Тепловая дефектометрия

Решение в случае нагрева импульсом Дирака оказалось эффективным для прямых и обратных задач импульсного ТК, в частности, с использованием так называемого метода "кажущейся", т.е. наблюдаемой в эксперименте, тепловой инерции объекта контроля (apparent effusivity method) [6]. Этот метод для определения параметров скрытых дефектов (тепловой дефектометрии) см. п. 4.1. Метод можно проиллюстрировать на примере ТК изделия, состоящего из Ni- r покрытия толщиной 100 мкм и стальной подложки толщиной 3 мм. Коэффициенты теплопроводности покрытия X =14 Вт/(мК), подложки X =70 Вт/(м К). Плотность и теплоемкость одинаковы для обоих материалов р = 7800 кг/м С = 500 Дж/(кгК). [c.76]

В третьих, на фоне прогресса компьютерной техники стало возможным разрабатывать и практически применять такие процедуры испытаний, которые требуют значительных вычислительных усилий в частности, сюда относятся задачи тепловой дефектометрии, использующие решения обратных задач математической физики. [c.10]

При разработке алгоритмов тепловой дефектометрии дефектов решающим па- [c.93]

В главе 4, посвященной тепловой дефектометрии, будет показано, что в функции температурного отклика передней поверхности изделия имеются характерные точки, обусловленные границами раздела сред между различными материалами, в частности границами дефектов. [c.46]

ИДЕНТИФИКАЦИЯ ПАРАМЕТРОВ СКРЫТЫХ ДЕФЕКТОВ (ТЕПЛОВАЯ ДЕФЕКТОМЕТРИЯ) [c.117]

Анализ нагрева многослойных адиабатических пластин удобно проводить методом термического четырехполюсника, теория которого и соответствующие компьютерные программы описаны в [18]. Часто ограничиваются анализом решений в области Лапласа без возвращения в область оригиналов. Этот метод для решения задач тепловой дефектометрии описан в п. 4.5. [c.49]

Пренебрежение теплоотдачей на наружных поверхностях пластины упрощает решение и делает его более пригодным для использования в задачах тепловой дефектометрии. [c.49]

Определение глубины залегания и теплового сопротивления дефекта, расположенного между двумя высокотеплопроводными пластинами. Пусть дефект представляет собой резистивный слой, расположенный между двумя высокотеплопроводными пластинами толщиной /] и 2 Метод тепловой дефектометрии, предложенный в Управлении по аэронавтике Франции (ОКЕКА), основан на предположении, что в любой момент времени температура в каждой точке пластины одинакова вследствие высокой теплопроводности пластин, тогда как основной температурный градиент имеет место в дефектном слое [34]. Температура передней поверхности адиабатического изделия после воздействия импульса Дирака равна [c.121]

Описанный метод был применен для оценки параметров клеевого слоя между металлами и композитами [34]. Результатом процесса обработки были глубино-граммы и толщинограммы. Погрешность тепловой дефектометрии составила 10. .. 14 % по / и 10. .. 95 % по [c.122]

ТЕПЛОВАЯ ДЕФЕКТОМЕТРИЯ РЕЗИСТИВНЫХ ДЕФЕКТОВ В ПРОСТРАНСТВЕ ЛАПЛАСА [c.123]

Вид решений (3.15) подсказывает, что практическая процедура тепловой дефектометрии включает применение преобразования Лапласа к экспериментальным значениям нормализованных температурных сигналов ЛГ/Га, (нормализацию проводят на стационарное значение температуры образца Т , считая его адиабатическим). Имея дело с двумя неизвестными параметрами дефектов, необходимо либо использовать решения для обеих поверхностей изделия, либо использовать решения для одной из поверхностей, но для двух моментов времени Х и Тз, которые соответствуют двум значениям переменной Лапласа в пространстве изображений р1 и р2. Известно, что система двух уравнений с двумя неизвестными имеет однозначное решение в случае линейной независимости уравнений. Авторы описываемого подхода установили, что, строго говоря, уравнения Д0 (р1)и А р2)не являются абсолютно независимыми, но это не мешает использовать их в процедуре дефектометрии. [c.123]

ТЕПЛОВАЯ ДЕФЕКТОМЕТРИЯ ПУТЕМ МИНИМИЗАЦИИ [c.125]

ТЕПЛОВАЯ ДЕФЕКТОМЕТРИЯ ПУТЕМ МИНИМИЗАЦИИ ФУНКЦИОНАЛА НЕВЯЗКИ (МЕТОД НЕЛИНЕЙНОЙ ФИЛЬТРАЦИИ) [c.125]

Наличие экстремумов в зависимости фазы от глубины дефекта может сделать тепловую дефектометрию затруднительной. Предельную глубину обнаружения дефектов можно оценить путем анализа модуля и/или фазы. Пусть максимальная глубина зондирования соответствует началу плато в соответствующих зависимостях. Такое предположение кажется приемлемым в отношении модуля (рис. 5.5, а), но может вызвать сомнение в случае фазы из-за специфического характера полученных зависимостей. Для профилирования глубины дефектов можно использовать как нарастающую, так и спадающую части зависимости фазы от глубины (рис. 5.5, б), однако нарастающая часть [c.142]

В главе 4 были рассмотрены алгоритмы тепловой дефектометрии, позволяющие с помощью математических приемов определить требуемые параметры изделий и внутренних дефектов. Очевидно, что точность тепловой дефектометрии тем выше, чем больше параметров модели известно с требуемой точностью. [c.145]

Тепловая дефектометрия (на основе формул (4.9), т.е. синтезе максиграмм и таймограмм) приведена на рис. 5.8 (см. цветную вкладку). Углепластиковая панель толщиной 2 мм имела ребра жесткости на задней поверхности, два расслоения и одну зону утонения материала (рис. 5.8, а). Термограмма в оптимальный момент времени показана на рис. 5.8, б. С помощью [c.145]

Рис. 5.8. Тепловая дефектометрия углепластиковой панели толщиной 2 мм

В табл. 5.2 приведены результаты аппроксимации температурных функций как для бездефектных (БД), так и для дефектных (Д) зон углепластикового образца толщиной 1 мм (воздушное расслоение на глубине 0,5 мм). Видно, что для трех алгоритмов в табл. 5.2 не существует системы формирования знака и величины полиномиальных коэффициентов для обеих зон, поэтому применение этих коэффициентов для тепловой дефектометрии представляется затруднительным. [c.152]

Интуитивно можно предположить, что термографические-ИК испытания с их зашумленными результатами контроля могут являться хорошим объектом применения нейронных сетей. Нейронная сеть может быть эффективным инструментом тепловой дефектометрии так, например, входными данными может служить совокупность пиксельных значений из соответствующих максиграмм и таймограмм, а [c.173]

Шум окружающей среды создается тепловым потоком окружающих предметов, либо отраженным от объекта контроля, либо непосредственно попадающим во входной зрачок тепловизора. Источниками этого шума являются нагреватели. Солнце, калориферы, лампы электрического освещения и т.п. Прямое излучение устраняют, используя бленды, экраны, фильтры и т.п. Труднее устраняется излучение, отраженное от объекта контроля. В активном ТК основным источником внешнего шума является нагреватель. Например, при оптическом нагреве металлов остаточное излучение ламп может серьезно искажать вид термограмм и приводить к некорректным оценкам параметров дефектов, если используются чисто температурные модели тепловой дефектометрии. Если коэффициент излучения изделия невелик, а "черные" покрытия применить невозможно, рекомендуется оценить вклад отраженного излучения и произвести корректировку пиксельных функций изменения температуры во времени перед применением алгоритмов идентификации. [c.267]

Помимо лабораторных исследований, описанных ниже, в последние годы появились компании, которые предлагают коммерческие системы ТК лопаток. Например, фирма Thermosensorik (Германия) создала роботизированную установку импульсного ТК турбинных лопаток (см. табл. 7.1), которая предназначена для автоматизированных испытаний с элементами тепловой дефектометрии. [c.317]

Реализация основных преимуществ ТНП наглядности и оперативности стала возможна в связи с существенным прогрессом аппаратурной базы за последние 10 лет. Одновременно в связи с появлением широкого спектра компьютерных средств стало возможным по-новому интерпретировать известные алгоритмы обработки температурной информации. Метод динамической тепловой томофафии, известный в России с 80-х гг., используется в настоящее время как основной инструмент для повышения надежности тепловизионной диагностики. Использование нейтронных сетей, разработка алгоритмов тепловой дефектометрии, преобразование изображений, реализация метода импульсной фазовой тер-мофафии с применением одномерного преобразования Фурье во времени, внедрение различных способов выделения сигналов от дефектов на фоне шумов позволяют создавать в настоящее время высокоинформативные компьютеризированные ПТС. [c.642]

На основе одномерных многослойных моделей, в соответствии с которыми дефект представляет собой область аномального теплового сопротивления. А. ДеДжнованни и Д. Балажас предложили следующий алгоритм тепловой дефектометрии 1) определеии поперечных размеров дефектов на уровне 0,5 максимальной амплитуды 2) установление глубины залегания дефекта в односторонней процедуре по запаздывающему сдвигу параметра Г 3) определение толщины дефекта в [c.62]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология