Спектр диффузного отражения

Работа 8.1. Получение и интерпретация спектров диффузного отражения твердых оксидов [c.168]

Оптическую плотность (пропускание) измеряют относительно эталона, пропускание которого принимают за 100%, а оптическую плотность — равной нулю. Спектрофотометр СФ-26 может комплектоваться приставкой ПДО-5, позволяющей снимать спектры диффузного отражения твердых образцов. [c.339]

Рис. 11.69. Норм1фованныв спектры диффузного отражения малахитового зеленого, сорб1фованного на кремнеземе. Исходное содержание красителя, моль/г

Измерение спектров диффузного отражения [c.65]

РисЛ. 1-спектр диффузного отражения [c.184]

В соответствии с уравнением (11.79) построение спектра диффузного отражения сводится к измерению зависимости диффузного отражения от длины волны и вычислению функции при каждой Д,. [c.319]

В работе [87] описаны спектры диффузного отражения редкоземельных форм цеолитов X и У, полученных обменом на неодим N(1 и европий Еи (химический состав не приводится). Редкоземельные формы цеолитов или а) прогревались на воздухе при 250 II 594 °С и затем обрабатывались паром (1 атм) при 675 °С (цеолит X) или при 750 °С (цеолит У), или же б) активировались 4 ч при 10 мм рт. ст. и 700 °С (цеолит X) или 800 °С (цеолит У). Полученные спектры отражения типичны для катионов редкоземельных элементов с координационным числом по кислороду [c.484]

В литературе описан ряд приставок к спектрофотометру СФ-4 для спектрофотометрирования пламен [1], измерения спектров люминесценции [2], спектров диффузного отражения [3], спектров возбуждения, выхода люминесценции [4] и т. п. Предлагались также приставки для измерения нескольких оптических характеристик [5]. [c.64]

С помощью спектров диффузного отражения по- [c.67]

При низких содержаниях сорбата спектр диффузного отражения в значительной мере искажается из-за наложения рассеяния света матрицей (рис. 11.70). Вычитание при каждой длине волны значений Р сорбента из значений Р окрашенного образца позволяет получить спектр диффузного отражения, аналогичный спектрам, где влияние матрицы на измеряемый сигнал мало, и спектрам поглощения водных растворов красителей. Это видно из сравнения рис. 11.68 и 11.70. [c.320]

Комплекс Те с NaX получен нагреванием Те и NaX при 540° С. После нагревания в токе водорода при 475° С такой комплекс является очень эффективным катализатором реакций ароматизации [79]. Результаты определения кристаллической структуры [ПО] показали, что 1,3(2) Те занимают места U, где они находятся в окружении четырех Na(I ) (рис. 1-28,а). Остальные 3,7(6) Те расположены между Na(II) и ионом Na, занимающим гипотетическое место III (рис. 1-28, . Такая координация указывает на то, что Те выполняет роль аниона. Действительно, в ИК-спектре диффузного отражения наблюдается сильная полоса при 3650 см , которая говорит о присутствии в каркасе гидроксильных групп, компенсирующих восстановление теллура. [c.62]

Электронные спектры получены на двухлучевом автома тическом спектрофотометре MPS-50L в области 350—1500 н..и Спектры диффузного отражения сняты на стандартной при ставке. Образцы комплексов для получения спектров отражения прессовали в виде дисков диаметром 20 м.и па картон ных подложках под давлением 5 г. Спектры поглощения водных растворов uE (0,1 М), NiE (0,5 A-i) и СоЕ (0,5 Л1) сняты в кварцевых кюветах толщиной 1 см. [c.95]

При использовании фотоумножителя ФЭУ-22 иа приборе можно измерять спектры диффузного отражения в близкой, инфракрасной об- [c.68]

В качестве примера использования нормированного света и нормального наблюдателя на рис. 1.16 изображена кривая диффузного отражения зеленого образца, идентифицированного в сравнении с идеально белым. С учетом относительного состава нормированного источника света С происходит определенное изменение кривой диффузного отражения. Это же, естественно, возможно и с источником света А. На любом участке спектра диффузное отражение умножается на соответствующее значение спек- [c.21]

ОБ ОПРЕДЕЛЕНИИ ИСТИННОГО ПОГЛОЩЕНИЯ АДСОРБИРОВАННЫХ ВЕЩЕСТВ ПО СПЕКТРАМ ДИФФУЗНОГО ОТРАЖЕНИЯ АДСОРБАТОВ [c.110]

Работа является дальнейшим развитием предыдуш их работ по определению истинного поглощения К (X) вещества, находящегося в диспергированном состоянии по спектрам диффузного отражения, характеризуемым величиной — log RQ-Y-Объектами предыдущего исследования служили порошки с частицами, прокрашенными во всей массе, к которым относятся порошки цветных стекол, пигменты и т. д. Экспериментально и теоретически [1,2] было установлено, что для слабо-поглощающих веществ в диспергированном состоянии ход кривых — log RQ-) качественно воспроизводит ход кривых поглощения KQ ). Положения максимумов и минимумов величин — log i (X) и KQ.) совпадают. Но, в силу особенностей прохождения света через диспергированную среду, кривые —log RQ.) оказываются расширенными по сравнению с кривыми 7Г(л). Спектры — log/ (X) тем лучше отражают спектр KQ) вещества в массивном состоянии, чем выше дисперсность порошка и чем больше относительный коэффициент преломления вещества частиц и связующей среды . [c.110]

Устройство прибора СФ-26 и принцип и 1мерений. Внешний АИД прибора СФ-26 представлен на рис. 4.24. Измерение пропускания (оптической плотности) исследуемого объекта производят относительно эталона, пропускание которого принимается за 100%, а оптическая плотность — равной нулю. Прибор СФ-26 может комплектоваться приставкой ПДО-5, позволяющей снимать спектры диффузного отражения твердых образцов. [c.213]

Спектры диффузного отражения обычно малоинтенсивны, т.к. удается собрать и направить в спектральный прибор только очень малую часть рассеянного (отраженного) излучения. Поэтому в этом случае необходимо применять ИК фурье-спектрофотометры, обладающие высокими светосилой и соотношением сю-нал шум (ок. 10 ). Получаемые при диффузном отражении спектры часто оказываются подобными спектрам пропускания. Исследуемыми образцами м. б. массивные твердые тела, порошки (иногда содер-жанще разл. наполнители-КВг, КС1, sl, прозрачные в исследуемой области спектра), волокнистые (ткани, войлок) н ячеистые (напр., электроды с раэл. наполнителями) материалы, пены, суспензии и аэрозоли, разрядные промежутки с электронными запалами дл анализа возможных загрязнений и т.д. Перед исследованием твердый образец обычно натирают на наждачную бумагу на основе карбида кремния тонкого помола, спектр к-рого либо не проявляется в спектре исследуемого образца, либо м. б. вычтен из полученного спектра и использоваться как спектр сравнения. Спектры отражения при диффузном рассеянии могут наблюдаться от достаточно малых кол-в в-ва, напр, от пятен на хроматографич. пластине. Метод используют также для определения диэлектрич. св-в образцов. [c.395]

Рис. 2. Электронные спектры диффузного отражения поли-2-винилпири-

Цель работы — выявление зависимости координационного и аалентного состояния атомов ванадия (V) поверхности от адсорбции паров воды по спектрам диффузного отражения. [c.170]

Спектры отражения изучаются, как правило, в оптической (ИК, УФ и видимой) области с помощью спектрофотометров (см. Спектрофотометрия), снабженшх спец. устройствами. При исследовании зеркального отражения применяют обычно систему зеркал, к-рая отклоняет пучок излучения, направляет его на изучаемый объект и возвращает отраженное излучение вновь в спектральный прибор. Для наблюдения спектров НПВО используют такие же приставки, но с той разницей, что в этом случае излучение направляется на призму, находящуюся в контакте с исследуемым образцом. Для изучения спектров диффузного отражения обычно используют т.наз. полую фотометрич. сферу, внутр. пов-сть к-рой Покрыта отражающим материалом, не поглощающим в исследуемой области спектра для входа и выхода излучения и размещения образца в сфере предусматриваются соответствующие окна . [c.396]

Изучение термических превраи1еиий хромсодержащих силикагелей по спектрам диффузного отражения. [c.219]

Спектры диффузного отражения углей вблизи ИК-облас-ти новый индекс степени углефикацни и карбонизации. [c.54]

Различают спектры внеш. и внутр. отражения. Первые, в свою очередь, делятся на спектры зеркального отражения, когда падающий и отраженный лучи лежат в одной плоскости с нормалью к отражающей пов-сти, а угол отражения равен углу падения, и спектры диффузного отражения, когда отраженные лучи рассеиваются по разным направлениям. Характер внещ. отражения излучения определяется еротно-шеппем между длиной волны >. падающего излучения и раз- [c.394]

На рис. 11.68 приведен спектр диффузного отражения сорбированного на кремнеземе малахитового зеленого, построенный в координатах Л = ДД) и F = /(Я). Как видно из рис. 11.68, спекгр диффузного отражения сорбата (кривая 2) во многом аналогичен спектру водного раствора красителя (кривая 3). [c.319]

Положение максимумов в спектре диффузного отражения (340—380 нм) при 77 К Я. 354,6 358,8 362,8 364,8 367,8 369,2 нм. Положение полос в спектрах фото- и катодолюми-несценции в области 360—400 нм одинаково, но интенсивность их раз-ная [384] [c.261]

На практике удаление растворителя достигается нанесением элюируемого соединения на пластину из КС1, испарением растворителя под действием слабого аккуратного потока азота и наконец помещением отложившегося на хлориде калия определяемого вещества на оптический путь ФПИК-спектрометра, где записываются спектры диффузного отражения. [c.631]

Перечисли факторы, влияющие на диффузное отражение, погрешности в спектроскошш диффузного отражения. Как измеряют спектры диффузного отражения сггабо 01фашенных образцов [c.362]

Свойства. Желтый порошок. До 300 °С не плавится. Кристаллическая решетка кубическая (с= 10,25 А). Относительно ИК-, КР-спектров и спектров диффузного отражения см. работу [6]. Парамагнетик. Гидролизуется с об- разованием ReOj-aq и ReOi . [c.1730]

Вследствие высокого поглощения н невозможности полного растворения более удобен для исследования углей метод отражения, поэтому было использовано измерение зеркального отражения в двух разных средах н вычислены псказатели преломления и поглощения, диэлектрическая проницаемость в электропроводность (II]. Трудоемкость и недс>статочная воспроизводимость методов получения опти-<кских спектров углей обусловили утрату интереса к их применению для изучения угпей в течение длительного времени. В 80-е годы Поповым и Ждановым (12, 13] была разработана методика получения спектров диффузного отражения углей и Ждановым (13] проведены систематические исследования углей различных бассейнов. [c.68]

Электронные спектры диффузного-отражения в УФ и видимой Областях снимали на спектрофотометре Speoord М40 UWlS с приставкой с фотометрическим шаром в шкале поглощения А. В качестве эталон сравнения использовали порошок MgO. [c.101]

Принципиальная схема прибора для измерения спектров диффузного отражения представлена на рис. 3, а. Пучок света, выходящий из щели СФ-4 (5), отражается алюминированным зеркалом 6, помещенным в кюветное отделение 7, и падает на исследуемый или стандартный образец 8. Образцы, помещенные на специальном держателе 9, рукоятка которого выведе- [c.65]

Вопросы исследования хемосорбции на отдельных атомах удобно изучать на примере простых систем. Например, атомы Ag или Си, внедренные в решетку КС1 или Na I, представляют собой дефектные центры ( -цент-ры в случае серебра), количество которых можно оценить по интенсивности спектров диффузного отражения. Эти спектры легко разрешаются и, таким образом, появляется независимый критерий оценки числа одиночных или парных центров, которые можно сопоставлять с хемосорбцион-ными данными. [c.171]

Облучение как j -лучами Со ,так и медленными нейтронами ядерного реактора вызывает появление в спектрах диффузного отражения допол-чительного оптического поглощения у всех исследованных OKUi -лов в ультрафиолетовой и видимой областях. Например,у окиси иттрия наблюдаются полосы 225,280 и 500 нм(рис.7). Разлоадние [c.280]

Полоса поглощения с максимумом при 200—300 нм в спектрах диффузного отражения (рис. 3) свидетельствует о наличии тетраэдрического молибдена Мо +. Однако значительное расширение этой полосы доказывает присутствие и октаэдрического Мо +. О существовании тетраэдрического 0 + в С0А12О4 можно судить по наличию в спектрах диффузного отражения широкой тройной полосы при 500—700 нм, интенсивность которой относительно полосы Мо + увеличивается с уменьшением содержания кобальта. Авторы делают вывод, что образование С0А12О4 в катализаторе с отношением <С 0,5 промотируется Мо + не только в результате увеличения дисперсности кобальта, но и из-за образования энергетически более активных тройных поверхностных частиц Со—Мо/А1гОз. [c.43]

В УФ-спектрах диффузного отражения (рис. 40) образцов M0O3/AI2O3 после промывки водой, высушивания при 110°С в течение 24 ч и прокаливания при 550 °С в течение 24 ч имеется полоса при 37 ООО см-, характеризующая тетраэдрические оксомолибденовые ионы. В образцах, получен- [c.101]

Структуру и свойства растворимых и плавких К. п. исследуют методами, обычно применяемыми в химии полимеров для исследования нерастворимых и неплавких К. п. разрабатываются специальные методы. Так, для определения типа структуры (линейная или сетчатая) предложен метод диффузного отражения в диапазоне длин волн 1,5—5,5 мкм. Метод разработан для К. п. полишиффовых оснований, полимеров на основе дитиокарбаматов и рубеановой к-ты. Спектры диффузного отражения линейных К. п. полишиффовых оснований и их модельных соединений (I — III, в столбце 1111) характеризуются наличием максимумов отражения, положение к-рых определяется природой хелатного узла. Для соединений с хелатным узлом, содержащим связи Ме—О и Ме—К, максимум отражения расположен при 2,75 мкм, а для соединений с хелатным узлом, содержащим связи Ме — 8 и Ме — N5— вблизи 2,3 мкм. В спектрах диффузного отражения сетчатых полимеров (IV и V) специфич. пики отсутствуют. Природа металла (Си, N1 или гп) почти не влияет на характер диффузного отражения. По спектрам отражения была установлена сетчатая структура полирубеанатов меди. [c.552]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология