Изогнутые кристаллы на прохождение

Вырезанная таким образом пластинка может быть использована как в приборах, работающих на отражение , так и для работы на прохождение . Это, как известно, позволяет [67] построить универсальный спектрограф с изогнутым кристаллом, перекрывающий область длин волн от 800 До 2500 X. В жесткой области спектра отражающий кристалл спектрографа используется по схеме на прохождение , в длинноволновой — на отражение . [c.87]

Изогнутые кристаллы обычно называют фокусирующими кристаллами, и их применяют д,1Я получения максимальной светосилы рентгеновских спектрографов. Изогнутые кристаллы работают как па отражение, так и па прохождение, и рентгеновское излучение точечного или линейного источника разлагается в линейчатый спектр. Принцип действия изогнутых кристаллов аналогичен принципу действия вогнутых дифракционных решеток в оптической спектроскопии. [c.212]

Аналогичные соотношения имеют место и для спектрографа, работающего на прохождение . В силу специфики метода, однако, в формулу фокусировки входит толщина кристалла Л, а входящий в формулы угол отражения 0 относится к плоскостям, почти перпендикулярным к изогнутой поверхности кристалла. [c.28]

Методы изготовления кристаллов, использованных для посадки на оптический контакт на цилиндрическую поверхность кристаллодержателя, мало отличались от тех, которые используются при изготовлении кристаллов малых размеров (см. след, параграф). Необходимость внесения некоторых изменений в технологию изготовления ориентированных кристаллических пластин в рассматриваемом случае вызывалась главным образом уменьшением толщины пластин, которая была доведена до 0,1 мм. В связи с этим полировка одной из поверхностей кристалла и доведение его толщины до указанной величины проводились после посадки кристалла на оптический контакт на плоско-параллельное стекло. Следует заметить, что малая толщина кристаллических пластин несколько затрудняет их изготовление и изгиб на изогнутой поверхности кристаллодержателя. Однако в спектрографах, работающих на прохождение , это окупается дополнительным выигрышем в интенсивности спектральных линий, к которому приводит уменьшение толщины отражающего кристалла. [c.72]

Метод Кошуа. В отличие от предыдущих методов, где кристалл работает на отражение, в методе Кошуа использовано свойство изогнутого кристалла фокусировать излучения при их прохождении через кристалл, т. е. фокусировка в проходящем свете. Если этот метод совершенно неприменим для определения легких элементов (длинноволновое излучение значительно поглощается кристаллом), то он весьма эффективен при определении тяжелых (см, блок-схему анализатора ФРА-1М). [c.208]

Во всех предыдущих методах кристалл работает на отражение. В методе Кошуа использовано свойство изогнутого кристалла фокусировать излучение при его прохождении через кристалл (рис. 8). Сходящийся пучок рентгеновских лучей с длиной волны Ль для которых углы падения и отражения по закону Вульфа — Брегга равны фь падает на изогнутый по радиусу R кристалл-анализатор с его выпуклой стороны и отражается от атомных плоскостей, расположенных веерообразно под прямым углом к поверхности кристалла. После отражения лучи фокусируются на щелевом устройстве 6 детектора 7 на пересечении круга Роуланда 9, касающегося кристалла 4 с вогнутой стороны в его центре, с кругом 8, радиус которого определяется углом Вульфа — Брегга и равен R siTKfi. Прошедшие [c.39]

Принцип этой установки (но Кошуа) ясен из рис. 8,в. Изогнутый по цилиндрической поверхности кристалл применяют для фокусировки рентгеновских лучей, прошедших через кристалл. Плоскости кристалла перпендикулярны его поверхности. Радиус кривизны кристалла также равен диаметру круга Роуланда. Шлифовка кристалла для этой установки не требуется. Такой спектрометр можно использовать двумя путями либо для фокусировки расходящегося пучка рентгеновских лучей от большой пробы в линию на круге Роуланда (от В к А) или, наоборот, для получения луча, расходящегося из точки (от А к В). Основное преимущество установки, работающей на прохождение, заключается в облегчении измерений при очень малых углах Брэгга. Существуют различные доступные механические устройства для установки изогнутых кристаллов опи описаны в работах Сапдстрома [c.213]

Глава 2. Получение и измерение рентгенограмм. 2-1. Оборудование рентгеновских лабораторий (рентгеновские установки, рентгеновские трубки и кенотроны, рентгеновские камеры, микрофотометры). 2-2. Получение сфокусированных линий. 2-3. Методы исследования превращений и состояния кристаллической решетки при высоких и низких температурах. 2-4. Фотографический метод регистрации (режимы съемки рентгенограмм некоторых металлов, номограмма для установки рентгеновских камер обратной съемки, номограмма для установки рентгеновских камер экспрессной съемки). 2-5. Ионизационный метод регистрации (свойства счетчиков излучения, поглощение рентгеновских лучей в счетчиках Гейгера — Мюллера, эффективность различных типов счетчиков излучения). 2-6. Селективно-пог.чощающие фильтры. 2-7. Характеристики кристаллов-монохроматоров (характеристики отражения и свойства кристаллов-монохроматоров, отражательная способность кристаллов-монохроматоров, оптимальная толщина кристаллов-монохроматоров при съемке на прохождение, свойства плоских кристаллов-монохроматоров, углы отражения для изогнутых кристаллов-монохроматоров). 2-8. Параметры съемки с изогнутым кварцевым монохроматором. 2-9. Измерение положения дифракционных линий на рентгенограммах (определение угла скольжения при съемке на плоскую пленку, поправка на нестандартность диаметра рентгеновской камеры, поправка на толщину образца, поправка на эксцентриситет образца в рентгеновской камере). 2-10. Измерение интенсивности (число импульсов, нужное для получения заданной вероятной ошибки на ионизационной установке, поправка на статистическую ошибку счета, поправка иа размер частиц для неподвижного образца, поправка на размер частиц при вращении образца, поправка на просчет счетчика). 2-11. Междублетные расстояния. 2-12. Некоторые данные для расчета лауэграмм (сетка для расчета лауэграмм, снятых методом обратной съемки, сетка для расчета лауэграмм, снятых на прохождение, вспомогательная таблица для построения проекции кристалла по лауэграмме). 2-13, Определение ориентировки крупных кристаллов в поликристаллических образцах. [c.320]

Кристаллы естественного рубина могут содержать тонкие иголки рутила, а для очень высоко ценящихся рубинов из района Могок в Бирме характерен шелк — масса тонких пересекающихся каналов, которые рассеивают свет при прохождении его через кристалл. Легко определяются рубины, выращенные методом плавления в пламени, поскольку они характеризуются изогнутыми полосами и мелкими пузырьками газа, которые отмечал еще Вернейль. Пузырьки, содержащие газообразный водород из кислородно-водородного пламени, могут быть сферической формы или имегь небольшие хвосты, напоминающие головастиков. [c.149]

Второй канал микроанализатора представляет собой коротковолновый (невакуумный) спектрометр для анализа элементов от Реге до М042 и от Н 72 до ида. Изогнутый по радиусу 300 мм монокристалл кварца (1010), фокусирующий по схеме Дю-Монда на прохождение , и детектор — сцинтилляционный счетчик (ФЭУ-35 с кристаллом ЫаЛ(Т1)) обеспечивают более высокую чувствительность анализа тяжелых элементов. [c.72]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология