Метод подгонки пика

Уровень шума Локализация пика Интегрирование пика Интегрирование спектра Повторение линии Подгонка кривой Аппроксимация по методу наименьших квадратов [c.370]

Первоначальная подгонка пептидной цепи к карте электронной плотности с разрешением 2,5—3,0 А не будет очень точной. Многие группы не совпадают в точности с пиками электронной плотности, которые предположительно их представляют (см. типичный пример на рис. 13.39.В). Однако предварительную модель можно теперь использовать в одном или нескольких циклах уточнения. Например, при уточнении в прямом пространстве модель подгоняют таким образом, чтобы попытаться минимизировать разницу между плотностью р(дг, у, z), вычисленной по рентгеновским данным, и плотностью, рассчитанной для модели. Кроме того, можно воспользоваться методом фурье-уточнения или методом наименьших квадратов. [c.397]

Следует отметить, что совокупность Ац получена аналитически. То есть мы определили совокупность уравнений, дающих после решения единственный ответ, который с наибольшей вероятностью (в статистическом смысле) является правильным. Свойство аналитичности является основным различием между линейными и нелинейными методами подгонки пиков. В нелинейных методах у нас нет замкнутой системы ур.авнен1ий, которую нужно решить. Мы должны прибегать, вапример, к методам итераций или к поисковым процедурам, чтобы получить, нужный ответ. Следует, однако, всегда помнить, каким обр азом достигнута линейность. Мы сделали довольно четкое предположение о том, что хорошо известны Ш ирина и положение каждого пика в наблюдаемом спектре. Определение этих параметров с требуемой точностью вполне возможно, но это далеко не тривиальная задача. [c.125]

Как показано на рис. 8.6, значения Ье, полученные разными авторами, зависят от атомного номера. В [214] этот эксперимент был повторен с использованием 51 (Ы)-детектора, обладающего лучшим энерпетическим разрешением и более высокой эффективностью сбора. На рис. 8.7 показан подобный спектр, полученный для медного образца с использованием 81(Ы)-де-тектора толщиной 3 -мм, и диаметром 6 мм с разрешением 165 эВ (на линии Ретсд). Максимальные значения пиков Сил и Сц/ср не показаны с целью выявления тонкой структуры фоиа. Понижение интенсивности в области низких энергий обусловлено поглощением в окне детектора. Резкий перепад в интенсивности фона при энергии около 9 кэВ о-бусловлен явлениями само-поглощения в образце из-за скачкообразного изменения коэф-. фициента массового поглощения меди при энергии, равной потенциалу возбуждения /С-серии меди. Однако значение интенсивности фона точки в месте края поглощения (8,979 кэВ) маскируется из-за расширения детектором пика Си ср. Здесь уместно указать, что при любой попытке применить методы подгонки с помощью ЭВМ для описания формы наблюдаемого [c.109]

Независимо от того, как мы получим рассчитащный спектр — либо с использоваиием математической модели для каждого входящего в состав спектра пика и последующего их сложения, либо регистрируя несколько более простых спектров, каждый из которых пересчитывается в масштабе и затем складывается,—необходимо выработать критерий того, насколько близко соответствие рассчитанного спектра и неизвестного. Кроме того, необходима процедура для регулирования различных параметров, чтобы обеспечить наилучшую подгонку. Именно по этой процедуре, посредством которой регулируются параметры, отличаются главным образом различные методы, -используемые для обеспечения спектральных наложений. Мы подробно обсудим несколько наиболее широко используемых методов и общие для всех методов проблемы. Прежде чем приступить к изложению отдельных методов, сначала дадим определение линейности, а затем обсудим критерий, чаще всего используемый для решения воп роса о том, является ли данный метод подгонки к серии спектральных пиков наилучшим . [c.121]

Налагающиеся пики или группа пиков могут быть разделены в режиме фоновой обработки данных методом подгонки кривых (англ. urve fitting) необходимым условием для этого является знание функции формы пика и хода нулевой линии, определенных эмпирическим или аналитическим методами. Чем точнее использованные функции описывают контуры фактических пиков, тем лучшие результаты дает этот метод, часто применяемый в интерактивном режиме и реже — в рутинном режиме. Сопоставление различных процедур подгонки кривых приведено в работе [43]. [c.455]

Кроме сложения другим возможным методом, которым мох<-но ввести параметр в выражение и- сох,р.анить свойство линейности, является умножение. Практическое следствие умножения состоит в том, что в процедуре линейной подгонки могут быть определены только амплитуды пиков. На первый взгляд кажется, что это строгое ограничение, так как оно требует от нас заранее знать точную калибровку по энергии нашей спектрометрической системы (т. е. точное положение каждого пика в спектре) и точную ширину каждого пика. [c.123]

В предыдущем разделе мы видели, что главным достоинством линейных методов является их аналитичность. Для получения требуемой информации нам иадо только решить систему уравнений. Восстановленные с помощью процедуры линейной подгонки значения амплитуд являются единственными и наиболее вер.оятными правильными значениями. Как и, всюду, за все приходится платить, и исследователь платит за линейность коэффициента усиления тем, что должен обеспечить процедуру подгонки информацией о ширине и положении всех пиков, а не [c.132]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология