Фокусировка изображения

Несравненно более простое и удачное решение задачи о создании светосильных рентгеновских спектрографов было предложено через несколько лет после работы Дю-Монда и Киркпатрика, почти одновременно, Иоганном [2], Кошуа [3] и Хамошем [4]. Работы этих исследователей заложили основы этой новой области рентгеновского приборостроения. Каждый из упомянутых авторов предложил использовать для. фокусировки рентгеновских лучей в спектрографе изогнутые в специальных кристаллодержателях тонкие пластинки кристалла. При этом в методе, предложенном Иоганном, имелось в виду осуществление фокусировки лучей по схеме, аналогичной той, которая представлена на рис. 1, б. Поэтому в качестве отражающих атомных плоскостей кристалла предлагалось использовать плоскости, параллельные или почти параллельные плоскости изогнутого по цилиндру кристалла. В методе Кошуа была реализована схема фокусировки, изображенная на рис. 1,а. [c.10]

Итак, поток излучения от ячейки, проходящий через второй конденсор, одинаков как в схеме А, так и в схеме В. С другой стороны, согласно закону Лагранжа — Гельмгольца через определенное отверстие при ограниченной угловой апертуре пучка (в нашем случае это цилиндрическая ячейка) нельзя пропустить больший световой поток по сравнению с тем, который проходит через ячейку при заполненной апертуре и отверстии, заполненном изображением источника. Поэтому поток света от источника, проходящий через цилиндрическую ячейку, установленную в параллельном пучке (схема В), не может превышать потока, проходящего через ячейку при промежуточной фокусировке изображения источника (схема Л). [c.127]

Оптическая ось фотометрической части прибора дважды поворачивается под прямым углом призмами полного внутреннего отражения для более удобного и компактного монтажа прибора. Для уменьшения рассеянного света, попадающего на фотоэлемент, за конденсором установлена осветительная щель 3 с прозрачными зелеными ножами. Нижний микрообъектив 5 строит изображение этой щели на фотографической пластинке. Для фокусировки изображения объектив можно перемещать вдоль оптической оси. Верхний микрообъектив также может перемещаться вдоль оптической оси для фокусировки изображения спектра на экране. Обычное увеличение, даваемое этим объективом, 2Р. Можно сделать увеличение еще большим, до 30 если в световой пучок ввести одну или две рассеивающие линзы. Объек- [c.172]

Глаз — саморегулируемая система. Ее оптические недостатки в значительной мере компенсируются регуляторными механизмами, оптимизирующими работу глаза. Важнейшими пз них являются фокусировка изображения на сетчатке и регуляция количества света, попадающего на сетчатку. [c.462]

Фокусировка изображения на сетчатке производится посредством автоматического изменения радиуса кривизны хрусталика, т. е. посредством аккомодации. Управляющим устройством служит охватывающая хрусталик цилиарная мышца. Ее сокращение или расслабление возникает в ответ на дефокусировку изоб- [c.462]

Техника фотометрирования. Фотографическую пластинку устанавливают на предметном столике эмульсией вверх. С помощью установочных винтов добиваются такого положения пластинки, чтобы при ее перемещении не изменялась фокусировка изображения на экране. При перемещении предметного столика вдоль спектра изображение на экране не должно смещаться по высоте. Правильное положение фотографической пластинки находится последовательно для каждого перемещения, показанного на рис. 117. В качестве примера рассмотрим, как добиться, чтобы не происходила расфокусировка при переходе от одного спектра к другому. Фотографическую пластинку перемещают [c.194]

Так как для луп и микроскопов с большим увеличением глубина резкости уменьщается, проведение контроля с их помощью усложняется и требует большего времени для фокусировки изображения (поиска расстояния наилучшего видения). [c.240]

При измерении разностей показателей преломления стекол с одинаковой дисперсией источником света служит лампочка накаливания. Ее нить проектируется на щель коллиматора. Если фокусировка изображения нити выполнена правильно, то при [c.244]

Оптические свойства магнитного и электрического секторных полей обеспечивают так называемую фокусировку первого порядка по направлению (а). Если при этом положение изобран ения линии спектра, кроме того, не зависит в нервом приближении от вариаций в скоростях ионов (Р), то прибор, как говорят, имеет двойную фокусировку. Точно так же, как в оптике, все ахроматические линзы делаются из двух различных стекол, так и все масс-спектрометры с двойной фокусировкой имеют электрическое и магнитное поля. Сугцествует много различных способов комбинирования магнитного и электрического полей в простейшей из этих комбинаций магнитное поле следует за электрическим (секторный масс-спектрометр типа тандем ). В этом случае изображение щели источника ионов, образованное первым секторным полем, является объектом изображения для второго. Однако в любом случае разделение ионов по массам происходит только в магнитном поле. Введение электрического поля лишь улучшает фокусировку изображения, устраняя скоростные аберрации первого порядка в ряде случаев и аберрации второго порядка также могут быть сведены к нулю [4, 5, 6 . Вторым способом достичь двойной фокусировки является пространственное совмещение электрических и магнитных полей (масс-спектрометр с совмещенными полями) [7]. Третьим способом является сочетание наложенных однородных электрического и магнитного полей с объектом и изображением внутри поля траектории ионов в таком приборе представляют циклоиды (циклоидальный масс-спектрометр с совмещенными полями) [8]. Однако пока нет универсального прибора с двойной фокусировкой, пригодного для любых применений. [c.56]

Если глубина фокуса 1 мкм, то все точки объектов просвечивающего микроскопа, обычно имеющих толщину - 0,1 мкм, фокусируются. Более того, получается четкое изображение таких рельефных объектов, как реплики с поверхности излома. Большой глубиной фокуса объясняется известная конструктивная особенность фотокамеры электронного микроскопа флюоресцирующий экран, на котором проводится фокусировка изображения, расположен примерно на 1 см выше плоскости фотопластинки, регистрирующей изображение. [c.457]

Условия фокусировки изображения [c.95]

Для того чтобы получить правильные результаты при измерении почернений, каждый микрофотометр должен быть правильно установлен. Правила установки и юстировки приводятся в заводских описаниях, сопровождающих каждый прибор. Особенно при юстировке необходимо добиваться того, чтобы изучаемая фотопластинка находилась строго в горизонтальном положении. В противном случае при перемещении фотопластинки нарушается фокусировка изображения спектральных линий на экране и результаты измерений будут неправильными. [c.55]

Если требуется определять микроколичества каких-либо элементов в пробе, то рекомендуется для освещения щели использовать однолинзовый конденсор с фокусировкой изображения источника на щель прибора. Пробу вводят в разряд в этих случаях так, чтобы обеспечить ее полное выгорание за минимальное время. Например, 1 капля раствора, высушенная на поверхности угольного электрода сгорает за 15—20 сек. Фотоматериалы выбирают с максимальной чувствительностью для анализируемой области спектра и пологой характеристической кривой. [c.134]

Для освещения щели используют либо одну, либо три вспомогательные линзы. Однолинзовое освещение щели с фокусировкой изображения источника на щель рекомендуется при ана- [c.142]

Второй метод. В электронной трубке на пути электронов, покидающих электронную пушку, устанавливается передвижная сетка, пройдя которую, электроны попадают в исследуемую электронную линзу, а затем на флуоресцирующий экран. Измеряются напряжения на линзе, необходимые для фокусировки изображения сетки па экране при различных положениях сетки, а также линейное увеличение изображения. [c.191]

Из (1У.42) видно, что плоскость наилучшей фокусировки изображения входной щели сохраняет свое положение при разных Г только в том случае, если А = —/ /4, т. е. входная щель помещена в меридиональном астигматическом фокусе зеркала I. Тогда А = —т. е. выходная щель должна находиться в меридиональном астигматическом фокусе зеркала II. При этом [c.160]

Условия фокусировки изображения. Совместим начало О прямоугольной системы координат с вершиной поверхности вогнутой решетки и направим ось х по нормали к поверхности в точке О. Примем, что штрихи наносятся сечением поверхности вертикальными плоскостями, параллельными плоскости хОг. Тогда ось г направлена по касательной к штриху решетки в ее вершине (рис. 76). [c.207]

Рис. 77. Фокусировка изображения щели на окружности Роуланда

Пусть для некоторой пары значений углов ф и ф входная щель S находится на расстоянии d = уг от вершины решетки О (рис. 86, а). Фокусировка изображения в меридиональной (горизонтальной) плоскости осуществляется на расстоянии d = у г от решетки, причем величины у и у связаны соотношением (VI.8). На том же расстоянии d от решетки лучами, идущими в сагиттальном сечении, фокусируется изображение точки S, находящейся на расстоянии d от решетки, которое определяется из соотношения [c.238]

Фокусировка изображения стрелки производится ручкой /0 ручка И служит корректором гальванометра. [c.109]

Масс-спектрометр с двойной фокусировкой обеспечивает фокусировку но направлению и скоростям с помощью электрического и магнитного полей. Существуют различные способы комбипнроваиия магнитного и электрического полей в простейшей из этих комбинаций магнитное поле следует за электрическим. Введение электрического поля улучшает фокусировку изображения, устраняя скоростные аберрации первого порядка в ряде случаев и аберрации второго порядка могут быть сведены к нулю [51—53]. Вторым способом достижения двойной фокусировки является совмещение электрического и магнитного полей (масс-спектрометр с совме-н1енными полями) [54], третьим — сочетание наложенных однородных электрического и магнитного полей с объектом и изображением внутри поля (циклоидальный масс-спектрометр с совме1цен1п>1ми полями) [55]. [c.32]

Схема Онака. Для упрощения механизма фокусировки изображения в монохроматорах при значительных углах падения и дифракции, по предложению Онака [9], может быть применено вращение решетки вокруг оси, не проходящей через ее вершину, аналогично схеме Джонсона в монохроматорах нормального падения. Если в начальном положении, для некоторых углов ф и ф, щели и Sa и решетка размещены на круге Роуланда, то ось вращения С должна находиться на продолжении хорды GM, соединяющей вершину решетки с точкой М, которая является серединой дуги. SiOSg (рис. 83, в). Расстояние G равно [c.236]

Включают разряд. По дисперсионной кривой выводят в окуляр стилоскопа рабочую область спектра (линии кремния SiH 634,701 и Sill 637,109 нм). Наблюдения спектра выполняют при резкой фокусировке изображения источника на щель стилоскопа. [c.105]

Хрусталик. Хрусталик удерживается на месте радиальными мышцами, стремящимися растянуть его, а также сфинктерной мышцей, расположенной вокруг основания радиальных мышц. Сфинктерная мышца снимает напряжение с хрусталика, представляющего собой полутвердое упругое тело, и позволяет ему вновь вернуться в исходное выпуклое состояние. Для того чтобы видеть близлежащие объекты с достаточно высокой резкостью, сфинктерная мышца при аккомодации глаза должна сократиться, позволяя хрусталику принять естественную выпуклую форму. При рассматривании удаленных объектов сфинктерная мышца при аккомодации глаза расслабляется и позволяет радиальным мышцам сделать поверхность хрусталика почти плоской. С возрастом вещество хрусталика постепенно теряет свою упругость, так что растягивающие радиальные мышцы на него не действуют. Так наступает время, когда нам для работы необходимы очки. Кроме того, с возрастом хрусталик желтеет, а иногда и столь сильно изменяется, что совершенно теряет свою прозрачность — наступает катаракта. Ее появление может быть вызвано и продолжительным облучением инфракрасными излучениями при работе у нагревательных или иных печей. По мере того как хрусталик мутнеет, все предметы в поле зрения воспринимаются как сквозь туман, и так до тех пор, пока глаз не перестает различать какие бы то ни было детали, а опознает предметы лишь по их цвету. Хирургическое удаление хрусталика возвращает возможность различения деталей, но для фокусировки изображения на сетчатке в этом случае требуются очень сильные очки илп контактные линзы. При этом, конечно, теряется аккомодация зрения. Как уже упоминалось, для оптической системы хрусталика глаза характерны два дефекта, известные под названием сферической и хроматической аберраций. Вследствие хроматической аберрации синие и фиолетовые лучи фокусируются в точке, расположенной ближе к хрусталику, чем точки, где собираются в фокус зеленые, желтые и красные лучи. [c.18]

Переносные микроскопы имеют упрощенную конструкцию и устанавливаются непосредственно на контролируемый объект. Их увеличение невелико (обычно не более 100), а габариты гораздо меньше серийных микроскопов, что определяет удобство их применения. Перекосные микроскопы позволяют обнаруживать дефекты, определять их размеры и глубину залегания, производить измерения других геометрических характеристик. Толщина прозрачных и полупрозрачных покрытий и глубина залегания дефектов в таких изделиях могут быть определены методом фокусировки изображения. Для этого сначала фокусируют микроскоп на поверхность изделия и запоминают показание отсчетного устройства на ручке фокусировки, а затем ее фокусируют на изображение элементов основания и отмечают показание отсчетного устройства. Определив разность перемещения объектива в направлении изделия, с учетом коэффициента преломления можно рассчитать толщину покрытия или расстояние до дефекта. Фокусировка на внешнюю границу прозрачного изделия в большинстве случаев осуществляется легко, поскольку даже хорошо отполированная поверхность является шероховатой и на микрозыступах или впадинах происходит рассеяние света. Если рассеяние невелико и фокусировка на внешнюю поверхность затруднена, можно слегка загрязнить поверхность каким-либо мелкодисперсным материалом, например графитом мягкого карандаша, что повысит достоверность отсчета. Фокусируя микроскоп на разные части дефекта, можно оценить его протяженность. [c.245]

Анализатор изображения (телевизионная камера, фотодиодный датчик и т.п.) состоит из оптической системы и фотодетектора. Оптическая система включает обычно объектив для фокусировки изображения объекта на фотоприемник или преобразователь изображения, а также вспомогательные элементы (фильтры, дефлекторы или сканаторы, модуляторы, световоды и т.п.), аналогичные упомянутым выше при анализе схемы осветителя. [c.489]

В [258] оптическая система размещается на двух стальных балках длиной около 3 м, которые прикрепляются к трем бетонным колоннам. Весь блок (общим весом около 400 кг) отделяется от пола резиновыми прокладками с целью гашения возможных вибраций. Вся оптическая система помещается хюд рамку, обтянутую черной тканью. Согласно [258], эксперимент проводится следующим образом. Диффузионная ячейка промывается сильной струей дистиллированной воды и вьшу-шивается воздухом. Вспомогательные сосуды, в которых должны содержаться исследуемые растворы, также промываются водой, а затем теми растворами, которые они должны содержать в течение опыта. После этого указанные сосуды заполняются исходными растворами и прогреваются в термостате в течение 2 ч до установления термического равновесия. Затем менее плотное вешество (растворитель) подается в ячейку сверху (рис. 2.2.7, /), более плотное (содержащее диффундирующее вешество) — снизу (2). Поднятием уровня плотного раствора устанавливают границу раздела жидкостей на том же уровне, что и щель ячейки 3, скорость истечения растворов из щели поддерживается не более 3 см /мин, что позводяет предотвратить турбулизацию границы раздела. После установления границы раздела свет из горизонтальной щели проходит через ячейку, и яшза 5 (рис. 2.2.6) настраивается для фокусировки изображения на экране (фотопластинках). После этого истечение раствора постепенно прекращают и при его окончательном закрытии включают часы. Примерно через 300 с интерференционная картина появляется на экране, который заменяется фотопластинками. Интерференционные полосы на проявленных фотографических пластинках измеряются прецизионным отсчетпым микроскопом с точностью до 5 мкм. [c.844]

Предлагались и другие схемы монохроматоров с вогнутой решеткой [5]. Схемы с установкой щелей и решетки на круге Роуланда неудобны тем, что при регистрации спектра меняются направления пучков, а при углах падения и дифракции порядка 30—45° становятся ощутимыми аберрации, прежде всего астигматизм. В автоколлимационной схеме Игля направления пучков при сканировании не меняются, но в ней, особенно в ее вертикальном варианте, в отличие от схемы Сейя — Намиока, нужен довольно сложный механизм для фокусировки изображения и сканирования спектра. [c.105]

С целью расширения квазистигматической области установок с фокусировкой изображений щели на круге Роуланда можно поместить один или оба когерентных источника не на круге Роуланда, выбрав их положения так, чтобы аберрации в данной схеме были минимальны [17, 24]. Но ввиду ограниченного выбора длин волн Я-о возможности одновременной коррекции астигматизма и других аберраций в заданной области спектра у голографических решеток не столь широки, как у нарезных решеток с криволинейными штрихами. [c.119]

Таким образом, схема Игля, особенно ее вертикальный вариант, в отличие от схемы Сейя—Намиока требует довольно сложного механизма для фокусировки изображения и сканирования спектра. Единственное ее преимущество — меньший астигматизм. [c.236]

Такой способ сканирования прост, но обеспечивает хорошую фокусировку изображения лишь в неширокой области длин волн. Например, при г = I м, N = 1200 мм в 1-м порядке рабочий спектральный диапазон не превышает 100 нм. Другим недостатком схемы Онака является изменение направлений пучков лучей при вращении решетки. [c.236]

Операции по юстировке шлирен-системы (и системы Рэлея) подробно описаны Ли Гроппером [11]. Особенно тщательная настройка оптики требуется при применении метода Арчибальда. Если изображение щели-источника плохо сфокусировано по фазовой пластинке, это может вызвать смещение базальной линии на седиментацион-ной диаграмме. При неправильной фокусировке изображения ячейки на экране фотокамеры могут возникать искривленные пики. На ранее приведенной схеме показана только одна шлирен-линза. Обычно, однако, ставятся две линзы — по обе стороны ячейки — так, чтобы через нее проходили параллельные лучи. [c.49]

При измерении разностей показателей преломления стекол с одинаковой дисперсией источником света служит лампочка накаливания. Ее нить проецируется на щель коллиматора. Если фокусировка изображения нити выполнена правильно, то при раскрытии щели на 0,03—0,05 мм центральная часть поля зрения оказывается освещенной равномерно. Перед началом измерений, до того как образец вставлен в оправу, проверяют положение нулевой точки компенсатора, отвечающей, как уже было сказано, ахроматичности и симметричному расположению внутритеневой полосы. Затем устанавливают образец в держателе прибора так, чтобы выступающие части более длинной половины плотно прилегали к упорам держателя (короткая половина должна находиться между упорами). Если окажется, что дифракционные картины образца и компенсатора совмещены неточно, то корректировку установки образца можно произвести при помощи винта 4 (рис. Х1.27). [c.210]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология