Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Модуляционная спектроскопия

Рис. 44. Принципиальная схема установки для модуляционной спектроскопии отражения Рис. 44. <a href="/info/844583">Принципиальная схема установки</a> для <a href="/info/10660">модуляционной спектроскопии</a> отражения

    Спектры электроотражения платинового электрода в водородной и кислородной областях в целом хорошо коррелируют с данными, полученными другими методами, в частности, подтверждая выводы о двух формах адсорбированного водорода (см. 16). Метод модуляционной спектроскопии электроотражения применяется для изучения оксидных пленок на различных металлах. Полупроводниковый характер таких пленок вызывает ряд специфических особенностей спектров электроотражения, наблюдаемых в этих системах. [c.84]

    Метод модуляционной спектроскопии отражения не применим к жидким электродам, так как волны, возникающие на их поверхности, могут существенно исказить результаты измерений. [c.35]

    Метод модуляционной спектроскопии отражения. Принцип это- [c.182]

Рис. VII. 7. Принципиальная схема метода модуляционной спектроскопии отражения Рис. VII. 7. <a href="/info/24285">Принципиальная схема</a> <a href="/info/10660">метода модуляционной спектроскопии</a> отражения
    Периодические изменения потенциала Е вызывают соответствующие колебания заряда электрода, так как Aq= AE, где С емкость двойного слоя. Б свою очередь величина Ад отражает изменение плотности электронной плазмы на поверхности электрода, а от ее состояния непосредственно зависит отражательная способность исследуемого материала. Эта связь величины AR/Ro с емкостью двойного слоя позволяет качественно объяснить зависимость спектров электроотражения от потенциала электрода, адсорбции, от образования на поверхности электрода оксидной пленки или других химических соединений. Однако количественная теория метода модуляционной спектроскопии отражения находится еще в стадии разработки. [c.184]

    Модуляционная спектроскопия. Особенно активно развивается в последние годы модуляционная спектроскопия, в том числе для исследования поверхности металлов в контакте с электролитами. [c.156]

    Рассмотрим принцип метода модуляционной спектроскопии отражения. Сущность этого метода состоит в том, что при наложении на электрод переменной разности потенциалов в отраженном свете появляется переменная составляющая, которую можно затем отфильтровать от общего отраженного света и зафиксировать в зависимости от среднего потенциала электрода (при X= onst) или от длины волны света Х (при = onst). Так, если [c.83]


    Другим перспективным методом изучения адсорбции органических соединений на электродах является метод модуляционной спектроскопии отражения (Дж. Фейнлейб, Р. М. Лазоренко-Ма-невич). Сущность этого метода заключается в следующем. Идеально плоский блестящий электрод освещается монохроматическим плоскополяризованным светом и одновременно поляризуется так же, как в импедансном методе [см. уравнение (1.17)]. В этих условиях отраженный свет содержит кроме постоянной составляющей R составляющую AR, которая периодически изменяется во времени с той же частотой ш, что и частота приложенного переменного напряжения. Отраженный свет поступает на фотоэлектронный умножитель, который трансформирует его в электрические сигналы, содержащие опять-таки постоянную и переменную составляющие, пропорциональные R и AR. Далее происходит параллельное усиление этих составляющих двумя независимыми усилителя.ми, причем коэффициент усиления AR приблизительно в 10 раз больше коэффициента усиления R. Наконец, оба усиленных сигнала поступают в смеситель, который сравнивает их и выдает сигнал, пропорциональный отношению AR/R. Отношение AR/R регистрируется в зависимости от среднего потенциала электрода ср при заданной длине волны монохроматического света (1) или в зависимости от Я, при ср= onst. [c.34]

    Принцип метода модуляционной спектроскопии отражения основан на том, что отражение света от поверхности металла связано с состоянием его поверхностной электронной плазмы. Последнее в свою очередь зависит от плотности заряда электрода q и от донорно-акцепторного взаимодействия частиц адсорбата с металлом. Таким образом, величина ARIR позволяет характеризовать как наличие на поверхности электрода молекул органического вещества, адсорбция которых изменяет q, так и наличие или отсутствие специфического, донорно-акцепторного взаимодействия адсорбированных молекул с поверхностью металла. Так, например, методом модуляционной спектроскопии отражения можно зафиксировать характерное для адсорбции ароматических и гетероциклических соединений я-электронное взаимодействие их с положительно заряженной поверхностью электрода (частичный переход л-электронов органической молекулы на уровни зоны проводимости металла). [c.34]

    Разработан вариант метода модуляционной спектроскопии отражения, в котором помимо величины ARIR регистрируется электроыодуляция фазы отраженного света Ч С этой целью для освещения электрода используется 5-поляризованный свет от г-зера, а отраженный свет анализируется с помощью лазерного интерферометра. В результате фазовая модуляция преобразуется [c.34]

    Ha опыте обычно фиксируют не AR, а относительную величину AR/Ro, которая не зависит ни от интенсивности падающего света, ни от дефокусировки его в ячейке, ни от диффузионного рассеивания света. Это позволяет избавиться от трудностей, связанных с необходимостью учета этих факторов в методе прямого зеркального отражения. Величины AR/Ro регистрируют в зависимости от среднего потенциала Во при заданной длине волны света (X= onst) либо от длины волны при 0 = onst. Впервые для изучения поверхностных свойств серебряного и золотого электродов метод модуляционной спектроскопии отражения был применен Дж. Фейнлейбом (11966). [c.183]

    Метод фотоэлектронной эмиссии. В эллипсометрическом методе и в методе модуляционной спектроскопии отражения энергия кванта света ftv меньшие, чем работа выхода электрона из металла в раствор Если же выполняется обратное соотношение hv> We , то при освещении электрода происходит фотоэмиссия электронов из металла в раствор, которая также может служить источником информации о строении границы между электродом и раствором. В методе фотоэмиссии для освещения электрода используется ближний ультрафиолет. Эмиттированные электроны теряют часть своей энергии (термализуются), затем сольватируются и далее вступают в реакцию со специально добавляемыми в раствор веществами — акцепторами электронов. Введение в раствор акцепторов (например, Н3О+, N2O) необходимо для того, чтобы избежать полного обратного захвата соль- [c.184]

    Оптические методы изучения адсорбции. Имеются достаточно подробные обзоры по оптическим методам, используемым в электрохимии [83—85]. Для изучения адсорбционных явлений на платиновых металлах использовались, главным образом, эллипсометрия и модуляционная спектроскопия [86—92]. Основное внимание уделено выяснению природы хемосорбционных субмонослоев металлических катионов и форм адсорбированного водорода. [c.60]

    Многие другие аспекты проведения измерений импульсов и спектров выходят за пределы настоящего обсуждения. Мы только обратим внимание на два очень важных приложения. Первым из них является дифференциальная, или модуляционная, спектроскопия, где колебание накладывается на сканирование независимого параметра [61, 62, 63]. Затем путем синхронизации или двухканального стробирующего интегрирования получают непосредственные измерения производных спектра относительно параметра, увеличивая, таким образом, небольшие характерные черты формы спектра. Второе приложение — это спектроскопия с временным разрешением, где измеряют форму двумерного сигнала, а в качестве двух независимых параметров выступают длина волны и время. Этот вид измерений пмеет большие преимущества для изучения затуханий флуоресценции, где спектры испускания с различных уровней разделяются по их временам затухания [64, 65]. Этп измерения применяются и н исследованиях других типов, а прогресс в цифровой аппаратуре может сделать доступными такие измерения во многих лабораториях. [c.540]



Смотреть страницы где упоминается термин Модуляционная спектроскопия: [c.142]    [c.150]    [c.442]   
Аналитическая лазерная спектроскопия (1982) -- [ c.0 ]




ПОИСК







© 2025 chem21.info Реклама на сайте