Ориентация кристалла методом Лауэ

Возможности метода Лауэ не ограничиваются только определением симметрии кристалла и его ориентации. Он может быть использован для определения структуры кристалла, для изучения диффузного рассеяния и для ряда других задач [9]. Интересный пример применения метода Лауэ для установления ориентационных соотношений фаз, возникающих при распаде пересыщенных твердых растворов, приведен в работе [10. Авторы показали, что выявление и анализ элементов симметрии матрицы и фазы на лауэграммах монокристалла распавшегося сплава позволяют установить ориентационные соотношения между их кристаллическими решетками. Большим преимуществом этого метода является его экспрессность и наглядность. [c.153]

Монокристальные дифрактометры с энергодисперсионной системой регистрации отражений не получили широкого распространения, хотя использование не монохроматического, а белого спектра позволяет существенно упростить кинематическую схему дифрактометра. По существу, в таких приборах используется метод Лауэ каждый дифракционный луч содержит все порядки отражения от одной и той же серии плоскостей, но с разными длинами волн. Детектор-анализатор квантов по их энергии (частоте) позволяет разделить отражения разных порядков к при п=, Х/2 при (1=2 и т. д.) без изменения ориентации кристалла и детектора. [c.76]

Ориентации кристалла, заменив кристалл образцом, приготовленным из кристаллического порошка. Среди хаотически расположенных кристалликов образца попадутся безусловно и такие, ориентации которых будут удовлетворять одновременно всем трем условиям Лауэ. Дифракционные лучи с разными тройками индексов будут созданы кристалликами, ориентированными различным образом. Этот способ получения дифракционной картины носит название метода порошка или метода Дебая — Шеррера. [c.186]

Если пользоваться монохроматическим пучком лучей, дифракционные условия Лауэ удовлетворяются лишь при определенных ориентациях кристалла. При съемке по методу вращения кристалл проходит через различные такие положения, последовательно возбуждая вторичные лучи с различными дифракционными индексами. После каждого оборота на 360° ситуация повторяется. Пятна рентгенограммы возникают в результате попадания в одни и те же точки пленки большого числа повторных порций дифрагированных лучей. Поскольку вращение кристалла во время съемки производится вокруг одной определенной оси, кристалл проходит не через все возможные для него дифракционные положения. Следовательно, дифракционная картина, получаемая на одной рентгенограмме вращения, в принципе не может быть полной. [c.195]

В одной модификации метода Лауэ применяется монохроматическое рентгеновское излучение, и кристалл вращается. При этом отклонение происходит только при определенной.ориентации кристалла и отклоненные лучи отбрасываются под некоторыми оп 5е деле иными углами. [c.38]

Основной недостаток полихроматического метода связан с тем, что все дифрагируемые кристаллом лучи рдг имеют разную длину волны, а это означает, что интенсивности дифракционных лучей в этом методе зависят не только от структуры кристалла, но и от распределения интенсивности по X в спектре первичного пучка. Последнее к тому же зависит от режима работы рентгеновской трубки. Эта и ряд других особенностей полихроматического метода резко сужают его возможности Б структурном анализе. Фактически он используется в основном для решения одной из побочных (предварительных) задач рентгеноструктурного анализа —для определения ориентации кристаллографических осей в исследуемом монокристалле. Такая задача возникает, во-первых, в тех случаях, когда исследуется обломок кристалла, не имеющий правильного габитуса, и, во-вторых, в тех случаях, когда для повышения прецизионности исследования кристаллу путем обкатки придается сферическая форма (см. гл. IV, 1 и гл. V, 4). Именно неподвижное положение исследуемого образца в камере Лауэ и делает полихроматический метод незаменимым для решения этой задачи. Ориентация кристаллографических осей находится по определенным правилам на основе расположения дифракционных пятен на пленке . [c.68]

Метод Лауэ получил наибольшее распространение для определения ориентации монокристаллов, изучения их симметрии и степени совершенства их кристаллического строения, однако с его помощью успешно решаются и другие задачи структурной кристаллографии. В гл. VIII показано, как с помощью лауэграмм определяется симметрия кристаллов. [c.114]

Микродифракционная камера КРМД. Камера предназначена для исследования реальной структуры кристаллов в малых объемах следующими методами методом Лауэ для определения степени монокристалличности и ориентации кристаллических включений в шлифе, а также для исследования малых объектов, например нитевидных кристаллов методом Ланга при съемке неподвижных кристаллов для изучения дефектной структуры монокристаллических объектов малых размеров, например нитевидных кристаллов методом Дебая для локального фазового анализа микрообъектов в виде столбиков и проволочек, а также анализа включений в шлифе. [c.26]

Соединение I получено в кристаллической форме из дрожжевой ССР при реагировании кристаллического фермента, помещенного в маточном растворе в проточную ячейку, с находящейся в маточном растворе Н2О2. Реакция между ферментом и Н2О2, протекание которой регистрировалось с помощью спектров поглощения в видимой области (550—750 нм), почти полностью завершалась при 6° через несколько минут. После этого концентрация образовавшегося соединения I оставалась практически неизменной (90—95%) по крайней мере в течение получаса. Трехмерные структуры нативного фермента и его первого промежуточного производного расшифровывались методом Лауэ-кристаллографии с разрешением 2,2 А и / -факторами расходимости 15,8% (табл. 1.10 и 1.11). Кристаллические образцы имели размеры 0,4 0,4 1,0 мм . Использовалась полихроматическая синхротронная радиация время одной экспозиции составляло около 0,3 с. Всего было сделано четыре серии независимых экспериментов на четырех кристаллах при четырех различных ориентациях образцов (4 для нативного фермента и 4 для соединения I). При сопоставлении геометрии найденных структур авторы обнаружили изменения, вызванные переходом ССР в соединение I. Они коснулись только области активного центра, причем [c.152]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология