Рентгеновские эмиссионные

Рентгеновская эмиссионная спектроскопия [c.110]

Для лолучения рентгеновских эмиссионных спектров в-во облучают первичными рентгеновскими квантами для создания вакансии на внутр. оболочке, эта вакансия [c.240]

Изучение переходов разл. серий во всех атомах, образующих исследуемое соед., позволяет детально определить структуру валентных уровней (или зон). Особенно ценную информацию получают при рассмотрении угловой зависимости интенсивности линий в эмиссионных спектрах монокристаллов, т.к. использование при этом поляризованного рентгеновского излучения существенно облегчает интерпретацию спектров. Интенсивности линий рентгеновского эмиссионного спектра пропорциональны заселенностям уровней, с к-рых совершается переход, и, следовательно, квадратам коэф. линейной комбинации атомных орбиталей (см. Молекулярных орбиталей методы). На этом основаны способы определения этих коэффициентов. [c.240]

Рис. 8.22. Кривая гауссова распределения для рентгеновской эмиссионной спектрографии п среднеквадратичное отклонение Ос полученное в идеальных условиях [230].

В последние годы появились методы определения концентрации пенетрантов в микрообъемах полимеров — рентгеновский эмиссионный спектральный анализ и электронный микрозонд . Молено полагать, что использование этих методов приведет к широкому применению методик определения диффузионных характеристик на [c.209]

Для золота описаны методы эмиссионного спектрального, атомно-абсорбционного, рентгеновского эмиссионного, рентгеноспектрального, рентгенофлуоресцентного, сцинтилляционного анализа. [c.178]

Рентгеновские эмиссионные спектры содержат информацию об энергетических уровнях ниже Еу. Для изучения структуры энергетических уровней выше Е,. проводят исследования рентгеновских спектров поглощения (разд. 3.2.3.6). [c.68]

Рис. 6.1. Рентгеновский эмиссионный спектр родия с незначительной примесью рутения (по Комптону и Аллисону [10]).

Рис. 6.17. Схема рентгеновского эмиссионного спектрографа

В последнее время появились работы по определению концентрации продиффундировавших в микрообъемы полимеров веществ с использованием рентгеновского эмиссионного спектрального анализа [20] и электронного микрозонда [21]. [c.195]

Рентгеновский эмиссионный анализ можно осуществить в электронном микроскопе, присоединив рентгеновский спектрометр это позволяет исследовать обратно рассеянные рентгеновские лучи в сущности, микроскоп в данном случае функционирует как микрозонд. Его пространственное разрешение определяется диаметром падающего пучка электронов, который в обычном электронном микроскопе превышает 0,5 мкм. Это значительно больше, чем диаметр пучка электронного микрозонда или сканирующего электронного микроскопа, где применяется другая электронно-оптическая система и диаметр пучка может достигать 2 нм. Однако разрешение, соответствующее такому малому диаметру пучка, получить не удается, так как рентгеновские лучи испускаются областью, размер которой определяется длиной пути возбуждающего электрона без потери энергии до значения, равного или меньшего критическому значению испускания рентгеновских лучей. На практике для электронного микрозонда или сканирующего электронного микроскопа энергия возбуждающих электронов составляет 5—30 кэВ и рентгеновские лучи испускаются подповерхностной областью объемом [c.399]

Существует также метод, родственный рентгеновской эмиссионной спектроскопии, в котором энергетический порог исследуется путем измерения энергии, достаточной для возбуждения определенных эмиссионных линий. Метод получил название спектроскопии порогового потенциала [37—42]. Химический сдвиг порогового значения обнаружен при окислении хрома [39] и никель-титановых сплавов [40], и в этом отношении метод весьма перспективен, особенно для Зй -металлов. Чувствительность [c.413]

Рентгеновская флуоресценция Рентгеновское излучение высокой энергии Рентгеновское излучение, характеристическое для атомов образца Пучок вторичных рентгеновских лучей диспергируется кристаллом. Интенсивность отдельных лучей измеряется детектором излучения (например, пропорциональным счетчиком) Получается простой рентгеновский эмиссионный спектр. Метод используется для качественного и количественного анализа, определения многих элементов в одном образце Определение основных составляющих и примесей в минералах, сплавах и т. п. [c.22]

Для того чтобы ускорить массовый анализ легированных сталей, производимых одним из отделений большой компании, она приобрела рентгеновский эмиссионный спектрометр и вакуумный эмиссионный спектрограф с непосредственной выдачей результатов. Производимая сталь содержала следующие примеси С (<1%), Мп (0,5— 2%), Р 1( <0Л%), 8 г( < 0.(1%). 81 ( <1%). Си ( < 1%), N1 (2-10%), Сг (1 0%), Мо, ( < 1 %), Т1, ( < 1 %). V ( < 1 %). [c.116]

Новые данные о структуре поверхностных групп на углеродных материалах были получены в результате применения рентгеновской эмиссионной спектроскопии в сочетании с квантово- [c.38]

Заслуживают внимания три вида рентгеновского метода анализа рентгеновский эмиссионный спектральный анализ, включая рентгено-флуоресценцию абсорбционный рентгеновский анализ и рентгеновский диффракционный порошковый анализ. [c.181]

Рентгеновский флуоресцентный метод значительно более производителен, чем рентгеновский эмиссионный метод, ёа счет более простой техники подготовки проб и получения рентгеновских спектров, а также использования для регистрации рентгеновского излучения счетчиков. Другое преимущество метода—значительное ослабление непрерывного рентгеновского излучения и отсутствие нагревания анализируемой пробы. К недостатку флуоресцентного метода следует отнести большую, чем при проведении прямого эмиссионного анализа, зависимость результатов определений от химического состава исследуемой пробы. [c.194]

Жураковский Е. А., Василенко Н. H., ДАН СССР, 187, 562 (1969). Рентгеновская эмиссионная Л -полоса азота в нитридах переходных металлов IV—VI групп. [c.261]

Рентгеновский эмиссионный спектр анода из любого материала состоит из непрерывного фона, перекрытого линиями характеристических длин волн (рис. 212). Излучение фона имеет резко выраженную границу со стороны коротких длин волн, п, [c.276]

РЕНТГЕНОВСКАЯ ЭМИССИОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КООРДИНАЦИОННОГО ЧИСЛА АЛЮМИНИЯ [c.397]

В разделе 5.4 указывалось на важность сочетания разных методов исследования поверхностных соединений. Количественное определение углерода и других элементов в модифицирующих поверхность соединениях производится элементным анализом, а ИК спектры помогают установить, какие именно группы и в каком количестве содержатся в поверхностном соединении. Содержание элементов в поверхностных соединениях можно определить с помощью зондирующего воздействия различных пучков на поверхность твердого тела, служащего рассеивающей мишенью для такого воздействия. Для зондирования используются направленные пучки фотонов, электронов, ионов илц атомов, вызывающие эмиссию вторичных частиц (также фотонов, электронов, ионов или атомов), лзучение которой и позволяет судить о свойствах мишени. Помимо элементного анализа, с помощью зондирующего воздействия на поверхность в благоприятных случаях можно получить сведения о структуре поверхности и адсорбции на ней. В табл. 5.4 представлены некоторые из этих методов. Перечисленные в таблице методы. анализа поверхности, за исключением рентгеновской эмиссионной спектроскопии, позволяют исследовать поверхностные слои на глубину менее 10 нм. В этих методах зондирование поверхности и ана--лиз рассеиваемых или эмиттируемых частиц проводится в очень высоком вакууме. Для дополнительной очистки поверхность часто подвергается предварительной бомбардировке частицами высокой энергии, обычно аргонной бомбардировке. С этим связаны ограничения в применении некоторых из этих методов для исследования поверхности недостаточно стойких адсорбентов. Преимуществом этих методов является возможность локального исследования не- [c.109]

Рентгеновская эмиссионная спекротскопия как и другие аналитические методы, может допускать ошибки разного рода. [c.132]

На зависимости интенсивности линии рентгеновского эмиссионного спектра от концентрации соответствующего элемента основан рентгеновский флуоресцентный аиализ (РФА), к-рый широко используют для количеств, анализа разл. материалов, особенно в черной и цветной металлургии, цементной пром-сти и геологии. При этом используют вторичное излучение, т.к. первичный способ возбуждения спектров наряду с разложением в-ва приводит к плохой воспроизводимости результатов. РФА отличается экспрессностью и высокой степенью автоматизации. Пределы обнаружения в зависимости от элемента, состава матршц, и используемого спектрометра лежат в пределах 10" -10 %. Определять можно все элементы, начиная с Mg в твердой или жидкой фазе. [c.240]

В приборах со сфокусированным пучком злектронов сигнал рентгеновского излучения довольно слабый, и можно полагать, что он исходит из точечного источника. Поэтому рентгеновские спектрометры с полной фокусировкой, работающие с изогнутым кристаллом, более широко используются по сравнению с спектрометрами, имеющими плоский кристалл. Спектрометры последнего типа обычно используются в рентгеновском эмиссионном анализе при возбуждении с помощью рентгеновской трубки. В спектрометре с полной фокусировкой типа Иоганссона, схема которого приведена на рис. 5.3, точечный источник рентгеновского излучения, образец, кристалл-анализатор и детектор перемещаются по одному и тому же кругу радиуса R, называемому кругом фокусировки. Более того, кристалл изгибается так, чтобы кристаллические плоскости имели радиус кривизны 2R, а сама поверхность кристалла шлифуется до кривизны радиуса R. При такой геометрии все рентгеновские лучи, выходящие из точечного источника, будут падать на поверхность кристалла под одним и тем же углом 0 и фокусироваться в одной и той же точке на детектО ре. Этим обеспечивается максимальная эффективность сбора рентгеновского излучения в спектрометре без потери высокого разрешения по длинам волн. Очевидно, что в случае плоского кристалла угол падения рентгеновских лучей будет изменяться по длине кристалла, что. приводит к уширению и возможному наложению пико1В, вследствие чего уменьшаются максимальная интенсивность пика и отношение сигнал/фон. Хотя применение щелей Соллера дает возможность получить более параллельный пучок лучей, падающих на кристалл, однако и в этом случае не удается избежать потери интенсивности сигнала. [c.193]

АЭМ —наиболее важный метод наноанализа материалов. Он сочетает (рис. 10.2-11) просвечивающую (ПЭМ), отражательную электронную микроскопию (ОЭМ), дифракцию электронов (дифракцию прошедших быстрых электронов) для структурного анализа и элементный анализ при помощи рентгеновской эмиссионной спектроскопии и спектров энергетических потерь электронов (СПЭПЭ, спектроскопия характеристических потерь энергии прошедших электронов). [c.337]

Разработан метод определения 100л кг Аи с ошибкой1мкг с помощью рентгеновского эмиссионного спектрографа метод основан на использовании характеристического излучения золота [c.183]

Рентгеновский эмиссионный анализ. Как указывалось в самом Н1ча-ле этой главы, рентгеновы лучи можно получать, бомбардируя г нод рентгеновской трубки пучком электронов или пучком излучения, обладающего высокой энергией. Первый метод, соответствует условиям, существующим в обычной рентгеновской трубке он неудобен для непосредственного химического анализа. (Однако следует заметить, что кривая, приведенная на рис. 6.1, показывает наличие небольшой примеси рутения в родиевом аноде, который практически считается чистым.) [c.122]

Рис. 6.(18. Рентгеновский эмиссионный спектр хромоникелевого покрытия на серебряномедной основе.

Метод для одновременного определения урана и тория в минералах [2] требует измерения II) суммарной радиоактивности U и Th и 2) отношения Th/U методом рентгеновской эмиссионной спектроскопии. Суммарная радиоактивность выражается в процентах эквивалентного урана , а именно в количестве урана в смоляной обманке, которое бы давало эквивалентную радиоактивность. Отношение Th/U определяется по пиковому значению рентгеновских линий ThLa и ULa. Содержание урана и тория определяется из уравнения д +0,2л (/= (Проценты эквивалентного урана), где х — процентное содержание U, а у — весовое отношение Th/U. Для применяемого счетного оборудования 1% эквивалентного урана соответствует 2100 имп1мин выше уровня фона. Образец монацитового песка весом 1,000 г после подготовки и измерения обычным способом имеет активность 2780 имп1мин (с поправкой на фон). Рентгеновское исследование дает пик высотой 72,3 деления шкалы для линии Th La и 1,58 деления для ULa. Рассчитайте содержание урана и тория в образце в весовых процентах. [c.225]

Рентгеновская эмиссионная спектроскопия Нейтроняо-актива-ционяый анализ Электронная микроскопия Спектроскопия ядерного магнитного, резонанса [c.32]

Рентгеновские эмиссионные методы определения гафния в цирконии детально описаны в монографии Вайнштейна [54]. Количе- ственное определение гафния в присутствии циркония представляет трудную задачу для рентгеноспектрального метода. Вследствие вы--сокого потенциала возбуждения линий /С-серий гафния для определения можно использовать лишь линии L-серии. Однако на наиболее чувствительные линии этой серии гафния (La,- и Laз-линии) в первом порядке отражения накладываются /Са,- и /Саглииии циркония во втором порядке отражения. Поэтому при количественном определении гафния в цирконии Хевеши [290], Боровский и Блохин [49, 50] использовали относительно слабые L ,- и L ,-линии гафния, что, естественно, приводило к уменьшению чувствительно- [c.192]

Для алмаза экспериментальные данные по ширине валентной зоны приведены в работах [154—158] и имеют, пожалуй, наименее определенный характер. Так, в работе Холидея [154] для полуширины рентгеновской эмиссионной iir-полосы для алмаза получено значение 8,1 эВ, так что согласно этой работе Е , (С)эксп = Ю эВ. В то же время Клейнман и Филипс [155], ссылаясь на неопубликованные рентгеноспектральные данные, указывают для (С) значения в интервале 16—30 эВ, а Томас и др, [157] на основании рентгеноэлектронных спектров — даже значения в интервале 30—36 эВ, хотя последняя оценка, вероятно, сильно завышена, что подтверждается в более поздних работах Е (С)эксп = 21 эВ. (Последнее значение получено Гора и др. [158] также на основании данных рентгеноэлектронной снектроскопии.) Как видно из табл. 6, упрощенный вариант теории в рамках метода ЭО ЛКАО дает оценку Е = 18 эВ при ( ) = —6,5 и = 19 эВ при (С) = —8,3 эВ. Эти оценки согласуются с экспериментальными оценками в пределах [c.113]

Алешин В. Г., Немошкаленко В. В. Зонная структура н рентгеновские эмиссионные спектры кристаллов. Препринт ИМФ, Киев, 1зд. АН УССР, 1970, 85 с. [c.230]

Немнонов и сотр. [44—47] изучили рентгеновские спектры нескольких соединений титана и установили, что полученные ими данные соответствуют предположению о переходе электронов к азоту в TiN и от углерода в Ti . Они сравнили рентгеновские эмиссионные спектры титана в Ti , TiN и TiO с теоретическими расчетами зонной структуры Эрна и Свитендика [48] и обнаружили хорошее количественное соответствие энергетического положения и формы полос. [c.200]

И способный выдерживать прогревание термисторный манометр для интервала Ю " —10 мм рт. ст. Объем системы точно измеряют по расширению инертного га.за (аргона) в систему с известным объемол . Площадь поверхности пленки измеряют методом БЭТ [9], а плотность пленки (вес единицы площади поверхности) — методом рентгеновской эмиссионной спектрографии [29]. [c.259]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология