Элементы электронной оптики

ГЛАВА VII ЭЛЕМЕНТЫ ЭЛЕКТРОННОЙ ОПТИКИ [c.180]

ЭЛЕМЕНТЫ ЭЛЕКТРОННОЙ оптики [гл. VII [c.182]

ЭЛЕМЕНТЫ электронной оптики [c.184]

ЭЛЕМЕНТЫ ЭЛЕКТРОННОЙ ОПТИКИ [гл. VII [c.186]

ЭЛЕМЕНТЫ ЭЛЕКТРОННОЙ ОПТИКИ [c.188]

ЭЛЕМЕНТЫ электронной ОПТИКИ [гл. уп [c.196]

ЭЛЕМЕНТЫ ЭЛЕКТРОННОЙ оптики [гл. VI [c.206]

Элементы теории оптико-электронных приборов [c.377]

Применяется в качестве оптической среды при склеивании и заливке элементов в приборах, электронной оптики, а также в радиотехнической промышленности. [c.174]

В практике неразрушающего оптического контроля качества применяют различные элементы и устройства, образующие наиболее важный узел оптико-электронных приборов и блоков оборудования— оптическую систему. Главным назначением оптической системы является получение достаточного потока световой энергии полезных сигналов или четкого изображения исследуемого объекта. Одним из центральных понятий для оптической системы является понятие поверхностей элементов системы. Если центры всех злементов системы находятся на оптической оси, она называется главной. Детали изображения, расположенные около оптической оси, получаются наиболее четкими. [c.228]

Прогресс в оптической части приборов в последнее десятилетие связан с разработкой новых идей и внедрением новых элементов. Примепение асферической оптики позволило повысить светосилу приборов. Широкое использование дифракционных решеток привело к повышению разрешения и светосилы, а появление голографических решеток вызвало целый ряд изменений, описанных ниже. Важную роль в повышении чувствительности измерений сыграло введение модуляции, в частности двойной модуляции. Коренные изменения спектральных приборов связаны с развитием электронной техники, в том числе ЭВМ. [c.9]

Мы знаем, что неустойчивые ядра элементов способны как бы раскалываться на части, которые так и называют - осколки. Даже в самый сильный микроскоп такие частицы невозможно увидеть, но ученые нашли способ фиксировать их следы. Было установлено, что осколки действуют на стекло, а к другим частицам оно абсолютно устойчиво. В местах столкновения образуются кратеры , но и они недоступны глазу человека, усиленному самой сильной оптикой. Не спасал положение и электронный микроскоп, так как потребовались бы годы на подсчет следов. На выручку пришла химия, а точнее-фтористый водород, который, как было установлено, не просто реагирует со стеклом, а растворяет его более быстро в местах, куда попал осколок. Образующиеся лунки по размерам в сотни раз больше, чем первоначально оставленный след. Такой кратер уже можно разглядеть в обычный микроскоп. Вот каким образом были обнаружены следы элемента, способного существовать, не разрушаясь, лишь доли секунды. Многодневные и многотрудные эксперименты после нескольких лет напряженной работы привели в 1964 г. [c.63]

По конструкции обзорные теплопеленгаторы представляют собой оптико-электронные механические устройства. Необходимым элементом обзорного теплопеленгатора является система поиска СП (см. рис. 7.1), которая обеспечивает движение оптической системы или приемника излучения по заданному закону. Благодаря этому движению осуществляется обзор пространства и поиск теплоизлучающих объектов. [c.230]

Развитие искровой масс-спектрометрии основано на последних достижениях ионной оптики, электроники, физики вакуумного разряда, материаловедения, вакуумной и электронно-вычислительной техники и применении высокочувствительных устройств для регистрации ионных токов. Основным достоинством элементного анализа при помощи масс-спектрометров с искровым источником ионов и двойной фокусировкой являются, с одной стороны, высокая абсолютная г) и относительная 10 %) чувствительность, а с другой — возможность одновременной регистрации на фотопластине нескольких десятков элементов-примесей— от лития до урана. Этим методом осуществляется анализ проводящих, полупроводящих и непроводящих компактных материалов, а также дисперсных, легкоплавких и замороженных жидких веществ. [c.5]

Принцип взаимности, предложенный Бабине в оптике, который утверждает, что рассеяние не изменится, если поменять местами электронные плотности в двухфазной системе, применим также и для рассеяния под малыми углами. Поэтому только на основании данных рассеяния под малыми углами нельзя сказать, являются ли рассеивающие элементы частицами материи или это полости. Для того чтобы различить эти два возможных случая, необходимы данные, полученные другими независимыми методами исследования. [c.195]

Для проведения испарения с электроннолучевым нагревом пригодна электронная пушка с щелевой оптикой. С помощью электроннолучевого нагрева можно получить такие тонкопленочные элементы, как мишени для ядерных исследований, оптические покрытия, пленочные термопарные датчики и т. п. Создание унифицированной электронной пушки с взаимозаменяемыми магнитными системами позволяет применять электроннолучевой нагрев в лабораторных установках и испарять практически любые материалы без существенных переделок конструкции установки. В двухлучевом испарителе ИЭЛ-6 два электрон- [c.239]

Уменьшение размера электронного зонда ограничивается необходимостью получения достаточной интенсивности рентгеновского излучения. В работающих в настоящее время микроанализаторах получение диаметра электронного зонда меньше 1 мк нецелесообразно. Глубина проникновения и рассеяние электронов в образце определяют размер анализируемой области и зависят от начальной энергии электронов и от характеристик образца атомных номеров элементов, входящих в состав анализируемой области, плотности. Оценка минимального излучающего объема, когда еще не наблюдается заметной потери интенсивности, дана в работе [25]. При ускоряющем напряжении, равном 30 кв, эффективный анализируемый рбъем для золота составляет 1 лг/с , для меди — 10 мк , для алюминия — 350 мк . Разрешающая способность может быть увеличена или за счет улучшения электронной оптики, или соответствующим подбором ускоряющего напряжения и размера зонда. Для меди при ускоряющем напряжении 10 кв получено минимальное значение излучающего объема, равное 0,2 мк . Дальнейшее повышение разрешающей способности может идти за счет ухудшения чувствительности и точности анализа. [c.66]

В основе рентгено- и электронографического анализа твердых тел лежат, как известно, теории дифракции рентгеновских лучей и электронов, развитые многими физиками (см. [32, 33]). Методы рентгенографического изучения веш,еств разрабатывались, начиная с 1915—1918 гг. Лауэ, затем Дебаем, Шереровд, Селяковым, Бриллем, Джонсом, Кохендорфером и другими (см. [32]). Методы электронографического изучения тел создавались несколько позднее в результате работ Томсона, Тартаковского, Линника, Б рэгга, Пинскера и Вайнштейна и других (см. [33]). Электронная микроскопия, в основе которой находятся начальные элементы теории электронной оптики Буша, стала создаваться только в 30—40-х годах и продолжает интенсивно совершенствоваться. Примерно в таком же порядке эти три метода (или точнее, три системы методов) начали использоваться и для исследования катализаторов первыми были привлечены рентгенографические методы, затем электронографические и, наконец, электронная микроскопия. [c.170]

Технику испарения в вакууме используют при изготовлении оптических фильтров, просветленной оптики, астрономических зеркал, в производстве совершенных высокоотражающих зеркал для лазеров и интерферометров. В электротехнической промышленности и электронном машиностроении испарение в вакууме используют для производства полупроводниковых выпрямителей тока, металлизации конденсаторной бумаги, нанесения проводящего слоя при изготовлении печатных схем, а также для изготовления элементов микрорадиосхем и памятных элементов электронно-вычислительных устройств. В автомобильной промышленности металлизируют в вакууме сигнальные кнопки, ручки, фары, зеркала и т. п. Этот способ применяют для получения антикоррозионных покрытий металлов и листовой стали. Например, разработан режим нанесения двухслойных цинко-алюминиевых покрытий последовательным испарением этих металлов в вакуумной камере. Для защиты высокопрочных сталей от коррозии в морских условиях целесообразно применять вакуумные оловянно-кадмиевые покрытия. Цинковые и кадмиевые покрытия наносят термическим испарением при давлениях 10" и 10 мм рт. ст. [c.232]

Оптические системы и элементы базируются на традиционных методах и устройствах оптического и оптико-электронного приборостроения, широко освещенных в литературе. Это микро- и макрообъективы для фокусировки излучения, световоды для передачи света и изображения, абсорбционные и интерференционные светофильтры для спектральной селекции сигналов, поляроиды, устройства для сканирования лучей в пространстве (дефлекторы различных конструкций), управляемые транспаранты на ЖК-кристаллах и т.п. [c.490]

К Ф. м. а. относится масс-спектрометрия, к-рая позволяет определять в твердых и жидких в-вах почти все хим. элементы (пределы обнаружения до 10" —10 % по массе), а также является важным методом изотопного анализа и анализа орг. соединений. Ядерно-физ. методы, напр, активационный анализ, широка примен. при исследовании особо чистых в-в и геол. объектов. Активац. методы обеспечивают рекордно низкие пределы обнаружения элементов — до 10 г. Все шире использ. методы ядерного магнитного резонанса, ядерного квадрупольного резонанса, электронного парамагнитного резонанса, электронной Оже-спектро-скопии, оптико-акустической спектроскопии и др. [c.621]

На основе кластерной модели авторы [14] исследовали соединения разной природы 1) тугоплавкие соединения -элементов 1Уа и Уа подгрупп периодической системы (карбиды, нитриды, низшие оксиды), на основе которых ведется интенсивный поиск сверхтвердых и сверхпроводящих материалов 2) оксиды ванадия, применяемые в оптике и микроэлектронике 3)ванада-ты 5-, р-, /-элементов, являющиеся перспективными материалами в лазерной оптике 4) оксидные соединения 4/- и 5/-эле-ментов, также представляющие практический интерес. С помощью кластерной модели для перечисленных систем изучались не только электронное строение и характер химической связи, но и особенности рентгеновских эмиссионных, рентгеноэлектронных, оптических спектров. [c.243]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология