния важное значение имеет сопоставление свойств и структуры. Развитие эффективных методов спектрального анализа в инфракрасной и ультрафиолетовой областях, а также недавнее развитие масс-спектрографического анализа больших масс оказалось возмоншым лишь в результате разработки методов синтеза и очистки высокомолекулярных углеводородов и их производных. [c.495]

Нам все же кажется, что существует очень серьезная переоценка методов спектрографического анализа углеводородного состава нефтепродуктов. Еслп этими лютодалпг в какой-то степспи можно (со значительными погрешностями) определять углеводородный состав легких и угяшх фракции (с тремя и максимум с иятью компонентами в смеси), то нри переходе к высшим фракциям нефти надежность спектральных методов резко снижается из-за резкого усложнения углеводородного состава тяжелых фракций нефти. Спектральные методы ни в коем случае не должны служить тормозом для развития других методов исследования углеводородного состава нефтепродуктов. Их развитие должно быть связано с развитием других химических, физико-химических и физических методов исследования ухлеводородного состава нефтяных фракций. [c.556]

Данные спектрографического анализа показывают, что присоединение водорода происходит прежде всего к боковым нитьть-ным группам, с превращением их в эти.тьные группы [c.246]

При постоянной выдержке 1иежду плотностью почернения S н интенсивностью светового потока Ф существует зависимость, приведенная на рис. 5.5, а. Угол наклона среднего прямолинейного участка кривой характеризует контрастность (7 — коэффициент контрастности). Для спектрографического анализа используют фотопластинки с большим коэффициентом контрастности (контрастные). Несмотря на то что они обладают малой светочувствительностью, снимки спектров на них получаются мелкозернистыми, с малой вуалью, а плотность почернения весьма сильно зависит от концентрации. Чувствительность фотопластинок в длинноволновой области спектра регулируют добавкой подходящих сенсибилизаторов. [c.191]

В спектрографическом анализе большое значение имеет шум фотографической эмульсии, обусловленной нерегулярным распределением зерен. Дисперсия почернения фотоэмульсии на малой площади пропорциональна N8, где N — среднее число зерен, приходящееся на единицу площади, 5 — площадь фотометри-руемого участка. Очевидно, что роль зерен тем больше, чем меньший участок фотоэмульсии фотометрируется. [c.80]

Спектральные приборы, применяемые в спектрометрическом методе, аналогичны приборам в спектрографическом анализе. Однако сушествует отличие в аппаратуррюм оформлении, которое заключается в том, что в фокальной плоскости любого спектрального прибора находится щель, которая позволяет работать с одной длиной волны. (Такая конструкция называется монохроматором.) Если в фокальной плоскости расположено несколько щелей, тО одновременно можно работать с несколькими фиксированными длинами волн. Для того чтобы на выходе спектрального прибора иметь не фиксированную длину волны, а меняющуюся, необходимо либо перемещать выходную щель монохроматора вдоль фокальной плоскости, либо, поворачивая диспергирующий элемент,, передвигать спектр относительно выходной щели. Последний способ получил более широкое распространение в спектрометрическом анализе, хотя для конкретных аналитических задач предпочтительно иметь полихроматор, в котором положение каждой щели можно изменять относительно других. В этом случае одна из щелей может быть настроена на длину волны в спектре стандарта, или элемента сравнения, а другие — на длины волн определяемых элементов. [c.112]

Особый интерес представляют методы с использованием химического коЕщентрирования примесей или отделения основы. Они просты и доступны, позволяют проводить групповое концентрирование большого числа примесей. Используются экстракционные хроматографические методы отделения примесей, соосаждение их с коллектором. При групповом концентрировании примесей целесообразно использовать спектрографический анализ. Насколько эффективны такие методы, можно видеть из табл. 2.6. [c.202]

Продукты коррозии некоторых сталей исследовали методами дифракции рентгеновских лучей, спектрографического анализа, количественного химического анализа и инфракрасной спектрофотометрии. В продуктах коррозии были найдены РеаОз Ре(ОН)з FeOOH и FeaOa-HjO, а также значительные количества хлор-, сульфат- и фосфат-ионов. [c.248]

Продукты коррозии, взятые из одного коррозионного туннеля в нержавеющей стали A1S1 430, анализировались прн помощи дифракции рентгеновских лучей, методами спектрографического анализа, количественного химического анализа и инфракрасной спектрофотометрии. В продуктах коррозии обнаружили аморфный оксид железа РегОз-ХНаО, Fe, Сг, Мп, Si, следы Ni, 1,41J% хлор-ионов, 2,12% сульфат-ионов и значительное количество фосфат-ионов. [c.335]

Исследования продуктов коррозий сплава 3003-Н14 при помощи дифракции рентгеновских лучей, спектрографического анализа, количественного химического анализа п инфракрасной спектрометрии показали наличие аморфных соединений АЬОз-ХНгО, Na l, SIO2, Al, Na. Si, Mg, Fe, u, a, Mn, 3,58 % хлор-ионов, 18,77 % сульфат-ионов и значительного количества фосфат-ионов. [c.368]

Продукты коррозии сплава 5086 исследовались при помощи дифращии рентгеновских лучей, спектрографического анализа, количественного химического анализа и инфракрасной спектрометрии. [c.378]

Продукты коррозии сплава 7079-Тб исследовались при помощи дифракции рентгеновских лучей, спектрографическим анализом, количественным химическим анализом и методом инфракрасной спектрофотометрии. Качественные результаты по составу продуктов коррозии таковы аморфные соединения А Оз-ХНгО, Na l, Al металлический, Al, u, Mg, Мп, Zn, Na, a, следы Ti и Ni, 2,82 % хлор-ионов, 16,7 % сульфат-ионов и значительное количество фосфат-ионов. [c.391]

Ри( 0з)4 5Н20. Гидрат нитрата плутония (IV) выкристаллизовывается при медленном испарении азотнокислых растворов [387]. Химический и спектрографический анализы этих кристаллов показали, что состав их отвечает формуле Ри(МОз)4 5НгО. Нитрат плутония (IV) с меньшим числом молекул воды можно получить более быстрым упариванием азотнокислых растворов на водяной бане [716]. Кристаллы нитрата размером более [c.85]

В других методах спектрографическому анализу предшествует химическая обработка фильтров с пробой смесью концентрированных серной и азотной кислот (или хлорной и азотной) и фтористоводородной кислотой. Используется также окисление смесью H2SO4 (или H IO4), Вг2 и HNO3 [521]. Далее сухой остаток после обработки можно перевести в раствор действием соляной кислоты. Возбуждение полученного раствора производится в дуге постоянного тока после испарения раствора под [c.110]

Анализ смесей с трансуранввыми элементами. Препараты Ри, загрязненные La (0,01—l /i), который обычно является носителем на определенной стадии технологического выделения, можно нод вергать прямому спектрографическому анализу [1696] или разделять химически. Отделять La осаждением фторида можно после окисления Ри в растворе H IO4, затем осадок растворяют в дымящей H IO4, осаждают оксихинолинат La. Последний раство- [c.239]

Согласно данным масс-спектрографического анализа, состав газа, выраженный в объемных процентах, следующий 44,1% Нг 6% СН4 22,8% СО 18,8% СО2 0,3% О2 0.2% прочих углеводородов отдельные пики спектро1 раммы соответствуют, вероятно, наличию 0,5% низших спиртов и эфиров. Аналогичные результаты получены Уолло.м и Брауном [10]. Можно предпола- ать, что образование метана и относительно больших количеств СО и СО2 происходит в результате отрыва боковой цепи —СООСНз, хотя доля. метана в газе гораздо меньше, чем можно было бы ожидать на этом основании. Если бы деструкция происходила преимущественно вследствие разрыва главной полимерной цепи, то выделяющиеся при облучении газы в основном состояли бы из водорода и углеводородов с числом углеродных атомов больше одного. На основании данных о составе газа можно сделать заключение, что газообразные продукты радиолиза полиметилметакрилата образуются главным образом вследствие деструкции боковых цепей. Сравнение количеств образующегося газа с числом разрывов в главной цепи показы- [c.144]

Риман и Хейген 45 сравнили различные методы осаждения сульфата бария и пришли к выводу, что метод Хинца и Вебера 6, заключающийся в быстром добавлении хлорида бария к раствору сульфата, дает лучшие результаты для сульфата, особенно в присутствии хлорида натрия. Кольтгоф и Сендэл считают, что хорошие результаты, полученные при использовании указанного метода, могут объясняться компенсацией ошибок, но они рекомендуют все же этот метод для определения серы в растворимых сульфатах. Вот 4 , применяя спектрографический анализ, показал, что соосаждение натрия можно уменьшить вдвое путем очень быстрого добавления раствора хлорида бария. В противовес данным Джонстона и Адамса 44, Вот утверждает, что наличие больших концентраций хлорида натрия приводит к относительно небольшому увеличению его соосаждения. Изменение pH в пределах 2—6 не вызывает сколько-нибудь заметного изменения в величине соосаждения натрия. [c.205]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология