Кошуа метод

Несравненно более простое и удачное решение задачи о создании светосильных рентгеновских спектрографов было предложено через несколько лет после работы Дю-Монда и Киркпатрика, почти одновременно, Иоганном [2], Кошуа [3] и Хамошем [4]. Работы этих исследователей заложили основы этой новой области рентгеновского приборостроения. Каждый из упомянутых авторов предложил использовать для. фокусировки рентгеновских лучей в спектрографе изогнутые в специальных кристаллодержателях тонкие пластинки кристалла. При этом в методе, предложенном Иоганном, имелось в виду осуществление фокусировки лучей по схеме, аналогичной той, которая представлена на рис. 1, б. Поэтому в качестве отражающих атомных плоскостей кристалла предлагалось использовать плоскости, параллельные или почти параллельные плоскости изогнутого по цилиндру кристалла. В методе Кошуа была реализована схема фокусировки, изображенная на рис. 1,а. [c.10]

В MP применяются, в основном, фокусирующие монохроматоры с изогнутыми кристаллами-анализато-рами, причем каждый юстируется изготовителем на определенную длину волны и тем самым настраивается на определенный элемент. Используются схемы разложения в спевстр по методу Иоганна, Иоганссона, Кошуа или с помощью кристалла, изогнутого по логарифмической спирали. [c.14]

Раньше существовало мнение, что образование химической связи оказывает влияние только на внешние электронные уровни, поскольку в связанном состоянии изменяются лишь положение и форма края поглощения или испускания, связанного с этим уровнем. Однако в действительности любые изменения во внешнеэлектронной конфигурации сопровождаются изменениями более глубоких атомных уровней, поскольку энергия ионизации электрона существенно зависит от экранирующего влияния всех остальных электронов, какими бы ни были их волновые функции. В частности, это было установлено Кошуа [21] в связи с расчетами энергии ионизации ионов с различной электронной конфигурацией, выполненными по методу самосогласованного поля Хартри — Фока [22, 23]. Энергия ионизации должна изменяться приблизительно на одну и ту же величину для каждого внутреннего уровня. Поэтому соответствующие смещения атомных спектральных линий очень малы и их трудно обнаружить. Спектрографическая аппаратура высокого разрешения позволила зафиксировать небольшие смещения наиболее интенсивных линий при изменении степени окисления, однако этот эффект заметен только в случае самых легких элементов. Вообще энергия внутренних уровней зависит от пространственного распределения электронного облака, которое окружает излучающий атом. Поэтому положение атомных линий связано и с гибридизацией валентных орбиталей, и с ковалентным характером связей, и с типом координации. Приведем несколько примеров. [c.125]

Противоречивые результаты были получены различными экспериментаторами при применении спектроскопии, магнитных методов, рентгеновского анализа и т. д. Кошуа [32] и Фридель [33] предполагают, что в тяжелых металлах Th, Ра, U состояния f и d являются гибридными. Боровский и Баринский, изучавшие тонкую структуру адсорбционного спектра серии М и эмиссионный спектр рентгеновских лучей, сделали вывод, что в нитрате и твердой двуокиси тория электрон / находится в состоянии слабого возбуждения, в то время как для UO3 уровень / для урана накладывается на уровни 6d и 7р [34]. С другой стороны, результаты измерений коэффициента поглощения рентгеновских лучей растворами Th, U и Pu с учетом постоянного экраниро- [c.140]

В СОИР систематические исследования содержания гафния в циркониевом сырье рентгеноспектральным методом начали И. Б. Боровский и М. А. Блохин [771. Вследствие малой доступности и дороговизны лютеция авторы предложили использовать в качестве элемента сравнения тантал. Анализ проводился по методу Кошуа [78], в качестве изогнутого кристалла брали кварц, плоскости (100) которого были перпендикулярны к пучку рентгеновских лучей. Радиус изгиба кристалла равен 1 м, толшина кристалла — 0,23 мм, длина фокусного пятна — 27 мм. В интервале 8° получался довольно интенсивный спектр. [c.435]

Для количественного определения гафния И. Б. Боровский и М. А. Блохин [77] применили два приема. Первый использовался при определении гафния в количестве более 1 % и состоял в следующем. При анализе по методу Кошуа на спектрографе Ингельстама рентгеновские лучи поглощаются в кристалле и в слое воздуха толщиной около 1 м. Это поглощение тем больше, чем больше длина волны спектральной линии, поэтому было выгодно пользоваться самой короткой из названных линий -серии гафния — 71- Сравнивая относительные интенсивности линий Н (к П76,56 Х ) и Та1у, (X = 1135,64 Х ) и зная содержание добавленного для анализа тантала, можно определить количество гафния. Так как интенсивность линии гафния очень мала (примерно 9% от интенсивности а,), то ее можно использовать при относительно большом содержании гафния (более 1%) в анализируемом объекте. [c.436]

При использовании метода Кошуа линии резко ограничены с длинноволновой стороны, а ширина их с коротковолновой стороны растет с увеличением угла Вульфа-Брегга. [c.64]

В методе Кошуа [127] сходящийся пучок проходит сквозь тонкий цилиндрически изогнутый кристалл, отражающие пло- [c.133]

Рис. 49. Схема спектрографа с кристаллом, изогнутым по методу Кошуа (дефокусировки для Лг и Ai примерно равны, хотя для Aj использована меньшая площадь кристалла)

Для целей рентгеновской спектроскопии метод Кошуа имеет тот существенный недостаток, что при прохождении через кристалл рентгеновский пучок в значительной мере ослабевает. Поэтому данный метод должен быть исключен для пучков рентге.- [c.136]

Метод Кошуа. В отличие от предыдущих методов, где кристалл работает на отражение, в методе Кошуа использовано свойство изогнутого кристалла фокусировать излучения при их прохождении через кристалл, т. е. фокусировка в проходящем свете. Если этот метод совершенно неприменим для определения легких элементов (длинноволновое излучение значительно поглощается кристаллом), то он весьма эффективен при определении тяжелых (см, блок-схему анализатора ФРА-1М). [c.208]

Во всех предыдущих методах кристалл работает на отражение. В методе Кошуа использовано свойство изогнутого кристалла фокусировать излучение при его прохождении через кристалл (рис. 8). Сходящийся пучок рентгеновских лучей с длиной волны Ль для которых углы падения и отражения по закону Вульфа — Брегга равны фь падает на изогнутый по радиусу R кристалл-анализатор с его выпуклой стороны и отражается от атомных плоскостей, расположенных веерообразно под прямым углом к поверхности кристалла. После отражения лучи фокусируются на щелевом устройстве 6 детектора 7 на пересечении круга Роуланда 9, касающегося кристалла 4 с вогнутой стороны в его центре, с кругом 8, радиус которого определяется углом Вульфа — Брегга и равен R siTKfi. Прошедшие [c.39]

Из-за недостаточного разрешения в области больших углов и значительного поглощения длинноволнового рентгеновского излучения кристаллом-анализатором метод Кошуа непригоден для определения легких элементов, но он эффективен при определении тяжелых элементов. Простейшим способом повышения светосилы фокусирующих спектрометров является уменьшение [c.40]

Для искусственного повышения контрастности спектра и уменьшения вредного влияния непрерывного фона рентгенограммы М. Блохин [64], а позднее Холубей и Кошуа [83] предложили метод, основанный на использовании различий в пространственном распределении интенсивности излучения, соответствующего линиям характеристического спектра и непрерывному излучению. Известно, что излучение характеристического спектра не поляризовано и распространяется во всех направлениях с равной интенсивностью. В противоположность этому поляризованное излучение непрерывного спектра обладает наибольшей [c.106]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология