Установка кристаллов, работающих иа отражение

В рассматриваемых исследованиях образец применяли в виде непрозрачного монокристалла. Первичный пучок электронов с малым поперечным сечением направляют на кристалл по нормали или близкому к нормали направлению и посредством подвижного коллектора электронов или флуоресцирующего экрана наблюдают отраженную дифракционную картину. Схема установки с устройством для измерения работы выхода показана на рис. 1. Часть подвергшихся дифракции электронов попадает в маленькое отвер- [c.322]

Дифрактометр — один из первых аналитических приборов, работа которого контролировалась компьютером. Однако еще на неавтоматизированных дифрактометрах было показано, что измерения интенсивности с помощью детекторов более точны, чем полученные фотографическими методами. Утомительная работа по регистрации данных и обработке измерений на фотопленках сменилась повторяющейся последовательностью операций по установке положений и измерению данных. Получение данных одного эксперимента на простом дифрактометре требует измерения интенсивности тысяч отражений Брэгга. Для каждого отражения кристалл и детектор должны быть точно ориентированы. Последующее развитие компьютеров применительно к дифрактометрам позволило автоматизировать эту многократно повторяющуюся процедуру. Современные автоматические дифрактометры — сложные машины, которые чаще всего производятся частными компаниями. В этом параграфе в основном рассматриваются гониометр, в котором фиксируются кристалл и детектор компьютер, управляющий гониометром и собирающий данные. Обычно источник рентгеновских лучей — это герметичная трубка, в которой в качестве антикатода используется металлическая медь или молибден. Генератор высокого напряжения должен обеспечивать максимальную надежность и безопасность работы и гарантировать оптимальную стабильность высокого напряжения и тока в трубке. Например, подаваемое на трубку напряжение не должно меняться более чем на 0,01 В при изменении напряжения в линии на 10 %. Для получения монохроматического излучения используют фильтр или кристалл-монохро-матор. Следует отметить, что обычные пользователи прибора не сталкиваются впрямую с этими проблемами, так как технический паспорт должен содержать сведения не только о разных частях прибора (гониометре, генераторе высокого напряжения, электронном детекторе), но и рекомендации относительно их использования [c.249]

Вызов какой-либо программы супервизор в процессор ЭВМ осуществляется путем печатания на телетайпе кода XV . Программу оценивают как малую или большую в зависимости от времени, которое затрачивает на ее обработку программа супервизор. Примером малой программы является установка всех четырех поворотных кругов дифрактометра в заданные положения. Супервизор выполняет эту операцию в течение нескольких секунд. В качестве примера большой программы можно назвать программу Поиск пика , при обработке которой оператор отвечает на ряд вопросов, задаваемых машиной на английском языке например, каковы длина волны, условия развертки и список отражений, которые требуется измерить. Затем программа определяет точные угловые положения каждого из отражений путем последовательных измерений по точкам и использует полученную информацию для решения задачи ориентации кристалла и определения параметров решетки методом наименьших квадратов. Время работы этой программы измеряется уже часами, а не секундами. После диалога оператора с машиной перед началом решения задачи никакого дополнительного вмешательства оператора или ввода инструкций не требуется. [c.139]

Одним из важнейших элементов юстировки спектрографа при его пуске является такая установка анода рентгеновской трубки прибора, при которой лучи, исходящие из фокусного пятна антикатода, при их падении на кристалл оказались бы расположенными в горизонтальной плоскости. Не меиее важной является возможность следить за нарушениями положения анода, которые могут быть следствием вынужденной разборки спектрографа в процессе работы с ним. Выполнение этих операций может быть сильно облегчено, если пользоваться специальным приспособлением, изображенным на рис. 90. При правильном положении анода рентгеновской трубки изображение креста нитей, которое направляется при помощи осветителя на блестящую поверхность медного анода, после отражения от него должно попасть в определенную точку экрана. [c.152]

Здесь мы изложим в кратких чертах содержание последней работы Танемура и Като [130], посвящ енной определению абсолютных значений амплитуд Fдля Si. Для юстировки кристаллического клина при получении снимков обоих названных типов был изготовлен специальный двухкристальный спектрометр, в котором клин устанавливался в положение В в схеме (гг, — п) на рис. 66. Оба кристалла в спектрометре могли перемещ аться. Интерферометр был определенным образом связан с кристаллом Л. Весь эксперимент проводился следуюш им образом. Сначала кристаллический клин устанавливался в отражаюш ее положение по отношению к падающему пучку. Использовались симметричные отражения AgKa излучения. В этом положении клина производилась съемка секционной рентгенограммы с гиперболами. Затем 1<лин поворачивался на угол О и смещался параллельно входной грани на небольшую величину, составляющую половину ширины соответствующего пучка в интерферометре. Затем интерферометр ставился в такое положение, чтобы клин попадал точно на пути одного из пучков, падающего нормально к входной грани. В этой установке клина получался снимок интерферограммы (рис. 77). Наконец, клин убирался и получался снимок картины муара, свойственной интерферометру и обязанной наличию нарушений структуры в отдельных частях этого прибора (см. 10.3). [c.263]

Другим примером комплексной установки является агрегат ВНИЙ01 . Эта установка снабжена электронной трубкой с регулируемым размером фокусного пятна трубка разборная и работает при непрерывной откачке. В комплект установки входят фокусирующие камеры для съемки поликристаллов возможна также съемка с эталонными веществами. Установка имеет приспособления для монохроматизации излучения путем отражения лучей от плоского или изогнутого кристалла. [c.135]

Приставка ГП-2 для исследования преимущественных ориентировок кристаллов. Приставка предназначена для установки на гониометрах ГУР она дает возможиость съемки на просвет и на отражение и построения полной полюсной фигуры. Для съемки на отражение предусмотрены наклоны образца вокруг горизонтальной оси. Кривая распределения интенсивности, соответствующая данному сечению сферы проекции, получается при медленном вращении образца в собственной плоскости Ш град мин) и синхронном движении ленты самонищущего прибора. Для съемки на отражение в приставке имеется коллиматор, укрепляемый на входном щелевом устройстве гониометра, с помощью которого вырезается пучок прямоугольной формы, вытянутый в экваториальной плоскости и ограничиваемый по высоте набором вкладышей от 0,5 до 2 мм. Для работы с крупнозернистыми образцами предусмотрено возвратно-поступательное движение образца в горизонтальном направлении. В приставке возможно быстрое вращение образца в собственной плоскости, используемое нри рентгенографировании крупнозернистых образцов. Переход от медленного вращения к быстрому осуществляется путем закрепления гибкого валика на оси червяка быстрого вращения. [c.16]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология