Дефекты вызванные излучением

Шероховатости, превышающие Vio длины волны (по разности высот между пиком и впадиной), заметно ухудшают акустический контакт. Уменьшается звуковое давление в направлении оси и к тому же сильнее проявляется боковое рассеяние. Из-за этого ухудшается точность локализации дефектов и возрастает опасность того, что боковые отражения будут имитировать дефекты на оси. Регулярные шероховатости, например риски от обточки, могут значительно усиливать боковое излучение под определенными углами как оптическая дифракционная решетка, что тоже может вызвать ошибочную локализацию дефектов. И наконец, сильно шероховатые поверхности действуют на падающую волну, как матовое или шероховатое стекло на свет луч рассеивается во все стороны, и локализация по нему уже невозможна. [c.327]

Электронно-дырочные инжекционные токи в полимерных диэлектриках исследованы значительно менее подробно по сравнению с ионными. Тем не менее, данные по таким токам для ряда полимеров [59, 60] позволяют сделать ряд важных заключений. Получить экспериментальную кривую / от т в режиме непрерывной инжекции с заметно выраженным максимумом тока представляется весьма затруднительным из-за плавного спада тока со временем даже при т Тп, что, возможно, вызвано наличием в полимерных диэлектриках глубоких ловушек для электронов, а это, в свою очередь, может быть связано [22, с. 103] со структурной неупорядоченностью (дефектами) полимеров. Поэтому для определения Тп и расчета у. по формуле (101) часто используют так называемый импульсный метод. Ионизирующим излучением в тонком приэлектродном слое б < Л создаются носители заряда в течение т Тп- Под действием приложенного напряжения тонкий слой заряда движется по нанравлению к коллекторному электроду, что вызывает появление имиульса тока, сила которого резко уменьшается до уровня темпового тока, когда движущийся заряженный слой достигает противоположного электрода, т. е. в момент времени т = Тп- Если сила тока при О < т Тп остается постоянной, то в диэлектрике имеются только мелкие ловушки. Снижение тока в указанном интервале свидетельствует в пользу наличия наряду с мелкими глубоких ловушек. [c.78]

Радиация 1фи больших дозах вызывает серьезные поражения тканей, а при малых может вызвать рак, индуцировать генетические дефекты, которые, возможно, проявятся у детей и внуков человека, подвергшегося облучению, или у его более отдаленных потомков. Основная масса населения наибольшую дозу получает от естественных источников радиации. Радиация, связанная с развитием атомной энергетики, составляет лишь малую долю радиации, порождаемой другими видами деятельности человека. Значительно большие дозы люди получают, например, от применения рентгеновского излучения в медицине. [c.134]

Мы уже видели, что непосредственным результатом поглощения излучения соответствующей длины волны является возникновение экситонов или свободных электронов и сопутствующих им положительных дырок. Наличие этих дефектов в кристаллической решетке может вызвать ряд вторичных явлений. Необходимо учитывать, что поглощение фотона приводит к увеличению общей энергии кристалла, который, находясь в возбужденном состоянии,. может использовать эту энергию различными путями. [c.90]

Термореактивные покрытия можно отверждать в камерах с конвекционным обогревом или непрерывным способом в туннельных печах. Наиболее современным и быстрым методом, пригодным специально для аминоформальдегидных лаков, является отверждение на конвейере при помощи инфракрасного излучения. В этом случае поверхность предмета нагревается до требуемой температуры гораздо быстрее, чем при конвекционном обогреве. Это позволяет нагревать покрытие за короткое время до очень высоких температур. Перед обогревом покрытие следует подсушить при низкой температуре для удаления воздуха и растворителя, пары которого при повышенной температуре могут вызвать возникновение пузырей и других дефектов. Применяются также индукционный обогрев и отверждение покрытий токами высокой частоты. [c.267]

Следует упомянуть и о других действиях излучений, приводящих к возникновению новых дефектов. Это прежде всего ядерные реакции, в результате которых в решетке появляются чужеродные атомы. Так, при облучении ZnS потоком нейтронов захватывает нейтрон с образованием радиоактивного Zn, который затем превращается в стабильный Си. При этом возникают центры инфракрасной люминесценции, чем доказывается их связь с ионом Си +. Кроме того, следует учитывать, что облучение люминофора мощным потоком электронов, поглощаемых тонки.м слоем вещества, может вызвать настолько сильный разогрев его, что происходит диффузия примесей с поверхности кристалла, куда они оттесняются при его росте. В результате появляются примесные центры. Если это явление не принять во внимание, то легко допустить [c.96]

Помимо конечной ширины щели, немонохроматичность светового потока может быть вызвана присутствием рассеянного света. Под рассеянным светом обычно понимают полихроматическое излучение, попадающее в кюветную камеру спектрофотометра в результате различных отражений и рассеяний в диспергирующей системе. К рассеянию света приводят, например, дефекты в призмах, зеркалах или диффракционных решетках, возникающие на оптических деталях в промышленной атмосфере налеты, пыль и т. п. [8]. Длины волн рассеянного света не ограничены каким-либо интервалом, как это имеет место для немонохроматического света, проходящего через широкую щель. Как правило, [c.8]

Хрусталик. Хрусталик удерживается на месте радиальными мышцами, стремящимися растянуть его, а также сфинктерной мышцей, расположенной вокруг основания радиальных мышц. Сфинктерная мышца снимает напряжение с хрусталика, представляющего собой полутвердое упругое тело, и позволяет ему вновь вернуться в исходное выпуклое состояние. Для того чтобы видеть близлежащие объекты с достаточно высокой резкостью, сфинктерная мышца при аккомодации глаза должна сократиться, позволяя хрусталику принять естественную выпуклую форму. При рассматривании удаленных объектов сфинктерная мышца при аккомодации глаза расслабляется и позволяет радиальным мышцам сделать поверхность хрусталика почти плоской. С возрастом вещество хрусталика постепенно теряет свою упругость, так что растягивающие радиальные мышцы на него не действуют. Так наступает время, когда нам для работы необходимы очки. Кроме того, с возрастом хрусталик желтеет, а иногда и столь сильно изменяется, что совершенно теряет свою прозрачность — наступает катаракта. Ее появление может быть вызвано и продолжительным облучением инфракрасными излучениями при работе у нагревательных или иных печей. По мере того как хрусталик мутнеет, все предметы в поле зрения воспринимаются как сквозь туман, и так до тех пор, пока глаз не перестает различать какие бы то ни было детали, а опознает предметы лишь по их цвету. Хирургическое удаление хрусталика возвращает возможность различения деталей, но для фокусировки изображения на сетчатке в этом случае требуются очень сильные очки илп контактные линзы. При этом, конечно, теряется аккомодация зрения. Как уже упоминалось, для оптической системы хрусталика глаза характерны два дефекта, известные под названием сферической и хроматической аберраций. Вследствие хроматической аберрации синие и фиолетовые лучи фокусируются в точке, расположенной ближе к хрусталику, чем точки, где собираются в фокус зеленые, желтые и красные лучи. [c.18]

При определении типа дефектов следует зо очнить, не вызвана ли аномалия на термограмме различием коэффициентов излучения участков поверхности, различием коэффициентов теплообмена по высоте или другими возможными обстоятельствами, чтобы не допустить ложного толкования результатов съемки. Во всех этих случаях требуется тщательный анализ, выполняемый квалифицированными специалистами, владеющими как тепловизионной аппаратурой и методикой съемки с ее помощью, так и методами проведения теплоаэродинамических расчетов в области газоотводящих труб. [c.232]

Указанные изменения толщины и плотности кристаллов вызваны, по мнению упомянутых авторов, образованием дефектов по Шоттки, концентрация которых достигает величины порядка 1,2- 10 Параллельные измерения среднего значения концентрации Р —центров в облученных образцах, проведенные при помощи известных оптических методов и вычисленные по формуле Смакулы, дали величину порядка 5.10 слг , которая меньше концентрации образованных под действием излучения дефектов по Шоттки. Такое расхождение, по-видимому, связано с одновременным обесцвечивающим действием рентгеновых лучей, вследствие чего полное заполнение вакантных уровней становится невозможным. [c.100]

Поскольку атомы активатора могут быть вытеснены в область дислокации, то часть центров свечения локализуется в этой области. Несимметричность окружения и ослабленность связей (уменьшение К в уравнении (I. 56)) может вызвать увеличение стоксова смещения, расширение полосы излучения и повышение вероятности внутреннего тушения. В то же время в некоторых случаях при сегрегации примесей в области дислокаций и межблочных границ наблюдалось усиление люминесценции. Так, у кристаллов Na l-Pb, Мп после отжига увеличивалась интенсивность свечения Мп-центров, расположенных вдоль линейных и поверхностных дефектов [50], что объясняется сближением при сегрегации атомов сенсибилизатора (РЬ +) и активатора (Мп +). Особый случай образования малораст- [c.131]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология