Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Гафний, наложение линий

    При определении малых концентраций гафния в цирконии, чтобы избежать наложения линий циркония на чувствительные линии гафния, используют [57] то обстоятельство, что аналитические линии гафния и накладывающиеся на них линии циркония имеют различные потенциалы возбуждения П,3 /се для гафния и 18 ке — для циркония. Поэтому при напряжении, меньшем или близком к потенциалу возбуждения линий циркония, удается устранить появление этих линий или значительно ослабить их. Таким образом, можно определять гафний по его а,- линий. Вместе с тем, пониженное напряжение на трубке и относительно небольшой ток (12— 15 ма) уменьшают нагрев анода и пробы, что приводит к повышению точности результатов. [c.193]


    Физические и химические свойства металлического циркония и гафния (высокая температура плавления, энергичное взаимодействие с газами атмосферы и т. д.) таковы, что приготовление однородных по составу массивных электродов и особенно эталонов представляет трудную задачу. Даже если приготовить серию металлических эталонов, то устранить наложение на аналитические линии примесей многолинейного спектра циркония и гафния очень трудно. Это обстоятельство требует при определении примесей в цирконии и гафнии применения спектрографов с большой дисперсией или отделения примесей, от циркония и гафния различными физико-химическими и химическими методами. [c.202]

    С применением дуги переменного тока и графита в качестве буфера достигнута чувствительность 1 10- % для определения гафния в металлическом цирконии и его соединениях [37]. Отечественные исследователи [43, 47, 51 ] разрабатывали методы определения тысячных долей процента гафния в цирконии на призменных спектрографах средней (ИСП-22, ИСП-28) и большой дисперсии (КС-55, КСА-1). Повышение чувствительности до 0,003% на спектрографах КСА-1 или КС-55 достигается при следующих условиях [51] 20 мг двуокиси циркония смешивают с 10 мг угольного порошка, помещают в кратер угольного электрода диаметром 2 и глубиной 5 мм и испаряют в дуге постоянного тока при 10 а в течение 2 мин. На щель проектируется сильно увеличенное изображение электродов. Каждый спектр получается наложением двух спектров на одно и то же место фотопластинки. Фотометрируются линии Н1 II 2641,4 и 2г 2626,0 А и фон. Градуировочный график строится в координатах 1й — 1е С. Вероятная ошибка единичного определения [c.426]

Рис. 92. Сопоставление спектров, полученных при 50 кв и 40 ма (пунктирная кривая) и при 100 кв и 20 ма (сплошная кривая) для НГ и Та. Показано эффективное возбуждение Ка-спектра при более высоком напряжении. Более высокое напряжение бывает особенно полезно при анализах смесей ниобий-тантал и цирконий — гафний. При низком напряжении возникает трудность, связанная с наложением К-линий более легких элементов на -линия более тяжелых элементов [254] Рис. 92. <a href="/info/393727">Сопоставление спектров</a>, полученных при 50 кв и 40 ма (пунктирная кривая) и при 100 кв и 20 ма (сплошная кривая) для НГ и Та. Показано <a href="/info/449988">эффективное возбуждение</a> Ка-спектра при <a href="/info/1456069">более высоком</a> напряжении. <a href="/info/1456069">Более высокое</a> напряжение бывает особенно полезно при <a href="/info/695169">анализах смесей</a> <a href="/info/250633">ниобий-тантал</a> и цирконий — гафний. При <a href="/info/40443">низком напряжении</a> <a href="/info/1527322">возникает трудность</a>, связанная с наложением К-линий <a href="/info/1603802">более легких</a> элементов на -линия <a href="/info/1160205">более тяжелых</a> элементов [254]

    О 1 %) можно проводить анализ по свободным от наложений /.у -ли-ниям обоих элементов — Н /,-С1(Х = 1176,56 X) и Та/,71 (X = 1135,65 X). При этом, как показывают расчеты, при равном содержании элементов и идентичных условиях съемки интенсивность ц-линии гафния должна [c.209]

    Важные исследования по определению тысячных долей процента гафния в цирконии выполнили Солодовник и Кондрашина 1260]. Их опыты, осуществленные в условиях, рекомендованных Мортимером и Ноблом [647], показали, что при работе на автоколлимацион-иом спектрографе КСА-1 добавка фторида бария и испарение проб при большой силе тока не приводят к увеличению интенсивности линий гафния. Наблюдаемое незначительное усиление интенсивности линии гафния Н II 2641,41 при добавке фторида бария происходит за счет наложения линии бария Ва II 2641,37. Применение в качестве буфера фосфата натрия также не дает положительных результатов. Решающее значение для достижения высокой чувствительности анализа имеет применение спектрографов с высокой линейной дисперсией, но не спектральных буферов. [c.186]

    К. И. Нарбутт и И. Д. Беспалова [891 разработали методику определения U, Th, РЬ, Та, Zr, Hf, Nb, Y, Sr в природных минералах и рудах с помощью универсального фокусирующего рентгеновского спектрометра, описанного в работе [90]. Кристаллом-анализатором служил кварц, изогнутый по радиусу 1 м, с отражающими плоскостями (1010). Дисперсия в первом порядке отражения равна 10 ХЕ мм, во втором порядке — 5 Х /л<л . Сравнительно высокая дисперсия прибора спосо вовала устранению помех при проведении анализа за счет наложения спектральных линий. Поэтому определение гафния по линии Hf Lp, (1371,25 ХЕ) не представлял особых трудностей ввиду хорошего разрешения с линией Zr/ p, (1375,12 ХЕ) второго порядка отражения. [c.439]

    Аналогичный прием устранения наложения или ослабления К-спектра циркония при определении гафния в цирконии путем понижения напряжения ( 17 кв) на рентгеновской трубке использовали другие исследователи [4791. При регистрации Ь ,-линии сцинтил-ляционным счетчиком удается определять до 1 10" Н с ошибкой 40%. При 3%Н ошибка снижается до 0,1%.  [c.193]

    Высокая чувствительность (4 10 %) определения гафния цирконии достигнута Ф. Ф. Гавриловым с соавторами [54]. По этой методике анализ проводится на спектрографе ИСП-22 с трехлинзовой системой освещения. Спектры возбуждаются в дуге переменного тока силой 5 а. Проба весом 10 мг смешивается с угольным порошком в отношении 1 1, засыпается в кратер нижнего электрода диаметром 3,8 мм и глубиной 2 мм и перед включением дуги слегка уплотняется стеклянной палочкой. Экспозиция длится 5 мин с перерывом на 30 сек через 2,5 мин. Градуировочные графики для интервала концентраций 0,04—0,0004% гафния строились в логарифмических координатах по линиям Н12641,406 и 2г 2568,875А.Сред-неквадратичная ошибка при определении 8 10- % гафния составляет 5%. По мнению авторов [М], высокая концентрационная чувствительность достигнута благодаря тому, что фон в дуге переменного тока значительно слабее, чем в мощной дуге постоянного ,тока. Фон от наложения слабой искровой линии углерода 2641,44 А также отсутствует, так как эта линия в дуге переменного тока не возбуждалась. [c.427]

    Подобие химических свойств гафния и циркония исключает применение методов химического обогащения проб или фракционной разгонки. Единственный приемлемый способ анализа состоит в непосредственном возбуждении спектра смеси соединений гафния и циркония в дуге или искре. Малая летучесть окислов гафния и циркония, а также и многолинейчатость их спектров сближает задачу спектрального анализа смеси цирко-ний-гафний с уже рассмотренной нами задачей анализа смеси редкоземельных элементов. Так же как и при анализе редкоземельных элементов, основную роль играют правильный выбор аналитических линий с учетом возможных наложений, использование мощных высокоамперных дуг, обеспечивающих интенсивное испарение пробы, применение спектрографов большой разрешающей силы. За последние несколько лет было опубликовано значительное число работ по спектральному анализу смесей цирконий-гафний. Мы рассмотрим здесь лишь основные исследования. [c.305]

    Открытие гафния представляет o6ofi одно из наиболее крупных научных достижений, полученных посредством применения рентгеноспектрального метода анализа. Однако количественное определение этого элемента в присутствии циркония, совместно с которым он всегда встречается в природе, относится к числу наиболее трудных задач рентгеноспектро-скопии. Это объясняется тем, что при проведении описанного анализа приходится столкнуться с относительно редко встречающимся в рентгеновской спектроскопии случаем практически полного (в некоторых порядках отражения) наложения друг на друга наиболее интенсивных линий элементов-спутников и важнейших аналитических линий гафния. Вследствие высокого потенциала возбуждения линий /С-серии гафния возможно использовать для анализа лишь линии его L-серии. Наложение на основные аналитические линии гафния в первых двух порядках отражения линий других элементов приведено в табл. 26. [c.209]



Смотреть страницы где упоминается термин Гафний, наложение линий: [c.150]   
Эмиссионный спектральный анализ атомных материалов (1960) -- [ c.305 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Гафний

Наложение



© 2024 chem21.info Реклама на сайте