Прецизионные измерения параметров элементарной ячейки

ПРЕЦИЗИОННЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ЭЛЕМЕНТАРНОЙ ЯЧЕЙКИ [c.97]

Рис 2. Камера РК для фазового анализа и прецизионных измерений параметров элементарной ячейки (внутри камеры видна гониометрическая головка для юстировки и центровки образцов рядом с камерой находятся крышка камеры и ловушка). [c.122]

Рис. 4. Камера РКФ-86 для прецизионных измерений параметров элементарной ячейки поликристаллов (отдельно показана крышка камеры).

Рис. 5. Камера РКЭ для экспрессной съемки поликристаллов (показана установка узлов камеры для прецизионных измерений параметров элементарной ячейки).

Камера для прецизионных измерений параметров элементарной ячейки монокристаллов РКМ-114. Камера представляет собой модификацию камеры типа РКУ и позволяет исследовать монокристаллы с использованием отражений нулевой слоевой линии рентгенограмм колебаний. В конструкции камеры предусмотрены возможность осуществления произвольной установки необходимого положения кристалла и интервала колебаний и возможность изменения положения кристалла во время съемки для получения нескольких снимков на одной пленке. [c.28]

Камера для экспрессной съемки поликристаллов РКЭ. Камера предназначена для съемки поликристаллических образцов при прецизионных измерениях параметров элементарной ячейки или при фазовом анализе. Быстрота съемки обеспечивается применением фокусировки первичного пучка, исходящего непосредственно из фокуса рентгеновской трубки. При этом достаточно острая фокусировка осуществляется только для узкого интервала углов отражения. [c.31]

Универсальные камеры для прецизионных измерений монокристаллов и поликристаллов РКУ-86, РКУ-95, РКУ-114. Камеры предназначены для прецизионных определений параметров элементарной ячейки и приспособлены для работы как с монокристаллами, так и с поликристаллами. Они могут быть также использованы для фазового анализа поликристаллов. [c.30]

При решении целого ряда задач (определение типа твердых растворов н концентрации в них компонентов, величины коэффициента термического расширения и т. д.) измерения параметров элементарной ячейки должны быть выполнены с максимально возможной точностью. Необходимое условие для этого — минимальная погрешность при измерении углов отражения и межплоскостных расстояний, Существуют различные методы прецизионного измерения параметров элементарной ячейки. При исследовании высокосимметричных веществ для этой цели можно использовать, например, метод графической экстраполяции. Этот метод основан на том, что большинство систематических ошибок, приводящих к смещению дифракционных линий от положения, соотиетствующего истииному углу отражения, уменьшается ири увеличении угла О, Следовательно, для прецизионного измерения параметров решетки необходимо использовать линии с максимально возможными углами 0. Однако линии с углами 0>85° очень широки, что с1П1жает точность определения. Поэтому на практике для измерения используют линии с углами в области 6О°<0<84°, а затем результаты определения по этим линиям параметров решетки графически экстраполируют до значений, соответствующих углу 0 = 90°, что позволяет устранить или существенно уменьшить ошибки измерения. [c.97]

Основным дефектом синтетических аметистов, как, впрочем, и всех ромбоэдрических кварцевых кристаллов, выращиваемых из растворов карбоната калия, является трещиноватость. Длительное время массовое растрескивание аметистов во время выращивания и при охлаждении кристаллов препятствовало промышленному освоению методики синтеза. Широким распространением пользовалось мнение о том, что основной причиной растрескивания синтетических аметистов является гетерометрия. Этому в значительной степени способствовали результаты прецизионных измерений параметров элементарной ячейки кварцев с различными структурными примесями. Исследование несоответствия параметров в кристаллических слоях кварца с различным содержанием структурной примеси алюминия позволило установить причины растрескивания затравок в синтетических кристаллах. Было выделено два характерных морфологических типа трещин, вызванных, соответственно, напряжениями сжатия и растяжения. Зеркальные трещины сжатия рассекали затравку параллельными, пересекающимися под углом, близким к прямому, рядами и возникали при охлаждении сформировавшегося кристалла. Трещины разрыва имеют пилообразный профиль. В их полости между ребристыми поверхностями разрыва возможны двухфазные включения минералообразующей среды, что свидетельствует о нарушении сплошности кристалла во время его роста. [c.185]

Рентгеновские исследования осуществлялись по дебаеграммам, полученным на фильтрованном Со-излзгчении. Для фазового анализа рентгенограммы снимались в камерах РКД-57. Для прецизионных измерений параметров элементарной ячейки использовались рентгенограммы, пoJQrчeнныe в камере РКД-И4. Пленка заряжалась асиимехрв-чным образом по методу Штрауманиса. [c.135]

Камера-монохроматор для съемки поликристаллов КМСП. Камера-монохроматор служит для получения рентгенограмм с низким уровнем фона, предиазначепных для прецизионного фазового анализа и прецизионных измерении параметров элементарной ячейки на излучениях Сн, N1, Со, Ре. Монохроматизация излучения производится с помощью изогнутого кристалла кварца, шлифованного по плоскости (1011). Монохроматор и камеры-кассеты для фокусирующей рентгеносъемки конструктивно связаны и расположены в одном корпусе. [c.33]

Видно, что относительная ошибка в определении межплоскостного расстояния ls.d d стремится к нулю при приближении дифракционного угла д к 90°. Отсюда следует, что для проведения прецизионных измерений размеров элементарной ячейки необходимо использовать отражения под большими углами О, близкими к 90°. Однако далеко ле всегда и не для всех кристаллов, удается наблюдать отражения в прецизионной области углов. /- 75—85°, поэтому для прецизионных измерений параметров широко используют экстраполяционные методы обработки экспериментальных результатов с помощью введения различных экстг поляционных функций. [c.150]

Прецизионные измерения размеров элементарных ячеек поликристаллических образцов проводятся в камерах типа РКФ-86 (или КРОС-1). При необходимости проведения большого числа измерений такого рода и при условии, что характер образца не меняется при переходе от одной точки к другой, возможна экспрессная съемка камерой типа РКЭ. Прецизионные измерения параметров ячейки кристаллов ромбической, моноклинной и триклинной систем, а в сложных случаях и других систем не могут проводиться на поликристаллических веществах для этого необходимо исследование монокристаллов в камерах типа РКУ. [c.137]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология