Дипольный момент приборы для определения

Тот же эффект лежит в основе метода молекулярного пучка. Этот метод применялся ранее для определения дипольных моментов соединений типа галогенидов щелочных металлов, не растворимых в неполярных растворителях. Используемый прибор являлся попросту модификацией того, на котором проводился опыт Штерна — Герлаха (стр. 51). Недавно этот метод был значительно уточнен путем использования микроволнового поля, индуцирующего переходы между возможными ориентациями полярных молекул. При резонансной частоте, которая связана с дипольным моментом, молекулы отклоняются и след на экране становится значительно слабее. [c.369]

Обычно предпочитают приобрести готовый мостик и не тратить время и средства на конструирование самодельного прибора, который может оказаться к тому же неудовлетворительным. Для определения дипольных моментов не очень пригодны выпускаемые промышленностью приборы они страдают тем недостатком, что [c.25]

Шкала С , калибруется так, что прибор непосредственно показывает электропроводность (обр. ом) при частотах 1, 3, 10 и 30 Мгц. В большинстве определений дипольного момента электропроводность обычно незначительна и ею можно пренебречь. [c.28]

Работа с подобным же прибором [33] показала, что настройка контура обнаруживает со временем некоторое смещение. Двухчасовой прогрев прибора уменьшает это смещение до величины менее 0,5% измеряемой емкости. Точность измерений малых диэлектрических проницаемостей (какие обычно встречаются при определении дипольных моментов) достигает единицы в третьем десятичном знаке. Работу прибора можно перевести на автоматическую запись, присоединив к анодному контуру лампы 6Е5 однополюсное двухпозиционное реле с соответствующим приспособлением для регистрации отсчета емкости. Реле переключает (с прямого хода на обратный) реверсивный мотор, совершающий [c.32]

Принцип измерения диэлектрической проницаемости. Экспериментальное определение дипольных моментов может быть выполнено путем измерения диэлектрической проницаемости растворов и чистых жидкостей. Для этой цели применяются диэлькометры различной конструкции. В лабораторном практикуме достаточно надежные результаты могут быть получены с помощью прибора для измерения межэлектродных емкостей Е8-1. Принцип измерения основан на применении мостовой схемы, изображенной на рис. 13. Схема состоит из конденсатора переменной емкости С , эталонного конденсатора С2, сопротивлений и конденсатора переменной емкости С, подключенного параллельно сопротивлению i 2 [c.54]

Мы рассмотрели понижение симметрии, вызванное локальным полем в определенном месте. Теперь надо учесть тот факт, что может иметь место взаимодействие между различными молекулами элементарной ячейки, т. е. мы должны перейти к фактор-групповому анализу [108]. Он включает в основном рассмотрение координат симметрии элементарной ячейки [уравнение (7)]. Построение этих координат симметрии полностью аналогично построению координат симметрии молекулы из ее внутренних координат. В рассматриваемом примере внутренними координатами являются нормальные координаты молекул в четырех местах ячейки. Симметрией, которую нужно использовать, является, конечно, симметрия фактор-группы. Таблица корреляций дает следующий результат каждому колебанию типа Аи молекулы, находящейся в выбранном месте, будут соответствовать четыре колебания элементарной ячейки, по одному каждого из типов Аш, Вы, Вги. и 5за. Таким же образом каждое колебание типа Ag дает четыре колебания элементарной ячейки симметрии Aig, Big, Bzg и Bag. Из этих колебаний элементарной ячейки те колебания, которые входят в класс Biu с дипольным моментом перехода, параллельным оси с, будут активны в инфракрасном спектре и так далее. Если продолжить рассмотрение в качестве примера колебания Vjg ( lu), которое неактивно в спектре газовой фазы, но активно в спектре кристалла, то оно расщепляется на четыре колебания элементарной ячейки типов Ац, В , Вчи. и В ,, из которых три последних будут активны в инфракрасном спектре. Хотя всего насчитывается Nt колебаний кристалла, возникающих из колебания 12, однако активны в спектре только эти три колебания. Колебание еы), активное и вырожденное в спектре газа, активное и дающее дублет в приближении локальной симметрии, расщепляется далее на четыре колебания в каждом компоненте дублета, или всего на восемь колебаний. Из этих восьми колебаний шесть (2Вы, 2В211, 2Взи) активны в инфракрасном спектре. Вновь следует подчеркнуть, что величины расщеплений не могут быть предсказаны из рассмотрения симметрии. При этом может наблюдаться случайное вырождение, если ширина щели прибора или естественная ширина линий превышают расстояние между линиями. [c.586]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология