Микроскоп отражательный

Применение электронного микроскопа отражательного типа весьма ограничено главным образом вследствие искажения масштаба изображения. [c.48]

Отражательный электронный микроскоп. На поверхность непрозрачного образца в отражательном микроскопе направляется под углом (tti) пучок электронов, который частично отражается и одновременно возбуждает вторичные излучения. В формировании изображения участвуют те электроны, которые отражаются от поверхности образца под углом наблюдения (аг), а также рассеян- [c.154]

Для решения ряда специальных задач служат разнообразные, но менее распространенные типы электронных микроскопов. Отражательный микроскоп имеет повышенную чувствительность контраста изображения к тонким деталям микро-рельефа при этом исключается контраст по напряжению, что позволяет разделить эти эффекты. Теневая микроскопия применяется для исследования деталей топографии поверхности с разрешением до нескольких десятков нанометров. Эмиссионный микроскоп дает возможность исследовать поверхность твердого тела в щироком интервале температур при этом извлекаются данные о коэффициентах вторичной электронной и ионно-электронной эмиссий. С помощью эмиссионной микроскопии изучают изменение характеристик вещества при фазовых переходах, кинетику твердофазных реакций и другие процессы. [c.229]

Наиболее четко карбиды могут быть выявлены с помощью электронного микроскопа отражательного типа, пользуясь которым можно избежать неопределенностей, связанных с методикой изготовления реплик, необходимых в случае применения микроскопа, использующего проходящие лучи Сайкс считает, что данные электронной микроскопии подтверждают точку зрения, связывающую межкристаллитную коррозию с обеднением границ зерен хромом [12]. [c.609]

В Советском Союзе достигнуты большие успехи в области угольной петрографии благодаря работам Аммосова и его сотрудников, которые разработали ряд новых методов исследования твердого топлива, например количественный метод определения петрографического состава и отражательной способности микрокомпонентов, метод люминесцентной микроскопии и др. [c.70]

Все акустические микроскопы, как и более низкочастотные интроскопические системы, разделяют на отражательные и просвечивающие (трансмиссионные). Контакт иммерсионный. Наибольшее применение получили отражательные микроскопы. Принцип работы такого микроско- [c.261]

Зеркальный электронный микроскоп. Изображение в микроскопе создается зеркалом , состоящим из анода, иммерсионной линзы и объекта (под потенциалом катода). Пучок электронов, идущий от анода, рассеивается поверхностью зеркала в зависимости от отражательной способности разных ее участков. Рассеивание электронов происходит вблизи поверхности образца, несущей контактную разность потенциалов. Контактные разности потенциалов обусловлены неоднородностью состава и рельефа образца,, поэтому видимое изображение на экране картины рассеянных электронов отображает строение поверхности. Разрешение зеркального микроскопа является функцией напряжения поля у поверхности образца и составляет около 100 нм. Так, зеркальный микроскоп JEM-M1 (Япония) имеет разрешение 100 нм при увеличении 1000. Микро- [c.155]

ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ, способ увеличения изображений микрообъектов с помощью пучка ускоренных электронов. Различают Э. м. просвечивающую, растровую, эмиссионную, отражательную, зеркальную, теневую и др. Наиб, распространены первые два метода. [c.700]

REM отражательная электронная микроскопия [c.22]

При освещении поляризованным светом отражательная способность определяется ориентацией плоскости шлифа к плоскостям напластования. В плоскости, параллельной напластованию, уголь изотропен и при вращении столика микроскопа не меняет интенсивности отраженного света. Зерна углей, отполированные перпендикулярно напластованию, меняют свою интенсивность в процессе вращения столика, причем [c.32]

Фотометрический окуляр для определения отражательной способности объектов на поляризационных микроскопах типа МИН [c.317]

Точное измерение гранных углов производится обычно с помощью отражательных гониометров. Но для этого необходимо иметь кристал-ды макроскопических размеров помимо того, для целей идентификации, вещества в микрохимическом анализе высокая точность измерения углов едва ли и потребуется. Практически полезная точность при измерении углов между гранями составляет 0,5—1° и может быть получена у кристаллов, лежащих на предметном стекле, при условии, когда ребро, по которому пересекаются грани, параллельно оси микроскопа. Обе стороны измеряемого угла должны находиться в фокусе одновременно и должны быть одинаково ясно видны. Угол, наблюдаемый между гранями, образующими контуры кристалла и пересекающимися по ребру, косо расположенному к оптической оси микроскопа, хотя и не является истинным углом между этими гранями, все же, вследствие постоянства ориентировки кристаллов данного вещества на предметном стекле, может быть использован в качестве диагностического признака. При преимущественно таблитчатой форме кристаллов, растущих на предметном стекле, характерными углами являются плоские углы между ребрами, образующими контуры табличек. [c.11]

Численно апертура отражательного объектива микроскопа определяется точно так же, как для обычного преломляющего объектива, и равна произведению синуса половины угла при вершине конуса лучей, идущих от объекта к вогнутому зеркалу, на показатель преломления среды, в которой эти лучи распространяются. В некоторых работах рассматривалась возможность увеличения апертуры инфракрасных микроспектрометров применением преломляющей оптики, однако, как показали Блаут и Бэрд [12], использование иммерсионных линз в инфракрасной области приводит к таким потерям света на отражение, что выигрыш за счет увеличения апертуры сводится на нет. Поэтому мы будем рассматривать только отражательные объективы сухого типа. [c.275]

Электронные микроскопы бывают просвечивающие, отражательные, эмиссионные, зеркальные, растровые, теневые, автоэлектрон-ные, эмиссионные. Они отличаются друг от друга источниками свободных электронов, характером взаимодействия электронного пучка с веществом, методами регистрации дифрагированных электронов. [c.131]

О т р а ж а т е л ь н ы е микроскопы, в которых аналогично отражательному металломикро-скопу изображение получается за счет потока электронов, отражегг-ных от поверхности рассматриваемого объекта. [c.169]

Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ) Отражательная электронная микроскопия (ОЭМ) Электронная микроскопия медленных электронов (ЭММЭ) или режим [c.323]

Рис. I. Отражательный микроскоп с апертурой 0,8 и одиннадцатикратным увеличением (см. табл. 1 приводится по работе Норриса [8]).

АЭМ —наиболее важный метод наноанализа материалов. Он сочетает (рис. 10.2-11) просвечивающую (ПЭМ), отражательную электронную микроскопию (ОЭМ), дифракцию электронов (дифракцию прошедших быстрых электронов) для структурного анализа и элементный анализ при помощи рентгеновской эмиссионной спектроскопии и спектров энергетических потерь электронов (СПЭПЭ, спектроскопия характеристических потерь энергии прошедших электронов). [c.337]

Принцип работы лазерного микроспектрального анализатора основан на испарении пробы с анализируемого участка шлифа диаметром 20—30 мкм с помощью фокусированпого лазерного пучка. Лазерный микроанализатор состоит из отражательного микроскопа и лазерной головки, в которой возбуждается лазерное излучение с частотой 200 мксек , сконцентрированпое на анализируемом участке пробы посредством системы линз. Пары пробы окружают два графитовых электрода, расположенных непосредственно над ее поверхностью. Синхронно с возбуждением лазера на электроды подают высокое напряжение и возбужденные пары фокусируют на щель спектрографа. Спектр пробы регистрируют и анализируют обычным способом. [c.121]

Микрокомпонентами называются видимые только под микроскопом частицы, слагающие уголь Те или иные сочетания их образуют основные ингредиенты Микрокомпоненты объединяются в отдельные группы В настоящее время при изучении петрографического состава каменных углей различают шесть групп и 18 ми-крокомпонентов Основными признаками, по которым микрокомпоненты объединяются в группы, являются их отражательная способность и микрорельеф, определяемые путем сравнения отдельных микрокомпонентов между собой [c.12]

Под микро- и макроструктурой углей условно понимают совокупность особенностей их строения, исключая рассмотренные в предыдущих разделах элементный состав и фрагментный состав органической массы. Традиционно для получения структурной характеристики углей используют иолуколичественные петрографические данные, установленные с помощью оптической микроскопии в отраженном или проходящем (для тонких проб) свете, а также измеряют отражательную способность. Даже эти классические измерения претерпели в настоящее время существенные изменения. Оптическая микроскопия заменяется электронной с гораздо более высокими возможностями изучения морфологических особенностей проб, сканированием по объему образца и т. д. [c.80]

В зависимости от способа исследования объектов имеются электронные микроскопы различных типов просвечивающие, отражательные, растровые, эмиссионные (в том числе элект- роннйб проекторы) и теневые. Однако наибольшее распростра- нение получили приборы просвечивающего типа, обладающие (высоким разрешением и наибольшей универсальностью применения. В данной книге рассматривается почти исключительно применение просвечивающей электронной микроскопии. [c.4]

Комплексное применение совокупности новых препаративных методов ЭМ исследования полимеров (механическая и ультразвуковая диспергация, контрастирование продуктов дробления, использование метода реплик, ультратонких срезов, отражательной и сканирующей электронной микроскопии и т. п.) создали условия для выяснения характера НМС целлюлозы [6, 7]. Оказалось, что если диспергировать в жидкости пеболь-щую навеску волокна, то удается наблюдать распад исходного волокна на удлиненные образования, так как при дроблении полимер разрушается в первую очередь по границам структурных образований. Поперечные размеры продуктов дробления заключены в достаточно широком интервале (рис. П.1,с). Малоконтрастность снимков, не позволяющая обнаружить никаких более тонких деталей, обусловлена тем, что полимерные объекты состоят из слаборассеивающих элементов (в основном углерода), а соседние области мало различаются по толщине. Поэтому препараты для прямого исследования необходимо контрастировать , создавая неравномерное распределение посторонних веществ, содержащих тяжелые атомы. Для этой цели применяют методы косого напыления металлов в вакууме негативного контрастирования, а также пропитку за счет диффузии паров 0з04 или иода [8, гл. 9]. [c.87]

На рис. 5.1 показана зависимость некоторого параметра размера частиц а, пропорционального радиусу частиц, от времени облучения золя параллельным лучом света с длиной волны Яо=514 нм. Параметр а равен 2ятг/А,о, где г радиус частиц, т — отражательный индекс частиц н диилерсной среде, отнесенный к отражательному индексу в вакууме. Так как частицы исследуемого золя сферические, что было определено с помощью электронного микроскопа, данные, представленные на рис. 5.1, могут быть объяснены дегидратацией гидроксида [19]. [c.68]

ЭЛЕКТРОНИОМИК РОСКОПЙЧЕ-СКИЙ АНАЛИЗ — анализ структуры твердых тел методами электронной микроскопии. Применяется с 1931. Для Э. а. используют электронные микроскопы просвечивающие, отражательные, эмиссионные и растровые. В просвечивающих микроскопах падающий пучок электронов, проходя через исследуемый образец, рассеивается (упруго и неупруго) атомами кристаллической решетки, вследствие чего образуются один или несколько дифрагированных иучков, составляющих с падающим пучком углы до 1—2°. При фокусировании этих пучков получается изображение, дифракционный контраст к-рого зависит от распределения интенсивности электронов, отраженных под брэгговскими углами от разных участков образца. [c.774]

Детальный обзор различных вопросов, связанных с устройством отражательных микроскопов для использования с инфракрасными спектрометрами, сделал Норрис [12], который рассмотрел как опубликованные работы других авторов, так и ряд экспериментальных результатов, полученных с объективами, описанными им самим с соавторами (Норрис, Сиде и Уилкинс [13]). Здесь нет необходимости вникать в детали, основной же вывод тот, что достаточно хорошие для этих целей объективы могут быть сконструированы из сферических элементов с относительным отверстием вплоть до 0,8. Затемненная часть в центре пучка, если принять, что освещенное поле достаточно велико, для того чтобы охватить по высоте всю щель (обычно около 1 см), составляет 40—45%. При относительном отверстии 0,8 и использовании спектрометра, например, фирмы Грубб-Парсонс может быть достигнуто лишь одиннадцатикратное увеличение. Одну из таких систем, сочетающих объектив (и идентичный объективу конденсор с обратным порядком расположения деталей) и спектрометр Грубб- [c.276]

Инфракрасные микроспектрометры, сконструированные в США, в большинстве случаев также основываются на принципе устройства с двумя зеркалами Шварцшильда. Однако Андерсоном и MиллepOiM [16] была описана также преломляющая система с использованием линз из хлористого серебра, при этом авторы нашли, что размер образца может быть уменьшен до одной трети от величины, необходимой без такой системы. Грей с сотрудниками [17] сконструировал отражательные микроскопы с большими апертурами, специально предназначенные для инфракрасной спектрометрии, которые использовались в лабораториях Поляроид Корпорэйшн и в других местах (см. работы по инфракрасной микроспектроскопии Блаута и его сотрудников [9, 12, 18]). [c.279]

Использование двухлучевых спектрофотометров обычного типа в сочетании с отражательным микроскопом обсуждалось Блаутом и Эббейтом [18]. Установка отражательных микроскопов с объективами и конденсорами в обоих пучках, во-первых, дорого стоит, а во-вторых, неудобством является необходимость одинаковой настройки и фокусировки двух таких систем. Если же микроскоп устанавливается в одном из пучков, то для выравнивания длины пути лучей в другом пучке ставится удлиняющая путь прохождения лучей метровая газовая кювета. Давление или влажность воздуха в кювете подбирается так, чтобы получить полную компенсацию полос поглощения атмосферных паров. Было показано, что таким образом можно действительно добиться уменьшения отклонений от линии стопроцентного пропускания примерно до 2%, т. е. постоянства показаний в пределах примерно 4%. Такая точность, сохраняющаяся и в процессе работы, для большинства целей достаточна. Авторы предлагают аналогичным образом компенсировать также поглощение растворителей. Очевидно, однако, что когда один из пучков является сильно сходящимся, то лучи различных его частей проходят пути, сильно отличающиеся по длине, и интенсивность их в пределах той или иной полосы поглощения будет уменьшаться совсем по-разному. В менее сильно сходящемся пучке нельзя достигнуть полной компенсации поглощения во всем интервале изменения коэффициента погаше- [c.284]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология