Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Края поглощения

Рис. 5.55. Возбуждаемый электронами спектр углерода, полученный с помощью 81 (Ь )-детектора с очень толстым мертвым слоем на поверхности кремния, что приводит к появлению пика края поглощения кремния с необычно высокой интенсивностью. Рис. 5.55. Возбуждаемый <a href="/info/261129">электронами спектр углерода</a>, полученный с помощью 81 (Ь )-детектора с <a href="/info/1768346">очень толстым</a> <a href="/info/135161">мертвым слоем</a> на <a href="/info/351669">поверхности кремния</a>, что приводит к появлению пика края поглощения кремния с необычно высокой интенсивностью.

Рис. 3.47. Спектр рентгеновского излучения никеля ( о = 40 кэВ), полученный с помощью спектрометра с дисперсией по энергии видна резкая ступенька на непрерывном фоне, обусловленная краем поглощения К-излучения никеля. Рис. 3.47. <a href="/info/381131">Спектр рентгеновского излучения</a> никеля ( о = 40 кэВ), полученный с <a href="/info/1596655">помощью спектрометра</a> с дисперсией по энергии видна резкая ступенька на непрерывном фоне, обусловленная краем поглощения К-излучения никеля.
    В рентгеновском спектре поглощения каждому электронному уровню (К, 1, 1ц, 111 и т. д.) соответствует свой край поглощения (низкочастотная граница полосы). [c.277]

Рис. 5.26, Спектр углерода, полученный с помощью 81 (Ь1)-детектора при электронном возбуждении. Вндны края поглощения кремния (/) и золота (2). Рис. 5.26, <a href="/info/164566">Спектр углерода</a>, полученный с помощью 81 (Ь1)-детектора при <a href="/info/2943">электронном возбуждении</a>. Вндны края поглощения кремния (/) и золота (2).
    Положение края поглощения и значение коэффициента поглощения также зависят от порядкового номера элемента и окружения атома (в молекуле, кристалле, вообще среде). В отличие от УФ, видимого и ИК излучения коэффициент поглощения рентгеновских лучей сравнительно обычно мал, чем объясняется их легкая проницаемость через различные вещества. [c.138]

    На рис. 6.15 показано расположение линий в спектре для К, I и 11 серий, пунктиром отмечены края поглощения. [c.228]

Рис. 3.46. Тонкая структура поглощения рентгеновского излучения вблизи края поглощения излучения железа [63]. Рис. 3.46. <a href="/info/463582">Тонкая структура поглощения</a> <a href="/info/28163">рентгеновского излучения</a> вблизи края поглощения излучения железа [63].
    Важнейшей особенностью рентгеновских спектров является монотонное увеличение частот для аналогичных линий испускания или краев поглощения с ростом порядкового номера элемента согласно закону Мозли  [c.229]

    Изменение константы экранирования обусловлено образованием химической связи с лигандами и проявляется в изменении энергии К- или -края поглощения. Это изменение мало по сравнению с энергией /(( )-края (—0,1—0,01%), но вполне достаточно для изучения химической связи. [c.251]


    Интеграл в уравнении (5.2.15) означает, что флуоресценция вызывается первичным полихроматическим рентгеновским излучением всех длин волн в интервале К между границей непрерывного спектра и краем поглощения элемента V- Постоянная элемента учитывает различные величины, зависящие от его атомного номера. Таким образом, интенсивность пропорциональна числу фотонов, поглощенных /С-уровнем. Доля этих фотонов по отношению к числу фотонов, поглощенных всеми уровнями, составляет [c.203]

    Основная помеха при сильной растяжке ординаты спектра — наличие наклонной (неровной) нулевой линии и большого фона, что может быть обусловлено такими факторами рассеяние света, наличие интерференционных полос, поглощение растворителя матрицы или примесей, край поглощения кюветы. Большинство искажений можно исключить, производя при помощи ЭВМ вычитание спектров. Одним из преимуществ метода получения разностных спектров при помощи ЭВМ по сравнению с обычной дифференциальной ИК-спектроскопией является возможность применять его при любом способе приготовления образца. [c.768]

    Длины волн Я-эмиссионных серий и краев поглощения (О 758] [c.114]

    Массовые коэффициенты поглощения ц/р в общем случае плавно уменьшаются при увеличении энергии рентгеновского излучения, за исключением области энергий, находящейся непосредственно за энергией, соответствующей краю поглощения , который соответствует энергии, необходимой для вырывания электрона с оболочки (рис. 3.45, табл. 3.9). Рентгеновское [c.86]

    Края поглощения могут непосредственно наблюдаться на спектрах рентгеновского излучения. Непрерывное рентгеновское излучение, возникающее под действием бомбардировки электронами, представляет собой поток рентгеновского излучения всех энергий через образец. На краю рентгеновского излучения резкое возрастание массового коэффициента поглощения приводит к изменению интенсивности испускаемого непрерывного рентгеновского излучения. [c.87]

    На рис. 3.47 представлен спектр рентгеновского излучения никеля в диапазоне энергий О—10 кэВ. Наблюдаются также пики и N1 , а также разрыв в непрерывном спектре N1/ у края поглощения. Край поглощения, соответствующий энергии 8,331 кэВ, указан стрелкой. [c.87]

    Энергия за краем поглощения, з8 [c.88]

    Непрерывный спектр излучения содержит рентгеновское излучение всех энергий вплоть до энергии падающего пучка. Так как наиболее эффективная генерация флуоресцентного излучения происходит за счет рентгеновского излучения с энергией чуть выше края поглощения, то всегда будет иметь место флуоресценция за счет непрерывного излучения. Расчет интенсивности этой флуоресценции включает рассмотрение вклада части спектра непрерывного излучения, начиная от энергии поглощения кр до энергии пучка о- Б работе [64] подробно обсуждались само это явление и расчет. [c.90]

    Отклонения процесса детектирования от идеального приводят к появлению артефактов, главным образом уширению пика, искажению лика, появлению пиков потерь рентгеновского фотона в кремнии, краев поглощения кремния и золота и пика внутренней флуоресценции кремния. [c.215]

    Фотоэлектрическое поглощение рентгеновского излучения мертвым слоем кремния приводит к эмиссии 5 /С-рентгеновско-го излучения из этого слоя в активный объем детектора. Это рентгеновское излучение кремния, которое не идет от образца, появляется в спектре в виде небольшого пика кремния, так называемого пика внутренней флуоресценции кремн Ия. Пример такого эффекта показан на спектре чистого углерода (рис. 5.26), в котором имеется также заметный край поглощения кремния. Для различных случаев количественного анализа интенсивность этого флуоресцентного типа соответствует кажущейся концентрации в 0,2 вес. % или меньше 51 в образце. [c.223]

    Измерения уровня фона с помощью детекторов с дисперсией по энергии обычно значительно более критичны, чем при иополь зовании кристалл-дифракционных спектрометров из-за более низких отношений пик/фон и трудностей, связанных с выбором спектральных участков фона, прилежащих к измеряемому пику. На рис. 8.2 показана часть спектра чистого хрома. Значение фона в соответствующем пику канале, определяемое путем интерполяции, составляет 100 имп./с, если используются точки В 1И I), и 130 имп./с, если используются точки В и С. Лучше использовать последнюю пару точек, поскольку наличие края поглощения хрома при 5,989 кэВ приводит к резкому спаду [c.104]

    Критерием применимости уравнения (8.7) служит тот факт, что при его использовании должно исчезать влияние всех краев поглощения в интересуемом интервале энергий. Успешное пр И-менение этого метода при наличии больших краев поглощения продемонстрировано на рис. 8,8 на примере спектра мишени из чистого кремния, изме ренного при 20 кэВ. [c.111]

    Вырванный электрон поглощает энергию, равную сумме энергии ионизации и полученной им кинетической энергии. Поэто.му зависимость поглощения от энергии носит характер непрерывной кривой, начинающейся резким скачком у границы ионизации и постепенно спадающей в сторону более высоких энергий. Этот резкий скачок (край поглощения) позволяет определить энергию ионизации. Таких кривых в спектре несколько. Самый коротковолновый край поглощения соответствует вырыванию электрона из оболочки 15 и образованию иона с термом Аналогичный терм возникает при вырывании х-электрона с других уровней. Вырывание р-электрона приводит к термам Pl/2 и / з/2, -электрона — к термам Дз/а, Оъп и т. д. Получается набор термов, аналогичный набору для одноэлектронного атома. Однако в силу традиции применяются другие обозначения слон с п=, 2, 3, 4, 5, 6,... обозначают буквами /С, L, М, N, О, Р,, а последовательные термы каждого слоя отмечают римскими цифрами  [c.228]


    Используемые в рентгеновской спсктроскопии трубки характеризуются высокой потребляемой мощностью (3,5 кВт). Ввиду этого предпочитают трубки с вольфрамовым анодом. Излучение флуоресценции особенно велико в том случае, когда собственное излучение рентгеновской трубки имеет длину волны, близкую к краю поглощения определяемого элемента (например, использование анода из хрома при определении К, Са, Т1). [c.204]

    При определении к.-л. элемента в в-ве в присут. др. элементов с близкими Z для повышения избирательности применяют т. наз. абсорбцнометрию по К- или -краю поглощения. В этом случае используют источники у-излучения с энергией фотонов неск. большей, чем энергии связей К-или -электронов атомов определяемого элемента. Анализ многокомпонентных сред осуществляют с помощью двух и более источников с разл. энергиями фотонов. [c.501]

    Атомную структуру в-ва можно исследовать с помощью т. наз. EXAFS-метода (рентгеновской спектроскопии на краю поглощения), в к-ром исследуемое в-во облучают синхротронным излучением с длиной волны, соответствующей краю полосы поглощения к.-л. атома (или атомов) в структуре. Тогда по полученному спектру поглощения получают данные о расположении атомов в окрестности выбранного атома (атомов). [c.100]

    НИЮ спектра, в результате которого большая часть информации, соответствующей какому-то точно определенному значению энергии, распределяется в пределах нескольких каналов многоканального анализатора, охватывающих удвоенную полуширину. Этот эффект проявляется в значительном уширении пиков и краев поглощения по сравнению с собственной их шириной, что приводит к уменьшению отношенця пик/фон и повышению вероятности перекрытия пико.в. Кроме того, именно в этой точке появляются артефакты электроники в виде пиков потерь и наложения ИИКО В. [c.256]

    Следует выбрать самые интенсивные пики в коротковолновой области сканирования кристалла LiF и найти их длины волн. Используя полный справочник рентгеновских лучей, например [113], определить возможные элементы, которые могут дадать рассматриваемые пики в излучении Kai, 2 или Lai, 2-В параллель, используя данные о серии линий, полученные при качественном анализе с помош,ью спектрометра с дисперсией пО энергии, если какой-либо элемент уже предварительно связан с пиком Kai,2(n= ), исследователь должен сразу же отыскать сопутствующий им пик И снова отнощение интенсивностей Ка и должно равняться приблизительно 10 1. Однако из-за изменений в эффективности кристалла и детектора ожидаемое отношение может выполняться не всегда. Например, в спектре d (рис. 6.12) эффективность детектора с коротковолновой стороны Л"-края поглощения аргона приблизительно 2 раза выше. Следовательно, пик L i, интенсивность которого должна составлять примерно 60% от интенсивности La, на самом деле больше. Удвоение эффективности до /(-края поглощения аргона обусловлено тем, что в проточном пропорциональном детекторе рентгеновского излучения этого спектрометра используется газ Р-10 (90% Аг—10% метана). При заданных размерах детектора и давлении газа Р-10 некоторая часть рентгеновского излучения с длиной волны, большей, чем длина волны края поглощения, проходит через газ, не взаимодействуя с ним. Для рентгеновского излучения с длинами волн короче длины волны края поглощения большая часть (приблизительно в 2 раза) будет взаимодействовать с газом и, следовательно, будет обнаружена. Следует также отметить, что разрешения кристалл-ди-фракцнонного спектрометра с некоторыми кристаллами, например LiF и кварцем, дое-таточно, чтобы продемонстрировать по крайней мере некоторое разделение пика Ка на Kai и Ка.2 с отношением интенсивностей Ка. Ка2=2 . Если подобно этому рассматривать пик La, то следует искать полную L-серию. Необходимо отметить, что кроме тех L-линий, которые указаны на рис. 6.1 (т. е. Lai, 2, Lfiu L 2, L 3, L u Lyz, Li, Lv), благодаря прекрасному разрешению и отношению пик/фон можно обнаружить их больше. При идентификации серии линий возможна ситуация, когда из-за ограничений использования кристаллов по длине волны может быть обнаружен только главный пик (например, Gex с LiF, а Ge/ g лежит за пределами диапазона кристалла). С учетом этого факта в спектре, полученном с по- [c.294]

    Как показано на рис. 8.6, значения Ье, полученные разными авторами, зависят от атомного номера. В [214] этот эксперимент был повторен с использованием 51 (Ы)-детектора, обладающего лучшим энерпетическим разрешением и более высокой эффективностью сбора. На рис. 8.7 показан подобный спектр, полученный для медного образца с использованием 81(Ы)-де-тектора толщиной 3 -мм, и диаметром 6 мм с разрешением 165 эВ (на линии Ретсд). Максимальные значения пиков Сил и Сц/ср не показаны с целью выявления тонкой структуры фоиа. Понижение интенсивности в области низких энергий обусловлено поглощением в окне детектора. Резкий перепад в интенсивности фона при энергии около 9 кэВ о-бусловлен явлениями само-поглощения в образце из-за скачкообразного изменения коэф-. фициента массового поглощения меди при энергии, равной потенциалу возбуждения /С-серии меди. Однако значение интенсивности фона точки в месте края поглощения (8,979 кэВ) маскируется из-за расширения детектором пика Си ср. Здесь уместно указать, что при любой попытке применить методы подгонки с помощью ЭВМ для описания формы наблюдаемого [c.109]

    Непрерывное излучение, испускаемое мишенью по направлению к детектору, проникает сквозь бериллиевое окно толщиной обыч 0 8 мкм, поверхностный барьерный контакт ( 20 лм Аи) и деактивный слой 1 ремния, простирающийся в глубь детектора на 200 нм. Затем излучение попадает в активную (собственную) область детектора, толщина которой обычно составляет от 2 до 5 мм. При энергии, равной энергии М-края поглощения золота, влияние поглощения в слое золота обычно незначительно. Следовательно, влияние золота и бериллия, становящееся значительным при низких энергиях, можно описать с помощью эквивалентной толщины /ве, представляющей собой слой бериллия, который оказывал бы такое же влияние, как и золото с бериллием вместе. Потери яа поглощение в берилли евом о,мне, золоте, мертвом слое кремния и при прохождении через активную зону кремния можно поэтому рассчитать из выражения [c.113]


Смотреть страницы где упоминается термин Края поглощения: [c.137]    [c.138]    [c.202]    [c.202]    [c.203]    [c.203]    [c.203]    [c.214]    [c.86]    [c.87]    [c.222]    [c.222]    [c.223]    [c.240]    [c.255]    [c.267]    [c.267]    [c.268]    [c.288]    [c.51]    [c.105]   
Смотреть главы в:

Применение поглощения и испускания рентгеновских лучей -> Края поглощения


Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ том 2 (1984) -- [ c.222 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Границы и края поглощения

Дифференциальная абсорбциометрия по разные стороны от края поглощения. Метод скачка поглощения

Длина волны края поглощения

Длины волн и соответствующие им энергии Ni-краев поглощения

Длины волн и энергии краев поглощения

Длины волн краев поглощения элементов, расположенные в порядке возрастания

Длины волн линий рентгеновских эмиссионных спектров - и соответствующие им края поглощения

Значения массовых коэффициентов поглощения (ц р) элементов-поглотителей с высокоэнергетической стороны от К-края поглощения элементов-излучателей, используемые при расчете поправки на флуоресценцию, возбуждаемую непрерывным спектром

Край поглощения таблица длин волн

Край полосы поглощения

Края поглощения, расположенные по возрастающей длине волны

Наложения краев поглощения

Поглощение край полосы поглощения

Поглощение критический край

Поглощения край влияние на отношение аналитических линий

Поглощения край де Бройля

Поглощения край зависимость длины волны

Поглощения край линиями

Поглощения край отрицательный

Поглощения край положительный

Поглощения край при анализе растворов

Поглощения край связь с характеристическими

Поглощения край серебра и брома, эксперимент

Поглощения край химической связи

Применение рентгеновских спектров АГ-края поглощения в исследовании каталитически активных твердых тел ван Нордстранд Происхождение тонкой структуры

Рентгеновские лучи, геометрия с изогнутым кристаллом края полос поглощения

Рентгеновские эмиссионные связь с краями поглощения

Рентгенофлуоресцентная спектрометрия края поглощения

Скачки поглощения для К-, L- и М-краев

Скачок поглощения, дифференциальная абсорбциометрия по обе стороны края

Структура рентгеновских спектров поглощения в области основного К-края поглощения атомов в молекулах

Структура рентгеновского основного края поглощения атомов истинных металлов и переходных элементов

Тонкая структура растянутого края поглощения

Характеристические линии и края поглощения

Характеристические линии и края полос поглощения

Энергии краев поглощения, таблиц



© 2025 chem21.info Реклама на сайте