Ширина линий в атомно-абсорбционных и эмиссионных спектрах

Характерной особенностью физических методов анализа и аналитических процессов, лежащих в их основе, является высокая разрешающая способность , которая проявляется в дискретности характеристических сигналов (см рис. 4,5), регистрируемых в виде линейных спектров или острых пиков. Эта особенность присуща большинству ядерно-физических (ЯМР, активационный анализ) методов, а также методам рентгеновской, атомно-эмиссионной и абсорбционной спектроскопии. Причина высокой разрешающей способности этих методов — в относительно высоких значениях характеристических квантов энергии, сопровождающих переход из возбужденного состояния в основное (или наоборот) в процессе ядерных превращений и при переходах электронов на близких к ядру уровнях. Следствием высокой разрешающей способности физических методов является их высокая специфичность, проявляющаяся в почти полном отсутствии эффектов наложения сигналов элементов друг нз/друга. Однако нередко на основные сигналы накладываются сигналы сопутствующих процессов. Так, хотя спектральная линия атомного поглощения элемента характеризуется шириной не выше 0,1 нм, на нее часто накладывается спектр молекулярного поглощения соединений, образуемых элементом основы (матрицы) в условиях атомизации. [c.15]

При абсорбционных измерениях вероятность наложения также определяется общим числом линий поглощения в указанном интервале спектра и их шириной. В отличие от ЭМИССИОННЫХ измерений ширина линий определяется только процессами уширения в поглощающем слое и составляет в среднем не более 0,5 см К При учете того обстоятельства, что линии атомов составляют примерно половину от общего числа линий, наблюдаемых в спектрах испускания, имеем согласно (8.1) для числа линий поглощения А2-500 = 30. Поэтому вероятность наложения (Рабе) при атомно-абсорбционных измерениях в тех же условиях равна [c.56]

Таким образом, в результате существенно меньшего числа линий и меньшей их ширины вероятность взаимного наложения линий при атомно-абсорбционных измерениях в среднем на два порядка ниже, чем при наилучших условиях регистрации эмиссионных спектров. Тем самым проблема наложения посторонних линий на аналитическую линию определяемого элемента, столь существенная при эмиссионном анализе образцов сложного состава, практически совершенно устраняется при атомно-абсорбционных измерениях. [c.56]

С методической точки зрения атомно-абсорбционный анализ также оказывается более гибким и простым, чем эмиссионный. Известно, что для проведения эмиссионного спектрального анализа новой категории веществ необходим весьма кропотливый выбор оптимальных условий измерения, гарантирующих требуемую чувствительность, точность, правильность и экономичность анализов. Сюда относятся выбор свободных от наложений и достаточно чувствительных аналитических линий, внутреннего стандарта и подходящих линий сравнения, выбор условий возбуждения и регистрации спектров (источников и режима возбуждения, способов введения проб в аналитический промежуток, времени предварительного обыскривания и экспозиции, спектральных приборов, ширины щели и пр.). Нередко эта процедура разрастается в продолжительное и трудоемкое поисковое исследование. [c.376]

Ширина линий в атомно-абсорбционных и эмиссионных спектрах [c.174]

Можно показать, что естественная ширина линии в максимуме атомно-абсорбционного или атомно-эмиссионного спектра составляет около 10 нм. Однако два фактора вызывают кажущееся уширение линии до 0,002—0,005 нм. Доплеровское уширение возникает вследствие быстрого движения поглощаемых или испускаемых частиц относительно детектора. При отклонении таких движущихся атомов от детектора длина волны возрастает как результат хорошо известного эффекта Доплера испускается или поглощается излучение в несколько более длинноволновой области. Обратное явление наблюдается для атомов, приближающихся к детектору. Уширение линий может быть вызвано также увеличением давления. В этом случае столкновения атомов вызывают небольшие изменения в энергетических уровнях основного состояния, что приводит к уширению максимумов. Отметим, что влияние обоих факторов возрастает при повышении температуры. Таким образом, при повышенной температуре наблюдаются более широкие максимумы. [c.174]

Выбор характеристик монохроматоров, применяемых в атомно-абсорбционных спектрофотометрах, тесно связан со спецификой метода и принципами измерения полезного сигнала. В эмиссионном спектральном анализе уровень помех существенно зависит от величины отнощения интенсивностей линии к интенсивности фона, т. е. от яркости излучения источника, имеющего сплощной спектр (или, иначе, от отношения линия/фон). Как известно (см., например [32]), в этом случае целесообразно применять спектральные приборы с большой разрешающей силой и максимально ограничивать ширину щелей, тем самым повышая значение отношения линия/фон. [c.122]