Масс-спектрометрия вторичных ионов статическая

Метод времяпролетной масс-спектрометрии применяли [1743] для анализа летучих продуктов, образующихся в процессе механической деструкции полиметилметакрилата. Масс-спектрометрию также использовали [1744] при изучении фотолиза полиметилметакрилата. В работе [1745] при помощи статической масс-спектрометрии вторичных ионов изучали гомологические серии полиалкилметакрилатов и получили характеристические спектры, позволяющие идентифицировать отдельные гомологи. [c.349]

На рис. 10.3-8 показана конфигурация прибора для проведения статической МСВИ. Работающий в импульсном режиме пучок ионов Ar" " мощностью около 10 ионов на импульс и обеспечивающий около 10 ООО импульсов в секунду с шириной импульса менее 1 не бомбардирует довольно большую область (10-1000 мкм в диаметре). При плотности ионов первичного пучка 10 -10 ион/см - с лишь очень малая часть атомного слоя удаляется в течение анализа. Вторичные ионы анализируют при помощи времяпролетного (ВП) масс-спектрометра высокого разрешения (М/АМ < 10 ООО), характеризующегося очень высоким пропусканием ( 20%), что является основой точного определения масс с низкими абсолютным пределами обнаружения, необходимыми для анализа монослоев. [c.358]

Однако у разных типов ионных источников имеются общие черты. Как правило, ионизация нейтральных молекул анализируемого газа производится бомбардировкой медленными электронами. Другие способы ионизации Л. 19] в масс-спектрометрах с простой фокусировкой не применяются вследствие большого разброса по энергиям возникающих ионов. Образовавшееся ионное облако подвергается действию электрических и магнитных полей с целью придания ионам заданных скоростей. Ускоренные частицы попадают в лишенное электрических полей пространство дрейфа, где летят по инерции. Однако часть ускоренных частиц (иногда довольно значительная) бомбардирует электроды ионного источника, причем на поверхности последних происходят определенные физикохимические процессы (вторичная эмиссия, образование полупроводниковых пленок и т. д.). Указанные процессы являются общими для ионных источников различных типов. Поэтому удобно подробно их рассмотреть на конкретном примере ионного источника статического масс-спектрометра как одного из наиболее сложных и совмещающего в себе все характерные рабочие процессы. [c.77]

Для всех исследуемых веществ в статическом режиме были получены масс-спектры положительных и отрицательных ионов. Характерные особенности полученных масс-спектров можно сформулировать следующим образом 1) почти все исследованные вещества дают протонированные молекулярные ионы (М-ьН)- - и ионы (М—Н) , по которым можно легко определить молекулярную массу соединения 2) интенсивные пики дают ионы (М—0Н)+, (М—С1)+ 3) в масс-спектрах всех веществ наблюдаются характерные пики осколочных ионов, соответствующие различным функциональным группам например, фенильные радикалы дают ионы СеН5+, пиридильный радикал — ион 5H4N- и т. д. В качестве примера на рис. 7.9 приведены вторично-эмиссионные масс-спектры положительных и отрицательных ионов фенилаланилглицина и атропина. Эти исследования показывают, что вторично-эмиссионная масс-спектрометрия является очень эффективным методом для идентификации различных веществ биологического происхождения без предварительной химической модификации. [c.194]

Предложена аналогичная методика определения ионов на статических масс-спектрометрах [102]. Схема применяемого устройства приведена на рис. 12. Если во времяпролетном приборе область дрейфа начинается сразу после выхода ионов из источника, то в описываемом случае область дрейфа — участок от магнита анализатора до коллектора. Когда на отклоняющие пластины 2 не подается потенциал, электронный умножитель 3 регистрирует полный ионный ток = klN - - АаЛ" , когда же на пластины подано отклоняющее ионы напряжение (1—2 кв), регистрируется ток 1д = /саЛ . Здесь ж к — коэффициенты усиления вторичного электронного умножителя для и N° соответственно. Дело в том, что в области дрейфа 1 ионы и нейтральные частицы обладают одной и той же энергией, но на первый динод умножителя ионы попадают со значительно меньшей энергией (потенциал первого динода —3 кв), поэтому и к могут быть существенно различными кх к ). Для определения отношения kJk2 используется достаточно хорошо известное время жизни ионов ЗРё-При определении одновременно с исследуемым соединением в источник напускается ЗРе как репер и измеряются / и 1о для пика ЗРб и изучаемого пика ионов. Стандарт т (ЗРё) = 68 мксек [103] позволяет вычислить сначала к к для ионов ЗРё (г = 4 мксек), а затем интересуемое время жизни т (Х ) но уравнению [c.32]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология