Искажение растра

Большим недостатком электростатической системы отклонения луча является искажение растра развертки, возникающее в результате образования полимерной пленки на отклоняющих пластинах. [c.18]

СЯ В виде разрыва структуры. Повреждения под действием пучка могут произойти, когда облучение электронным пучком вызывает нежелательный локальный нагрев. Когда это происходит на образце, могут возникнуть пузыри, блистеры или трещины, можно заметить движение или даже дезинтеграцию. В простейшем виде такое повреждение проявляется в виде светлого и темного квадрата на поверхности образца, обусловленного растром. Это проявление не следует смешивать с загрязнением, которое может вносить свой собственный набор артефактов и проблем в интерпретации. Разрушение под действием пучка можно уменьшить за счет снижения энергии, поступаемой в образец, хотя это может также ухудшить оптимальные рабочие параметры прибора. Другим обычным артефактом является зарядка образца несмотря на то что обычно это явление проявляется в виде аномально ярких областей на образце, эффект пробегает всю гамму от маленьких вспышек на изображении до сильно искаженных и неузнаваемых изображений. В работе [386] приводится полезное обсуждение связанных с зарядкой артефактов, дается объяснение того, как они возникают, и предлагаются способы, с помощью которых их можно избежать. [c.264]

Принципы растровой модуляции. В последние годы появился принципиально новый тип спектрометра, основанный на растровой модуляции светового пучка. По конструкции это обычный классический спектрометр, во входном и выходном коллиматорах которого щели заменены растрами, представляющими собою прозрачные и непрозрачные полосы, штрихи или точки выходной растр является точной копией изображения входного растра со всеми свойственными этому изображению искажениями (искривлением спектра, аберрациями, дифракцией, дефектами изготовления и сборки оптики). При точном совмещении изображения входного растра с выходным, световой поток, падающий на фотоприемник, достигнет максимальной величины. При небольшом смещении изображения световой поток резко падает и при дальнейшем смещении меняется уже незначительно, образуя (при некоторых условиях) небольшие побочные максимумы. Точное совмещение изображения входного растра с выходным растром имеет место только для определенной длины световой волны на этом и основана селективная модуляция светового пучка, осуществляемая небольшими периодическими перемещениями изображения входного растра. При значительных размерах растра (в направлении дисперсии прибора) на фотоприемник попадает излучение, находящееся в широком спектральном интервале однако амплитуда модуляции этого излучения мала, и оно создает только большую засветку фотоприемника постоянным световым потоком, наподобие того, как это имеет место в случае сисама. [c.360]

Здесь обращает на себя внимание независимость разрешающей силы растрового спектрометра от разрешающей силы его диспергирующего элемента, определяемой световым отверстием этого элемента. Однако эта независимость только кажущаяся. При малых размерах диспергирующего элемента дифракция исказит изображение входного растра, и реальная разрешающая сила прибора может оказаться значительно меньшей, чем рассчитанная по формуле (49.18) без учета размеров диспергирующего элемента. Наибольшим искажениям подвергнутся изображения наиболее узких полос растра. Они окажутся на пределе разрешения, когда ширина темной полосы растра будет равна дифракционной полуширине бх изображения точки. Расстояние между серединами двух соседних светлых полос на краю растра равно приближенно сумме ширин двух соседних (светлой и темной) полос. Приравняем это расстояние величине 2Ьх. Тогда [c.367]

Размер многощелевой диафрагмы ограничен в основном кривизной спектральных линий и угловым увеличением диспергирующего элемента, приводящими к искажению изображения растра и рассогласованию этого изображения с выходным растром. Аберрации оптической системы можно сделать достаточно малыми по сравнению с этими искажениями. Рассогласование изображения и растра приводит к снижению амплитуды модуляции. Зависимость дисперсии от длины волны приводит только к нелинейному изменению частоты модуляции при изменении длины волны, что нетрудно учесть градуировкой. [c.379]

МОЙ области, информация из трехмерного пространства эффективно проектируется на двумерную плоскость. В обычной сканирующей системе, показанной на рис. 4.1, плоскость, в которой происходит сканирование, расположена под прямым углом к оптической оси прибора. Так как сканирующие пучки расходятся от точки, расположенной в конечной диафрагме, то построение изображения представляет собой гномоническую проекцию. Гно-монической проекции присущи искажения в плоскости, расположенной перпендикулярно оптической оси. Так как расстояние связано с тангенсом угла отклонения при сканировании ф, то угловое движение пучка в растре создает меньшее изменение расстояния вблизи центра поля зрения, чем на краях. Следовательно, увеличение меняется поперек поля зрения. При номинальном увеличении 10Х и рабочем расстоянии 10 мм это приводит к 20%-ной дисторсии вблизи края поля зрения относительно центра. При высоком увеличении (более ЮОХ) проекционные искажения становятся несущественными, так как угол отклонения при сканировании мал и tg(p 9. [c.112]

В идеальном случае сетка точек изображения, создаваемых системой сканирования, должна была бы быть неискаженной, т. е. расстояние между любой соседней парой точек изображения должно быть одним и тем же в любой части растра. Однако развертке могут быть присущи многочисленные искажения. Если необходимо проводить серьезные измерения, следует произвести коррекцию этих искажений либо по крайней мере оценить их. Искажение, вйосимое гномонической проекцией, было рассмотрено выше. При исследовании лишь нерегулярных объектов с несимметричной формой распознать искажения развертки невозможно. Чтобы выявить искажения, необходим такой симметричный объект, как сфера или сетка. Пересечением нормальной плоскости развертки, имеющей равное значение увеличения во взаимно перпендикулярных направлениях, со сферой является круг. Отклонения формы сечения от круга указывают на существование искажения развертки, как показано на рис. 4.14, где искажение возрастает вблизи края поля зрения растра. Простейшее искажение — это неодинаковая длина сканирования во взаимно перпендикулярных направлениях по X [c.116]

Можно отметить ряд проблем, связанных с растровыми спектрометрами. Во-первых, входной и выходной растры должны быть изготовлены с высокой точностью, но не совсем идентичными в расчет необходимо принять искажения в спектрометре. Во-вторых, некоторые кюветы и приставки (например, многоходовые газовые кюветы или микрокюветы) могут создавать неоднородность в световом пучке и уширять аппаратную функцию, в результате чего происходит потеря спектральной чистоты. В-третьих, из-за большого количества немодули-рованного излучения, достигающего приемника, любые колебания, особенно в области частот колебаний растра, приводят к шумам. Теорйя, преимущества, приложения и проблемы растровых спектрометров обсуждены Морэ-Бэйли [62, 1, 2, 10 ]. [c.30]

Выходной растр 8 является точным монохроматическим изображением входного растра 5 с присущими изображению искажениями. При сканировании спектра каждой длине волны соответствует только одно положение решетки 7, при котором изображение растра 5 полностью совпадает с растром 8. При этом положении растр либо полностью пропускает к фотоприемнику 9 падающий на растр монохроматический световой поток (когда прозрачные участки растров 5 и 5 совпадают), либо полностью перекрывают его, когда прозрачным участкам входного растра соответствуют непрозрачные выходного. Таким образом, при этом положении решетки на фотоприемник 9 падает полностью промодулированный [c.373]

Растры изготовлялись фотографическим способом. Входной растр фотографировался с чертежа, выполненного в увеличенном масштабе. Подложкой служили (в зависимости от спектрального диапазона) стекло СаРа, Na l, KRS-5. Размер растра 30x30 мм, ширина самой узкой светлой полосы 0,11 мм был испытан также образец растра с шириной полосы 0,03 мм. Выходной растр получался фотографированием входного через всю оптическую систему прибора, воспроизводя все искажения, вызванные ею. Источником света служила разрядная лампа с парами изотопов ртути. Выходные растры были сменными. Без смены один растр работал в пределах 6000 разрешаемых интервалов при фокусном расстоянии 2 ж и линейном разрешении 0,08жж угол дифракции изменялся от 22 до 37° расстояние между центрами входного и выходного растров составляло 35 мм. [c.374]

Не останавливаясь на особенностях воспроизведения изображения при помощи растров и способах изготовления растровых диапозитивов для печати на диазотипных материалах [71, 72], мы будем исходить из условия, что в правильно изготовленном растровом диапозитиве соотношение размеров растровых точек без искажений воспрозводит соотношение оптических плотностей оригинала. В этом случае контрастность изображения и передача полутонов определяются не свойствами материала, так как в пределах каждой растровой точки плотность и контрастность изображения максимальны, а характеристикой растрового диапозитива, что позволяет получить высококачественные полутоновые изображения. Более того, высокая контрастность диазотипного материала, особенно заметная при низких плотностях изображения, и высокий экспозиционный порог в этих условиях являются положительными свойствами материала и благоприятно сказываются на уменьшении ореолов на границах точек, неизбежных при работе с такими сильными диффузными источниками света, какими являются люм инесцентные и ртутные лампы. [c.160]

Цилиндр. В процессе работы происходит увеличение диаметра цилиндра по сравнению с его первоначальным значением и искажение правильной геометрической формы. Замер износа цилиндра осуществляется в трех сечениях и двух взаимно перпендикулярных направлениях для каждого сечения. В случае небольшого износа используется растрчка и шлифовка цилиндров. При этом допускается увеличение диаметра цилиндра на 2%. Запасные поршни для этой цели имеют больший диаметр. [c.378]

На основе всесторонних исследований оптического муара с помощью растров (сеток) А. В. Шубников предсказал возможность получения муара при наложении кристаллических атомных решеток (1926 г.). Его идея была реализована в 1957 г. с помощью электронного микроскопа, а затем в 1965—1968 гг.— с помощью рентгеновской дифракции. Рентгенодифракционный муар кристаллических атомных решеток в 10 раза более чувствительный, чем электронно-микроскопический, и соответственно и его возможности намного шире, особенно при исследованиях реальной структуры высокосовершенных кристаллов. По геометрии легко определяется характер искажения решетки (сжатие — растяжение решеток) — дилатацистшый муар или (поворот решетки) — ротационный муар. С помощью рентгеновского муара можно измерить искажения решетки Аё/с1 К)- и повороты решетки в 10- рад. Еще более расширяются возможности измереш я рентгенодифракционного муара при использовании трехкристального интерферометра. Здесь появляются новые возможности измерения абсолютных величин периодов решетки, длин рентгеновских волн, перемещений в 10- сл и углов поворота 10 рай и т. д. [c.403]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология