Анализаторы с двойной фокусировкой

Рис. 9.4-7. Масс-анализаторы. а — секторный масс-анализатор с двойной фокусировкой б — времяпролетный анализатор в — циклотронно-резонансный анализатор.

Рис. 46. Масс-анализатор с двойной фокусировкой Нира — Джонсона Е-электрическое поле, Я — магнитное поле.

Анализаторы с двойной фокусировкой имеют высокое разрешение по массам (80000 и более) и часто используются в тех случаях, когда нужно идентифицировать сложные молекулы с одинаковыми массовыми числами, а также когда источник дает ионы с большим разбросом по энергии, например, при искровой ионизации. [c.856]

Регистрация ионов и определение концентрации примесей. Заряженные частицы, возникающие в источнике ионов при анализе твердых веществ, не обладают одинаковой начальной энергией. Разброс ионов по энергиям составляет 30—50 эВ для ионного зонда и 200—2500 эВ — для искрового и лазерного. Поэтому обычные масс-анализаторы, предназначенные для работы с ионизацией паров электронным ударом, в этом случае непригодны. Вместо них используют специальные масс-анализаторы с двойной фокусировкой, позволяющие фокусировать пучки ионов с большим энергетическим разбросом. На выходе масс-анали-затора помещают фотопластину, на которой регистрируются одновременно линии ионов почти всех элементов, входящих в состав образца (например, в диапазоне атомных масс от 7 до 250 а,е.м.). [c.213]

Источники ионизации в поле обладают несколько меньшей чувствительностью и воспроизводимостью масс-спектров по сравнению с источниками с ионизацией электронным ударом. При использовании этих источников на приборах с ординарной фокусировкой достигается разрешающая способность не больше 250—300, однако использование масс-анализатора с двойной фокусировкой дает возможность получить разрешение свыше 30 000. [c.26]

Одним из недостатков описанных в гл. 2 источников ионов служит то, что образующиеся в них ионы распределены в широком диапазоне кинетических энергий, поэтому необходимо применять масс-анализаторы с двойной фокусировкой. Бо всех выпускаемых масс-спектрометрах, предназначенных для работы с этим типом источников ионов, используются характерная конструкция и геометрия Маттауха—Герцога. [c.10]

Когерентный луч света, создаваемый лазером, можно сфокусировать на очень малой площади, что приводит к образованию большой плотности радиации и высокой температуре нагрева данного участка поверхности образца. Поэтому использованию лазера для испарения и ионизации материала в масс-спектрометрическом анализе уделяется большое внимание. Схематическое изображение системы, объединяющей источник ионов с лазером и анализатор с двойной фокусировкой, приведено на рис. 13.5 (Хениг, 1964). Луч лазера проходит через окно 1 и [c.408]

Разброс энергии источника типа вакуумный вибратор по неполным данным [18, 21, 22] равен 30—100 эв для малых токов дуги. Несмотря на то что в этом случае необходимо применение анализатора с двойной фокусировкой, такой источник допускает увеличение ионных токов для повышения чувствительности анализа. [c.327]

Анализаторы с двойной фокусировкой [c.331]

Рис. 4а. Масс-анализатор с двойной фокусировкой Маттуха—Херцога. Е-электрическое поле, Н — магнитное поле.

Для улучшения фокусировки нонов и получения более высокой разрешаю щей способности служат анализаторы с двойной фокусировкой В этом случае к магнитному анализатору добавляется электростатический анализатор, обес печквающий фокусировку ионов по энергиям Он представляет собой сектор ный конденсатор с радиальным электрическим полем Имеется два основных типа масс счектрометров с двойной фокусировкой отличающихся взаимным расположением магнитного и электростатического анализаторов Геометрия Нира — Джонсона допускает только электрическую регистрацию прн геомет рии Маттауха — Герцога возможна как электрическая, так и фотографическая регистрация Масс спектрометры с двойной фокусировкой обычно обеспечи вают разрешающую способность 10 ООО—30 ООО а приборы наиболее высокого класса —до 100 000 Однако увеличение разрешающей способности сопровож дается уменьшением чувствительности [c.16]

Одним из первых и наиболее распространенным вплоть до настоящего времени способов ионизации является ионизация электронным ударом (ЭУ) [37]. Источник ионов с ЭУ обычно имеет камеру ионизации, в которую вводят поток паров анализируемого вещества (рис. 7.2,). Перпендикулярно этому потоку камеру пересекает пучок ускоренных до заданной энергии электронов, эмитируемых нагретым рениевым или вольфрамовым катодом. Этот пучок электронов бомбардирует молекулы анализируемого вещества. Если энергия электронов больше потенциала ионизации молекулы, то с определенной вероятностью неупрутие соударения приводят к образованию ионов в результате выбивания из молекулы одного из электронов М + е -> М + 2е. Ионизация ЭУ имеет много достоинств это, прежде всего, простота устройства источника ионов, хорошая воспроизводимость масс-спектров и высокая чувствительность. Абсолютная эффективность ионизации составляет 0,01-1% количества молекул, введенных в источник, а тепловой разброс ионов по энергиям находится в пределах 3-5 эВ, что позволяет достичь высокого разрешения (8000 и более) без применения масс-анализаторов с двойной фокусировкой. Вероятность ионизации ЭУ зависит от потенциала ионизации атомов и молекул (табл. 7.2 7.3) и сечения ионизации (табл. 7.4). [c.842]

Масс-спектральный метод вакуумной искры начал с 1954 г. применяться для определения примесей в полупроводниковых веществах [1]. Описание конструкции промышленного масс-анализатора с двойной фокусировкой, искровым источником ионов, фотографической регистрацией спектра масс и метод анализа некоторых твердых веществ при помощи этого прибора изложены в работе [2]. О конкретных применениях метода вакуумной искры для анализа ультрачистых веществ, сплавов, непроводящих материалов, химических элементов с низкой температурой плавления и микропримесей в жидкостях говорится в работах II—6]. [c.104]

При всем многообразии достоинств. метода полевой десорбции, проявившихся при исследовании полярных, а также термически нестабильных и труднолетучих соединений, им присуши некоторые ограничения. Не все соединения дают спектры полевой десорбции некоторые слишком летучи, чтобы остаться на эмиттере без охлаждения его, другие слишком лабильны и разлагаются прежде, чем будет достигнута температура десорбции ионов не все соединения дают достаточно интенсивный пик молекулярных ионов в масс-спектрах полевой десорбции (примером могут служить аденозин- и гуанозинтрифосфаты, дающие при нанесении их на эмиттер из водного раствора неразличимо малый пик молекулярных ионов). Отсутствие фрагментации затрудняет выбор стандарта, а малый выход ионов в единицу времени препятствует работе в режиме peak mat hing. Один из возможных путей преодоления этих трудностей — применение анализатора с двойной фокусировкой и регистрацией спектра на фотопластинку. [c.143]

Высокочастотная искра требует применения энергетического фильтра (анализатора с двойной фокусировкой) вследствие большого разброса кинетической энергии (- 10 эв). Энергетическая полоса пропускания спектрометров с двойной фокусировкой составляет 200—600 эв, что приводит к малой интенсивности сигнала. Более того, согласно исследованиям Вулстона и Хонига [19], Францена и Хинтербергера [20], различные основы пробы приводят к различному распределению ионов по энергии, и на это распределение оказывают существенное влияние такие параметры источника, как величина искрового промежутка и напряжение высокочастотной искры. Во избежание ошибок экспериментальные условия работы искрового источника должны быть тщательно определены и их следует придерживаться. [c.327]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология