Оптическое излучение диффузное

Земная атмосфера трансформирует падаюш ее на нее коротковолновое солнечное излучение за счет поглош.ения атмосферными газами и аэрозолями, рассеяния аэрозолями, диффузного отражения нисходящего излучения подстилающей поверхностью. Пространственная и спектральная структуры поля излучения определяются оптическим состоянием атмосферы и подстилающей поверхности, положением Солнца на небосводе. Второй основной составляющей поля излучения системы подстилающая поверхность—атмосфера является тепловое излучение. Соотношение вкладов в суммарную спектральную интенсивность рассеянного солнечного и теплового излучений существенно зависит от длины волны наблюдения, условий освещенности, физического состояния и структурных характеристик атмосферы, времени суток, отражательной способности подстилающей поверхности. [c.181]

Наряду с оптическими методами для исследования дисперсных систем используются и рентгеновские методы, отличие которых от оптических заключается в малой длине волны рентгеновского излучения по сравнению с размером частиц дисперсной фазы. В основном рентгеновские методы используются для изучения внутренней структуры частиц дисперсной фазы (кристалличности, упаковки молекул). Возможно и определение размеров частиц, основанное на анализе формы дифракционных линий на рентгенограмме при дифракции рентгеновских лучей на малых кристаллах образуются размытые дифракционные максимумы, по ширине которых можно оценить размер частиц (точнее говоря, областей совершенной кристаллической решетки). Аморфные частицы, как известно, не дают дифракционных максимумов оценка размеров таких частиц может быть проведена с помощью анализа диффузного рассеяния рентгеновских лучей возле первичного пучка (так называемое малоугловое рассеяние). Теория этого метода определения размера аморфных частиц имеет общие черты с теорией рассеяния света большими частицами. [c.172]

Спектры отражения изучаются, как правило, в оптической (ИК, УФ и видимой) области с помощью спектрофотометров (см. Спектрофотометрия), снабженшх спец. устройствами. При исследовании зеркального отражения применяют обычно систему зеркал, к-рая отклоняет пучок излучения, направляет его на изучаемый объект и возвращает отраженное излучение вновь в спектральный прибор. Для наблюдения спектров НПВО используют такие же приставки, но с той разницей, что в этом случае излучение направляется на призму, находящуюся в контакте с исследуемым образцом. Для изучения спектров диффузного отражения обычно используют т.наз. полую фотометрич. сферу, внутр. пов-сть к-рой Покрыта отражающим материалом, не поглощающим в исследуемой области спектра для входа и выхода излучения и размещения образца в сфере предусматриваются соответствующие окна . [c.396]

Применение когерентного излучения позволяет эффективно использовать возможности оптических элементов как преобразователей спектра поступающего двухмерного сигнала и создавать принципиально новые методы контроля материалов и изделий. Исследуемая поверхность объекта освещается расходящимся лазерным пучком, структура которого формируется диффузной поверхностью. Пучок, отраженный от поверхности, фиксируется на фотопленке, установленной в плоскости Фурье. Если исследуемый объект - идеальное зеркало, то в плоскости Фурье будет наблюдаться нормальное распределение интенсивности света по Гауссу, так как структура представляет собой набор интерференционных картин, имеющих пространственную частоту, распределенную случайным образом. Отличие поверхности от идеальной будет определяться изменением спектра Фурье в зависимости от шероховатости объекта. Предлагаемый метод позволит получить интегральные характеристики больших поверхностей (до 10 см ). На результаты измерений не влияет волнистость поверхности. [c.509]

Наибольшее распространение в практике спектроскопического изучения адсорбции получил способ съемки спектров поглощения на просвет. В этом случае для получения истинной кривой поглощения вещества необходимо исключить рассеяние и собственное излучение образца. Последнее незначительно, так как в связи с низкой мощностью используемых источников излучения температура образца в пучке обычно не превышает 70—80°С. Основные потери световой мощности связаны с диффузным рассеянием. Величина этого эффекта зависит от длины волны и интенсивности используемого излучения и с другой стороны — от дисперсности и оптических свойств исследуемой системы (высокодисперсные порошки). [c.283]

Анализируя уравнение в случае бесконечно тонкого плоского слоя размером df, видим, что 2 a(i) — полусферическая пропускательная способность для проходящего через слой оптической толщины i диффузного излучения, а величина 1—2 д(/)—полусферическая поглощательная способность или (для изотермического газа) степень черноты. Величина 2 (t—t ) является пропускательной способностью для недиффузного источника, где для интервала оптических глубин от t до t 1= 1 f,Kadzlzob 0. Величина 2dt является полусферической степенью черноты плоского слоя бесконечно малой оптической толщины Kadz. Напомним, что средняя длина пути луча оптически тонкого плоского слоя толщиной dz равна 2dz и, следовательно, объемное излучение равно AK dz S, половина которого распространяется в одном направлении, а половина — в противоположном. [c.503]

Для развития прикладных аспектов зонального метода большое значение имела разработанная А. Э. Клеклем и С. Д. Дрейзин-Дудченко методика расчета коэффициентов радиационного обмена между зонами, основанная на методе статистических испытаний. Эта методика, реализованная в виде эффективной вычислительной профаммы для ЭВМ, позволяет проводить зональные расчеты в оптически неоднородной среде с учетом диффузного и зеркального отражений с помощью трехмерной объемной прямоугольной сетки различной конфигурации. Основная процедура профаммы Монте-Карло осуществляет вычисление разрешающих коэффициентов излучения между зонами —/.р которые определяют долю энергии, поглощенную в зоне у, от энергии, излученной в зоне /, с учетом возможных многократных отражений от фаничных поверхностей. Вычисление коэффициентов , основано на проведении т+п серий (по числу обьемных и поверхностных зон) численных экспериментов, которые заключаются в прослеживании за случайными процессами излучения, поглощения и отражения единичных пучков энергии (лучей). Эксперимент считается законченным, когда энергия луча в результате прохождения через поглощающую среду и поглощения поверхностными зонами достигнет заданной пренебрежимо малой величины. В зависимости от оптической плотности среды и поглощательной способности поверхностей длительность единичного испытания может быть различной в результате того или иного количества отражений луча от офаничивающих поверхностей. [c.404]

Уменьшение селективности при рассеянии может быть даже более резко выражено в спектрах поглощения, (//5), чем в спектрах пропускания, 1 (Го/Г). Излучения, которые должны были бы слабо поглотиться при прямом прохождении через лист (например, зеленые или крайние красные лучи), поглощаются более сильно, когда их оптические пути в листе возрастают вследствие рассеяния. И, наоборот, определенная доля излучения, которая должна была бы почти полностью поглотиться, если бы лучи прошли прямо через лист (например, сине-фиолетовые или красные лучи), может избегнуть этого посредством диффузных отражений, которые укорачивают оптический путь в листе. Поэтому при нанесении 1 (//5) в зависимости от X для рассеивающего вещества мы должны обнаружить, что не только впадиньт [c.120]

Тот факт, что оптическая работа с листьями требует учета рассеяния, был ясен Макенну [1] и Зиммлеру [2] однако некоторые исследователи — и не только ботаники, как Сакс [3] и Детлефсен [13], но и физики, как Фирордт [4] и Лазарев [36, 43 , — считали, что они могут им пренебречь. Тем не менее в большинстве случаев при измерениях делалась попытка учесть, по крайней мере, диффузно прошедший свет Тд путем простого приспособления, заключающегося в помещении большой собирающей поверхности непосредственно позади поглощающей системы. Зейбольд [49, 50] указывал, что этот способ вносит риск измерения термического излучения ткани вместе с прошедшим потоком. Подобная же ошибка может быть вызвана флуоресценцией, которой, однако, обычно можно пренебречь. Во избежание ошибок между листом и собирающим термостолбиком можно вставить поглощающий инфракрасные лучи фильтр. [c.252]

Величина г — Я/Дл называется разрешающей силой прибора. Она определяется в основном следующими факторами 1) диффрак-цией света на диафрагмах, ограничивающих размеры оптики приборов 2) несовершенством оптической системы—сферической аберрацией объективов, астигматизмом, вносимым призмами и объективами, и т. д. 3) конечной шириной линии в излучении самого источника и 4) расплыванием изображения линий в эмульсии фотопластинки при фотографической регистрации спектра. Основную роль играет в большинстве случаев первая из указанных причин. Уширение, обусловленное несовершенством оптики прибора при современном высоком качестве оптики, при хорошей фокусировке сравнительно не велико обычно оно может быть также уменьшено диафрагмированием объектива. Истинная ширина линии начинает играть роль только для диффузных линий, и, наконец, фотографическое уширение может быть сведено к минимуму уменьшением экспозиции ). [c.105]

Многоцелевой спектрофотометр МР5-50Ь создан на основе спектрофотометра, в котором реализован метод молочного стекла , используемый для анализа дисперсных систем. Особенности и отличия метода молочного стекла и метода, используемого в приборе МР5-50Ь, от известного классического метода пропускания поясняются рис. 4.13. При измерении с помощью обычных спектрофотометров (р ис. 4.13а) световой шотак, попадающий на приемную площадку чувствительного элемента, состоит из диффузно рассеянного частицами взвеси интенсивностью /р и прошедшего через среду интенсивностью /п- Известно, что составляющая потока излучения, прошедшая через растворитель, не несет информации о структуре взвешенного вещества, в то время как диффузно рассеянная часть потока излучения /р является характеристикой анализируемого вещества [19]. Для данного случая измеренная оптическая плотность равна [c.161]

В обычных сцинтилляционных счетчиках кристалл фиксируется на фоточувствительной поверхности ФЭУ (либо непосредственно, либо через короткий люцитовый световод) с помощью бальзама или масла, обеспечивающих хороший оптический контакт поверхностей раздела. В качестве отражателя, способствующего собиранию света на фотокатод, применяются светонепроницаемые оболочки из алюминиевых фольг. Для р- или у-лучей с энергиями выше 50 кэв получение выходных импульсов с амплитудой, большей фона электрических шумов , может и не потребовать эффективного светосбора. Однако для многих приложений весьма важно обеспечить строгую пропорциональность амплитуды импульса рассеянной в кристалле энергии, а это достигается лишь в том случае, когда созданный излучением в различных частях кристалла свет приходит на фотокатод в равной мере ослабленным. Кристалл должен быть совершенно прозрачным, и на всех его поверхностях, кроме сопряженной с фотох<атодом, должно обеспечиваться полное внутреннее отражение с этой целью рекомендуется огрубление поверхностей кристалла и применение диффузного отражателя, как, например, MgO. Промышленность изготовляет такого рода системы счетчиков с кристаллами, целиком заключенные в кожух, в которых реализованы все упомянутые требования. Для работы с жидкими образцами в ампулах широкое применение нашли сцинтилляционные детекторы со специальными полостями в кристаллах. [c.157]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология